JJG(电子) 05053-1995 晶体阻抗计(试行)检定规程 JJG(电子)05053-1995 标准压缩包解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子工业部
电子计量器具检定规程
晶体阻抗计
JJG（电子）05053-95
（试行）
晶体阻抗计
试行检定规程
JJG（电子）
05053-95
本检定规程经电子工业部于1995年4月5日批准，井自1995年7月1日实施。
归口单位：电子工业部电子计量测试研究中心站起草单位：国营七九五厂计量检测所主要起草人：薛国富
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晶体阻抗计试行检定规程
本规程适用于频率范围在2.5kHz~200MHz晶体阻抗计的检定，对本规程规定频率范围以外的其它型号的晶体阻抗计，可参照本规程进行检定。
一概述
品体阻抗计是用来测量石英谐振器（以下简称晶体）的谐振频率和谐振电阻R，以及晶体串联负载电容后的负载谐振频率f和负载谐振电阻R的仪器。
本测试装置的测量原理是以“元型网络”作为反馈电路的调板一调栅一级或二级）振荡电路。或者是以”元型网络”作为反馈电路的一级或多级调谐放大器，并耳具有增益控制的振荡电路。晶体插在“元型网络“的串臂中。当晶体工作在最小阻抗点时，此时频率为谐振频率，阻抗可视为一个纯电阻，可用一个电阻代替。当插入替代电阻时测得的频率和振幅，如果与插接晶体时测得的频率和振幅相同，则认为此替代电阻与晶体是等效的，此替代电阻的值即为该晶体的谐振电阻Rt。
当晶体与负载电容串联，一起插人“元型网络”中时，它工作在负载谐振频率，它们的复合阻抗可视为一个纯电阻，可以用二技术要求
1晶体阻抗计主要参数量限及准确度见下表。共18页第2页
晶体阻抗计颖度号
新车范团
顺率洲量误差
警代电阻准确度
精代电阻准确度
电阻测量误差
负载电容（PF)
负载电容准确度
激励电平范围
1000kHz
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100MHz
±5×10-（小公差阻抗计±2×10-%）5
限值：±1%：
粗移<5
200MHz
R，±10%，Ru+15%。200以下，误差不大于20（对于小公差阻抗计，R，R，准确度：土10%）30
16、20
±1%。小公差阻抗计：±0.5%（包括转换插头在内且保证谢量基准面，见附录5）
土20%。（小公差阻抗计
生10%）
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用替代电阻测量颖率稳定度，每2小时应不大于4×10-42.4负载影响
负载和振荡器之间应有隔离，负载变化土10%，频率变化<1X10-6。
三检定条件
3环境条件
环境温度：23±2C；
相对湿度：45%~75%：
大气压力：86106kPa；
供电电源：220V±2%，50Hz±1%：周围环境：应无影响仪器正常工作的电磁场干扰和机械振动。
4检定用设备
4.1频率计
颖率范围：2.5kHz~200MHz；
颖率稳定度：2×10-7/日；
频率准确度：5×10-7
输入灵敏度：30mV；
参考型号：882A
4.2标准机装置
频率范围：2.5kHz~200MHz；
测频准确度：±1×10-6
测阻准确度：±2%~±5%：
参考型号：由失量电压表（HP-8405A）频率台成器（AGS/AMS）：板网络构成。4.3超高频毫伏表
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电压范围：200mV~300V：
准确度：±3%：
测频范围：5kHz~1200MHz;
参考型号：PM-30B。
4.4高频毫伏表
电压范围0-100V：
准确度：±3%：下载标准就来标准下载网
频率范围：30Hz10MHz；
参考型号：HFP-1型。
4.5精密电容测量仪
电容测量范围：1pF~100uF：
准确度：±0.1%~±0.5%；
测频范围：
10kHz~10MHz;
参考型号：
HP4275A。
4.6检定用晶体
Q值：>40000;
M值：>5（M=Q/Y）：
产品要经过老化：
寄生响应：≥4dB；
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温度系数：优于2×10-7/C（对AT切型而言）；选用型的硬插脚。
四检定项目与检定方法
.做世仪器不应有影响工作性能的机械损伤5.3被检仪器通电后能正常工作，预热30分钟后开始检定。6负载电容的检定
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6.1按图1连接仪器。
HP4275AO
电容测量仪O
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○被测负载
O电容器
6.2电容测量仪显示功能调节到C。6.3将电容测量仪置于所需量程。6.4将电容测量仪频率调到1MHz
6.5将被测电容器的插脚端子短路，从晶体输入端接入电容测量仪，并调节被测电容器直到电容测量仪显示在所要求的范围内，并将结果记入附录2表1内。6.6按公式（1）计算负载电容的误差，并将结果记入附录2表1内。
式中：Co电容测量仪示值（实际值）：C—被测电容器标称值。
7激励电平的检定
7.1按图2连接仪器。
7.2在晶体阻抗计上插入替代电阻。（1
7.3根据不同的频段号，按附录2表2选取所要求的频率点和激励电平，用PM-30B直接测量晶体或替代电阻两端对地的电压U,和U，得出△U，按公式（2）计算激励电平Po.井将结果PEPR,=AU
式中：晶体中流过的电流：
R，一品体的诺报电阻，或替代电阻：(2)
△U—晶体两端子对地的电压差，即：Ui-U7.4按公式（3）计算激励电平相对误差，并记入附录2表2中。
式中：P一激励电平的标称值：
Pe一激励电平的计算值。
8频率和电的检定
辅率和电阻检定过程中，检定条件应保持相同（激励电平，设定电阻等。插技品体时，不能用手直接接触晶体。8.1频率和电阻的检定
1号频段晶体阻抗计频率及电阻的测量按图3连接.2号、3号、4号和5号频段的晶体阻抗计频率及电阻的测量按图4连接仅器。
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100MHz以上采用晶体调谐方法。8.2.1电阻调谐方法
8.2.1.1测试仪器应予热30分钟以上。共18页第7页
8.2.1.2根据被测晶体的频率和技术要求选取所需频段，插入晶体进行初次调谐，再换插设定的替代电阻调节好激励电平。8.2.1.3调节频率度盘，使频率计读数与被测晶体标称频率基本一致（±4×10-4）.再重复调节激励电平。8.2.1.4取下替代电阻（将开关置于“晶体位置）插入待测晶体，记下频率计读效，即为晶体的谐振频率f。并将结果记入附录2表3内。
8.2.1.5记下栅流指示值，拔去晶体，插入替代电阻，调整其阻值，使栅流指示值与所记栅流值相等。8.2.1.6读取或测定其替代电阻值，即为谐振电阻R。并将结果记入附录2表3内。
8.2.2晶体调谐方法
8.2.2.1与8.2.1.1和8.2.1.2相同8.2.2.2取下替代电阻（将开关置于“晶体位置）插入待测晶体，调谐频率度盘，使栅流指示呈现最大值。8.2.2.3记下频率计读数，即为谐振频率f，并将结果记入附录2表3内。
8.2.2.4与8.2.1.5和8.2.1.6相同。8.2.3如果检定晶体阻抗计的负载谐振频率f和负载谐振电阻R，只是在晶体上串接所要求的负载电容，其程序与8.2.1相同。
8.2.4如果阻抗计工作在125MHz以上，当Xc<2R，时，往往容易产生振荡，或者通过C进行反馈振荡，这时对测量准确度（尤其是测阻）有影响。因此必需中和C。和杂散电容的影响，中和后，M值≥>5为宜。
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Xeh=Xa+Xh
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式中：X。——晶体静电容C。的容抗：X。=1/oCoX——阻抗计晶体插脚间分布电容容抗Xh=1/wCh8.2.5根据被测定的晶体阻抗计频段，选取“校准晶体”，检定点每频段不少于2点（供选取的检定点见附录3）。8.2.6在检定时可参照附录4“晶体阻抗计使用规定”按频段和要求进行检定。
8.2.7频率和电阻测量误差，按公式（4）和公式（5）计算，并将结果记入附录2表3中：
8t=f=fo×100%
式中：8——频率相对误差；
f——被检阻抗计各检定点的晶体谐振电阻；R。一标准机相应检定点上的晶体谐振电阻。（4）
8.2.8各频段阻抗计其它性能的检定可按照说明书进行（例如电位差计和P，Q点等）。
9晶体阻抗计输出幅度的检定
9.1按图5连接仪器。
颖率计
品体阻抗计
超高频毫伏表
9.2根据频段号选取该频率范围的设定电阻。9.3将晶体阻抗计的激励电平调至1mW。9.4选取该频段最高频率点和最低频率点，用计数器监测在最高和最低频率点，各选取低、中、高三个检定点，用相应的毫伏表在阻抗计的输出端进行测量。标准分享网www.bzfxw.com免费下载JIG(电子）05053-95
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9.5检查测量值是否满足该阻抗计输出幅度的技术要求。9.6将所测结果记入附录2表4中。五检定结果处理和检定周期
10经检定合格的晶体阻抗计，出具检定证书：检定不合格者，出具检定结果通知书，并注明不合格项目。11检定周期为一年，必要时可随时送检。
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