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JB/T 11606-2013

基本信息

标准号: JB/T 11606-2013

中文名称:无损检测仪器 金属磁记忆检测仪 性能试验方法

标准类别:机械行业标准(JB)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

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相关标签: 无损 检测 仪器 金属 记忆 检测仪 性能 试验 方法

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JB/T 11606-2013 无损检测仪器 金属磁记忆检测仪 性能试验方法 JB/T11606-2013 标准压缩包解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

ICS19.100
备案号:44535--2014
中华人民共和国机械行业标准
JB/T11606—2013
无损检测仪器
金属磁记忆检测仪
性能试验方法
Non-destructivetestinginstruments-Metal magnetic memory instrumentverification2013-12-31发布
2014-07-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前言
2规范性引用文件
3术语和定义
试验条件。
试验项目
试验设备..
试验方法.
磁场测量相对误差试验
位置测量相对误差试验,
噪声试验
位置分辨力试验
耐温试验..
耐湿试验.
运输试验
磁记忆探头小车移动轨道示意图耐温耐湿试验参数
JB/T11606—2013
JB/T11606--2013
本标准按照GB/T1.12009给出的规则起草。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由企国试验机标准化技术委员会(SAC/TCI22)归H。本标准起草单位:爱德森(厦门)电子有限公司、辽宁仪表研究所、深圳华测检测技术股份有限公司。
本标准主要起草人:林俊明、李洪国、万峰、赵晋成、李寒林。本标准为首次发布。
1范围
无损检测仪器
JB/T11606——2013wwW.bzxz.Net
金属磁记忆检测仪
性能试验方法
本标准规定了金属磁记忆检测仪《以下简称仪器)的性能试验方法。本标准适用丁数字式金属磁记忆检测仪。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T12604.10无损检测术语磁记忆检测GB/T25480一2010仪器仪表运输、贴存基本环境条作及试验方法3术语和定义
GB/T12604.10界定的术语和定义适用于本文件试验条件
仪器应在下列条件下正常工作:a)环境温度-25℃~55℃;
b)相对湿度不大于80%:
c)电源电压AC220V土10V:
d)电源频率为50Hz士1Hz。
5试验项目
仪器试验项目如下:
a)磁场测量相对误差;
b)位置测量相对误差;
c)测量范围:
d)测量通道数量:
e)增益;
f)显示方式:
g)位置测量分辨力。
6试验设备
试验需要下列仪器仪表:
a)0.5级或优于0.5级的交、直流电压表和电流表:JB/T11606—2013
b)信号发生器:幅度误差不大于2%,频率误差不大于0.1%:e)1级或优于1级的千分表和扭簧比较仪:d)不低50MHz双踪示波器:
e)频率计或频谱分析仪。
7试验方法
7.1磁场测量相对误差试验
磁场测量相对误差试验步骤如下:a)将仪器放置标准磁场H。[单位为安每米(A/m)]中,标准磁场大小应在仪器磁场测量范围之内:b)磁记忆数据校准设为“大地磁场”:c)将探头归一化之后显示的数值记录为Hp[单位为安每米(A/m)磁场测量的相对误差计算方法见公式(1):(Hp-Ho)×100%
7.2位置测量相对误差试验
位置测量相对误差试验步骤如下a)磁记忆数据校准设为“大地磁场\。b)测长计数显示设为“开”
c)将小车放置在带有精确刻度的轨道上,轨道长500mm,如图1所示。沿着轨道白刻度为0mm的地方开始走动,当走到轨道500mm的地方,记录此时屏幕上显示的测量长度S「单位为毫米(mm)。
位置测量的相对误差计算方法见公式(2):(S-500)
7.3噪声试验
噪声试验步骤如下:
a)将仪器放置在磁屏蔽箱中:
b)磁记忆数据校准设为“大地磁场”:100%
c)将探头归一化之后,把探头放置在与归一化磁场方向垂直的水平位置,则此时测出来的数值H就是磁记忆检测的噪声。
7.4位置分辨力试验
位置分辨力试验步骤如下:
a)磁记忆数据校准设为“大地磁场”。b)测长计数显示设为“开”。
c)将小车放置在带有精确刻度的轨道上,轨道长500mm,如图1所示。沿若轨道自刻度为0mm的地方开始走动,当走到钢直尺上L【单位为毫米(mm)】的位置时,记录采样点数N位置分辨力计算方法见公式(3):1
:(3)
7.5耐温试验
7.5.1概述
磁记忆探买小车
图1磁记忆探头小车移动轨道示意图500
小车移动轨道
JB/T11606-2013
在进行耐温试验时,高、低温箱内的温度应保持恒定均匀,温差不超过土3℃,箱内空间至少应为被检仪器的3倍。为防止湿度的影响,在不影响耐温试验的条件下,必要时,宜采取对高、低温箱密封或注入干燥空气等措施。
7.5.2高温试验
将仪器放入高温箱内,试验参数见表1。高温试验后,使温度降至室温,取出仪器并在正常工作条件下放置24h以上,再对仪器进行性能试验,其性能仍应满足4.3.1、4.3.2的要求。表1耐温耐湿试验参数
温度试验
高温试验
试验温度
保持时间
低温试验
升温速度
试验温度
-25±3
将仪器放入低温箱内,试验参数见表1。低温试验
保持时间
降温速度
湿度试验
相对湿度
保持时间
低温试验后,使温度升至室温,使流度升至室温,取出仪器并在正常工作条件下放置24h以上,再对仪器进行性能试验,果性能仍应满足43的要求(低温试验后,若仪器有凝水现象,应适当延长预热时间或采用风扇通风等其他方法迅速去潮)。7.6耐湿试验
耐湿性能的检测万法应按GB25480一2010中4.4热行,试验后再对仪器进行性能试验,具性能仍应满足本标准4.3的要求。
7.7运输试验
运输性能的试验项目和方法应按GB/T25480一2010中第4章执行,试验后再对仪器进行性能试验其性能仍应满足本标准4.3的要求。3
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