JJG 853-2013
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JJG 853-2013 低本底α、β测量仪
JJG853-2013
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标准内容
中华人民共和国国家计量检定规程JJG853—2013
低本底α、β测量仪
Low Background Alpha/Beta Measuring Instruments2013-08-15发布
2014-02-15实施
国家质量监督检验检疫总局发布中华人民共和
国家计量检定规程
低本底收、β测意仪
JG853—2013
国家所返监督控验检疫总局发布中国检出版社出版发行
北京市朝阳区和乎重西街单2号（100013）北京市城区三里河北街16号（100045)网址spc.net.cn
总编室：（010)64275323发行中心：（010)51780235读者服务部：（010)68523946
中因标准出版社秦皇岛印刷广印剧各地新华书店经销
开本880×12301/16印张1字数22千字2013年12月第一版2013年12月第一次印刷*
书号：155026·J-2866
告由本社发行中心调换
如有印装差错
版权专有侵权必究
举报电话：（010)68510107
JJG853—2013
低本底α、β测量仪检定规程
Verification Regulation of the Low BackgroundAlpha/Beta Measuring InstrumentsJJG853—2013
替代JJG853-1993
归口单位：全国电离辐射计量技术委员会起草单位：中国计量科学研究院上海市计量测试技术研究院
本规程委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释本规程起草人：
JJG853—2013
徐春长（中国计量科学研究院）梁珺成（中国计量科学研究院）何林锋（上海市计量测试技术研究院）陈靖（中国计量科学研究院）
范围·
2引用文件·
3术语和计量单位
3.1术语·
3.2计量单位
4概述·
5计量性能要求
5.1仪器本底
5.2探测效率.
重复性··
5.4串道比
6通用技术要求
6.1外观和标识
7计量器具控制
7.1检定条件
检定项目
检定方法·
检定结果的处理
检定周期·
附录A
附录B
检定记录格式式样
JJG853——2D13
检定证书/检定结果通知书第三页式样附录C
统计不确定度计算方法
JJG853--2013
JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JIF1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本规程修订工作的基础性系列规范。
与JJG853一1993相比，除编辑性修改外，本规程主要技术变化如下：-取消低本底、B测量仪的分级；取消要求受检用户提供1
取消稳定性检定项者；
每次艺4疗小的本底测量结果；
一增加重复性检楚项目见5.3)；强调本底，效率和重复性检定对测量计数统计性的量求要7.3.2，7.3.3，7.3.4).
1范围
JJG 853—2013
低本底优、测量仪检定规程
本规程适用于采用固体闪炼探测器和半导体探测器的低本底α、β测量仪的首次检定、后续检定和使用中检查，不适用于流气正比计数器以及液体闪烁计数器等类型测量仪器的检定。
2引用文件
本规程引用下列文件：
JJF1035—2006电离辐射计量术语及定义GB/T11682—2008低本底a和/或β测量仪ISO9697：2008水质无盐水中总β活度测量厚源法（Waterquality-Measurement of gross beta activity in non-saline water-Thick source methad)ISO18589-6：2009环境中放射性活度测量土壤第6部分：总α与总3的活度测量 (Measurement of radioactivity in the environment-Sail-Part 6: Measurement ofgross alpha and gross beta activities)凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程，凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规程。3术语和计量单位
3.1术语
3.1.1 仪器本底instrumental background仪器正常工作状态下，测量无放射性污染的空样品盘时的示值。3.1.2表面发射率surface emission rate放射源在2元球面度内的发射率。3.l.3标雅平面源referenceplanesources性质和活度在某一确定的时间内都是已知的，并能用作参考的固态平面放射源。3.1.4探测效率detection efficiency在一定探测条件下，探测器测得的计数率与被测源发射率的比值。3.1.5串道比interfereratio(crosstalk)仪器测量单α或β标准源时，在β道或道的计数与α和β道的总计数之比。3.2计量单位
3.2.1［源］表面发射率
每分钟2元球面度，符号：（min2元st）-1。3.2.2单位面积平均本底计数率
每平方厘米分钟，符号：cm-2-min-1。1
4概述
JJG 853-2013
低本底以，测量仪主要由探测器单元、信号处理单元和屏蔽单元等组成。测量时，探测器记录人射的α、β粒子，计数率与样品中核素活度成正比。探测器单元出主探测器、反符合探测器等构成，置于屏截单元内。信号处理单元由计算机和测量主机构成。屏蔽单元-一般由铅和钢等材料制成。低本底α、测量仪主要应用于水质监测、食品卫生、环境放射性评价与辐射防护等领域。
5 计量性能要求
5.1仪器本底
5.1.1单位面积的α粒买计数率≤0.017cm-2min-15.1.2单位面获的粒子计数率0.5cm2·min-1。5.2探测效离
5.2.1 对于α
5.3重复
5.4串道
线对β道≤3
射对道≤
6通用技术要家
6.1外观和标识
仪器外观不应影响计量性能的外观缺陷6.1.1
6.1.2仪器应标明制造广高或商标、规格型导、出广编号和计量器其制造许可证编号等信息，其标识应牢固、清晰。7 计量器具控制
计量器具控制包括首欢检定、后续检定和使用中检查。7.1检定条件
7. 1.1计量标准
7.1.1.1α标准平面源
α标准平面源的技术指标见表1。2
或10Po
JJG853—2013
表1、标准平面源的技术指标
外径：20 mm~35 mm,
活性区：±18 mm25 mm;
厚度：1mm
7. 1. 1. 2β标准平面源
β标准平面源的技术指标
表 2。
表面发射率
(2. 0E+04~1.2E+05)
(min·2元sr)-1
标准平面源的
9aSr/90
活性！
7. 1. 2. 2
寸湿度：
辐射空
检定项
检定项自见表
检定项目
外观和标识
仪器本底
探测效率
重复性
串道比
表面发射率
表 3 检定项目一览表
次检定
注：“十”为应检定的项目，
7.3检定方法
7.3.1外观和标识
后续检定
为可不检定的项目.
目测被检仪器外观，应符合6.1。7.3.2仪器本底
表面发射率扩展
不确定度
不大于 3. 0% (元一2)
表面发射率扩展
不确定度
大于3.0%（=2)
使用中检查
被检低本底αβ测量仪开机预热至少30min。将无放射性核素污染的样品盘放入3
JJG 853-2013
测量室进行本底测量。测量时间一般不少于24 h，或α的累计计数不小于25，β的累计计数不小于100，按式（1）计算被检仪器的本底。Noa(B)
B.( = Toa . s
式中：
Ba)——单位面积α（或β）本底计数率，min-l；Noa()——（或β）本底总计数；Tap——α（或β）本底累计测量时问，min;S-有效探测面积，cm2。
7.3.3探测效率
将&（或）标谁平面源置于样品盘中心，使源表面尽量接近但不超过样品盘的上沿，固定平面源。设置仪器的测量次数及单次测量时间，使得用于计算探测效率的累计总计数不小于40000，按式（2）计算被检仪器的探测效率。Ne() /Ae ×100%
式中：
仪器α（或β）探测效率：
-α（或β）累计计数；
测量α（或B）源的计时间，min；A）—α（或β）标准平面源在检定时的表面发射率，（min·2rsr）-1。探测效率检定结果应给出扩展不确定度。(2)
7.3.4重复性
重复性测量条件下，用被检仪器测量α（或β）标准平面源，设置单次测量时间使得单次测量计数约为4000左有，重复测量不少于10次，按式（3）计算相对实验标准差。
2(x-x)2
式中：
V—-重复性：
X,—第i次的测量计数，=1，2，3...，n（n≥10)；X—n次测量计数的平均值。
7.3.5串道比
根据探测效率测量数据，按式（4）计算α射线对β道的串道比，按式（5）计算阝射线对α道的串道比。
式中：
JJG 853-2013
Xp-a=Np-.+Np
α射线对β道的串道比：
测量α标准平面源时，道的计数；测量α标准平面源时，α道的计数；=射线对α道的串道比；
测量β标准平面源时，α道的计数：测量β标推面源时
检定结果的处理
延的功
检定合格的低不底α、测量仪发给检定证书，检证书应注明检定条件和检定结果；检定不合格前低本底α、β测量仪发给检定结果通知书，并注明不合格项目。7.5检定周期bzxZ.net
低本底
3则量仪检定周期一般不超过 24附录A
仪器名称
出厂编号
检定日期
检定依据的技术文件
检定环境条件
计量标维证书编号
a标准平面源
β标准平面源
检定项目
外观和标识
重复性
串道比
α源，a道
源，B道
α源，B道
β源，道
检定结论
检定员
JJG 853—2013
检定记录格式式样
低本底α、β测量仪检定记录
型号/规格
生产厂家
证书编号
温度：
相对湿度：
环境辐射空气比释动能率：
有效期
量时间
测量时间
检定结果
总计数
累计计数
μGy/h
表面发射率
(min - 2xst)-1
有效探测
面积 cm-2
净计数
率/min-1
计数率
cm-2 -min-1
探测效
串道比%
不合格
核验员
参考时间
合格判定
合格不合格
合格口不合格口
合格不合格
合格口不含格口
合格口不合格口。
合格口 不合格口
合格口不合格口
合格不合格口
合格口不合格口
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低本底α、β测量仪
Low Background Alpha/Beta Measuring Instruments2013-08-15发布
2014-02-15实施
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国家计量检定规程
低本底收、β测意仪
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北京市朝阳区和乎重西街单2号（100013）北京市城区三里河北街16号（100045)网址spc.net.cn
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低本底α、β测量仪检定规程
Verification Regulation of the Low BackgroundAlpha/Beta Measuring InstrumentsJJG853—2013
替代JJG853-1993
归口单位：全国电离辐射计量技术委员会起草单位：中国计量科学研究院上海市计量测试技术研究院
本规程委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释本规程起草人：
JJG853—2013
徐春长（中国计量科学研究院）梁珺成（中国计量科学研究院）何林锋（上海市计量测试技术研究院）陈靖（中国计量科学研究院）
范围·
2引用文件·
3术语和计量单位
3.1术语·
3.2计量单位
4概述·
5计量性能要求
5.1仪器本底
5.2探测效率.
重复性··
5.4串道比
6通用技术要求
6.1外观和标识
7计量器具控制
7.1检定条件
检定项目
检定方法·
检定结果的处理
检定周期·
附录A
附录B
检定记录格式式样
JJG853——2D13
检定证书/检定结果通知书第三页式样附录C
统计不确定度计算方法
JJG853--2013
JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JIF1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本规程修订工作的基础性系列规范。
与JJG853一1993相比，除编辑性修改外，本规程主要技术变化如下：-取消低本底、B测量仪的分级；取消要求受检用户提供1
取消稳定性检定项者；
每次艺4疗小的本底测量结果；
一增加重复性检楚项目见5.3)；强调本底，效率和重复性检定对测量计数统计性的量求要7.3.2，7.3.3，7.3.4).
1范围
JJG 853—2013
低本底优、测量仪检定规程
本规程适用于采用固体闪炼探测器和半导体探测器的低本底α、β测量仪的首次检定、后续检定和使用中检查，不适用于流气正比计数器以及液体闪烁计数器等类型测量仪器的检定。
2引用文件
本规程引用下列文件：
JJF1035—2006电离辐射计量术语及定义GB/T11682—2008低本底a和/或β测量仪ISO9697：2008水质无盐水中总β活度测量厚源法（Waterquality-Measurement of gross beta activity in non-saline water-Thick source methad)ISO18589-6：2009环境中放射性活度测量土壤第6部分：总α与总3的活度测量 (Measurement of radioactivity in the environment-Sail-Part 6: Measurement ofgross alpha and gross beta activities)凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程，凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规程。3术语和计量单位
3.1术语
3.1.1 仪器本底instrumental background仪器正常工作状态下，测量无放射性污染的空样品盘时的示值。3.1.2表面发射率surface emission rate放射源在2元球面度内的发射率。3.l.3标雅平面源referenceplanesources性质和活度在某一确定的时间内都是已知的，并能用作参考的固态平面放射源。3.1.4探测效率detection efficiency在一定探测条件下，探测器测得的计数率与被测源发射率的比值。3.1.5串道比interfereratio(crosstalk)仪器测量单α或β标准源时，在β道或道的计数与α和β道的总计数之比。3.2计量单位
3.2.1［源］表面发射率
每分钟2元球面度，符号：（min2元st）-1。3.2.2单位面积平均本底计数率
每平方厘米分钟，符号：cm-2-min-1。1
4概述
JJG 853-2013
低本底以，测量仪主要由探测器单元、信号处理单元和屏蔽单元等组成。测量时，探测器记录人射的α、β粒子，计数率与样品中核素活度成正比。探测器单元出主探测器、反符合探测器等构成，置于屏截单元内。信号处理单元由计算机和测量主机构成。屏蔽单元-一般由铅和钢等材料制成。低本底α、测量仪主要应用于水质监测、食品卫生、环境放射性评价与辐射防护等领域。
5 计量性能要求
5.1仪器本底
5.1.1单位面积的α粒买计数率≤0.017cm-2min-15.1.2单位面获的粒子计数率0.5cm2·min-1。5.2探测效离
5.2.1 对于α
5.3重复
5.4串道
线对β道≤3
射对道≤
6通用技术要家
6.1外观和标识
仪器外观不应影响计量性能的外观缺陷6.1.1
6.1.2仪器应标明制造广高或商标、规格型导、出广编号和计量器其制造许可证编号等信息，其标识应牢固、清晰。7 计量器具控制
计量器具控制包括首欢检定、后续检定和使用中检查。7.1检定条件
7. 1.1计量标准
7.1.1.1α标准平面源
α标准平面源的技术指标见表1。2
或10Po
JJG853—2013
表1、标准平面源的技术指标
外径：20 mm~35 mm,
活性区：±18 mm25 mm;
厚度：1mm
7. 1. 1. 2β标准平面源
β标准平面源的技术指标
表 2。
表面发射率
(2. 0E+04~1.2E+05)
(min·2元sr)-1
标准平面源的
9aSr/90
活性！
7. 1. 2. 2
寸湿度：
辐射空
检定项
检定项自见表
检定项目
外观和标识
仪器本底
探测效率
重复性
串道比
表面发射率
表 3 检定项目一览表
次检定
注：“十”为应检定的项目，
7.3检定方法
7.3.1外观和标识
后续检定
为可不检定的项目.
目测被检仪器外观，应符合6.1。7.3.2仪器本底
表面发射率扩展
不确定度
不大于 3. 0% (元一2)
表面发射率扩展
不确定度
大于3.0%（=2)
使用中检查
被检低本底αβ测量仪开机预热至少30min。将无放射性核素污染的样品盘放入3
JJG 853-2013
测量室进行本底测量。测量时间一般不少于24 h，或α的累计计数不小于25，β的累计计数不小于100，按式（1）计算被检仪器的本底。Noa(B)
B.( = Toa . s
式中：
Ba)——单位面积α（或β）本底计数率，min-l；Noa()——（或β）本底总计数；Tap——α（或β）本底累计测量时问，min;S-有效探测面积，cm2。
7.3.3探测效率
将&（或）标谁平面源置于样品盘中心，使源表面尽量接近但不超过样品盘的上沿，固定平面源。设置仪器的测量次数及单次测量时间，使得用于计算探测效率的累计总计数不小于40000，按式（2）计算被检仪器的探测效率。Ne() /Ae ×100%
式中：
仪器α（或β）探测效率：
-α（或β）累计计数；
测量α（或B）源的计时间，min；A）—α（或β）标准平面源在检定时的表面发射率，（min·2rsr）-1。探测效率检定结果应给出扩展不确定度。(2)
7.3.4重复性
重复性测量条件下，用被检仪器测量α（或β）标准平面源，设置单次测量时间使得单次测量计数约为4000左有，重复测量不少于10次，按式（3）计算相对实验标准差。
2(x-x)2
式中：
V—-重复性：
X,—第i次的测量计数，=1，2，3...，n（n≥10)；X—n次测量计数的平均值。
7.3.5串道比
根据探测效率测量数据，按式（4）计算α射线对β道的串道比，按式（5）计算阝射线对α道的串道比。
式中：
JJG 853-2013
Xp-a=Np-.+Np
α射线对β道的串道比：
测量α标准平面源时，道的计数；测量α标准平面源时，α道的计数；=射线对α道的串道比；
测量β标准平面源时，α道的计数：测量β标推面源时
检定结果的处理
延的功
检定合格的低不底α、测量仪发给检定证书，检证书应注明检定条件和检定结果；检定不合格前低本底α、β测量仪发给检定结果通知书，并注明不合格项目。7.5检定周期bzxZ.net
低本底
3则量仪检定周期一般不超过 24附录A
仪器名称
出厂编号
检定日期
检定依据的技术文件
检定环境条件
计量标维证书编号
a标准平面源
β标准平面源
检定项目
外观和标识
重复性
串道比
α源，a道
源，B道
α源，B道
β源，道
检定结论
检定员
JJG 853—2013
检定记录格式式样
低本底α、β测量仪检定记录
型号/规格
生产厂家
证书编号
温度：
相对湿度：
环境辐射空气比释动能率：
有效期
量时间
测量时间
检定结果
总计数
累计计数
μGy/h
表面发射率
(min - 2xst)-1
有效探测
面积 cm-2
净计数
率/min-1
计数率
cm-2 -min-1
探测效
串道比%
不合格
核验员
参考时间
合格判定
合格不合格
合格口不合格口
合格不合格
合格口不含格口
合格口不合格口。
合格口 不合格口
合格口不合格口
合格不合格口
合格口不合格口
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