GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求 GB/T35010.6-2018 标准压缩包解压密码：www.bzxz.net

ICS_31.200
中华人民共和国国家标准
GB/T35010.6—2018/IEC62258-6:2006半导体芯片产品
第6部分：热仿真要求
Semiconductor dieproducts-
Part6:Requirementsforconcerningthermal simulation(IEC62258-6:2006.SemiconductordieproductsPart6.ReguirementsforinformationconcerningthermalsimulationIDT)2018-03-15发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-08-01实施
GB/T35010《半导体芯片产品》分为以下部分：一第1部分：采购和使用要求；
一第2部分：数据交换格式；
一第3部分：操作、包装和贮存指南；一第4部分：芯片使用者和供应商要求；一第5部分：电学仿真要求；
一第6部分：热仿真要求；
第7部分：数据交换的XML格式；第8部分：数据交换的EXPRESS格式。本部分是GB/T35010的第6部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。GB/T35010.6—2018/IEC62258-6:2006本部分使用翻译法等同采用IEC62258-6：2006《半导体芯片产品第6部分：热仿真信息要求》。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下：GB/T35010.1一2018半导体芯片产品第1部分：采购和使用要求（IEC62258-1：2009，IDT)
GB/T35010.2—2018
3半导体芯片产品第2部分：数据交换格式（IEC62258-2：2009，IDT）本部分做了下列编辑性修改：
考虑到与我国标准体系相适应，将名称改为“半导体芯片产品第6部分：热仿真要求”。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78)归口。本部分起草单位：哈尔滨工业大学、中国航天科技集团公司第九研究院第772研究所、成都振芯科技有限公司、北京大学。
本部分主要起草人：刘威、张威、王春青、林鹏荣、罗彬、张亚婷。1
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1范围
GB/T35010.6—2018/IEC62258-62006半导体芯片产品
第6部分：热仿真要求
GB/T35010的本部分用于指导半导体芯片产品的生产、供应和使用，半导体芯片产品包括：·晶圆；
·单个裸芯片；
·带有互连结构的芯片和晶圆；·最小或部分封装的芯片和晶圆。本部分规定了所需的热仿真信息，在于促进电子系统热学行为和功能验证仿真模型的使用。电子系统包括带或不带互连结构的半导体裸芯片，和（或)最小封装的半导体芯片。本部分是为了使芯片产品供应链所有的环节都满足IEC62258-1和IEC62258-2的要求。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。IEC62258-1半导体芯片产品第1部分：采购和使用要求（SemiconductordieproductsPart1：Requirements for procurement and use)IEC62258-2半导体芯片产品第2部分：数据交换格式（Semiconductordieproducts一Part2：Exchangedata formats)
3术语、定义和缩略语
IEC62258-1界定的术语、定义和缩略语适用于本文件。4总则
按IEC62258-1所述，芯片产品供应商应提供一个完整的数据包，数据包应包含用户在设计，采购制造和测试的各个阶段所需的必要和充分信息同时，所提供的大部分信息应符合相关标准，并公开于公共领域，且信息源能以制造商数据表格的形式追溯，但并不要求制造商承担信息公开化的义务。任何涉及专利或商业敏感的信息，制造商可以采取非披露形式予以保护。
本部分中提供的要求和建议，适用于热仿真模型。模型用于分析芯片中热漂移对芯片和系统电性能的影响
5热仿真信息要求
5.1带互连结构或者不带互连结构裸芯片的要求5.1.1概述
本条包括带互连结构或不带互连结构裸芯片的要求。下列信息是满足某一特定热仿真模型所应提1
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GB/T35010.6—2018/IEC62258-62006供信息的最低要求。
5.1.2工作温度条件
应提供产品的工作温度范围。
5.1.3芯片最高结温
应提供芯片允许的最高结温。bZxz.net
5.1.4扩展结温范围
当温度超过最高结温时，产品寿命将比5.1.2中工作温度条件下的寿命减少，这一情况应在适用的场合说明。
5.1.5功率耗散
应提供规定条件下最大功率耗散值，最小功率耗散值以及典型功率耗散值5.1.6热源分布
应用时，应提供芯片表面温度场并指出热源区的位置及面积5.1.7热源类型及功率
应提供各热源类型及功率，包括表面热源或体热源。5.1.8导热系数
应提供各种材料的导热系数。
5.1.9比热容
如果是瞬态仿真，应提供所有材料的比热容。5.2封装芯片要求
5.2.1概述
本条与5.1规定一样，应提供下列条款中所定义的信息，封装产品的建模方法应适合该产品类型。5.2.2封装热阻
应提供结-环境或（和)结-参考面的封装热阻值5.2.3热阻测量-试验方法和条件应提供热阻测量的试验方法及条件（包括环境温度和气流，参考温度和参考位置）以及测量热阻时产品上所施加的功率。
5.2.4封装材料的热性能
应提供用于封装芯片的所有材料（如密封剂，胶粘剂，绝缘基板等）的热性能。2
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热仿真模型信息
5.3.1概述
GB/T35010.6—2018/IEC62258-6:2006当提供热仿真模型（例如有限元模型)时应提供下列各条中所给出的信息5.3.2
模型文件名
应提供模型的文件名称。
创建日期
应提供该模型文件的创建日期。5.3.4模型描述
对模型的描述要足够详细，以便让用户了解其适用范围并正确使用相应的仿真器。5.3.5模型源
应提供模型源及创建者。
5.3.6仿真程序
应提供可以合法读取模型文件的仿真程序名称注：例如ANSYS，FLOTHERM和Icepak等仿真程序。5.3.7程序版本
应提供与模型文件兼容的仿真程序版本。5.3.8兼容级别
应提供模型文件与仿真程序的兼容级别。模型范围
应提供模型的适用范围，包括其使用的任何限制-iiKAoNniKAca
GB/T35010.6-2018
中华人民共
国家标准
半导体芯片产品
第6部分：热仿真要求
GB/T35010.6—2018/IEC62258-6:2006*
中国标准出版社出版发行
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2017年12月第一版
书号：155066：1-58539
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