JJF (浙) 1132-2016 圆测头千分尺校准规范 JJF (浙) 1132-2016 标准压缩包解压密码：www.bzxz.net

(浙）
浙江省地方计量技术规范　
JJF（浙）1132—2016
圆测头干分尺校准规范
Calibration Specification for circle anvil micrometer2016-03-16发布
2016-04-20实施
浙江省质量技术监督局发布
JJF(浙)1132-2016
圆测头千分尺校准规范
Calibration Specification
forcircleanvilmicrometer
归口单位：
浙江省质量技术监督局
主要起草单位：
浙江省计量科学研究院
杭州市质量技术监督检测院
浙江省方正校准有限公司
温州市计量技术研究院
嘉兴市计量检定测试院
参加起草单位：萧山区质量计量监测中心本规范技术条文由起草单位负责解释JJF（浙）1132-2016
主要起草人：
JJF（浙)1132-2016
黄伟城（浙江省计量科学研究院）陆益（浙江省计量科学研究院）邓丽芬 (杭州市质量技术监督检测院)汪正亚（浙江省方正校准有限公司）江涛（温州市计量技术研究院
沈丹（嘉兴市计量检定测试院）参加起草人：
吴国伟（萧山区质量计量监测中心）引言
范围·
引用文件：
术语和计量单位
3.1示值变动性
4概述
5计量特性·
JJF(浙)1132-2016
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量测力
刻线宽度及宽度差，
微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离...微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置测头的球面半径
测量面的平面度·
示值变动性·
示值误差·
细分误差
校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量校准条件
环境条件：
校准项目和校准设备
校准方法
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量测力
刻线宽度及宽度差
（1）
（2）
（3）
·（3）
+（3)
·（3)
·（3)
（3）
（4）
（5）
+（5）
·（7)
（7）
JJF(浙)1132-2016
微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置测头的球面半径www.bzxz.net
测量面的平面度·
示值变动性·
示值误差
7.12细分误差：
7.13校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量8
校准结果表达
复校时间间隔
附录A
附录B
圆测头千分尺示值误差测量结果的不确定度评定校准证书或校准报告内容·
·（7)
（7）
（8）
·(14)
JJF(浙)1132-2016
JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012
《测量不确定度评定与表示》、JJG21-2008《千分尺检定规范》共同构成圆测头千分尺的计量技术法规。本技术规范首次发布。
1范围
JJF（浙)1132-2016
圆测头于分尺校准规范
本规范适用于分度值/分辨力为0.001mm、0.01mm，测量上限至100mm的圆测头千分尺的校准。
引用文献
JJF1001-2011通用计量术语及定义JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示JJG21-2008千分尺
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用本规范。3术语和计量单位
3.1示值变动性
在一组重复性测量条件下进行多次测量示值的最大值与最小值之差。4概述
圆测头千分尺是应用螺旋副结构，将回转运动变为直线运动的计量器具其测微螺杆为圆头形状，固定测砧有圆头和平面二种形状。主要用于测量各种工件外尺寸。它由尺架、固定测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。其外形结构如图1、图2、图3所示。?
0-25mm
图1双圆测头千分尺
1一尺架2一圆头固定测3一测微螺杆4一锁紧装置5一固定套筒6一微分筒7一测力装置8一护板装置-
0-25mm
JJF(浙)1132-2016
单圆测头千分尺
1一尺架2—平面固定测砧3一测微螺杆4—锁紧装置5—固定套筒6—微分筒7—测力装置8—护板装置2
25-50mm
图3数显圆测头千分尺
1—尺架2—圆头固定测砧3—测微螺杆4—微分筒5—测力装置6—显示屏7—护板装置5计量特性
5.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测微螺杆的轴向窜动和径向摆动应不大于0.01mm。测砧与测微螺杆测量面的偏移量5.2
测砧与测微螺杆测量面的偏移量应不超过表1的规定。表1测砧与测微螺杆测量面的偏移测量范围上限/mm
5.3测力
偏移量/mm
圆测头千分尺的测力系指测微螺杆测量面与量具测力仪平面接触时所作用的2
力为(3～6)N。
5.4刻线宽度及宽度差
JJF(浙)1132-2016
微分筒刻线宽度为（0.08～0.20）mm，固定套筒上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差不大于0.03mm。
5.5微分筒锥面的端面棱边至固定套简刻线面的距离微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离不大于0.4mm。微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置5.62
当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套筒纵刻线对准时，微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。
5.7测头的球面半径
圆测头千分尺测量面的圆弧半径用半径样板以光隙法进行测量，只允许半径样板两侧有光隙，中间无间隙。5.8测量面的平面度
固定测砧测量面是平面的平面度不大于0.6um。5.9示值变动性
数显圆测头千分尺的示值变动性不大于1um。5.10
数显圆测头千分尺任意位置时数值漂移不大于1m/h。5.11示值误差
圆测头千分尺示值误差不超过表2的规定。表2
示值误差
测量范围/mm
0~25，25～50
50~75，75~100
5.12细分误差
最大允许误差/um
数显圆测头千分尺数显装置的细分误差不超过土2um。5.13校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量校对用量杆的尺寸偏差和变动量不超过表3的规定。6
JJF(浙)1132-2016
表3校对用量杆的尺寸偏差和变动量校对量杆标称尺寸/mm
25，50
尺寸偏差的最大允许误差/um
注：以上指标不用于合格性判断，仅供参考校准条件
6.1环境条件
变动量/um
圆测头千分尺和校对用的量杆的室内温度和室内平衡温度的时间在表4的范围内。室内相对湿度不大于70%RH。表4室内温度和室内平衡温度
测量范围/mm
（0～100）
室内温度对20℃的允许偏差/℃
圆测头千分尺
校准项目和校准设备
校对用的量杆
圆测头千分尺校准项目和校准设备见表5。表5校准项目和校准设备
校准项目
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测与测微螺杆测量面的偏移量
刻线宽度及宽度差
微分筒锥面的端面棱边至固定套简刻线面的距离
微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置
测头的球面半径
测量面的平面度
示值变动性
示值误差
细分误差
校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量平衡温度的时间/h
主要校准设备
杠杆千分表
1级检验平板、杠杆百分表或百分表量具测力仪MPE：土1.0%
工具显微镜MPE：±（1+L/100）μm读数显微镜MPEV：0.01mm
工具显微镜或读数显微镜、寒尺半径样板MPE：±0.029mm
2级平面平晶
5等或3级量块
5等或3级量块
微分筒及5等或3级量块
光学计、测长机、4等或2级量块7校准方法
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首先检查外观，确定没有影响计量特性因素后再进行校准。7.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动一般情况下用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。有异议时，可按下列方法校准。
7.1.1测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分表校准。校准时，杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力（3～5）N，如图4所示。杠杆千分表示值的变化，即为轴向窜动量。7.1.2测微螺杆的径向摆动，用杠杆千分表校准。校准时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆的端部，再沿杠杆千分表测量方向加力（2～3）N，然后在相反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示值的变化即为径向摆动量。径向摆动的测量应在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。此过程如图5所示。
测力计
杠杆千分表
加力方向
图4轴向加力示意图
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