JJG 24-2016
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JJG 24-2016 深度千分尺检定规程
JJG24-2016
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标准内容
中华人民共和国国家计量检定规程JJG24—2016
深度千分尺
Depth Micrometers
2016-11-30发布
2017-05-30实施
国家质量监督检验检疫总局发布24—2016
深度千分尺检定规程
VerificationRegulation of
Depth Micrometers
JJG24—2016
代替JJG24—2003
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：黑龙江省计量检定测试院辽宁省计量科学研究院
参加起草单位：桂林量具刃具有限责任公司哈尔滨市计量检定测试院
大连市计量检测研究院
本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释本规程主要起草人：
24—2016
梁玉红（黑龙江省计量检定测试院）杨
琳（黑龙江省计量检定测试院）刘
娜（辽宁省计量科学研究院）
李旭辉（黑龙江省计量检定测试院）参加起草人：
赵伟荣（桂林量具刃具有限责任公司）宗玉娟（哈尔滨市计量检定测试院）王涛（大连市计量检测研究院）HiiKAoiKAca
范围·
引用文件。
计量性能要求·
刻线宽度及宽度差
24—2016
微分筒锥面的端面棱边与固定套管刻线面的距离·微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置测量面的表面粗糙度..
底板测量面的平面度.
测力·
示值误差：
零值误差及变化量
校对量具尺寸偏差及两测量面平行度·4.10测量杆测量面与底板测量面的平行度5通用技术要求…··
5.2各部分相互作用.
6计量器具控制
6.1检定条件
检定项目和主要检定器具：
6.3检定方法
6.4检定结果的处理
检定周期
附录A深度千分尺示值误差检定结果的测量不确定度评定附录B检定证书和检定结果通知书内页信息及格式(I)
（2）
（2）
（2）
（3）
（3）
（3）
（4）
（4）
（5）
（5）
（5）
（9）
iiiKAoNiAca
24—2016
本规程的修订以JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》为基础性系列规范。
与JJG24一2003《深度千分尺》相比，除编辑性修改外主要技术变化如下：把原计量性能“可换测量杆的工作长度”改为“零值误差及变化量”，并对技术指标和检定方法进行了相应修改；计量性能要求与GB/T1218《深度千分尺》保持统一；一增加了数字指示装置的结构型式及相应技术要求；-增加了深度千分尺对应不同测量杆及测微头量程为50mm的示值误差检定在示值误差的检定方法中增加“取各受检点中绝对值最大的示值误差为该尺的示值误差”；
增加了“测量杆测量面与底板测量面的平行度”的检定；依据JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》，分别按测量上限为25mm、150mm、300mm的深度干分尺为例进行测量不确定度的评定。本规程的历次版本发布情况：
JJG24—2003；
JJG24—1986。
HiiKAoNiKAca
1范围
24—2016
深度千分尺检定规程
本规程适用于分度值为0.01mm，测量范围上限不超过300mm的I型深度千分尺和Ⅱ型深度千分尺的首次检定、后续检定和使用中检查。2引用文件
本规程引用下列文件：
GB/T1218深度千分尺
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规程。3概述
深度千分尺是利用螺旋副原理，对底板测量面与测量杆测量面之间距离进行测量的器具，主要用于测量工件的孔或槽的深度以及台阶的高度。深度千分尺由微分筒、固定套管、测量杆、底板、测力装置、锁紧装置等组成。工型深度千分尺利用刻线进行读数，其结构型式见图1Ⅱ型深度千分尺也是利用刻线进行读数，同时配有数字指示装置进行辅助读数，其结构型式见图2。深度千分尺的附件见图3。
I型深度千分尺
1测量杆；2—底板；3—锁紧装置；4—固定套管；5—微分筒；6—测力装置HiiKANiKAca
24—2016
图2Ⅱ型深度千分尺
1一测量杆：2一底板；3一锁紧装置：4数字指示装置；5—固定套管；6—微分筒；7—测力装置008912
图3深度千分尺附件
1—测量杆：2—校对量具
4计量性能要求
4.1刻线宽度及宽度差
固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为（0.08～0.20）mm；刻线宽度差应不大于0.03mm。
4.2微分筒锥面的端面棱边与固定套管刻线面的距离微分筒锥面的端面棱边与固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。4.3微分筒简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当微分简零刻线与固定套管纵刻线对准后，微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切。若不相切，压线应不大于0.05mm，离线应不大于0.1mm。4.4测量面的表面粗糙度
合金工具钢、不锈钢测量杆测量面表面粗糙度R。应不大于0.1um；镶硬质合金测量杆测量面表面粗糙度R，应不大于0.4m；校对用量具的测量面和底板的测量面的表面粗糙度R.应不大于0.2μm。
HiiKAoiKAca
4.5底板测量面的平面度
24—2016
底板测量面的平面度应不超过表1的规定。表1底板测量面的平面度
底板测量面长度1/mm
50≤63.5
63.5注：距边缘1mm范围内不计。
4.6测力
测力应在（3～6）N范围内。
4.7示值误差
示值最大允许误差应不超过表2的规定（20℃）。表2示值最大允许误差
测量范围1
25≤50
50≤100
100≤150
150/≤200
200≤250
2501≤300
平面度/mm
示值最大允许误差
测微头量程为25
测微头量程为50
示值误差的测量条件为：在全量程范围内单向移动；以零位校对点为固定零点。4.8
零值误差及变化量
测量杆的零值误差应不超过表3的规定。表3测量杆的零值误差
测量杆的标称尺寸
100≤150
150≤200
200≤250
250≤300
零值误差变化量
HiiKAoiKAca
24—2016
4.9校对量具尺寸偏差及两测量面平行度校对量具工作尺寸偏差和两测量面的平行度应不超过表4的规定。表4校对量具工作尺寸偏差及两测量面的平行度标称尺寸/mm
50，75
100，125
150，175
200，225
250，275
尺寸偏差/um
4.10测量杆测量面与底板测量面的平行度两测量面平行度/um
测量杆测量面为平面时。测量杆测量面与底板测量面的平行度应不大于：4um十10-5Lμm，L为测量杆的标称范围上限。5通用技术要求
5.1外观
5.1.1深度千分尺及校对量具工作面不应有锈蚀、碰伤、划痕及裂纹等缺陷，各非工作面镀层应均匀、无脱落现象：各刻线应清晰、平直，均匀，无断线及影响检定结果的其他缺陷。
5.1.2深度千分尺上应标有制造厂名（或商标）、出厂编号、测量范围。5.1.3校对用量具及测量杆上应标注标称尺寸。5.1.4
使用中检查和后续检定时，深度千分尺充许有不影响使用准确度的上述外观缺陷。
深度千分尺底板测量面的长度应大于等于50mm，且小于等于101.6mm。5.1.5
5.2各部分相互作用
各活动部件的作用应灵活、平稳、无卡滞现象。5.2.1
5.2.2零位的调整要顺利和可靠，锁紧装置的作用应切实有效5.2.3测量杆的更换方便、紧固、可靠。在其根部不应有手感的径向摆动。5.2.4数字指示装置
当移动带计数器深度千分尺的测微螺杆时，其计数器应按顺序进位，无错乱显示现象；在受检点上微分简读数与数字指示读数的差值不应大于3m；各位字码的中心线应处于同一条平行于测微螺杆轴线的直线上。6计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检查。4
TiiKANniKAca
6.1检定条件
24—2016
检定室温度为（20土5）℃。检定前受检千分尺在检定室内平衡温度的时间应不少于2h。校对量具检定温度为（20士2）℃。6.2检定项目和主要检定器具
检定项目和主要检定器具见表5。表5检定项目和主要检定器具
检定项目
各部分相互作用
刻线宽度及宽度差
微分筒锥面的端面棱边至
固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面与固定
套管毫米刻线的相对位置
测量面的表面粗糙度
底板测量面的平面度
示值误差Www.bzxZ.net
零值误差及变化量
校对量具尺寸偏差及
两测量面平行度
测量杆测量面与底板
测量面的平行度
主要检定器具
工具显微镜
MPEV：3μm
塞尺MPE：±12μm
表面粗糙度比较样块
MPE:+12%~-17%
平晶：2级
或刀口尺：MPE：4μm
测力仪：2.5级
平板：0级
量块：5等
量块：5等
光学计：MPE：土0.25um
量块：4等
平板：0级
量块：5等
钢球：直径尺寸≤p6mm
最大直径差：1μm
注：表中“十”表示应检定，“”表示可不检定。6.3检定方法
6.3.1外观
目力观察。
6.3.2各部分相互作用
目力观察和试验。
首次检定
检定类别
后续检定
使用中检查
6.3.3刻线宽度及宽度差
24—2016
用工具显微镜对微分筒和固定套管的刻线进行检定，至少各抽检均匀分布的3条刻线，测量每条刻线的宽度值，作为刻线宽度测量结果。刻线宽度差以最大值和最小值之差确定。
6.3.4微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离用厚度为0.4mm的塞尺以比较法进行检定，检定时应在微分筒转动一周内不少于3个位置上进行，见图4。
图4微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离6.3.5微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置在平板上用最短的测量杆将深度千分尺零位调整后，观察微分筒锥面的端面是否与固定套管毫米刻线右边缘相切，若不相切，转动微分筒使其相切，按微分筒读出其零刻线对固定套管纵刻线的偏移量，该偏移量即为离线或压线的数值。见图5。45
压线0.02mm
离线0.03mm
图5微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置6.3.6测量面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块比较测量。在进行比较时，所用的表面粗糙度样块和被检测量面的加工方法应该相同，表面粗糙度样块的材料，形状，表面色泽等也应尽可能与被校测量面一致。以相应表面粗糙度比较样块的标称值作为测量结果。6.3.7底板测量面的平面度
深度千分尺底板测量面的平面度用刀口尺测量。按图6所示方向进行检定。截面如6
24—2016
果有的中间高有的中间低，则工作面的平面度应为二者的叠加；当所有截面均为中间高或中间低时，取其中最大光隙量作为被测工作面的平面度。对于平面度不大于2um的深度千分尺底板测量面的平面度也可以用直径为100mm的2级平晶以技术光波干涉法进行检定，见图7。其平面度：a=n2
式中：
干涉条纹的条数；
工作光波的波长，um。
图6用刀口尺测量
6.3.8测力
图7用技术光波干涉法测量
用测力仪进行检定，分别在深度千分尺微分筒量程段的起点、中点、末点进行。6.3.9示值误差
用量块在平板上进行检定，测量示意见图8所示。检定时，量块应放置在距底板测量面边缘（3～5）mm的位置。
先对各测量杆调零。对于量程范围为25mm的深度千分尺，受检点应至少均分布于测微头示值范围的5点上，如A十5.12mm（A为各测量杆对应的测量下限）、A+10.24mm（或A+10.25mm）、A+15.36mm（或A+15.37mm）、A+21.5mm、A+25mm；量程为50mm的受检点为：A+5.12mm、A+10.24mm(或A+10.25mm），A+15.36mm（或A+15.37mm)，A+21.5mmA+25mmA+27.5mm、A+30mm、A+40mm、A+45mm、A+50mm。每一受检点应用组尺寸相同的两块量块（实际尺寸差不超过1.2um）进行测量，深度千分尺的读数值与量块实际尺寸的差值为该点的示值误差ee:=Li-Ls
式中：
一千分尺的读数值（20℃），mm；一量块的实际尺寸（20℃），mm。L
取各受检点中绝对值最大的示值误差为该尺的示值误差。(2)
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深度千分尺
Depth Micrometers
2016-11-30发布
2017-05-30实施
国家质量监督检验检疫总局发布24—2016
深度千分尺检定规程
VerificationRegulation of
Depth Micrometers
JJG24—2016
代替JJG24—2003
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：黑龙江省计量检定测试院辽宁省计量科学研究院
参加起草单位：桂林量具刃具有限责任公司哈尔滨市计量检定测试院
大连市计量检测研究院
本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释本规程主要起草人：
24—2016
梁玉红（黑龙江省计量检定测试院）杨
琳（黑龙江省计量检定测试院）刘
娜（辽宁省计量科学研究院）
李旭辉（黑龙江省计量检定测试院）参加起草人：
赵伟荣（桂林量具刃具有限责任公司）宗玉娟（哈尔滨市计量检定测试院）王涛（大连市计量检测研究院）HiiKAoiKAca
范围·
引用文件。
计量性能要求·
刻线宽度及宽度差
24—2016
微分筒锥面的端面棱边与固定套管刻线面的距离·微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置测量面的表面粗糙度..
底板测量面的平面度.
测力·
示值误差：
零值误差及变化量
校对量具尺寸偏差及两测量面平行度·4.10测量杆测量面与底板测量面的平行度5通用技术要求…··
5.2各部分相互作用.
6计量器具控制
6.1检定条件
检定项目和主要检定器具：
6.3检定方法
6.4检定结果的处理
检定周期
附录A深度千分尺示值误差检定结果的测量不确定度评定附录B检定证书和检定结果通知书内页信息及格式(I)
（2）
（2）
（2）
（3）
（3）
（3）
（4）
（4）
（5）
（5）
（5）
（9）
iiiKAoNiAca
24—2016
本规程的修订以JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》为基础性系列规范。
与JJG24一2003《深度千分尺》相比，除编辑性修改外主要技术变化如下：把原计量性能“可换测量杆的工作长度”改为“零值误差及变化量”，并对技术指标和检定方法进行了相应修改；计量性能要求与GB/T1218《深度千分尺》保持统一；一增加了数字指示装置的结构型式及相应技术要求；-增加了深度千分尺对应不同测量杆及测微头量程为50mm的示值误差检定在示值误差的检定方法中增加“取各受检点中绝对值最大的示值误差为该尺的示值误差”；
增加了“测量杆测量面与底板测量面的平行度”的检定；依据JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》，分别按测量上限为25mm、150mm、300mm的深度干分尺为例进行测量不确定度的评定。本规程的历次版本发布情况：
JJG24—2003；
JJG24—1986。
HiiKAoNiKAca
1范围
24—2016
深度千分尺检定规程
本规程适用于分度值为0.01mm，测量范围上限不超过300mm的I型深度千分尺和Ⅱ型深度千分尺的首次检定、后续检定和使用中检查。2引用文件
本规程引用下列文件：
GB/T1218深度千分尺
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规程。3概述
深度千分尺是利用螺旋副原理，对底板测量面与测量杆测量面之间距离进行测量的器具，主要用于测量工件的孔或槽的深度以及台阶的高度。深度千分尺由微分筒、固定套管、测量杆、底板、测力装置、锁紧装置等组成。工型深度千分尺利用刻线进行读数，其结构型式见图1Ⅱ型深度千分尺也是利用刻线进行读数，同时配有数字指示装置进行辅助读数，其结构型式见图2。深度千分尺的附件见图3。
I型深度千分尺
1测量杆；2—底板；3—锁紧装置；4—固定套管；5—微分筒；6—测力装置HiiKANiKAca
24—2016
图2Ⅱ型深度千分尺
1一测量杆：2一底板；3一锁紧装置：4数字指示装置；5—固定套管；6—微分筒；7—测力装置008912
图3深度千分尺附件
1—测量杆：2—校对量具
4计量性能要求
4.1刻线宽度及宽度差
固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为（0.08～0.20）mm；刻线宽度差应不大于0.03mm。
4.2微分筒锥面的端面棱边与固定套管刻线面的距离微分筒锥面的端面棱边与固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。4.3微分筒简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当微分简零刻线与固定套管纵刻线对准后，微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切。若不相切，压线应不大于0.05mm，离线应不大于0.1mm。4.4测量面的表面粗糙度
合金工具钢、不锈钢测量杆测量面表面粗糙度R。应不大于0.1um；镶硬质合金测量杆测量面表面粗糙度R，应不大于0.4m；校对用量具的测量面和底板的测量面的表面粗糙度R.应不大于0.2μm。
HiiKAoiKAca
4.5底板测量面的平面度
24—2016
底板测量面的平面度应不超过表1的规定。表1底板测量面的平面度
底板测量面长度1/mm
50≤63.5
63.5注：距边缘1mm范围内不计。
4.6测力
测力应在（3～6）N范围内。
4.7示值误差
示值最大允许误差应不超过表2的规定（20℃）。表2示值最大允许误差
测量范围1
25≤50
50≤100
100≤150
150/≤200
200≤250
2501≤300
平面度/mm
示值最大允许误差
测微头量程为25
测微头量程为50
示值误差的测量条件为：在全量程范围内单向移动；以零位校对点为固定零点。4.8
零值误差及变化量
测量杆的零值误差应不超过表3的规定。表3测量杆的零值误差
测量杆的标称尺寸
100≤150
150≤200
200≤250
250≤300
零值误差变化量
HiiKAoiKAca
24—2016
4.9校对量具尺寸偏差及两测量面平行度校对量具工作尺寸偏差和两测量面的平行度应不超过表4的规定。表4校对量具工作尺寸偏差及两测量面的平行度标称尺寸/mm
50，75
100，125
150，175
200，225
250，275
尺寸偏差/um
4.10测量杆测量面与底板测量面的平行度两测量面平行度/um
测量杆测量面为平面时。测量杆测量面与底板测量面的平行度应不大于：4um十10-5Lμm，L为测量杆的标称范围上限。5通用技术要求
5.1外观
5.1.1深度千分尺及校对量具工作面不应有锈蚀、碰伤、划痕及裂纹等缺陷，各非工作面镀层应均匀、无脱落现象：各刻线应清晰、平直，均匀，无断线及影响检定结果的其他缺陷。
5.1.2深度千分尺上应标有制造厂名（或商标）、出厂编号、测量范围。5.1.3校对用量具及测量杆上应标注标称尺寸。5.1.4
使用中检查和后续检定时，深度千分尺充许有不影响使用准确度的上述外观缺陷。
深度千分尺底板测量面的长度应大于等于50mm，且小于等于101.6mm。5.1.5
5.2各部分相互作用
各活动部件的作用应灵活、平稳、无卡滞现象。5.2.1
5.2.2零位的调整要顺利和可靠，锁紧装置的作用应切实有效5.2.3测量杆的更换方便、紧固、可靠。在其根部不应有手感的径向摆动。5.2.4数字指示装置
当移动带计数器深度千分尺的测微螺杆时，其计数器应按顺序进位，无错乱显示现象；在受检点上微分简读数与数字指示读数的差值不应大于3m；各位字码的中心线应处于同一条平行于测微螺杆轴线的直线上。6计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检查。4
TiiKANniKAca
6.1检定条件
24—2016
检定室温度为（20土5）℃。检定前受检千分尺在检定室内平衡温度的时间应不少于2h。校对量具检定温度为（20士2）℃。6.2检定项目和主要检定器具
检定项目和主要检定器具见表5。表5检定项目和主要检定器具
检定项目
各部分相互作用
刻线宽度及宽度差
微分筒锥面的端面棱边至
固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面与固定
套管毫米刻线的相对位置
测量面的表面粗糙度
底板测量面的平面度
示值误差Www.bzxZ.net
零值误差及变化量
校对量具尺寸偏差及
两测量面平行度
测量杆测量面与底板
测量面的平行度
主要检定器具
工具显微镜
MPEV：3μm
塞尺MPE：±12μm
表面粗糙度比较样块
MPE:+12%~-17%
平晶：2级
或刀口尺：MPE：4μm
测力仪：2.5级
平板：0级
量块：5等
量块：5等
光学计：MPE：土0.25um
量块：4等
平板：0级
量块：5等
钢球：直径尺寸≤p6mm
最大直径差：1μm
注：表中“十”表示应检定，“”表示可不检定。6.3检定方法
6.3.1外观
目力观察。
6.3.2各部分相互作用
目力观察和试验。
首次检定
检定类别
后续检定
使用中检查
6.3.3刻线宽度及宽度差
24—2016
用工具显微镜对微分筒和固定套管的刻线进行检定，至少各抽检均匀分布的3条刻线，测量每条刻线的宽度值，作为刻线宽度测量结果。刻线宽度差以最大值和最小值之差确定。
6.3.4微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离用厚度为0.4mm的塞尺以比较法进行检定，检定时应在微分筒转动一周内不少于3个位置上进行，见图4。
图4微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离6.3.5微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置在平板上用最短的测量杆将深度千分尺零位调整后，观察微分筒锥面的端面是否与固定套管毫米刻线右边缘相切，若不相切，转动微分筒使其相切，按微分筒读出其零刻线对固定套管纵刻线的偏移量，该偏移量即为离线或压线的数值。见图5。45
压线0.02mm
离线0.03mm
图5微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置6.3.6测量面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块比较测量。在进行比较时，所用的表面粗糙度样块和被检测量面的加工方法应该相同，表面粗糙度样块的材料，形状，表面色泽等也应尽可能与被校测量面一致。以相应表面粗糙度比较样块的标称值作为测量结果。6.3.7底板测量面的平面度
深度千分尺底板测量面的平面度用刀口尺测量。按图6所示方向进行检定。截面如6
24—2016
果有的中间高有的中间低，则工作面的平面度应为二者的叠加；当所有截面均为中间高或中间低时，取其中最大光隙量作为被测工作面的平面度。对于平面度不大于2um的深度千分尺底板测量面的平面度也可以用直径为100mm的2级平晶以技术光波干涉法进行检定，见图7。其平面度：a=n2
式中：
干涉条纹的条数；
工作光波的波长，um。
图6用刀口尺测量
6.3.8测力
图7用技术光波干涉法测量
用测力仪进行检定，分别在深度千分尺微分筒量程段的起点、中点、末点进行。6.3.9示值误差
用量块在平板上进行检定，测量示意见图8所示。检定时，量块应放置在距底板测量面边缘（3～5）mm的位置。
先对各测量杆调零。对于量程范围为25mm的深度千分尺，受检点应至少均分布于测微头示值范围的5点上，如A十5.12mm（A为各测量杆对应的测量下限）、A+10.24mm（或A+10.25mm）、A+15.36mm（或A+15.37mm）、A+21.5mm、A+25mm；量程为50mm的受检点为：A+5.12mm、A+10.24mm(或A+10.25mm），A+15.36mm（或A+15.37mm)，A+21.5mmA+25mmA+27.5mm、A+30mm、A+40mm、A+45mm、A+50mm。每一受检点应用组尺寸相同的两块量块（实际尺寸差不超过1.2um）进行测量，深度千分尺的读数值与量块实际尺寸的差值为该点的示值误差ee:=Li-Ls
式中：
一千分尺的读数值（20℃），mm；一量块的实际尺寸（20℃），mm。L
取各受检点中绝对值最大的示值误差为该尺的示值误差。(2)
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