JJG 478-2016
基本信息
标准号： JJG 478-2016
中文名称：α、β表面污染仪检定规程
标准类别：国家计量标准(JJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
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出版信息
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标准简介
JJG 478-2016 α、β表面污染仪检定规程
JJG478-2016
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标准内容
中华人民共和国国家计量检定规程JJG478—2016
α、β表面污染仪
a、βSurfaceContaminationMonitors2016-11-30发布
2017-05-30实施
国家质量监督检验检疫总局发布JJG478—2016
α、β表面污染仪检定规程
Verification Regulation for a,βSurfaceContaminationMonitorsJJG478—2016
代替JJG478—1996
归口单位：全国电离辐射计量技术委员会主要起草单位：上海市计量测试技术研究院参加起草单位：北京市计量检测科学研究院深圳市计量质量检测研究院
本规程委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释本规程主要起草人：
JJG478—2016
唐方东（上海市计量测试技术研究院）何林锋（上海市计量测试技术研究院）赵贵坤（北京市计量检测科学研究院）周迎春（深圳市计量质量检测研究院）参加起草人：
罗琛（北京市计量检测科学研究院）李名兆（深圳市计量质量检测研究院）陆小军（上海市计量测试技术研究院）引言
范围·
2引用文件·
3术语和计量单位…
3.1术语.
3.2计量单位…
计量性能要求…
通用技术要求
7计量器具控制
检定条件
检定项目
检定方法：
检定结果的处理.…
检定周期·
附录A
附录B
附录C
附录D
附录E
检定记录推荐格式
JJG478—2016
检定证书内页信息及推荐格式
检定结果通知书内页信息及推荐格式表面活度响应及其计算方法
校准因子的测量方法
（2）
（2）
（2）
（2）
（3）
（3）
JJG478—2016
α、β表面污染仪是常用的辐射防护仪器，用于开放性放射性工作场所放射性表面污染的监测，其计量性能直接影响监测结果的准确可靠，关乎辐射安全。JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑制定本规程的基础性规范。本规程的修订以GB/T8997一2008《α、β表面污染测量仪与监测仪的校准》，GB/T5202一2008《辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪》为主要技术参考。
与JJG478一1996相比，除编辑性修改外，本规程主要技术变化如下：规程名称修改为“α、β表面污染仪”，取消了“表面污染仪”；提高了对标准平面源量值不确定度的要求；放宽检定条件中对环境温度的要求；—取消“β能量响应”检定项目；一增加“本底计数率”检定项目；一以“表面发射率响应”取代“表面活度响应”；一以“相对固有误差”取代“基本误差”；一附录中增加表面活度响应的计算方法和校准因子的测量方法。本规程的历次版本发布情况为：-JJG478—1996。
1范围
JJG478—2016
α、β表面污染仪检定规程
本规程适用于α、β表面污染仪的首次检定、后续检定和使用中检查，包括α表面污染测量仪与监测仪，β表面污染测量仪与监测仪，以及α/β表面污染测量仪和监测仪。本规程不适用于固定式α、β个人表面污染测量监测装置以及最大能量小于60keV的β粒子测量或监测仪器的检定。2引用文件
本规程引用下列文件：
JF1001—2011通用计量术语及定义GB/T4960.1一2010核科学技术术语第1部分：核物理与核化学GB/T4960.6一2008核科学技术术语第6部分：核仪器仪表GB/T5202一2008辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪
GB/T8997—2008α、β表面污染测量仪与监测仪的校准凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单位）适用于本规程。3术语和计量单位
3.1术语
JJF1001—2011、GB/T4960.1-—2010、GB/T4960.6—2008界定的及以下术语和定义适用于本规程。
3.1.1表面发射率响应surfaceemissionrateresponse在确定的条件下，测量仪器或装置（系统）对激励作用的反应特性称为响应，以仪器示值与激励量的商表示。当放射源的量值以表面发射率表示时，称为表面发射率响应。
3.1.2表面活度响应surfaceactivityresponseα、β表面污染仪对标准平面源的示值与标准平面源单位面积活度的商。3.2计量单位
4概述
［放射性］活度：贝可［勒尔]；符号：Bq。【源］表面发射率：每分钟2元粒子数；符号：（min·2元sr）-1。α、β表面污染仪包括便携式α、β表面污染测量仪和监测仪，后者具有报警功能。由探测器、信号处理与显示等部件组成，通常采用闪炼体探测器或气体探测器，用于开1
JJG478—2016
放性放射性工作场所操作台、地面、墙面、物件表面以及工作人员皮肤和衣物表面α、β污染的探测，以计数率或Bq·cm-?显示。α、β表面污染仪主要应用于辐射防护领域。5计量性能要求
α、β表面污染仪的计量性能要求见表1。表1α、β表面污染仪的技术要求计量性能
本底计数率
表面发射率响应
重复性
相对固有误差
通用技术要求
6.1外观
满足出厂技术指标
技术要求
当放射性平面源距探测器窗表面5mm时，对于241Am或29Pu核素α粒子的表面发射率响应不低于0.20；当放射性平面源距探测器窗表面10mm时，对于20T1或\CI核素β粒子的表面发射率响应不低于0.15小于20%
不超过士25%
α、β表面污染仪外观不应有锈蚀、裂纹和破损等缺陷以及影响正常工作的机械损伤，控制面板或系统界面上所设置的功能键应能完成该键指令下的功能。6.2标识
α、β表面污染仪应具有生产厂家、规格型号、出厂编号以及接线端口等清晰标识。7计量器具控制
7.1检定条件
7.1.1计量标准
（1）α标准平面源：表面发射率范围（103105）／（min·2元sr），相对扩展不确定度不超过5%（k=2）；平面源表面发射率的不均匀性不超过10%。参考核素：241Am，239Pu。
（2）β标准平面源：表面发射率范围（10*～10°）／（min·2元sr），相对扩展不确定度不超过5%（k=2；平面源表面发射率的不均匀性不超过10%。参考核素：204T1,36Cl。
如果探测器用于测量最大能量小于200keV的β粒子，参考核素为14C。（3）其他检定用设备
定位支架：定位偏差不超过士0.5mm。7.1.2环境条件
（1）环境温度：（1530）℃；
（2）相对湿度：不大于75%；
JJG478—2016
（3）环境本底辐射小于0.25μGy/h；（4）周围无明显影响正常工作的机械振动和电磁干扰。7.2检定项目
α、β表面污染仪首次检定、后续检定和使用中检查项目见表2。表2检定项目一览表
检定项目
外观及标识
本底计数率
表面发射率响应
重复性
相对固有误差
首次检定
后续检定
注：“十”为需检定的项目，“一”为不需检定的项目。7.3检定方法
7.3.1外观及标识
目测与通电检查α、β表面污染仪是否满足第6章的要求。7.3.2本底计数率
开机预热，连续测量本底计数率至少10次，取其算术平均值。7.3.3表面发射率响应
使用中检查
分别用α、β系列标准平面源测定α、β表面污染仪对α、β粒子的响应。检定测量时，探测器窗与标准平面源应保持平行，标准平面源活性区面积应覆盖探测器窗。α标准平面源距探测器窗表面距离为5mm，β标准平面源距探测器窗表面距离为10mm。用α、β表面污染仪依次分别对α、β系列标准源测量，每一系列标准源至少包括3个相邻量级的标准源，每一个标准源重复读数不少于5次，取平均值。α、β表面污染仪扣除本底后的净计数，与探测器窗对应的标准平面源活性区面积上表面发射率的商，即为被检仪器的表面发射率响应，按公式（1）和公式（2）计算。Ru:
式中：
N,-Nib
被检仪器对i系列标准源中第i个源的表面发射率响应，无量纲；N，——被检仪器对i系列标准源中第i个标准源的读数平均值，s-1;Nib——被检仪器对i放射性的本底计数率，s-1；qjs
一i系列标准源中第i个源与探测器窗对应面积上的表面发射率，s-1。R
式中：
JJG478—2016
R，一被检仪器对i放射性的表面发射率响应，无量纲；n——被检仪器测量i系列标准源的个数，n≥3。7.3.4重复性
用α、β表面污染仪分别对表面发射率约为10*/（min·2元sr）的α、β系列标准源连续重复测量10次，被检仪器的重复性以相对实验标准差表示，按公式（3）计算。C(N-N,)2
式中：
V：—被检仪器的重复性，%；
Nim被检仪器对i放射性标准源的第m个读数，s-1；N；——被检仪器对i放射性标准源的读数平均值，s-\；n—被检仪器对i放射性标准源的测量次数，n=10。7.3.5相对固有误差
由7.3.2测定的α、β表面污染仪的表面发射率响应，按公式（4）计算各检定测量点的相对固有误差。
Es =Ru=R × 100%
式中：
E，一一被检仪器测量i放射性时第i个测量点的相对固有误差，%。取E中绝对值最大者为仪器对i放射性的相对固有误差（E,）。（4）
判定相对固有误差检定结果应考虑标准平面源的不均匀性。如果α、β表面污染仪相对固有误差检定结果同时满足：1）相对固有误差E的测量结果不超过士35%；2）任意两个检定测量点相对固有误差E；的测量值之差不超过士50%。则判定为符合相对固有误差的技术要求。7.4检定结果的处理
按本规程检定合格的α、β表面污染仪发给检定证书（推荐内页格式见附录B)；检定结果中有一项不符合本规程的技术要求即为检定不合格，检定不合格的α、β表面污染仪发给检定结果通知书（推荐内页格式见附录C)，并注明不合格项目。7.5检定周期
α、β表面污染仪的检定周期一般不超过1年。4
附录A
1.被检仪器信息：型号
2.检定环境条件：温度
3.检定结果
（1）本底计数率
测量挡
JJG478—2016此内容来自标准下载网
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，器号
；相对湿度
仪器读数N，（s-\或min\\）（2）表面发射率响应、重复性、相对固有误差标准源
测量挡
编号/
仪器读数N，（s-1或min-1）
；制造厂
，其他
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α、β表面污染仪
a、βSurfaceContaminationMonitors2016-11-30发布
2017-05-30实施
国家质量监督检验检疫总局发布JJG478—2016
α、β表面污染仪检定规程
Verification Regulation for a,βSurfaceContaminationMonitorsJJG478—2016
代替JJG478—1996
归口单位：全国电离辐射计量技术委员会主要起草单位：上海市计量测试技术研究院参加起草单位：北京市计量检测科学研究院深圳市计量质量检测研究院
本规程委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释本规程主要起草人：
JJG478—2016
唐方东（上海市计量测试技术研究院）何林锋（上海市计量测试技术研究院）赵贵坤（北京市计量检测科学研究院）周迎春（深圳市计量质量检测研究院）参加起草人：
罗琛（北京市计量检测科学研究院）李名兆（深圳市计量质量检测研究院）陆小军（上海市计量测试技术研究院）引言
范围·
2引用文件·
3术语和计量单位…
3.1术语.
3.2计量单位…
计量性能要求…
通用技术要求
7计量器具控制
检定条件
检定项目
检定方法：
检定结果的处理.…
检定周期·
附录A
附录B
附录C
附录D
附录E
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检定结果通知书内页信息及推荐格式表面活度响应及其计算方法
校准因子的测量方法
（2）
（2）
（2）
（2）
（3）
（3）
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α、β表面污染仪是常用的辐射防护仪器，用于开放性放射性工作场所放射性表面污染的监测，其计量性能直接影响监测结果的准确可靠，关乎辐射安全。JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑制定本规程的基础性规范。本规程的修订以GB/T8997一2008《α、β表面污染测量仪与监测仪的校准》，GB/T5202一2008《辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪》为主要技术参考。
与JJG478一1996相比，除编辑性修改外，本规程主要技术变化如下：规程名称修改为“α、β表面污染仪”，取消了“表面污染仪”；提高了对标准平面源量值不确定度的要求；放宽检定条件中对环境温度的要求；—取消“β能量响应”检定项目；一增加“本底计数率”检定项目；一以“表面发射率响应”取代“表面活度响应”；一以“相对固有误差”取代“基本误差”；一附录中增加表面活度响应的计算方法和校准因子的测量方法。本规程的历次版本发布情况为：-JJG478—1996。
1范围
JJG478—2016
α、β表面污染仪检定规程
本规程适用于α、β表面污染仪的首次检定、后续检定和使用中检查，包括α表面污染测量仪与监测仪，β表面污染测量仪与监测仪，以及α/β表面污染测量仪和监测仪。本规程不适用于固定式α、β个人表面污染测量监测装置以及最大能量小于60keV的β粒子测量或监测仪器的检定。2引用文件
本规程引用下列文件：
JF1001—2011通用计量术语及定义GB/T4960.1一2010核科学技术术语第1部分：核物理与核化学GB/T4960.6一2008核科学技术术语第6部分：核仪器仪表GB/T5202一2008辐射防护仪器α、β和α/β（β能量大于60keV）污染测量仪与监测仪
GB/T8997—2008α、β表面污染测量仪与监测仪的校准凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单位）适用于本规程。3术语和计量单位
3.1术语
JJF1001—2011、GB/T4960.1-—2010、GB/T4960.6—2008界定的及以下术语和定义适用于本规程。
3.1.1表面发射率响应surfaceemissionrateresponse在确定的条件下，测量仪器或装置（系统）对激励作用的反应特性称为响应，以仪器示值与激励量的商表示。当放射源的量值以表面发射率表示时，称为表面发射率响应。
3.1.2表面活度响应surfaceactivityresponseα、β表面污染仪对标准平面源的示值与标准平面源单位面积活度的商。3.2计量单位
4概述
［放射性］活度：贝可［勒尔]；符号：Bq。【源］表面发射率：每分钟2元粒子数；符号：（min·2元sr）-1。α、β表面污染仪包括便携式α、β表面污染测量仪和监测仪，后者具有报警功能。由探测器、信号处理与显示等部件组成，通常采用闪炼体探测器或气体探测器，用于开1
JJG478—2016
放性放射性工作场所操作台、地面、墙面、物件表面以及工作人员皮肤和衣物表面α、β污染的探测，以计数率或Bq·cm-?显示。α、β表面污染仪主要应用于辐射防护领域。5计量性能要求
α、β表面污染仪的计量性能要求见表1。表1α、β表面污染仪的技术要求计量性能
本底计数率
表面发射率响应
重复性
相对固有误差
通用技术要求
6.1外观
满足出厂技术指标
技术要求
当放射性平面源距探测器窗表面5mm时，对于241Am或29Pu核素α粒子的表面发射率响应不低于0.20；当放射性平面源距探测器窗表面10mm时，对于20T1或\CI核素β粒子的表面发射率响应不低于0.15小于20%
不超过士25%
α、β表面污染仪外观不应有锈蚀、裂纹和破损等缺陷以及影响正常工作的机械损伤，控制面板或系统界面上所设置的功能键应能完成该键指令下的功能。6.2标识
α、β表面污染仪应具有生产厂家、规格型号、出厂编号以及接线端口等清晰标识。7计量器具控制
7.1检定条件
7.1.1计量标准
（1）α标准平面源：表面发射率范围（103105）／（min·2元sr），相对扩展不确定度不超过5%（k=2）；平面源表面发射率的不均匀性不超过10%。参考核素：241Am，239Pu。
（2）β标准平面源：表面发射率范围（10*～10°）／（min·2元sr），相对扩展不确定度不超过5%（k=2；平面源表面发射率的不均匀性不超过10%。参考核素：204T1,36Cl。
如果探测器用于测量最大能量小于200keV的β粒子，参考核素为14C。（3）其他检定用设备
定位支架：定位偏差不超过士0.5mm。7.1.2环境条件
（1）环境温度：（1530）℃；
（2）相对湿度：不大于75%；
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（3）环境本底辐射小于0.25μGy/h；（4）周围无明显影响正常工作的机械振动和电磁干扰。7.2检定项目
α、β表面污染仪首次检定、后续检定和使用中检查项目见表2。表2检定项目一览表
检定项目
外观及标识
本底计数率
表面发射率响应
重复性
相对固有误差
首次检定
后续检定
注：“十”为需检定的项目，“一”为不需检定的项目。7.3检定方法
7.3.1外观及标识
目测与通电检查α、β表面污染仪是否满足第6章的要求。7.3.2本底计数率
开机预热，连续测量本底计数率至少10次，取其算术平均值。7.3.3表面发射率响应
使用中检查
分别用α、β系列标准平面源测定α、β表面污染仪对α、β粒子的响应。检定测量时，探测器窗与标准平面源应保持平行，标准平面源活性区面积应覆盖探测器窗。α标准平面源距探测器窗表面距离为5mm，β标准平面源距探测器窗表面距离为10mm。用α、β表面污染仪依次分别对α、β系列标准源测量，每一系列标准源至少包括3个相邻量级的标准源，每一个标准源重复读数不少于5次，取平均值。α、β表面污染仪扣除本底后的净计数，与探测器窗对应的标准平面源活性区面积上表面发射率的商，即为被检仪器的表面发射率响应，按公式（1）和公式（2）计算。Ru:
式中：
N,-Nib
被检仪器对i系列标准源中第i个源的表面发射率响应，无量纲；N，——被检仪器对i系列标准源中第i个标准源的读数平均值，s-1;Nib——被检仪器对i放射性的本底计数率，s-1；qjs
一i系列标准源中第i个源与探测器窗对应面积上的表面发射率，s-1。R
式中：
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R，一被检仪器对i放射性的表面发射率响应，无量纲；n——被检仪器测量i系列标准源的个数，n≥3。7.3.4重复性
用α、β表面污染仪分别对表面发射率约为10*/（min·2元sr）的α、β系列标准源连续重复测量10次，被检仪器的重复性以相对实验标准差表示，按公式（3）计算。C(N-N,)2
式中：
V：—被检仪器的重复性，%；
Nim被检仪器对i放射性标准源的第m个读数，s-1；N；——被检仪器对i放射性标准源的读数平均值，s-\；n—被检仪器对i放射性标准源的测量次数，n=10。7.3.5相对固有误差
由7.3.2测定的α、β表面污染仪的表面发射率响应，按公式（4）计算各检定测量点的相对固有误差。
Es =Ru=R × 100%
式中：
E，一一被检仪器测量i放射性时第i个测量点的相对固有误差，%。取E中绝对值最大者为仪器对i放射性的相对固有误差（E,）。（4）
判定相对固有误差检定结果应考虑标准平面源的不均匀性。如果α、β表面污染仪相对固有误差检定结果同时满足：1）相对固有误差E的测量结果不超过士35%；2）任意两个检定测量点相对固有误差E；的测量值之差不超过士50%。则判定为符合相对固有误差的技术要求。7.4检定结果的处理
按本规程检定合格的α、β表面污染仪发给检定证书（推荐内页格式见附录B)；检定结果中有一项不符合本规程的技术要求即为检定不合格，检定不合格的α、β表面污染仪发给检定结果通知书（推荐内页格式见附录C)，并注明不合格项目。7.5检定周期
α、β表面污染仪的检定周期一般不超过1年。4
附录A
1.被检仪器信息：型号
2.检定环境条件：温度
3.检定结果
（1）本底计数率
测量挡
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；相对湿度
仪器读数N，（s-\或min\\）（2）表面发射率响应、重复性、相对固有误差标准源
测量挡
编号/
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；制造厂
，其他
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