GB/T 44073-2024
基本信息
标准号： GB/T 44073-2024
中文名称：微波暗室场地确认方法
标准类别：国家标准(GB)
英文名称：Site validation method for microwave anechoic chamber
标准状态：即将实施
发布日期：2024-05-28
实施日期：2024-12-01
出版语种：简体中文
下载格式：.pdf .zip
下载大小：6083373
标准分类号
标准ICS号：电信、音频和视频技术>>33.100电磁兼容性(EMC)
中标分类号：电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L06电磁兼容
关联标准
出版信息
出版社：中国标准出版社
页数：24页【彩图】
标准价格：49.0
相关单位信息
起草人：刘潇、崔强、韩玉峰、王维龙、白冰、班浩、赵兴、孟东林、刘文芳、吴艳丽、李志鹏、付君、杨志超、黄敏昌、朱明星、尚柱冈、陈政宇、王楠、高启轩、王泽堂、黄雪梅、黄杰武
起草单位：中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院、北京无线电计量测试研究所、河南省计量测试科学研究院、中国电力科学研究院有限公司、江苏省电子信息产品质量监督检验研究院、奥尔托射频科技(上海)有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司等
归口单位：全国无线电干扰标准化技术委员会(SAC/TC 79)
提出单位：全国无线电干扰标准化技术委员会(SAC/TC 79)
发布部门：国家市场监督管理总局 中国国家标准化管理委员会
标准简介
本文件描述了700 MHz～110 GHz频率范围内微波暗室场地确认方法。
本文件适用于微波暗室场地静区性能确认。
标准图片预览
标准内容
ICS33.100
CCSL06
中华人民共和国国家标准
GB/T44073—2024
微波暗室场地确认方法
Site validation method for microwave anechoic chamber2024-05-28发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2024-12-01实施
规范性引用文件
术语和定义
测量方法
测量设备
测量设置
测量步骤
数据处理
测量不确定度
试验报告
暗室诊断
附录A（资料性）
附录B（资料性）
附录C（资料性）
参考文献
静区反射率电平计算公式的推导次
静区反射率电平测量不确定度评定示例暗室成像技术
GB/T44073—2024
GB/T44073—2024
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国无线电干扰标准化技术委员会（SAC/TC79）提出并归口。本文件起草单位：中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院、北京无线电计量测试研究所、河南省计量测试科学研究院、中国电力科学研究院有限公司、江苏省电子信息产品质量监督检验研究院、奥尔托射频科技（上海）有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、深圳市雅诺讯科技有限公司。
本文件主要起草人：刘潇、崔强、韩玉峰、王维龙、白冰、班浩、赵兴、孟东林、刘文芳、吴艳丽、李志鹏、付君、杨志超、黄敏昌、朱明星、尚柱冈、陈政宇、王楠、高启轩、王泽堂、黄雪梅、黄杰武，1范围
微波暗室场地确认方法
本文件描述了700MHz~110GHz频率范围内微波暗室场地确认方法。本文件适用于微波暗室场地静区性能确认。2
规范性引用文件
GB/T44073—2024
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T4365—2003
术语和定义
电工术语
电磁兼容
GB/T4365一2003界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
微波暗室
microwaveanechoicchamber
一种经过专门设计的用于模拟自由空间的封闭室。注：该室内壁铺设吸波材料，能充分吸收微波频段的电磁波，使放置待测件的有限区域来自各个方向的电磁波反射信号电平下降到可接受程度。
静区quietzone
在微波暗室中放置待测件，来自各个方向的电磁波反射信号电平被控制到设计水平的有限区域3.3
静区反射率电平
quietzonereflectivitylevel
微波暗室静区内等效反射波信号与直射波信号之比。注：通常用分贝（dB)表示。
测量方法
4.1概述bZxz.net
微波暗室模拟自由空间.用于天线测量、目标特性测量等领域，具有全天候工作的优势。实际应用中由于吸波材料无法完全吸收电磁波等原因，暗室中仍然会有反射波存在，这些反射波从各个方向进入静区并与直射波叠加，见图1。在静区内一定行程线上形成空间驻波分布，该指标用静区反射率表征。将微波暗室用于天线辐射方向图等参数测量时，应评估暗室中不同角度的静区反射率电平。GB/T44073—2024
吸波材料
发射天线
直射波
反射波
典型微波暗室及静区示意图
微波暗室静区反射率电平测量方法采用自由空间电压驻波比法，其测量原理是基于微波暗室中存在直射波信号和反射波信号，直射波信号和反射波信号电场强度分别用E和E，表示，两者的失量和在静区中一定行程线上形成空间驻波：驻波的数值大小即反映了微波暗室内反射波信号的大小通过测量空间电压驻波确定暗室的静区反射率电平，见图2。www
吸波材料
发射天线
育射波
、反射波
行程线
接收天线
图2静区中直射波信号和反射波信号示意图测量设备
4.2.1一般要求
测量系统一般由网络分析仪、发射天线、接收天线和扫描架等设备组成，见图3a)方式1.网络分析仪可用信号发生器和接收机、频谱仪或功率计等接收设备代替，见图3b）方式2。测量系统动态范围至少优于待测反射率电平10dB。可根据实际情况在发射端使用放大器和/或在接收端使用前置放大器，此时应注意放大器的漂移影响，并保证接收信号在线性范围内。在测量开始前，所用设备应按使用说明书要求充分预热，并将周围无关设备和设施移开，以减小对测量的影响。
网络分析仪
数大器
发时天线
发射天线
0信号发生器0
网络分析仪
计算机
方式1
计算机
b）方式2
接收天线
扫描架
控制器
接收天线
前置放大器
扫描架
0接收设备0
扫描架
控制器
图3测量系统示意图
频率覆盖测试频段，可通过扩频模块实现频率扩展，频率准确度应优于10-64.2.3信号发生器
频率覆盖测试频段，可通过扩频模块实现频率扩展，频率准确度应优于10-64.2.4接收设备
GB/T44073—2024
频率覆盖测试频段，可采用频谱仪、测量接收机或者功率计作为接收设备，可通过扩频模块实现频率扩展。
GB/T44073-—2024
发射天线
在测量中，发射天线宜采用微波暗室实际使用的天线，也可使用小于实际使用天线增益的中低增益线极化天线，以保证有足够的电磁能量照射到暗室各个内壁，发射天线安装位置与实际使用时相同。发
射天线在测量频率点的驻波比应小于1.5，实际使用天线未知的情况下，可按表1，在试验报告中标注发射天线增益。
发射天线要求
>18.0~110.0
注：在任意两个题段的交叉频率点选用高低增益值均可。4.2.6
接收天线
增益（典型值）
接收天线应选择高方向性的线极化天线，在测量频率点的端口驻波比应小于1.5。一般选择高增益
的标准增益喇叭天线作为接收天线，增益要求见表2，在试验报告中标注接收天线增益，表2
>2.6~3.95
>3.95~5.85
>5.85~8.2
>8.2~12.4
>12.4~18.0
>18.0~26.5
>26.5~40.0
>40.0~50.0
>50.0~75.0
>75.0~110.0
接收天线增益要求
增益（典型值）
注：在任意两个频段的交叉频率点选用高低增益值均可。4.2.7
扫描架
扫描架用于实现接收天线在静区内的行走，应满足以下基本要求：4
有效行程应大于或等于静区范围，并至少可覆盖一个空间驻波周期；a）
具备足够的机械强度，提供稳定支撑，接收关线行走无明显晃动：保证接收天线定位精度优于最高测量频率对应波长的1/10；GB/T44073—2024
具有低散射特性，对原有空间场的扰动足够小，使得扫描架引人的对于暗室静区反射率电平测量的影响可忽略。
4.3测量设置
测量应分别在天线水平极化和垂直极化下进行，至少应测量穿过静区中心的X1-X2、Y1-Y2和Z1-22行程线，见图4，可选择其他行程线。发射源
图4扫描架走行范围和行程线示意图以收发天线连线为0方向，接收天线在XZ方向上进行测量时，仅改变方位角α，俯仰角保持0°接收天线在Y方向上进行测量时，仅改变俯仰角，方位角α保持0在X方向上进行测量时，接收天线般以15°间隔选择方位角，通常可在土30°土45°士60°土75，土90上测量，见图5a）；在Z方向进行测量时，通常可在士150°上测量，见图5b）；在Y方向进行测量时，俯仰角可选择45°以避免扫描架影响，见图5c）。也可根据接收关线辐射方向图3dB波束宽度选择指向角度间隔。若暗室两侧墙、顶面和地面四面完全一致，同时静区位于宽度和高度中心，可不在Y方向选择行程线。若暗室两面侧墙完全一致，同时静区位于宽度中心，方位角可只选择正角度或负角度WWWWWW
60-7590
6075~-90
a）沿X行程线指向角度（俯视图）图5指向角度
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CCSL06
中华人民共和国国家标准
GB/T44073—2024
微波暗室场地确认方法
Site validation method for microwave anechoic chamber2024-05-28发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2024-12-01实施
规范性引用文件
术语和定义
测量方法
测量设备
测量设置
测量步骤
数据处理
测量不确定度
试验报告
暗室诊断
附录A（资料性）
附录B（资料性）
附录C（资料性）
参考文献
静区反射率电平计算公式的推导次
静区反射率电平测量不确定度评定示例暗室成像技术
GB/T44073—2024
GB/T44073—2024
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国无线电干扰标准化技术委员会（SAC/TC79）提出并归口。本文件起草单位：中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院、北京无线电计量测试研究所、河南省计量测试科学研究院、中国电力科学研究院有限公司、江苏省电子信息产品质量监督检验研究院、奥尔托射频科技（上海）有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、深圳市雅诺讯科技有限公司。
本文件主要起草人：刘潇、崔强、韩玉峰、王维龙、白冰、班浩、赵兴、孟东林、刘文芳、吴艳丽、李志鹏、付君、杨志超、黄敏昌、朱明星、尚柱冈、陈政宇、王楠、高启轩、王泽堂、黄雪梅、黄杰武，1范围
微波暗室场地确认方法
本文件描述了700MHz~110GHz频率范围内微波暗室场地确认方法。本文件适用于微波暗室场地静区性能确认。2
规范性引用文件
GB/T44073—2024
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T4365—2003
术语和定义
电工术语
电磁兼容
GB/T4365一2003界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
微波暗室
microwaveanechoicchamber
一种经过专门设计的用于模拟自由空间的封闭室。注：该室内壁铺设吸波材料，能充分吸收微波频段的电磁波，使放置待测件的有限区域来自各个方向的电磁波反射信号电平下降到可接受程度。
静区quietzone
在微波暗室中放置待测件，来自各个方向的电磁波反射信号电平被控制到设计水平的有限区域3.3
静区反射率电平
quietzonereflectivitylevel
微波暗室静区内等效反射波信号与直射波信号之比。注：通常用分贝（dB)表示。
测量方法
4.1概述bZxz.net
微波暗室模拟自由空间.用于天线测量、目标特性测量等领域，具有全天候工作的优势。实际应用中由于吸波材料无法完全吸收电磁波等原因，暗室中仍然会有反射波存在，这些反射波从各个方向进入静区并与直射波叠加，见图1。在静区内一定行程线上形成空间驻波分布，该指标用静区反射率表征。将微波暗室用于天线辐射方向图等参数测量时，应评估暗室中不同角度的静区反射率电平。GB/T44073—2024
吸波材料
发射天线
直射波
反射波
典型微波暗室及静区示意图
微波暗室静区反射率电平测量方法采用自由空间电压驻波比法，其测量原理是基于微波暗室中存在直射波信号和反射波信号，直射波信号和反射波信号电场强度分别用E和E，表示，两者的失量和在静区中一定行程线上形成空间驻波：驻波的数值大小即反映了微波暗室内反射波信号的大小通过测量空间电压驻波确定暗室的静区反射率电平，见图2。www
吸波材料
发射天线
育射波
、反射波
行程线
接收天线
图2静区中直射波信号和反射波信号示意图测量设备
4.2.1一般要求
测量系统一般由网络分析仪、发射天线、接收天线和扫描架等设备组成，见图3a)方式1.网络分析仪可用信号发生器和接收机、频谱仪或功率计等接收设备代替，见图3b）方式2。测量系统动态范围至少优于待测反射率电平10dB。可根据实际情况在发射端使用放大器和/或在接收端使用前置放大器，此时应注意放大器的漂移影响，并保证接收信号在线性范围内。在测量开始前，所用设备应按使用说明书要求充分预热，并将周围无关设备和设施移开，以减小对测量的影响。
网络分析仪
数大器
发时天线
发射天线
0信号发生器0
网络分析仪
计算机
方式1
计算机
b）方式2
接收天线
扫描架
控制器
接收天线
前置放大器
扫描架
0接收设备0
扫描架
控制器
图3测量系统示意图
频率覆盖测试频段，可通过扩频模块实现频率扩展，频率准确度应优于10-64.2.3信号发生器
频率覆盖测试频段，可通过扩频模块实现频率扩展，频率准确度应优于10-64.2.4接收设备
GB/T44073—2024
频率覆盖测试频段，可采用频谱仪、测量接收机或者功率计作为接收设备，可通过扩频模块实现频率扩展。
GB/T44073-—2024
发射天线
在测量中，发射天线宜采用微波暗室实际使用的天线，也可使用小于实际使用天线增益的中低增益线极化天线，以保证有足够的电磁能量照射到暗室各个内壁，发射天线安装位置与实际使用时相同。发
射天线在测量频率点的驻波比应小于1.5，实际使用天线未知的情况下，可按表1，在试验报告中标注发射天线增益。
发射天线要求
>18.0~110.0
注：在任意两个题段的交叉频率点选用高低增益值均可。4.2.6
接收天线
增益（典型值）
接收天线应选择高方向性的线极化天线，在测量频率点的端口驻波比应小于1.5。一般选择高增益
的标准增益喇叭天线作为接收天线，增益要求见表2，在试验报告中标注接收天线增益，表2
>2.6~3.95
>3.95~5.85
>5.85~8.2
>8.2~12.4
>12.4~18.0
>18.0~26.5
>26.5~40.0
>40.0~50.0
>50.0~75.0
>75.0~110.0
接收天线增益要求
增益（典型值）
注：在任意两个频段的交叉频率点选用高低增益值均可。4.2.7
扫描架
扫描架用于实现接收天线在静区内的行走，应满足以下基本要求：4
有效行程应大于或等于静区范围，并至少可覆盖一个空间驻波周期；a）
具备足够的机械强度，提供稳定支撑，接收关线行走无明显晃动：保证接收天线定位精度优于最高测量频率对应波长的1/10；GB/T44073—2024
具有低散射特性，对原有空间场的扰动足够小，使得扫描架引人的对于暗室静区反射率电平测量的影响可忽略。
4.3测量设置
测量应分别在天线水平极化和垂直极化下进行，至少应测量穿过静区中心的X1-X2、Y1-Y2和Z1-22行程线，见图4，可选择其他行程线。发射源
图4扫描架走行范围和行程线示意图以收发天线连线为0方向，接收天线在XZ方向上进行测量时，仅改变方位角α，俯仰角保持0°接收天线在Y方向上进行测量时，仅改变俯仰角，方位角α保持0在X方向上进行测量时，接收天线般以15°间隔选择方位角，通常可在土30°土45°士60°土75，土90上测量，见图5a）；在Z方向进行测量时，通常可在士150°上测量，见图5b）；在Y方向进行测量时，俯仰角可选择45°以避免扫描架影响，见图5c）。也可根据接收关线辐射方向图3dB波束宽度选择指向角度间隔。若暗室两侧墙、顶面和地面四面完全一致，同时静区位于宽度和高度中心，可不在Y方向选择行程线。若暗室两面侧墙完全一致，同时静区位于宽度中心，方位角可只选择正角度或负角度WWWWWW
60-7590
6075~-90
a）沿X行程线指向角度（俯视图）图5指向角度
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。