本分规范适用于按标准产品或定制产品而制造的，其质量是以鉴定批准为基础评定的膜集成电路和混合膜集成电路。 GB 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) GB11498-1989 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
Sectional specification for film integrated circuitsand hybrid film integrated circuits on the basis of thequalification approval procedure（可供认证用）
1范围和目的
1.1范围
UDC621.3.049.774
GB 11498-89
本分规范适用于按标准产品或定制产品而制造的，其质量是以鉴定批准为基础评定的膜集成电路和混合膜集成电路。
1.2目的
本规范的目的是为额定值和特性提供优先值，从总规范中选择合适的试验和测量方法，并且给出根据本规范制定的膜集成电路和混合膜集成电路详细规范使用的总性能要求。参照本分规范制定的详细规范所规定的试验严酷度和要求应等于或高于分规范的性能水平，低的性能水平是不允许的。
同本规范相联系的有一个或多个空白详细规范，每个空白详细规范均给以编号。按照本规范2.3条规定填写空白详细规范，即构成一个详细规范。按IECQ体系，这样的详细规范可用于膜集成电路和混合膜集成电路鉴定批准的授与和质量一致性检验。2总则，优先特性、额定值和环境试验严酷度2.1有关文件
GB2471电子设备用电阻器的标称阻值系列和固定电容器标称容量系列及其允许偏差系列GB8976膜集成电路和混合膜集成电路总规范2.2优先额定值和特性
电压和电流的优先值在IEC747-1中给出；电阻器和电容器的优先值在IEC63中给出；定制电路可以选择任意的值和误差。2.3详细规范给出的资料
详细规范根据有关空白详细规范制订。详细规范规定的严酷度应不低于总规范或分规范规定的严酷度。若包括更严要求时，应列入详细规范，并在试验表中指出，如用“星号”。注：为了方便起见，尺寸、特性和额定值的数据可以采用表格形式。每个详细规范应给出以下资料，引用值应优先从本分规范适用的条款中选择。每个详细规范应规定逐批检验和周期试验所要求的各项试验和测量。至少要包括本规范中给出的有关试验及其方法和严酷度。
机械电子工业部1989-03-18批准1990-04-01实施
2.3.1外形图和尺寸
GB11498-89
应当有电路的图解，以便容易识别，并同其他电路比较。详细规范应规定那些影响互换性和安装的尺寸及其关联的公差。所有尺寸用毫米表示。一般情况下，应给出壳体的长、宽和高以及引出端间距的数值；对于圆柱形应给出壳体的直径、长度和引出端的直径。
当需要时，例如当一个详细规范含有一种以上的封装时，尺寸及其关联的公差应在图下的一个表中列出。
当其结构与上述不同时，详细规范应规定那些能充分描述电路的尺寸数据2.3.2安装
详细规范应规定电路在常规使用及在振动、碰撞或冲击试验中所用的安装方法。在电路使用中有时要求电路设计有特殊的安装夹具，在这种情况下，详细规范应规定安装夹具，并且在进行振动、碰撞或冲击试验时应使用这些夹具。
2.3.3环境试验用的严酷度
详细规范应规定从总规范中第4章选择的合适试验方法和严酷度。2.3.4标志
详细规范应规定在电路和外包装上的标志内容。与总规范2.6条不一致处应该明确指出。2.3.5订货资料
详细规范应规定订购电路时所要求的下述资料：（1）电路类型（例如，混合厚膜集成电路），（2）详细规范的编号以及品种代号和评定水平（适用时）；（3）电路功能(适用时）；
（4）基本功能特性及其偏差（适用时）。2.3.6附加资料（不作检验用）
详细规范可以包括通常不要求按检验程序验证的资料，如为了便于说明所需要的电路图、曲线、图形和注解。
3鉴定批准程序
见总规范3.5条和以下细节：
3.1结构相似性
如果电路的个代表型号的试验对编组在一起的其他型号至少能给出相同的质量水平，则可用结构相似性来进行该项评定试验。总检验长应申报制造厂内实施“结构相似性”方案的办法，并按每个结构上相似的组确定代表型号，以便使国家监督检查机构(NSI)满意。对于鉴定批准程序而言，当两种或两种以上电路具有相同电路功能类型、采用相同设计规则、材料、工艺和方法（例如，采用同种浆料的一系列T型厚膜衰减器；采用相同膜材料并来源于同一供应单位的相同外贴元器件制作的薄膜D/A转换器时，就可以认为它们在结构上是相似的。个试验所要求的样品应从这种组合产品中抽取。
对于电路的目检、标志、尺寸、密封、可焊性和引出端强度，仅要求相同的外壳，可采用空封装和（或）电气不合格品。
3.2鉴定批准
鉴定批准试验和程序在总规范3.5条中给出。空白详细规范应按表2和表3中给出以逐批和周期试验为基础的鉴定批准试验用表。表1给出了以固定样本大小表为基础的鉴定批准程序。GB 11498—89
鉴定批准表（固定样本大小表）和质量一致性检查(逐批和周期试验）共同规定了对成品电路的最少试验程序。
制造单位可以自愿选择采用评定水平K、L或M，但仅能按以下规定放行产品：评定水平
放行评定水平
K、L或M
制造单位可以通过完成有关试验来改变其已经批准的评定水平。如果直到试验间隔日期期满为止，尚没有继续作周期试验时，经NSI同意制造单位可以降级。为了特定的应用所需要的附加试验，应在详细规范中规定。
有关环境试验的试验后电气极限值应在详细规范中规定。3.2.1鉴定批准（固定样品大小程序）3.2.1.1抽样
样本应能代表寻求批准的电路范围。样本大小及合格判定数取决于所规定的评定水平，并在表2中予以详细规定。
当试验表中引入附加组时，“0”组要求的电路数也应增加，增加的数量等于附加组所要求的数量3.2.1.2试验
为了一个详细规范所包括的电路的鉴定批准，需要进行表1规定的全部试验。每组试验应按给出的顺序进行。
全部样品都应经受“0”组试验，然后分配给其他组。在“0”组试验里发现不合格的电路不能用于其他组。当一个电路不能满足一个组的全部或部分试验时，就计为“一个不合格品”。当不合格品数未超过规定的每组(或分组)允许不合格品数和允许不合格品总数时，则给予批准。表1鉴定批准的试验表
在表2中，按评定水平详细规定了样本大小和合格判定数。条款号引自总规范第4章。
条款号、试验和试验程序
01分组
4.3.1封盖前的目检
02a分组
4.3.2外部目检和标志检查
02b分组
4.3.3尺寸
03分组？免费标准bzxz.net
4.5.16易燃性
（仅供参考）
试验条件
条款号、试验和试验程序
04分组1
4.5.9密封
05分组
室温下主要静态和动态电特性
06分组
极限工作温度下主要静态和动态电特性
1组顺序1).2)
初始测量
4.5.6振动、扫描频率
4.5.7稳态加速度
或3）
4.5.5冲击
4.5.7稳态加速度
最后测量
2组顺序
初始测量
4.5.11耐焊接热
4.5.15.2耐熔剂性7）
4.5.8温度变化
4.5.3稳态湿热4
最后测量
3组顺序
4.5.10可焊性
4.5.12.1拉力
最后测量
弯曲（圆引线或带状引线）
或3）
可焊性
4.5.12.1拉力
弯曲（整排）
4.5.12.2推力
GB 1149889
续表1
试验条件
4.4.11:05分组
4.5.9：密封
4.4.11:05分组
4.4.11:05分组
4.5.9密封
4.4.11:05分组
4.3.2:外部目检和
标志检查
4.5.9：密封1）
性能要求
条款号、试验和试验程序
最后测量
4组顺序
初始测量
4.5.2低温
4.5.1高温贮存
最后测量
初始测量
4.5.14耐久性
耐久性：
2000h6)
最后测量
表1和表3B中的注：
1）仪对空封装电路；
2）安装条件按详细规范规定：
3》按详细规范规定选择
GB11498-89
续表1
4）对非密封电路详细规范可以略去湿热试验：5）允许使用经过全部加工后的电性能不合格品；6）在评定水平K中：1000h后，暂时批准；2000h后，正式批准；
7）适用于有机材料密封的产品。3.2.2质量-致性检验
3.2.2.1检验批的组成
试验条件
4.5.9：密封1）
4.5.11:05
5分组
温度：℃
温度：℃
4.4.11:05分组
4.4.11:05分组
4.4.11:05分组
个检验批应由结构相似的电路组成（见3.1条）。当有要求时，应对欲放行给用户的全部电路进行筛选。性能要求
对于A组和B组试验，其样品应从一周之内生产的产品中抽取，或者从制造厂申报的其他周期制造的产品中抽取，但周期最长不超过一个月。3.2.2.2试验
逐批试验和周期试验表应在有关的空白详细规范中规定。为了-一个详细规范所包括电路的鉴定批准的维持，需要进行所规定的全部试验。每组试验应按给出的顺序进行。
当一个电路不能满足一个组的全部或部分试验时，就计为“一个不合格品”当一个不合格品数量未超过规定的每组允许不合格品数和允许不合格品总数时，则批准可以维持。3.3评定水平
用于鉴定批准(见表1)和质量一致性检验(见有关空白详细规范)的评定水平应从下列表2和表3中选取。
表中：n-
一样本大小；
GB 11498—89
表2鉴定批准的评定水平和合格判定数一合格判定数(允许不合格品数）。C
表1的检验组或分组
03（仅供参考）
5(1000h）
(2000h）
注：1）当不要求作1组试验时，此电路可减掉那些不需要试验的相应的电路数。2）对每种规定的潜剂最小试验4支电路n
表3用于质量一致性检验的评定水平和合格判定数（见表3A和表3B）表中IL-检查水平;
表3A以抽样为基础所进行的逐批试验AQL—合格质量水平；
条款号引自总规范第4章。
检验组或分组
筛选（见表4）
A1分组
4.3.2外部目检和标志检查
A2分组
A3分组
室温下的主要静态和动态电特性极限工作温度下的主要静态和动4.4.11
态电特性
检验组或分组
B1分组
可焊性
B2分组
4.3.3尺寸
表中:P—周期(月）;
样本大小：
GB11498—89
续表3A
以抽样为基础所进行的周期试验合格判定数（允许不合格品数）。条款号引自总规范第4章。
检验组或分组
C1分组
极限工作温度下的主要静态和动态电特性
C2分组顺序1).2）
4.5.6振动、扫描频率
稳态加速度
或3）
4.5.5冲击
4.5.7稳态加速度
C3分组顺序
4.5.11耐焊接热
4.5.15.2抗溶性7）
4.5.8温度变化
4.5.3稳态湿热4
C4分组顺序
高温贮存
D1分组
耐久性：
D2分组顺序5）
检验组或分组
弯曲（圆引线或带
状引线）
或3）
弯曲(整排)
易燃性
（仅供参考）7）
本表注见表1注。
筛选顺序应按表4。
检查或试验
封盖前的目检
高温贮存
温度变化
稳态加速度
电测量
（老化前）
电测量
筛选前）
总规范
条款号
GB11498-89
续表3B
表4筛选
详细规范和条件
在考虑中
最高贮存温度下24h
10次循环
Tstgmin
Tstgmax
在最严格的方向上，加速度等级按详细规范规定
选择参数
剔除不合格品
按详细规范规定
按6的规定剔除不合格品，如虹缺陷数超过10%为拒收批
注：1）筛选一般在A组、B组和C组检验前进行。当筛选在通过A组、B组和C组检验要求以后进行时，必须重作可焊性、密封和A组试验。
按空白详细规范的规定。可以要求附加的筛选后试验。a.除非详细规范中另有规定，一般不适用于非空封器件。b.除非详细规范中另有规定，应记录测量结果。3.4拒收批的再提交（用于逐批检验）GB 11498—89
电气试验后的任何拒收批应退回到生产线，针对鉴别出的缺陷进行再加工或再筛选，在该批中不应该含有新的电路。
然后，应将该批再提交并在加严检验的条件下进行检验。该批应保持相同的批号，并且记录再提交的细节。同一批的提交不应超过三次。3.5非IEC成员国中已批准的制造厂的制造阶段如果符合总规范中3.2条的条件时，对于本规范中包括的膜集成电路和混合膜集成电路允许申请扩展制造厂批准。
4试验和测量程序
本章包括典型应用于膜集成电路和混合膜集成电路的所有试验和测量程序，而这些在总规范第4章内没有规定。
每个详细规范应规定逐批检验和周期试验要求的所有试验和测量程序，最少它应该包括本规范所给出的有关试验及规定的方法和严酷度。附加说明：
本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由机械电子工业部第四十三研究所负责起草。本标准主要起草人冯佑民。
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