本标准规定了半导体集成电路电压调整器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端(单端口)器件。 GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
半导体集成电路
电压调整器测试方法的基本原理Semiconductor integrated circuitsGeneral principles of measuring methodsof voltageregulator
1主题内容与适用范围
GB/T4377—1996
代替GB4377—84
本标准规定了半导体集成电路电压调整器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口)器件。2引用标准
GB3431.1半导体集成电路文字符号电参数文字符号3总的要求
3.1在所有测试期间，应注意查明没有寄生振荡出现。3.2输入电源对测试中所使用的信号频率应基本上具有零阻抗。3.3应避免不希望有的瞬态输入电压和电流。3.4如果测试结果由热效应影响，则测试应在短时间内完成。例如，推荐脉冲法，在这种情况中，应规定脉冲条件。
3.5所有测试设备应仅引入忽略不计的误差。上述适用于静态测试和动态测试。3.6相对于被测电压差，输出电压测试设备应必须具有满足要求的灵敏度。相适应的方法即是输出电压V。与高稳定预调基准电压VREF相比较。然后V。与VR之差被检测和放大，最好采用增益稳定放大器。
3.7若无特殊说明，在器件测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合详细规范的规定。3.8被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。3.9测试期间，被测器件应连接详细规范所规定的附加网络。3.10图1为总测试电路，图2～图16为图1分解后各参数的测试电路。3.11本标准使用的电参数文字符号按GB3431.1的规定。国家技术监督局1996-07-09批准1997-01-01实施
GB/T4377—1996
示波器
注：连同限制输出电流和/或调节输出电压所需的任何附加网络图1测试电路
4电特性测试
4.1电压调整率S和电压稳定系数Svs。4.1.1目的
负截网络1
负载网等2
滤波器
味声比流源
行效信
电压表
通过改变直流输入电压和记录相应的输出电压变化来确定电压调整率和电压稳定系数。4.1.2测试原理图
电压调整率和电压稳定系数的测试原理图如图2a所示。GNT
4.1.3测试条件
GB/T4377—1996
选造脉冲
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a.
环境或参考点温度；
输入电压及其变化量；
输出电压；
(提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)；
测试重复频率和最大占空比。
测试程序
输出电
在规定的环境温度T。下，将被测器件接入图2a的测试系统中。4.1.4.2将图2a所示的开关S置于位置“1”，使被测器件输入端加上规定的直流输入电压V1。4.1.4.3调节器件的输出电压至规定值V。，记为Vo1（见图2b)。4.1.4.4将图2a所示的开关S置于位置“2”，使器件输入端加上输入电压V1十△V1，并测出此时器件的输出电压，记为Vo2（见图2b）。4.1.4.5按式(1)或(2)计算出电压调整率Sv。Sy
V×100%
SV=V。XAV
式中：AVo=Vo1—V02。
4.1.4.6按式(3)计算出电压稳定系数Svs。Svs
4.2电流调整率Sr和电流稳定系数Srs。4.2.1目的
4V。/V。bzxZ.net
（1）
00.000.00(2)
（3）
通过改变直流输出电流和记录相应的直流输出电压变化来确定电流调整率和电流稳定系数。4.2.2测试原理图
电流调整率和电流稳定系数测试原理图如图3a所示。3
4.2.3测试条件
GB/T4377—1996
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a.
环境或参考点温度；
输入电压；
输出电压，
（提供所需输出电流及其变化量的)负载网络；其他外部网络(适用时)；
测试重复频率和最大占空比。
测试程序
4. 2.4. 1
在规定的环境温度下，将被测器件接入图3a测试系统中。在被测器件的输入端加上规定的输入电压V1。4.2.4.2
选道源冲
4.2.4.3在规定的输出电流1。下，读取输出电压值V。，记为Vo（见图3b）。4.2.4.4
输出电流1。加输出脉冲电流时，读取输出电压值Vo2（见图3b）。4.2.4.5
按式(4)计算出电流调整率S1。
V×100%
式中：AV。=Vo1Vo2。
（4）
GB/T4377—1996
4.2.4.6按式(5)计算出电流稳定系数Ss。Ss=
4.3纹波抑制比8g
4.3.1目的
AV/V×100%
A/l。
通过测量输入输出纹波电压来确定纹波抑制比。4.3.2测试原理图
纹波抑制比的测试原理图如图4所示。a
4.3.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a.
环境或参考点温度；
输入纹波信号为正弦波，频率应在50Hz～100kHz范围内选定；输入电压；
输出电压；
滤波电容和补偿电容；
（提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
4.3.4测试程序
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。4.3.4.2
在被测器件的输入端加上规定输入电压V使输出电压V。达到规定值。（5)
3在被测器件的输入端加上规定的纹波信号V，将开关S置于位置“1”测出输入的纹波电压4.3.4.3
峰-峰值VP。
然后将开关S置于位置“2”，测出输出的纹波电压峰-峰值Vops。4.3.4.4
按式（6)计算出纹波抑制比Srp：4.3.4.5
4.4输出电压温度系数St
Sro = 201g Vom
（6）
4.4.1目的
GB/T4377—1996
通过测量在不同温度下的调整输出电压来确定调整输出电压的温度系数。4.4.2测试原理图
输出电压温度系数测试原理图如图5所示。D:T
4.4.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a.
环境或参考点温度；
测试温度范围；
输入电压；
输出电压；
(提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
测试程序
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。在被测器件的输入端加上规定的直流输入电压VI。调节被测器件的输出电压至规定值Vo。4.4.4.3
4.4.4.4将被测器件置于恒温箱中，在较低的恒定温度T，下，测出输出电压，记为Vo1。4.4.4.5调节恒温箱内温度至较高的温度T2并稳定后，测出输出电压，记为Vo2。4.4.4.6按式(7)计算出输出电压温度系数Sr：Vo2-Vol
4.4.5注意事项
·（7）
a.当被测器件为可调电压调整器时，应尽量避免外接电阻网络的温度系数对测试结果的影响；b。在整个测试过程中，应防止超过温度和功率的极限值。4.5输出电压长期稳定性St
4.5.1目的
测试输出电压值随时间的变化。4.5.2测试原理图
输出电压长期稳定性测试原理图如图6所示。6
4.5.3测试条件
GB/T4377—1996
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a.
环境或参考点温度；
输入电压；
输出电压；
稳定时间△t；
（提供所需输出电流I。的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
测试程序
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。在被测器件的输入端加上规定的直流输入电压V1。藏
调节被测器件的输出电压至规定值Vo，记为Vo1；保持输出电流1。不变。4.5.4.4在规定的时间范围△t内测出器件的终点输出电压Vo2。4.5.4.5按式（8)计算出输出电压长期稳定性St：Vo2-Vo108
当需要时，可按式(9)计算出时间漂移△V。(St)：4Vo(S)=Vo2-Vo1
4.6输出噪声电压Vno
4.6.1目的
在规定的直流输入电压下，测量均方根输出噪声电压。4.6.2测试原理图
输出噪声电压测试原理图如图7所示。（8）
（9）
4.6.3测试条件
GB/T4377—1996
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a.
环境或参考点温度；
输入电压，
输出电压；
噪声带宽，带通滤波器的中心频率；低通或适用处带通滤波器；
输出端电容及补偿电容；
(提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
4.6.4测试程序
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。4.6.4.1
4.6.4.2在被测器件的输入端加上规定的直流输入电压V1。滤淡器
4.6.4.3调节被测器件的输出电压至规定值V。，测出输出噪声电压Vno（均方根值）。4.7备用消耗电流Ip和备用消耗电流变化△Ip4.7.1目的
在输入电压和输出电流为规定值时，确定备用消耗电流；在输入和输出条件变化时，确定备用消耗电流变化。
4.7.2测试原理图
备用消耗电流、备用消耗电流变化测试原理图如图8所示Ｄｔ
4.7.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：8
环境或参考点温度；
输入电压；
输出电压；
GB/T4377—1996
(提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
4.7.4测试程序
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。在被测器件的输入端加上规定的直流输入电压V1。调节被测器件的输出电压至规定值V。。4.7.4.3
测出被测器件的输入电流I1和输出电流Io。按式(10)计算出备用消耗电流ID：Ip-Io
在被测器件输出端加规定的直流输出电流1o。将图8所示的开关S置于位置“1”，读取电流值IDv1。4.7.4.8将图8所示的开关S1置于位置2”，读取电流值Ipv2。4.7.4.9按式(11)计算出备用消耗电流变化AIpv(对应电压）：4Ipy = [pvi — IDv2
4.7.4.10在被测器件输出端加规定的输入电压V1。4.7.4.11将图8所示的开关S2置于位置1”，读取电流值IDm。4.7.4.12将图8所示的开关S2置于位置2”，读取电流值Inz。4.7.4.13按式(12)计算出备用消耗电流变化△In（对应电流）：4I=[In — Ip12]
4.7.5注意事项
（10）
-（11)
（12）
通过附加网络的电流应小到可以忽略不计，如果不能满足此项要求，在计算时必须进行修正。4.8短路电流Ios
4.8.1目的
在规定的输入电压下，测量短路电流。4.8.2测试原理图
短路电流测试原理图如图9所示。A
4.8.3测试条件
ＤＵT
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a。环境或参考点温度；
输入电压；
输出电压；
输出端短路持续时间；
GB/T4377—1996
(提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
测试程序
4. 8. 4. 1
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。将图9所示的开关S置于位置“1”。在被测器件的输入端加上规定的直流输入电压VI。4.8.4.3
4.8.4.4调节被测器件的输出电压至规定值Vo。4.8.4.5将开关S置于位置2”，并在规定时间内测出短路输出电流1os。4.9输出阻抗Zo
4.9.1目的
通过测量给定频率下的交流电压与交流电流来确定输出阻抗。4.9.2测试原理图
输出阻抗测试原理图如图10所示。Du
4.9.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a.
环境或参考点温度；
输入电压；
输出电压；
交流电流源的性能(电流幅度，输出阻抗，频率范围)；测试频率；
(提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
测试程序
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。在被测器件输入端加上规定的直流输入电压V1。调节被测器件的输出电压至规定值V。。将交流电流源的频率调至规定值，测出交流电流I和交流电压V。按式(13)计算出输出阻抗Zo：
·（13）
4.9.5注意事项
GB/T4377—1996
a.交流电流源输出阻抗Zm≥100zo;b。应防止寄生阻抗和接线阻抗对测量结果的影响。4.10基准电压VREF
4.10.1目的
在基准端处，测量器件在规定输入电压及输出条件下的电压。4.10.2测试原理图
基准电压测试原理图如图11所示。T
GND基准站
4.10.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：环境或参考点温度；
输入电压；
输出电压；
（提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
4.10.4测试程序
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。4.10.4.2
在被测器件输入端加上规定的电源输入电压V1。4.10.4.3调节被测器件的输出电压至规定值Vo，在基准端处测出基准电压。4.11启动电压范围VoR
4.11.1目的
在规定输出电压建立的时间范围内所得到的电压范围值。4.11.2测试原理图
启动电压测试原理图如图12所示。11
4.11.3测试条件
GB/T4377—1996
测试期间，下列测试条件应符合详细规范的规定：a.
环境或参考点温度；
输入电压，
开关S的开关时间；
读取脉冲时间；
（提供所需输出电流的)负载网络；其他外部网络(适用时)。
测试程序
在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中。在被测器件输入端加上规定的直流输入电压V1。4.11.4.2
确定开关S的闭合时间及读取脉冲时间。4.11.4.3
4.11.4.4在规定的时间范围内，读取输出电压值Von。4.12热调整率S
4.12.1目的
在规定时间测量被测器件由于所施加功率引起输出电压的变化来确定热调整率。4.12.2测试原理图
热调整率测试原理图如图13a所示；波形图如图13b所示。N
图13a
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