JB/T 7369-1994
基本信息
标准号： JB/T 7369-1994
中文名称：机械密封端面平面度检验方法
标准类别：机械行业标准(JB)
英文名称： Mechanical seal end face flatness test method
标准状态：现行
发布日期：1994-07-26
实施日期：1995-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：KB
标准分类号
中标分类号：机械>>通用零部件>>J22密封与密封装置
关联标准
出版信息
页数：7 页
标准价格：12.0 元
相关单位信息
归口单位：合肥通用机械研究所
发布部门：合肥通用机械研究所
标准简介
本标准规定了机械密封端面平面度的检验装置、检验程序、平面度测定值的判读等内容。 本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度。 JB/T 7369-1994 机械密封端面平面度检验方法 JB/T7369-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net
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标准内容
中华人民共和国机械行业标准
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机械密封端面平面度
检验方法
1994-07-26发布
中华人民共和国机械工业部
1995-07-01实施
中华人民共和国机械行业标准
机械密封端面平面度
检验方法
1主题内容与适用范围
JB/T7369-94
本标准规定了机械密封端面平面度的检验装置、检验程序、平面度测定值的判读等内容。本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度。2术语
2.1干涉图
光波干涉产生的干涉条纹(亮带或暗带）所组成的图形。2.2于涉光谱带（光带）
干涉图上的暗带。
3检验装置
3.1推荐使用的检验装置结构见附录B(参考件)。3.2光源应为单色光源。
3.3检验用光学平晶应为一级精度（其平面度应在0.02～0.10μm之间），光学平晶的直径应大于被检密封环端面的外径。
3.4装置放置在干燥、洁净、避免振动干扰的工作间内、3.5
装置要有一定的保护元件，避免光束直接照射到观察者的皮肤或眼睛。如果采用反光镜观察，应保证反光镜没有变形和失真。4检验程序
检验时，环境温度应控制在20士5℃。打开平面度检测仪的电源开关，预热至灯管充分发光。4.2
4.3清除被检密封环端面和光学平晶表面上的纤维、颗粒、油渍、水汽等污物，且使密封环端面和光学平晶表面不受损伤。
4.4将被检密封环轻轻放置在光学平晶上（或将平晶轻轻放置在密封环上），使密封环端面和光学平晶紧密接触，判读光谱带数时不应使其受到附加外力的作用，4.5通过镜面观赛密封端面的干涉图形（或透过光学平晶观察密封端面上的干涉图形），判读干涉光谱带。
5平面度测定值的判读
5.1平面度测定值的判读按附录A(补充件)的规定。对于附录A未含的图形，判读者应在正确理解应用光干涉原理的基础上，参照附录A的图例进行判读。5.2球形凸面和球形凹面的确定
机械工业部1994-07-26批准
1995-07-01实施
JB/T7369—94
5.2.1观察干涉图由上向下移动眼醋，若干涉光谱带向圆心移动，则为球形凹面；若干涉光谱带向外径移动，为球形凸面。
5.2.2将平晶放在密封环上，用手指轻轻地在平晶外边上加压，若干涉光谱带圃着手指弯曲，则为球形凸面；若干涉光谱带向手指外弯曲，则为球形凹面。5.3平面度的测定值的计算公式为：式中：4—平面度的测定值
N干涉光谱带数；
入—单色光波波长。
一条光带图示见图A1。
JB/T7369-94
常见干涉光谱带图示例
(补充件）
二条光带图示见图A2。
·三条光带图示见图A3。
A4多条光带（>三条光带）图示见图A4。JB/T7369-94
JB/T7369-94
附录B
推荐采用的检验装置结构示意简图(参考件）
推荐采用的检验装置结构示意简图见图B1。B1
D>de>d
1—箱体；2—活动门：3—密封环；4—光学平晶；5—带孔活动板；6—玻璃镜；7-毛玻璃，8—钠光灯管；9-稳压元件；10—隔光板附加说明：
本标准由机械工业部合肥通用机械研究所提出并归口。本标准由机械工业部合肥通用机械研究所负责起草。本标准主要起草人李小瓯、昌康、何玉杰、程传庆。中华人民共和国
机械行业标准
机械密封端面平面度
检验方法
JB/T7369—94
机械工业部机械标准化研究所出版发行机械工业部机械标准化研究所印剧（北京8144信箱邮编100081）
版权专有不得翻印
开本880×12301/16
印张1/2·字数10，000
1995年4月第版
1995年4·月第一次印刷
印数00，001-500定价3.00元
编号94-114
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机械密封端面平面度
检验方法
1994-07-26发布
中华人民共和国机械工业部
1995-07-01实施
中华人民共和国机械行业标准
机械密封端面平面度
检验方法
1主题内容与适用范围
JB/T7369-94
本标准规定了机械密封端面平面度的检验装置、检验程序、平面度测定值的判读等内容。本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度。2术语
2.1干涉图
光波干涉产生的干涉条纹(亮带或暗带）所组成的图形。2.2于涉光谱带（光带）
干涉图上的暗带。
3检验装置
3.1推荐使用的检验装置结构见附录B(参考件)。3.2光源应为单色光源。
3.3检验用光学平晶应为一级精度（其平面度应在0.02～0.10μm之间），光学平晶的直径应大于被检密封环端面的外径。
3.4装置放置在干燥、洁净、避免振动干扰的工作间内、3.5
装置要有一定的保护元件，避免光束直接照射到观察者的皮肤或眼睛。如果采用反光镜观察，应保证反光镜没有变形和失真。4检验程序
检验时，环境温度应控制在20士5℃。打开平面度检测仪的电源开关，预热至灯管充分发光。4.2
4.3清除被检密封环端面和光学平晶表面上的纤维、颗粒、油渍、水汽等污物，且使密封环端面和光学平晶表面不受损伤。
4.4将被检密封环轻轻放置在光学平晶上（或将平晶轻轻放置在密封环上），使密封环端面和光学平晶紧密接触，判读光谱带数时不应使其受到附加外力的作用，4.5通过镜面观赛密封端面的干涉图形（或透过光学平晶观察密封端面上的干涉图形），判读干涉光谱带。
5平面度测定值的判读
5.1平面度测定值的判读按附录A(补充件)的规定。对于附录A未含的图形，判读者应在正确理解应用光干涉原理的基础上，参照附录A的图例进行判读。5.2球形凸面和球形凹面的确定
机械工业部1994-07-26批准
1995-07-01实施
JB/T7369—94
5.2.1观察干涉图由上向下移动眼醋，若干涉光谱带向圆心移动，则为球形凹面；若干涉光谱带向外径移动，为球形凸面。
5.2.2将平晶放在密封环上，用手指轻轻地在平晶外边上加压，若干涉光谱带圃着手指弯曲，则为球形凸面；若干涉光谱带向手指外弯曲，则为球形凹面。5.3平面度的测定值的计算公式为：式中：4—平面度的测定值
N干涉光谱带数；
入—单色光波波长。
一条光带图示见图A1。
JB/T7369-94
常见干涉光谱带图示例
(补充件）
二条光带图示见图A2。
·三条光带图示见图A3。
A4多条光带（>三条光带）图示见图A4。JB/T7369-94
JB/T7369-94
附录B
推荐采用的检验装置结构示意简图(参考件）
推荐采用的检验装置结构示意简图见图B1。B1
D>de>d
1—箱体；2—活动门：3—密封环；4—光学平晶；5—带孔活动板；6—玻璃镜；7-毛玻璃，8—钠光灯管；9-稳压元件；10—隔光板附加说明：
本标准由机械工业部合肥通用机械研究所提出并归口。本标准由机械工业部合肥通用机械研究所负责起草。本标准主要起草人李小瓯、昌康、何玉杰、程传庆。中华人民共和国
机械行业标准
机械密封端面平面度
检验方法
JB/T7369—94
机械工业部机械标准化研究所出版发行机械工业部机械标准化研究所印剧（北京8144信箱邮编100081）
版权专有不得翻印
开本880×12301/16
印张1/2·字数10，000
1995年4月第版
1995年4·月第一次印刷
印数00，001-500定价3.00元
编号94-114
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