详见本标准。 GB/T 5965-2000 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)空白详细规范 GB/T5965-2000 标准下载解压密码：www.bzxz.net

GB/T5965—2000
本标准等同采用国际电工委员会标准IEC748-2-1：1991《半导体器件集成电路第2部分：数字双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)空白详细规范》，以促进我第一篇
集成电路
国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。本标准与下列国家标准一起使用：GB/T4937—1995
《半导体器件
GB/T16464—1996
《半导体器件
GB/T17574—1998
《半导体器件
机械和气候试验方法》(idtIEC749：1984及修改单1：1991)集成电路
集成电路
修改单1：1991)
本标准由中华人民共和国信息产业部提出。第1部分：总则》(idtIEC748-1：1984)第2部分：数字集成电路》(idtIEC748-2：1985及本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归口。本标准起草单位：电子工业部标准化研究所。本标准主要起草人：李燕荣。
..comGB/T5965—2000
IEC前言
1）IEC（国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2）这些决议或协议，以推荐标准的形式供国际上使用，并在此意义上为各国家委员会所认可。3）为了促进国际上的统一，IEC希望各国家委员会在本国条件许可的情况下，采用EC标准的文本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异，应尽可能在国家标准中指明。本标准由IEC/TC47(半导体器件)的SC47A（集成电路）制定。本标准是双极型单片数字电路门电路空白详细规范。本标准文本以下列文件为依据：六个月法
47/47A(CO)
987/151
表决报告
47/47A（CO）
1033/165，
1033A/165A
二个月程序
47A(CO)212
表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。表决报告
47A(CO)239
本标准封面上的QC编号是IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）的规范号。本标准引用下列IEC标准
68-2-17(1978）环境试验第2部分：试验——试验Q密封617-12(1991)
747-10(1984)
748-1(1984)
748-2(1985)
748-11(1990)
749(1984)
图形符号第12部分：二进制逻辑单元半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范半导体器件集成电路第1部分：总则半导体器件集成电路第1部分：数字集成电路修改单1(1991)【半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路分规范（不包括混合电路）半导体器件V机械和气候试验方法修改单1（1991)）QC001002(1986)
IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则引言
中华人民共和国国家标准
半导体器件集成电路
第2部分：数字集成电路
第一篇双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列）空白详细规范
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section one-Blank detail specificationfor bipolar monolithic digital integrated circuit gates(excludinguncommittedlogic arrays)GB/T5965—2000
idt IEC 748-2-1:1991
QC790132
代替GB/T5965—1986
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。IEC747-10/QC700000半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范要求的资料
本页和下页括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，这些资料应填写在相应的栏中。详细规范的识别
[1]授权发布详细规范的国家标准化机构名称。[2]详细规范的IECQ编号。
[3］总规范、分规范的编号及版本号。[详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的其他资料。器件的识别
[5]主要功能和型号。
[6]典型结构(材料、主要工艺)和封装资料。如果器件具有若干种派生产品，则应指出其差别，例如用对照表列出特性差异。如果器件属静电敏感型，应在详细规范中注明注意事项。[7]外形图、引出端识别、标志和/或有关外形的参考文件。[8]按总规范2.6的质量评定类别。[9]参考数据。
[本规范下面方括号给出的条款构成了详细规范的首页，这些条款仅供指导详细规范的编写，而不国家质量技术监督局2000-01-03批准..com2000-07-01实施
应纳入详细规范中。
GB/T5965—2000
［当一条款指导编写可能引起混时，应在括号内说明。［【国家代表机构(NAI)
(和发布规范的团体)名称(地址)评定电子元器件质量的依据
总规范：
标准747-10/QC700000
分规范：
标准748-11/OC790100
［及编号不同时的国家编号］
双极型门电路单片数字集成电路空白详细规范［有关器件的型号]
订货资料：见本规范1.2
机械说明
外形依据：
「应给出标准封装资料：IEC编号（如有，则需遵循)和/或国家编号门
外形图：
［外形图或更详细的资料应在第8章给出］引出端识别：
［画出引出端排列图，包括图形符号］标志：
［字母和图形，或色码］
[若有时，详细规范应规定器件上标志的内容］［见总规范2.5和/或本规范1.1]［详细规范的IECQ编号、版本号和/或日期
QC790132-
「详细规范的国家编号】
［若国家编号与IECQ编号一致，本栏可不填］b cn
简要说明了了
应用：见本规范第6章
功能：见本规范第3章
典型结构：[S
封装：空封或非空封
「[派生产品的特性对照表】
注意：静电敏感器件
质量评定类别
［按总规范2.6]
参考数据
[能在各型号间比较的最重要性能的参考数据］按本规范鉴定合格的器件，其有关制造厂的资料，可在现行合格产品目录中查到2
1标志和订货资料
1.1标志
GB/T5965—2000
［除第[7]栏和/或总规范2.5给出的资料外，任何特殊资料应在本条给出。］1.2订货资料
[除另有规定外，订购器件至少需要下列资料：准确的型号(必要时，标称电压值)；当适用时，详细规范的IECQ编号、版本号和/或日期；总规范2.6和分规范第9章规定的质量评定类别，以及如果需要时，分规范第8章规定的筛选程序；
一任何其他特殊的资料。
2应用说明
见本规范第[6]栏规定的内容。
3功能的详细说明
3.1详细框图
[应给出器件的详细框图。
应给出功能的图形符号。图形符号可从标准图形符号的目录中得到，或按EC617-12的规则编制。
3.2引出端的识别及功能
［所有引出端应在框图中注明（电源端，输入端或输出端，输入/输出端）。引出端功能应在下表中标明：
引出端功能
引出端编号
3.3功能说明
引出端符号
3.3.1应给出功能表
3.3.2逻辑方程式
4极限值（绝对最大额定值体系）引出端名称
输入/输出识别
除另有规定外，这些极限值适用于整个工作温度范围。[同标题使用相同的条款号，若没有条款号的任何增加值可在适当处给出。［最好在本规范第9章中给出曲线］输出电路的类别
条款号
工作环境温度
贮存温度
电压)
电源电压
输入电压
GB/T5965—2000
多发射极晶体管输入端间的电压电流）
输入电流
输出电流
1)在避态条件下若标出的值超出时。应规定允许超出的数值和其持续时间5工作条件（在规定的工作温度范围内）条款号
电压和电流
电源电压
输入高电平电压
输入低电平电压
输出高电平电流”
输出低电平电流8)
2)不适用集电极开路器件
3）不适用发射极开路器件。
电特性
检验要求见本规范第13章。
[同标题使用相同的条款号，但没有条款号的任何增加特性可在适当处给出。[同一详细规范中规定了几种器件时，相关的值应连续列出，以避免重复相同的值。［最好在本规范第9章中给出曲线。］6.1静态特性
除另有规定外，适用于整个工作温度范围。4
条款号
特性和条件
输出高电平电压
Voc-[最小］
Ion-[规定
输出低电平电压
Vcc-[最小]
IoL=［规定]
输入钳位电压
V-[最小］
GB/T5965—2000
Vx一［规定],每个输入端依次进行输出高电平电流（仅适用集电极开路的器件)4)
V-[最小]
VLAVOHA
输入高电平电流
V-［最大］
V一［规定，每一个输入端
V=[规定]
输入低电平电流
V-[最大]
Vm—[规定]
V一［规定，每一个输入端］
输出短路电流
V—[最小]和[最大］
Von-[每个输出端依次接地]
t=[规定]
输出关态电流（仅三态电路)
V-[最大］
VHBVLA
高电平电源电流
Vc-[最大］
V1-[规定],所有输入端
低电平电源电流
Vc[最大］
V1-[规定],所有输入端
4）栏中参数需要的最大值和最小值，应在Vcc最坏条件下选择。lon
6.2动态特性
条款号
传输时间
Vcc[最小］
Vmp/VLA
Cr=50 pF
转换时间
Va—[最小
VB/VLA
C=50pF
特性和条件
传输时间（三态输出）
Vc-[最小]
CL=50pF
（仅适用三态电路）
转换时间（三态输出）
V-［最小]
VBHB/VIA
（仅适用三态电路）
6.3时序图
不适用。
6.4电容
GB/T5965—2000
不适用。
wW.TizwWhei
7编程
不适用。
8机械和气候的额定值、特性和数据见分规范12.2。
任何适用的机械和/或气候额定值依据GB/T16464一1996第V篇10.8的规定（也可参见GB/T17573—1998，第V篇，第7章）。9
附加盗料
该资料不用于检验。
9.1［仅就规范和使用器件所需而给出，例如；一极限值中所引用的温度降额曲线；一测试电路或补充方法的详细说明；一详细的外形图。
9.2静态特性测试
应给出除分规范或GB/T17574规定外的任何具体资料。6
9.3动态特性测试。
9.3.1基本测试电路
［在详细规范中规定。］
9.3.2负载电路
[在详细规范中规定。］
9.4电耐久性负载电路
[在详细规范中规定。］
电源噪声电压
9.6输入负载系数
9.7输出电容
9.8注意事项
筛选（如果要求）
见分规范第8章。
11质量评定程序
11.1鉴定批准程序
见总规范第3章和分规范5.1。
11.2能力批准程序
在考虑中。
12结构相似性程序
见分规范第6章。
13试验条件和检验要求
13.1总则
GB/T5965—2000
[在编写详细规范时，下列表中的数值和确切的试验条件，应按器件型号要求以及有关标准中有关试验的要求确定。
[两者选一的试验或试验方法，在编写详细规范时应规定一种。[当同一详细规范中包括几种器件时，相应的条件和/或数值应依次连续给出，尽可能避免重复相同的条件和/或数值。
13.2抽样要求
见分规范第9章。
检验批的构成见分规范5.1.1和IECQC001002中12.2。13.3检验表
除另有规定外，试验在25℃下进行。标有(D)的试验是破坏性的。
表IA组-
外部目检
检查或试验
747-10
1984,4.2.1.1
试验条件
极限值
检查或试验
25℃下的功能验证（除另有规定外）
最低和最高工作温度下的功能
验证(不适用于I类）
25℃下静态特性
最低和最高工作温度下的静态
25℃下的动态特性（除另有规定外）
最低和最高工作温度下的动态
特性（不适用于1类）
GB/T5965—2000
表I (完)
GB/T17574-
1998，第1篇，
第2章
GB/T17574-
1998，第I篇，
第一节，第5章
GB/T17574
1998，第I篇，
第一节，第7章
试验条件
按本规范第3章
见本规范6.1
Tamb=Tams（最大值）和Tams（最小值)，条件同A3分组
见本规范6.2
Tamb=Tamb（最大值）和Tamb（最小值），条件同A4分组
极限值
见本规范6.1
极限值可以与
A3分组不同
见本规范6.2
市以与
极限值市
A4分组木同
5）如果制造厂能定期证明两个极限温度下的试验结果与25℃下的试验结果相关，则可使用25℃下的试验结果。6）特性测试方法见GB/T17574第IN篇的规定。表1B组——逐批（1类器件见总规范2.6)检查或试验
尺寸下
电额定值验证
可焊性(D)
温度快速变化
a）空封
温度快速变化：
·电测试（A2和A3分组）
·密封，细检漏
·密封，粗检漏
b）非空封和环氧封接的空封器
件(D）
温度快速变化：
·外部目检
·稳态湿热
·电测试
电耐久性
IEC747-10,1984,
4.2.2和附录B
不适用
GB/T4937—1995，第1篇，
GB/T4937—1995，第I篇，
GB/T4937—1995，第I篇，
7.3或7.4
IEC68-2-17.1978,Qc试验
GB/T4937—1995，第I篇，
TEC747-10:1984,4.2.1.1
GB/T4937—1995，第I篇，
见分规范12.3
就B4、B5和B8分组提供计数检查结果。试验条件
按规定
10次循环
同A2和A3分组
按规定
按规定
10次循环
严酷度1,24h
同A2和A3分组
时间：168h，按分规
范12.3和12.4的规
定（如适用）
板限值
规范第1
浸润良好
同A和A3分
同A2和A3分
见分规范12.3
检查或试验
瞬态能量额定值(D）
引出端强度(D）
耐焊接热（D）
温度快速变化
b)空封
温度快速变化：
：电测试（A2和A3分组）
·密封，细检漏
·密封，粗检漏
b）非空封和环氧封接的空封器
件(D）
温度快速变化：
：外部目检
·稳态湿热
·电测试
稳态加速度（适用于空封器件）稳态湿热
a）空封(D)
b）非空封和环氧封接的空封器
件(D)
电测试
A2和A3分组
电耐久性
高温贮存
GB/T5965—2000
表IC组——周期
IEC747-10,1984,4.2.2和
附录B
按规定
GB/T4937—1995，第1篇，
第1章
GB/T4937—1995，第I篇，
GB/T4937-—1995，第I篇，
GB/T4937—1995，第I篇，
7.3或7.4
IEC68-2-17.1978,Qc试验
GB/T4937—1995，第I篇，
IEC747-10,1984,4.2.1.1
GB/T4937—1995，第I篇，
GB/T4937-—1995，第I篇，
第5章
GB/T4937—1995，第I篇，
GB/T4937—1995，第篇，
见分规范12.3
GB/T4937—1995，第I篇，
第2章
试验条件
按规定
按相应封装的规定
按规定
10次循环
同A2和A3分组www.bzxz.net
按规定
按规定
500次循环
严酷度1,24h
同A2和A3分组
按规定
严酷度：I类和I类
为56d，I类为21d
严酷度1
偏置：按详细规范规
时间：1类和I类为
1000h，1类为500h
同A2和A3分组
时间：1000h，按分
规范12.3和12.4的
规定(如适用）
1000h，T最大值
极限值
本规范第1章
同A2和A3分
同A2和A3分
同A2和A3分
见分规范12.3
检查或试验
标志耐久性
GB/T5965—2000
表Ⅱ(完)
GB/T4937—1995，第N篇，
第2章
就C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9和C11分组提供计数检查结果表ND组——鉴定批准检验
检查或试验
电耐久性(D)
见分规范12.3
7)D组试验应在鉴定批准后立即进行，其后一年进行一次。13.4延期交货
见EC标准747-10；19843.6.7。
试验条件
方法1
试验条件
1类：不适用
1类，2.000上
I类：3000h
条件：
见分规范12.3及
12.4（如适用）
极限值
极限值
见分规范12.3
14附加测量方法
ww.Tbzw.cn
不适用。
随缸织耀17hzn羧壁消缸器年餐静消象断标准技授网WWW.bzsOso.cOm各实标准行业资科克费下载
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