本规范规定了黑白显象管玻壳质量评定的程序，并给出了玻壳缺陷、玻壳尺寸、玻璃特性、玻壳性能的检验及其试验方法。本规范适用于黑白显象管玻壳。 GB/T 14012-1992 黑白显像管玻壳总规范(可供认证用) GB/T14012-1992 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
黑白显象管玻壳总规范
Generial specification for black-and-white picture tube bulbs（可供认证用）
1 主题内容与适用范围
GB/T 14012- 92
本规范规定了黑白显象管玻壳(以下简称玻荒)质量评定的程序，并给出了玻壳缺陷、玻壳尺寸,玻璃特性、玻壳性能的检验及其试验方法。本规范适用丁黑白显象管玻壳。2总则
2.1优先顺序
无论什么理由引起的矛盾，各级规范（或文件)应按下述先后顺序执行。详细规范：
总规范；
基础规范，
d、中国电子元器件质量认证委员会有关文件，e.
其他引用的文件。
2.2有关文件
GB191包装储运图示标志
GB 2421
GB3100
GB 3189此内容来自标准下载网
GB4597
GB8557
电工电子产品基本环境试验规程总则国际单位制及其应用
电子管引出帽连接尺寸
电子管名词术语
阴极射线管玻壳检验规范
GB 9622. 2
GB 9622. 4
GB 9622. 5
电子玻璃平均线热膨胀系数的测试方法电子玻璃软化点测试方法
电子玻璃退火点和应变点测试方法阴极射线管考线量规尺寸
GB 11484
GB/I 14010
SJ/Z 9007
IEC 410
极射线管玻壳试验方法
计数检查抽样方案和程序
IECQC001002IEC电子元器件质量评定体系程序规则ZZR/01一001中国电子元器件质量认证章程2.3单位和名词术
本规范所用的单位和名词术语，应从2.2条有关文件”所列的标准中选取。2.4标志
国家技术监督局1992-12-17批准1993-06-09实施
玻壳上应有如下的标志：
制造厂识别代号，
玻壳识别代号。
包装箱上应有如下的标志：
制造厂，
商标，
型号，
制造编号或出厂年、月、日；
合格标志或认证合格标志；
其他。
GB/T 14012—92
包装箱上应标有符合GB191中有关要求的标志。3质量评定程序
3.1初始制造阶段
初始制造阶段为玻璃熔制、屏维成型和屏锥封接等工艺过程。这些工艺过程应在被批准的制造厂监控之下，但不要求在同一地点完成，禁止转包这些工艺过程（见IECQC001002中11.1.2条）。3.2结树类似的玻壳
当具有共同性能的几种被批准的玻壳同时或连续生产时，其共同性能的检验可以从其中一种玻壳中抽样进行，其结果可以代替其他玻壳的检验。可来纳的其同性能和有关的检验项目如下：a.
玻璃特性；
阳极帽封接质盘，
屏面对中；
锥颈对中;
屏面倾斜王
管颈缺陷。
3.3监定批准程序~
制造厂应：
满足IECQC001002鉴定批准的.总要求；满足总规范3.1茶初始制造阶段的要求；h
按详细规范的要求提供一个连续批的逐批检验和一批周期检验的一致性检验资料。e
SI/Z 9007
样本应接
的规定抽取。采用正常检查。
IEC410
3.4质量一致性检验（见IECQC001002中12章）空白详细规范应规定包括每一详细规范在内的最低限度的检验规范表。此规范表也可按遂批检验和周期检验的目的分组规定。为适用于不同的评定水平，空白详细规范可以列成多个规范表。3.5不合格批的再次提交
当样本不能满足逐批检验的要求时，应按IECQC001002中12.4条处理。3.6放行批证明记录
当在有关的空白详细规范中，给出了放行批证明记录，且订货方也有要求时，最低限度应给出下列信息：
GB/T 14012—92
a。周期检验各分组中所包含的特征信息（通过或不通过），不包括已造成拒收的参数，b。 可变的信息;
放行批证明记录的内容应遵循IECQC001002中14章的要求。c
3.7延期交货
玻壳经检验合格后，在制造厂贮存超过12·个月时，应按详细规范中规定的A组检验或其他检验重新提交。
3.8非检验参数
在详细规范中未规定工作条件的性能是不能保证的，也不应作为检验项目。如果要求在这样条件下工作时，必须制定单独的详细规范。应完整地说明所采用的任何补充试验方法，同时规定出相应的极限值、AQL和检查水平。3.9周期检验
当样本不能满足周期检验的要求时，应按IECQC001002中12.6条处理。3.10B组检验结束之前的发货
SJ/Z 9007
当全部B组检验已满足
放宽检查的条件时，允许制追厂在结束这些试验之前放行连续批TEC410
的玻壳。
4试验和试验方法
4.1替代法
本规范所列的试验和试验项目，应采用相应的国家标准或国际标准所规定的方法，但也允许详细规范给出与规定方法相等效的替代法。凡详细规范中已指明引证规定的方法，就不能采用替代法。4.2标准试验条件
除非另有规定，所有的试验都应在GB2421规定的正常的试验大气条件（温度15～35℃，相对湿度45%~75%和气压86~106kPa）下进行。每一试验都应按规定的程序进行。4.3直观检验
玻壳应在工厂的正常照明条件下检验，一般不需要专用的观工具。检验要求应符合心BB557或详细规范的规定。必要时与极限样品进行比较或用专用量具检验。检验项目包括：4.3.1屏面缺陷
4. 3. 1. 1
4. 3. 1. 2
有效屏面的气泡、不透明杂质等缺陷。屏面的其他缺陷：
划伤，
碰伤；
裂纹；
缺口，
铁锈：
剪痕；
条纹；
玻璃粘附：
脏污、雾痕、油污以及其他缺陷。4.3.2玻锥（包括屏侧面）缺陷：a.
气泡、不透明杂质等缺陷；
碰伤、裂纹，
划伤；
缺口；
阳极帽。
管颈缺陷：
缺口，
碰伤；
裂纹，
划伤：
玻节，
长气泡：
结石；
GB/T 1401292
破气泡和结石等缺陷的相互间隔。4.4玻壳尺寸检验和检验方法
详细规范应给出标注尺寸的外形图和玻壳相关尺寸的检验要求。阳极帽连接尺寸和参考线量规尺寸应符合GB3189和GB11484的规定或详细规范的规定，凡在详细规范中需检验下列尺寸时，应按下列给出的相应方法进行检验（办见上述4.1条的内容）。4.4.1模圈线外径(面板尺寸)
用卡尺或其他量具分别卡在模圈线的长轴、短轴和对角线上，测量三条轴上的长度。4.4.2屏有效径
测量示意图如图1所求。
用如图2所示的专用量规紧靠屏内表面过渡半径处，测量屏内表面过渡半径中心间的距离S。有效径按式(1)计算：
有效径 $ +2rcos30°= 5 + 3
中，r-
内表面过渡半径，mm。
分别在长轴、短轴和对角线上测量。图1
4.4.3屏中心厚度
将厚度量规的两臂轻轻插入屏中心处，然后，使录规的二触头在屏面中心的被测点并拢。调整触头，当触头轴线垂直于被测点的曲面时测量屏中心厚度。或用其他盘具、仪器进行测量。4.4.4屏周边厚度
在4.4.2条屏有效径测量中触头项点指向的位置处，用厚度量规测量或用其他量具，仪器进行测量。
4.4.5屏中心外曲率半径
GB/T14012—92
将玻壳屏封接面向下放置，球面规的百分表触头放在屏中心点。以球面规的三触脚为基准，在规定尺寸的圆内测盘屏中心至基准点的弦高，求得屏外曲率半径。或用其他量具进行测量。4.4.6屏周边部外曲率
以对角线上的测定点（Z点）为基准点，用曲率量规测盘四个基推点构成的平面与长轴和短轴上规定点的弦高。
4.4.7模圈线突起
如图3所示，将虽规对准模圈线进行测量。图3
4.4.8模圈线周长
用已知长度的测量钢带套在被测玻壳模圈线上，并使钢带的中心线与模圜线重合。用常具测量模圈线处的外周长。
4.4.9玻壳总高
将屏面向下置于平台上，用测高规等量具测量。4.4.10参考线至屏顶的距离
在玻壳上套上参考线量规，用测高规等量具测量参考线量规上的参考线平面至屏顶的距离。4.4.11参考线至阳极帽的距离
用测高规等量具测量玻壳参考线平面至阳极帽中心的距离。4.4.12玻锥壁厚
将被测玻锥插入百分表的两触头之间，测定部位为距锥口25mm或详细规范规定的位置处。调整玻锥和百分表的触头，当触头轴线垂直于被点的曲面时，测量玻锥的壁厚。4.4.13阳极帽封接部位的厚度
按4.4.12条的方法，用百分表测量阳极帽封接部位的厚度。4.4.14电子束余隙
在余隙测试台上将参考线量规和锥体塞规紧贴在一起，并将百分表的读数调至规定值，提起锥体塞规放入锥体，使它们相互靠紧并处于同一轴线上。此时从百分表的指示即可测量出电子束余隙。4.4.15锥体塞规插入深度
将规定的锥体塞规和参考线量规分别紧贴玻锥偏转部位的内侧和外侧，并使两种量规同轴，用量具测量锥体塞规顶部平面至参考线的距离。4.4.16管颈外径
用规定尺寸的专用管颈卡规卡上管颈，并旋转90°，检测管颈外径，或用专用量具进行测量。4.4.17管颈内径
用规定尺寸的专用塞规插入管颈，检测管颈最小内径，或用专用量具进行测量。4.4.18管颈壁厚
用卡尺测量管颈的厚。
4.4.19管颈弯曲
GB/T 14012--92
将规定长度的直尺紧靠管颈直线部分，用规定厚度的薄片插入管额直线部分，测量其与直尺之间的缝隙。
锥颈封接部外径
测试示意图如图 4 所示。
用规定尺寸的专用量规套入管颈，推向封接部。当量规的顶端能超过封接线时，检测锥颈封接部最大外径。
4.4.21锥颈封接部内径
测试示意图如图5所示。
用规定尺寸的专用塞规插入管颈，推向封接部，当塞规的顶端能超过封接线3mm以上时，检测锥颈封接部最小内径。
4.4.22锥颈封接部厚度
用厚度量规在锥颈封接处进行测量。4.4.23管颈喇口外径
用量具在管颈喇叭口处进行检测。4.4.24暂颈喇叭口高度
用量具测量喇叭口至臂颈直线部位与喇叭凹部位转折线的高度。4.4.25阳极帽位置偏移
用量具测量阳极帽中心与玻壳轴线构成的平面相对于规定对称平面的偏移。4.4.26屏锥封接部位突起
测量示意图如图 6 所示。
将玻壳置于平台上，把直角规或专用量具靠紧封接部位拐弯处，测量与模离线之间的间隙d。4.4.27管颈与锥体间的偏移
测量示意图如图7所示。
GB/T14012—92
7777777777777777777777777
用专用量规确定管颈轴线，把千分表的触头对准CD线上部且封接时不变形的部位，然后旋转周，读千分表指示的最大值（Am)和最小值（A）。管颈和锥体间的偏移(D)按式(2)计算：D
4.4.28屏面对中
用专用量其在规定位置处，测量屏中心与管颈中心轴之间的偏差。4.4.29锥颈对中
用专用量具在规定位置处，测量锥体中心轴和管颈中心轴之间的偏差。4.4.30屏面倾斜
用专用量具在规定位置处，测量垂直于管颈中心轴的平面与屏面表面之间的距离之差。4.5玻璃特性试验和试验方法
凡在详细规范中规定检验下列有关的玻璃特性时，应按下列给出的相应方法进行试验（亦见4.1条)。
4.5.1平均线热膨胀系数
平均线热膨胀系数按GB9622.2进行试验。4.5.2软化点
软化点按GB9622.4进行试验。
4.5.3退火点和应变点
GB/T 14012—92
退火点和应变点按GB9622.5进行试验。4.5.4X射线吸收系数
4.5.4.1定义
玻璃的质量吸收系数与密度的乘积。4. 5. 4. 2.程序
X射线吸收系数可按骏璃的密度、玻璃中各氧化物的含量及其在规定波长下各氧化物的质量吸收系数来计算。其计算公式如下： = p X μm = p × E(μrmon X R.O.%)式中，-
PRn:On
-X射线吸收系数，1/cm
氧化物RmO，的质量吸收系数，rm/g；RmO.——氧化物的百分含量；
玻璃密度，g/cm\
玻璃的质量吸收系数.cm/g。
.......( 3)
除非另有规定，x射线吸收系数通常以在0.06nm(20.6kcV)波长下的吸收系数求表示。常见氧化物在0.06nm波长下的质基吸收系数见下表：RmO.
ftHmOm
sio。
注：1)“F\以单质形式存在。
4.6玻壳性能试验和试验方法
凡在详细规范中规定检验下列有关的玻壳性能，应按GB/T14010给出的相应方法进行试验（亦见4.1条)。
耐热冲击；
耐压强度，
残余应力，
色品坐标，
光透射比；
阳极帽封接牢性。
附加说明：
本标摊由中华人民共和国机械电子工业部提出。本标准由国营红光电子管厂，机械电子工业部电子标准化研究所负责起草。本标准主要起草人张芳秀、徐大章、庞卓英、刘永全。
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