GB/T 9424-1998
基本信息
标准号:
GB/T 9424-1998
中文名称:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
标准类别:国家标准(GB)
标准状态:现行
发布日期:1988-06-02
实施日期:1999-06-01
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
下载大小:343587
标准分类号
标准ICS号:电子学>>31.200集成电路、微电子学
中标分类号:电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
出版信息
出版社:中国标准出版社
书号:155066.1-15762
页数:平装16开, 页数:12, 字数:18千字
标准价格:10.0 元
出版日期:2004-05-07
相关单位信息
首发日期:1988-06-23
复审日期:2004-10-14
起草单位:电子部标准化所
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门:国家质量技术监督局
主管部门:信息产业部(电子)
标准简介
IEC电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。 GB/T 9424-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范 GB/T9424-1998 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
GB/T9424—1998
本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC748-2-5.1992&半导体器件集成电路#第2部分
数字集成电路第五篇—CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范》。本标准代替1988年发布的GB9421CMOS数字集成电路4000系列电路空自详细规范》。本标准与&CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范\一起,可作为编制CMOS数字集成电路4000系列电路详细规范的依据。本标准引用的国家标准GB/T4937--1995和GB/T175721998分别等同来用IEC74.9:1984及修改单1(1991),修改单2(1993)和IEC748-2-4:1992。本标淮出中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会其口。本标推起草单位,电子工业部标准化研究所、西安微电子技术研究所本标准主要起草人:陈裕、陈学礼。GB/T 9424—1998
IFEC 前言
1)IEC(国际电上委员会)在技术问题上的正式决议或协议,是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的,对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的致意见,2)这些决议或协议,以推荐标准的形式供国际上使用,并在此意义上为各国家委员会所认可。3)为了促进国际上的统一,IEC希望各国家委员会在本国条件许可的情况下,采用IEC标谁的文本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异.应尽可能在国家标准中指明。本标准是由SX:47A集成电路)和IECTC47(半导体器件)制定的,本标准系CMOS数字集成电路4M0OB利4000UB系列空详细规范。本标雁文本以下列文件为依据:六个月法
47A(CO)175
47(CO)1051
表决报告
47(CO)195
一个月程序
A7A(CO)210
本标准表决批准的详细资料可在上表列出的表决报告中查间表决报告
47A(CO)242
本标准封面的QC编号是IEC电子元器件质量评定体系(IECQ规范号。本标准引用下列IEC标准:
68-2-17:1978环境试验
第2部分
试验Q密封
617-12:1991图示符号第12部分二进制逻辑单元
747-10:1991半导体器件分立器件第10部分分立器件和集成电路总规范748-2-1:1991半导体器件集成电路第2部分数字集成电路第四篇一CMCS数字集成电路4000H和4000UB系列族规范
748-11:1990半导体器件集成电路:第11部分半导体巢成心路(不包括混合电路)分规范749:1984半导体器件机械和气候试验方法修改单1(1991)
QC001002:1986TEC电子元器件质量评定体系(IECQ)程序规则引言
中华人民共和国国家标准
半导体器件集成电路
第2部分:数字集成电路
第五篇CMOS数字集成电路
4000B和4000UB系列空白详细规范Semiconductor devices Integrated ctrcuitsPart 2: Digital integrated circuitsSetion five-Blank detail specification for complementary Mosdlgital integrated circuits series 4 000B and 4 000UBGB/T 9424—1998
id1 1Ec 748-2-5:1992
QC 790131
代 GB/T 9424 1968
TEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序.以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电于元器件无需进一步试验而为其他所有参加国样接受。
本空白详细规范是半导体器件的-系列空白详细规范之一,并应与下列IFC标准一起使用。747-10/QC700000平导体器件第10部分分.立器件利集成电路总规范要求的资料
本页及下面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应,这些资料应填人相应栏中。详细规范的识别
[1!授权发布详细规范的国家标准化机构名称。[2′详细规范的IECQ编号。
23]总规范、分规范的编号及版木号。[4幻评细规范的国家编号,发布月期及国家标准体系要求的任何资料。器件的识别
[5]主要功能和型号。
「6]典型结构(材料,主要工艺)和封装资料。如果器作具有若干种派生产品,则应指出其差异,例如,在对照表中列出特性差异。如果器件属静电敏感壁,在详细规范中应附加预防说明、[7]外形图、引出端识别、标志和/或与外形有关的参考文件「8]按总规范2.6的质量评定类则「9考数据。
「本规范下面方括号给出的条款构成了详细规范的首页,那些条款仅供指导详细规范的编写·而不应纳入详细规范巾
【当一个茶款指导编写可能引起混清时.应于括号内脂明国家质量接术监督局1998-11-17批准1999-06-01实施
GB/T 9424—1998
L国家代表机构(NAI)(和可以提供规范的团体)的名称(地址)
评定电子元器件质量的依据
总舰范:
IEC 747-10/QC 700000
分规范:
TEC748-11/QC790100
族规范:
GB/T17572
「编号不同时的国家标谁号]
[IECQ详细规范编号、版本号和/或日期]QC790131
[详细规范的国家编号】
[若国家编号与IECQ编号相同,本栏可不填]CMOS数字集成电路 4000B和 4000LB系列空白详细魄范[有关器件的型号]
订货资料,现本规范1. 2
机械说明
外形嵌据:
[应给山标准封装资料,1EC编号(如有,则需遵循)和/或国家编号]
外形图:
[可以入木规范第8章或在那里给出更详细的资料!
引出端识别:
[画出引出端排列图,包括图示符号]标志;[字舟和图形,色码二
二若有时,详细规范应规定标志在器件上的内容!
[现总规范 2. 5 和/或本规池 1. 17简要说明
应用,见本规范第6 章
功能:见本规范第3章
典型结构:[S]]
封装:[空封或非空封]
「派生产品的特性对照表]
注意:静电敏感器件
质量评定类别
[按总规范2.6]
参考数据
二能在各型孕间比较的最重要性能的参考数据[指明器件为 SSI,MSI 还是 LSI]接本规范鉴定合格的器件,其有关的制造厂资料,可在现行合格产品目录中查到。1标志和订货资料
1.1标志
GB/T 9424—1998
[除第[7栏和/或总规范2.5给出的资料外,任何待殊资料应在本条给出.]]1.2订货资料
[若无其他规定,订购器件至少需要下列资料:摊确的型号(必要时,标称电压值),当适用时:详细规范的IECQ编号、版本号和/或日期:总规范2. 6和分规范第9章规定的质量评定类别,以及如果需要时,分规范第8章规定的筛选程序,
任何其他特殊的资料。二
2应用说明
死本规范[6]规定的内容。
3功能的详细说明
3.1详细抵图
[应给出器件的详细框图。
应给出功能的图示符号。图示符号可从标准图示符号的日录中得到,或按IEC标准617-12的规则编制
3.2引出端的识别及功能www.bzxz.net
「所有引出端应在框图中注明(电源端、输入斓或输出端、输入/输出端)。引出端功能应在下表巾标明
引出端编号
3.3功能说明
引出娣符号
[应在这里给出功能表]
山端名称
极限值(绝对最大额定值体系)4
除另有规定外,这些极限值适用于整个工作温度范围。[最好在本现范第9章画出出线]所有电压以Vs为基准。
条款号
4. 1~~4. 5
见族规范
每个输出和每个封装的功耗
流入任一输出端的连续电流
瞬态能颖定恺
5工作条件(在规定的工作温度范围内)见族规范第5章。
电源电压范围:V-3V~15V
所有电压以 Vss为基准。
引出端功能
输人/辅出识别
输出电路的类别
6电特性
检验要求见本规范第13章。
GB/T 9424 —1998
推荐电源电压范围;V—5V、10 V和15 V(见族规范第5章,)
若尤其他规定,电特性适用于整个工作温度范围。所有电压以Vss为基准。
6.1静态特性
见族规范5.2.1(除5.2.1.9外)6-2动态持性
6.2.1表示电路响应特性的时间11条敦
6. 2. 1. 1
6. 2. 1. 2
6. 2. 1. 3
6. 2. 1. 4
传輪时间
(标阵输出)\
输出允许时间
(三您输山)\)
输出截止对问
(三态输出)
转换时间
(标滩输出)
1见详细规范
其中;对 m.和 ipi2,V+-Vnn;
对 rrz利 trat, Vx=V
Tmnipri
6.2.2时序要求
建立时间
(适用时)
保持时间
(适用时)
6.3时序图
不适用。
6-4电容
见族规范 5. 2. 1. 9。
7编程
不适用。
8机械和环境额定值、特性和数据见分规范 12. 2。
9附加资料
族规范。
GB/T 9424 - 1998
仅当规范和使用器件所必须的才给出,例如;涉及到极限值的温度降额曲线:测试电路或补充方法的详细说明;详细的外形图。」
10筛选(如要求)
见分规范第8章。
应确定下列老炼条件:
·环境温度;
·电源电压,
·频率;
·电璐图和条件。
11质量评定程序
11.1鉴定批准程序
见总规范第3章和分规范5.1。
11.2 能力批准程序
在考虑巾。
12结构相似性程序
见分规范第 6 章。
Tanlnin
13试验亲件和检验要求
13.1 总则
GB/T 9424—1998
[在编写详细规范时,下列表中的数值和确切的试验条件,应按器件型弓要求以及有关标准中有关试验的要求确定。
[两者选一的试验或试验方法,在编写详细规范时应规定一种。][当同详细规范中包括几种器件时,相应的条作和/或数值应依次连续给出,尽可能避免重复相间的条件和/或数值。」
13.2抽样要求
见分规范第 9 章。
13.3检验表
若无其他规定,试验在25C℃下进行。标有(D)的试验是破坏性的。
外部日检
检验或试验
25℃下的功能验证(若无其他规定)-逐批检验
试验条件
IEC 747-10,4. 2. 1. 1
按本规范第3章
(不适用十1类)最低和最高工作温度下的功能验证25℃下静态特性
最低和最高工作温度下的静态持性25℃下的动态特性(若无其他规定)(不适用于「类)最低和最高工作温度下的动态特性\见本规范5-1
T, - Tamlmus 和 'nhaa.
条件同上述 A3 分组
见本规范6.2
Tsmb - Tambmir 和 Trasnan1
极限值
见本范
极限值可以与A3分组不
见本规范6.2
极限值可以与A4分组不
条件同上述 A4分组
4)如果制造厂能定期证明两个极限温度下的试验结果与25心下的试验结果相关,则可使用25么下的试验结果。
(类器件见总规范2.6)
检验或试验
电额定值验证
可焊性
温度快速变化
a)空封
温度快速变化
·电测试从42和A3分组中选挥
·密射,细检漏
·逐批检验
1EC747-10
4. 2. 2 和附录 L
细则和条件
不适用
GB/T4937,第1等.2.按规定
GB/T4937,第■篇,
GB/T4937,第I篇,
7.3或7.4
10欧循环
向 42 和 43 分组
按规定
极限值
见本规范第「章
漫润良好
同 A2 和 A3 分组
检验或试验
·密封:粗捡流
h)非空封和环氧空封
温度快速变化
·外部目检
·稳态湿热)
·电测试
电耐久性
CB/T 9424 —1998
表I(完)
TEC68-2-17.Q.试验
GB/T 4937,第 篇,
IFX 747-10+4. 2. 1. 1
GB/T 4937,第1篇,5B
见分规范12.3
就 B34. 135 种 R8 分组提供计数检查结果表
C 组——周期检验
惊验或试验
瞬态能量额定值
引出端强度
耐焊接热
温度快速变化
: IFC 747-10
4.2.2和附录B
GB/T 17572,10. 2
GR/T 4037,第I符,
第1章
细则和条件
按规定
10次循环
\醋度 1,24 h
同A2和A3分组
时间:168h。按分规
范 12.3相12.4(如
适用)
细则和条件
控相应封装划定
GR/T 4937.第1篇,2.2按规定
温度快速变化
难厚电测试从 A2和 A3 分组中选押
,密封:缅检漏
·密封:粗检漏
h)非空封和环载空封
温度快速变化:
外部月检
免态湿热
·电测试
稳态加遇度
(适用于空封器件)
稳态湿热
:a)空封
:6)非空卦和环氧宰冉
中测试
A2和A3分组
GB/T 4937.第Ⅱ第,1. 1
10次循环
同 A2 和 A3 分组
GB/T 4937,第Ⅱ 篇,按规定
7. 3 或 7. 4
IFC 68-2-17,Qc 试验
GB/T 4937.第 T节
ILEC 747-10.4. 2. 1. 1
按规定
5洪饮循环
CB/T 4937,第I篇.5B严酷度 1.24 h可A2和A3分组
按规递
GR/T 4937.第白靠、
第5年
GB/T4937、第1监,
严酷度;Ⅱ类和Ⅱ类
GB/T 4937.第 Ⅱ 第。
为56 d.「类为21 l,
偏暨:按详划范规
时间:I 类科I 类为
[ tou b,| 类 5e h
A2和A3 分纠
機限值
同 A2 和 A3 分组
见分规范12.3
极阴值
可 A2 和 A3 分组
司 A2 和 A3 分组
同 A2 析 A3 分差
电耐久件
高温此疗
检验或试验
标志耐久性
喻入电穿
GB/F9424 1998
表亚(完)
见分规范12.3
细则和条件
时间;1 000 h,条件
按分规范12.3放
12.4(如适用)
1000h,7g
CB/T 4937,第I箱第
GB/T 4937.第π篇,第
见本规范6.4
1就C3,C4,C5C6,C7,C8,C9和C11分组携供计数协查结果CRRI.
5)B5b)和5h)将用\强加速凝热\替代D组
每年次的试验
电耐久性
检验或试验
见分规范12.3
6) D 经试验成在鉴定批准后立即进行,其后一年进行--次13.4延期交货
现 IEC 标准 747-10,3. 6. 7.
14附加测量方法
不适用。
方法1
见本规范6.4
细刻对条件
1类:不适剂
类;20h
类:3000 h
条件:
鼎分规范12.3没
12.4(如适月)
极限值
克分规范12.3
见本规范6.1
极限值
见分规范12.3
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