IEC电子器件质量评定体系遵循IEC的章程并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列IEC标准一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范IEC 748-11/QC 790100 半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路(不包括混合电路)分规范 GB/T 18500.1-2001 半导体器件 集成电路 第4部分：接口集成电路 第一篇：线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 GB/T18500.1-2001 标准下载解压密码：www.bzxz.net

GB/T18500.1—2001
本标准等同采用国际电工委员会（IEC)标准IEC748-4-1：1993《半导体器件集成电路第4部分：接口集成电路第一篇：线性数字/模拟转换器（DAC)空白详细规范》，以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。
本标准可作为编制线性DAC详细规范的依据。本标准引用了下列标准：
GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法(idtIEC749：1984）GB/T16464—1996
6半导体器件集成电路第1部分：总则(idtIEC748-11984)GB/T17573—1998
半导体器件分立器件和集成电路第1部分：总则(idtIEC747-1：1983）IEC68-2-17:1978
3环境试验第2部分：试验—试验Q密封修改单4(1991）IEC747-10.1991
半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范IEC748-4:1987
半导体器件集成电路第4部分：接口集成电路修改单1(1991）IEC748-11：1990半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路）分规范
IEC748-11-1.1992
半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路）内部目检
IECQC001002：1986IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则修改单1（1992）IEC748-4-1中极限值表分为两个部分，为了与已发布的空白详细规范一致，本标准将其合成个表。
本标准由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归口。本标准起草单位：信息产业部电子工业标准化研究所。本标准主要起草人：陈熔琨、李燕荣。1
GB/T18500.1—2001
IEC前言
1）IEC（国际电工委员会）是由各个国家电工委员会（IEC国家委员会）组成的世界性的标准化组织。EC的目的是促进电工电子领域标准化问题的国际合作。为此目的，除其他活动外，EC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关切的任何正C国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何国际，政府及非官方组织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织(ISO)根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系。2）IEC在技术问题上的正式决议或协议，是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。3）这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用，并在此意义上，为各国家委员会所认可。
4）为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会应有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。EC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异应在国家或地区标准中指明。5）IEC未规定使用认可标志的任何程序。当宣称某一产品符合相应的IEC标准时，IEC概不负责。本标准IEC748-4-1由IEC/TC47（半导体器件)的SC47A（集成电路）制定。本标准是IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）范围内的线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范。
本标准文本以下列文件为依据：DIS
47A(CO)267
表决报告
47A(CO)281
表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。在本标准封面的QC编号是IEC电子元器件质量评定体系（IECQ)的规范号。本标准引用下列IEC标准：
IEC68-2-17：1978环境试验第2部分：试验一一试验Q密封修改单4(1991）IEC747-1：1983半导体器件分立器件和集成电路第1部分：总则IEC747-10：1991半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范IEC748-1：1984半导体器件集成电路第1部分：总则修改单1(1991）IEC748-4:1987
7半导体器件集成电路第4部分：接口集成电路修改单1（1991）IEC748-11：1990半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路）分规范
半导体器件集成电路：第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路）内IEC748-11-1:1992
部目检
1半导体器件机械和气候试验方法修改单1(1991)IEC749：1984
IECQC001002：1986IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则：修改单1（1992）1
中华人民共和国国家标准
半导体器件集成电路
第4部分：接口集成电路
第一篇：线性数字/模拟转换器（DAC）空白详细规范
Semiconductordevices-Integrated circuitsPart 4,Interface integrated circuits-Section 1Blank detail specification for lineardigital-to-analogue converters (DAC)GB/T18500.1—2001
idtIEC748-4-1:1993
QC790303
IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其所有参加国同样接受。
本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列EC标准一起使用。IEC747-10/QC700000半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范IEC748-11/QC790100半导体器件集成电路第11部分：半导体集成电路（不包括混合电路）分规范
要求的资料
本页和后面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，这些资料应填入相应的栏中。详细规范的识别
[1]授权发布详细规范的国家标准化机构名称。[2]详细规范的IECQ编号。
[3]］总规范、分规范的编号及版本号。[4详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的其他资料。器件的识别
主要功能和型号。
典型结构（材料、主要工艺）和封装资料。如果具有若干种派生产品，则应指出其差别，例如用对照表列出特性差异。如果器件属静电敏感型，应在详细规范中附加预防说明。[]外形图、引出端识别、标志和/或有关外形的参考文件。[8]按总规范2.6的质量评定类别。中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局2001-11-05批准2002-06-01实施
[9]参考数据。
参考数据示例：
GB/T18500.1—2001
一带单一输入和固定基准的线性D/A转换器或带双输入及其中一个输入为可变模拟基准的线性乘法D/A转换器；
单极性和/或双极性电路；
一电压或电流输出；
失调和可调增益误差或零点和满量程非可调误差等。（给出上述基本值。）
[本规范方括号给出的条款仅供指导详细规范的编写，而不纳入详细规范中。[当某一条款指导编写可能引起混淆时，应在括号内说明。2
［国家代表机构（NAI）
（和可以提供规范的团体)名称(地址)评定电子元器件质量的依据
总规范：
IEC747-10/QC700000
分规范：
IEC748-11/QC790100
［及编号不同时的国家编号］
GB/T18500.1-2001
线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范［【有关器件的型号]
订货资料：见本规范1.2
机械说明
外形依据：
[应给出标准封装资料：IEC编号（如有，则需遵循)和/或国家编号
外形图：
[可移入第8章或在那里给出更详细的资料]引出端识别：
［画出引出端排列图，包括图形符号］标志：
［字母和图形，或色码］
[若有时，详细规范应规定器件上标志的内容]［见总规范2.5和/或本规范1.1]［详细规范的IECO编号、版本号和/或日期
QC790303
［详细规范的国家编号］
［[若国家编号IECQ编号一致，本栏可不填］[5]
简要说明
应用：
功能：
典型结构：[Si、单片、双极型、MOS]封装：［空封或非空封
［派生产品的特性对照表]
注意：静电敏感器件
质量评定类别
［按总规范2.6]
参考数据
[能在各型号间比较的最重要性能的参考数据]按本规范鉴定合格的器件，其有关制造厂的资料，可在现行合格产品目录中查到。3
1标志和订货资料
1.1标志
见总规范2.5。
GB/T18500.1—2001
详细规范应规定有关型号标志如字母、图形和/或代码。当标志含有总规范2.5规定之外的信息时，例如制造厂内部使用的，应予以区分。如全部资料已经在前页[7栏中出现，也应指明。1.2订货资料
除另有规定外，订购器件至少需要下列资料：-准确的型号(必要时，标称电压值)；一适用时，详细规范的IECQ编号、版本号和/或日期；分规范第9章规定的质量评定类别，以及需要时，分规范第8章规定的筛选顺序；一发货包装；
一任何其他特殊的资料。
2应用说明
应给出器件在设备或线路中应用资料以及与相关器件的关系，这些内容取决于所描述的功能。3功能说明
必要时，应给出集成电路的详细框图或等效电路资料。4极限值（绝对最大额定值体系）本条款不用于检验。
除另有规定外，这些极限值适用于整个工作温度范围。应给出器件特定的机械或环境额定值和相关极限条件。最好在详细规范第9章给出曲线。条款号1
电源电压（见本规范第5章的注）电源电流(适用时)
数字输入电压
基准放大器输入电压(适用时)或者基准放大器差分输入电压(适用时)模拟输出电压(适用时)
基准输入电流(适用时)
采用说明：
VREF(D)
17EC748-4-1中极限值表分两部分，本标准转化时合成一个表，以与其他空白详细规范一致。4
条款号1
模拟输出电流(适用时)
其他端电压和/或电流
输出短路电流
短路持续时间(适用时）
工作温度”*
贮存温度**
GB/T18500.1—2001
表 (完)
见GB/T16464—1996，第V篇10.4.1注1)和注2)。见GB/T16464—1996，第V篇10.4.2。5工作条件（在规定的工作温度范围内）数
在相关测试方法中规定工作条件（见IEC748-4：1987，第IV篇，第三节，类）。检验要求见本标准13.3。
般测试条件和相应值：
5.1电源电压1)
5.2电源电流
5.3数字输入
5.3.1全位逻辑“1”
全位逻辑“0”
6电特性
V和/或mA
这些特性要求基于单一输入和固定基准的线性DAC或双输入及其中一个输入为可变模拟基准的线性乘法DAC而规定。
电特性的符号、术语和条件依据IEC748-4：1987相关条款给出。术语和定义见第I章I类第2条，电特性的条件见第1章第二节I类第4条。最好在本标准第9章给出曲线。
除另有规定外，下述特性适用于整个工作环境温度范围。若电路的性能在整个工作环境温度范围内变化，则应规定25℃和在极限工作温度范围内适用的电特性数值。
电特性表
6.1静态特性
1）双极性转换器：Vcc(正电源电压）Vee(负电源电压）
相对基准地
单极性转换器：Vcc(正电源电压）仅相对基准地
条款号
基准偏置电流
静态特性
基准偏置电压(适用时)和
基准电压相对温度变化
输入高电平电压和
输入低电平电压（适用时）
输入高电平电流和/或
GB/T18500.1-2001
输入低电平电流（适用时）
输出电流和输出电压随电源电压变化灵敏度（适用时）
模拟输出电流（适用时）
一输出电流范围（单极性和/或双极性）一满量程或增益点
一零点或失调点
模拟输出电压(适用时）
一输出电压范围（单极性和/或双极性）一满量程或增益点
一零点或失调点
模拟输出短路电流(适用时)
Ksvscv)
*V和V不测试但作为定义其他特性的测试条件。6.2转换误差特性
条款号
转换误差特性
失调误差(适用时)
增益误差(适用时)
（终点）线性误差（适用时）
最佳直线线性误差(适用时）
满量程误差（适用时)
零点误差（适用时)，单极性
绝对线性误差（适用时）
微分线性误差(适用时)
双极性转换器：满量程不对称电流或电压（适用时）
零点误差(适用时)(双极性)
零点或失调点温度系数，
单极性和/或双极性电路(适用时）满量程或增益点温度系数，
单极性和/或双极性电路（适用时）符号
*1LSB=（模拟）分辨率，见IEC748-4：1987第I篇2.2.3.1注。6
的分数
%FS/℃
%FS/℃
6.3动态特性
条款号
动态特性
时钟脉冲（适用时)
（数字)建立时间(适用时）
（数字)延迟时间(适用时）
GB/T18500.1—2001
tr、t、tw
（数字)输出电压平均变换速率1)基准建立时间
基准延迟时间
基准输出电压平均变换速率（适用时）基准输出电流平均变换速率(适用时)数字输入最高工作频率(固定基准)（适用时)
固定数字输入的基准模拟输入最高工作频率(适用时)
尖峰能量(适用时)2
馈通误差（适用时）
1）见EC748-4：1987，修改单1(1991)。2）见EC748-4；1987，第I篇2.3.4.2。3）Vp-p=模拟输出误差电压。
7编程
不适用。
8机械和环境额定值、特性和数据SVOAVD
SVOAVR
STOAVR
f max(D)
fmax(R)
任何适用的机械和/或环境额定值依据GB/T16464—1996第V篇10.8的规定（也可参见GB/T175731998第V篇，第7章。）9附加资料
该资料不用于检验。作为基本设计数据至少给出如下资料。9.1框图
功能图或/和该集成电路其他资料。9.2外接功能和控制电路
如适用，给出失调和增益误差校正原理图以及应用于DAC的基准输入网络和其他控制电路。9.3输出负载能力（例如适当的电压和电流输出电路）9.4带不同逻辑系列的DAC输入接口9.5测试图、时序图、特性曲线（特别是D到A转换特性）9.6注意事项
GB/T18500.1—2001
应包括限制机械或电气环境条件的任何附加资料。10筛选
如必要，应参考分规范第8章补充技术要求。例如：内部目检（包封前)(IEC748-11-1/QC790101）11
质量评定程序
详细规范应规定是适用鉴定批准程序还是能力批准程序。11.1鉴定批准程序
见总规范第3章和分规范5.1。
11.2能力批准程序
见总规范3.11。
12结构相似性程序
见分规范第6章。
13试验条件和检验要求
13.1总则
空白详细规范用于保证详细规范中试验的一致性。13.2抽样要求和检验批的构成
抽样要求见分规范第9章和总规范3.7。对于A组，详细规范应规定选取AQL还是LTPD体系。检验批的构成见分规范5.1.1和程序规则12.2(IECQC001002）。如果器件采用结构相似程序，见分规范第6章和程序规则8.5.3。当鉴定批准采用程序规则11.3.1方法a时，详细规范应给出抽样要求（见分规范第9章）。13.3检验表（试验顺序）
[试验顺序由下列表给出，采用的数值和确切的试验条件应按器件的型号要求以及有关标准中的有关试验的要求确定。
[两者选一的试验或试验方法，在编写详细规范时应规定一种。［同一详细规范中包括几种器件时，相应的条件和/或数值应依次连续给出，尽可能避免重复相同的条件和/或数值。
13.3.1A组——逐批
所有试验是非破坏性的见总规范3.6.6[试验NDJ)。特性的IEC引用条款号和测试条件已在本规范第5章和第6章规定。测试条件按器件型号和第5章的规定。采用说明：
1原文为“在考虑中”，实际上总规范3.11已有“能力批准程序”。8
A1分组
外部目检
A2分组
检验或试验
25℃下的功能验证
·非可调转换器
绝对线性误差或
满量程相对精度误差
·可调转换器
积分线性误差（端点）
A3分组
25℃下的静态特性
数字输入信号特性
电源电流（适用时）
模拟输出信号特性
输出电流或输出电压
随电源电压变化灵敏度（适用时）基准偏置电流或基准偏置电压和基准电压相对温度变化(适用时）
输出电流范围
图单极性和/或双极性连
接(适用时）wwW.bzxz.Net
满量程或增益点输出电流单极性和/或双极性连接（适用时)
零点或失调点输出电流
单极性和/或
双极性连接（适用时）
输出电压范围
接(适用时)
单极性和/或双极性连
满量程或增益点输出电压单极性和/或双极性连接（适用时）
零点或失调点输出电压单极性和/或双极性连接（适用时)
转换误差特性
·非可调转换器（适用时）
绝对线性误差或满量程相对精度误差
GB/T18500.1—2001
Ksvsa)
KsvsIEP或
VREP和
引用条款
试验条件
IEC 747-10,1991
GB/T4937—1995
按规定
按规定
V和Vm
见相关详细规范
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
见A2分组
检验要求极限值
外部目检
（目测)失效\)
检验或试验
可调转换器(适用时)
单极性和/或双极性失调误差
单极性/或双极性失调调整范围的（校正)(适用时)
单极性和/或双极性增益误差
单极性和/或双极性增益调整范围的（校正）（适用时）
（端点）线性误差
最佳直线线性误差(适用时)
微分线性误差2
双极性转换器：
满量程不对称电流或电压（适用时）双极转换器：
零点误差(适用时)
零点或失调点温度系数（单极性和/或双极性电路)(适用时)
满量程或增益点温度系数（单极性和/或双极性电路)(适用时)
A3a分组
最高和最低工作温度静态特性
数字输入信号特性\
（同A3分组）
模拟输出信号特性$
（同A3分组）
转换误差特性款
可调转换器(适用时）
单极性或双极性失调误差
单极性和/或双极性增益误差
微分线性误差”
GB/T18500.1—2001
表 (续)
Apss或
AV ess
Oeo或
引用条款
试验条件
按规定
见相关详细规范·
按规定
见相关详细规范**
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
按规定
Tamb=Tamsmax 和Tams
电气条件同A3分组
电气条件同A3分组
电气条件同A3分组
电气条件同A3分组
电气条件同A3分组
电气条件同A3分组
检验要求极限值
见有关详细规范极
限值可以与A3分组
见有关详细规范极
限值可以与A3分组
见有关详细规范极
限值可以与A3分组
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