SJ/T 10557.1-1994 电解电容器用铝箔技术条件 SJ/T10557.1-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业标准
SJ/T10557.1—94
电解电容器用铝箔技术条件
Specification for aluminium foil for electrolytic capacitor1994-08-08发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部发布中华人民共和国电子行业标准
电解电容器用铝箔技术条件
Specificationfor aluminiumfoil for electrolytic capacitor主题内容与适用范围
SJ/T10557.1-94
本标准规定了电解电容器用铝箔的技术要求，试验方法，检验规则及标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于高压电解电容器用阳极箔（以下简称高压原箱），低压电解电容器用阳极箔(以下简称低压原箔)和电解电容器用阴极箱(以下简称阴极箱）。引用标准
GB3199
GB6987
金属拉伸试验方法
铝及铝合金加工产品的包装、标志、运输、贮存铝及铝合金化学分析方法系列标准电解电容器用铝箔测试方法
SJ/T10557.2~10557.4
3技术要求
3.1尺寸及允许偏差
铝箔的厚度及允许厚度偏差和宽度应符合表1的规定。3.1.1
0.015~0.020
0.040~0.050
0.070~0.0105
0.120~0.150
0.180~0.200
厚度允许偏差
注：经供需双方协议，可供应其他规格的箔材。3.1.2铝箔的宽度允许偏差应符合表2的规定。中华人民共和国电子工业部1994-08-08批准宽
40~1000
90~1000
1994-12-01实施
<200（不包括200）
200~600（不包括600）
注：合同供货宽度应由供需双方商定3.2化学成分
SJ/T10557.1--94
3.2.1高压原箔和低压原箔的化学成分应符合表3的规定。表3
0.0025~0.0050
注：经供需双方协议，可按协议供货3.2.2阴极箔的化学成分应符合表4的规定。表4
注：经供需双方协议，可按协议供货。3.3力学性能
铝箔的纵向室温力学性能应符合表5的规定。2
0.015~0.090
0.100~0.200
3.4晶体结构性能
SJ/T10557.194
抗拉强度
3.4.1软状态高压原箱的表面平均位错密度不大于106个/cm。3.4.2软状态高压原箱的（100)晶面占有率不小于80%。3.4.3软状态高压原箔的表面氧化膜厚度不大于6nm。注：经供需双方协议，可供应其他参数的箱材。3.5表面质量
不小于
伸长率
铝箔表面应洁净，不得有腐蚀斑痕、气泡和严重的非金属压入物及鱼鳞纹，不允许有深度超过厚度负偏差之半的划道和擦伤。对退火状态铝箔其边部不允许有严重的黄色油斑，且表面不得粗糙。
铝箔表面应平整，边缘无突出海带状和严重的印痕及边部毛刺。铝箔箔卷的端面应整齐，无碰伤和污垢，箱的整个长度应易于展开，无粘结和撕裂现象。铅箔经腐蚀后应无块状亮斑。
3.6其他要求
电解电容器用铝箔应缠在洁净的钢（或铝）管上，管内直径为75士1mm，外径不大于80mm，钢管长应大于箔宽5～10cm（铝管和箔同宽），铝箔卷在立拿时不允许层与层间滑动及管脱出。
铝箔箔内的断头次数，每卷不得多于一个，断头处应有明显标记。4试验方法
4.1尺寸测量方法
厚度在0.003～0.05mm的箔材，采用精确度为0.5um带球状的测微计测量。测微计应具有不超过250g的测量压力和半径在16～20mm范围内的球形测量头：厚度大于0.05mm的箔箱材，用刻度值不小于0.01mm的测微计进行测量，也可用同等精度的其他测量仪器。4.2化学成分分析和仲裁方法
电解电容器用铝箔的化学成分的测试分析方法可按SJ/T10557.4或GB6987进行。当供需双方发生异议时，仲裁分析方法按GB6987的有关分标准进行。4.3室温力学性能试验方法
电解电容器铝箱的纵向室温力学性能应按GB228进行。其试样尺寸宽15mm，长170mm。
4.4晶体结构测试方法
SJ/T10557.1—94
软状态高压原箔的表面平均位错密度的测量按SJ/T10557.3进行。软状态高压原箔的表面（100)晶粒占有率测量按SJ/T10557.2进行。软状态高压原箔的表面氧化膜测量按附录A（参考件)进行。4.5表面质量检验
采用目视法逐卷检验，受检箱卷应打开1～3m。5检验规则
5.1检查和验收
铝箱应由供方技术监督部门验收，并保证产品质量符合本标准要求。5.2组批
电解电容器用铝箔应成批提交验收，每批应由同一合金、同一状态和规格组成，且应出自同一炉，批重量不限。
5.3检验项目
每批电解电容器用铝箱均应进行化学成分、尺寸及允许偏差和表面质量的检验。室温力学性能、晶体结构性能不予检验。如果要求检验时，应在合同中加以规定。5.4重复试验
当室温力学性能试验，晶体结构试验有一个试验的试验结果不合格时，应从该卷中另取双倍数量的试样进行重复试验。如复验仍不合格，则该卷作废。然后对该批剩下的逐卷试验，合格者交货，不合格者作废。
5.5取样位置和取样数
化学成分仲裁分析取样，可从箔卷任意部位切取。如合同要求作其他性能检验时，应从每批中抽取2%的卷数（不少于2卷），每卷切三个试样。
6标志、包装、运输、贮存
6.1标志
电解电容器用铝箔的包装箱标志应符合GB3199的规定。在验收的电解电容器用铝箔箱卷上应加标签，其上注明：
合金牌号：
化学成分；
供应状态；
批号；
规格；
箱卷长度：
重量，
质量监督部门的检印。
6.2包装、运输和贮存
电解电容器用铝箱的包装、运输和贮存应符合GB3199的规定。6.3质量证明书
SJ/T10557.1—94
每批电解电容器用铝箔应附有符合本标准要求的质量证明书，其上注明：a.
供货名称；
合金牌号：
化学成分；
供应状态；
箱卷长度；
重量；
规格，
批号：
质量监督部门检印；
生产日期；
本标准编号。
A1范围
SJ/T10557.1—94
附录A
激光圆偏振法测量铝箔表面氧化膜厚度方法(参考件）
本方法适用于软状态高压原箔的表面氧化膜厚度的测定。A2
试验设备
激光椭圆测厚仪：测量范围：0~300nm；精度：士1nm；
起偏器旋转角度：0~180°；
四分之波片旋转角度：-90°～90°检偏器旋转角度：-90°90%
激光入射角≤90°
A3样品尺寸
矩形样片：长10~20mm，宽10~20mm；圆形样片：直径1020mm。
A4方法原理图
图A1测量表面氧化膜厚度的方法原理图1.激光器；2.激光器出射光栏；3.起偏器；4.起偏器读数显微镜；5.四分之一波片；6.四分之一波片读数显微镜，7.入射光栏；8.待测样片；9.样品台；10.出射光栏，11.检偏器；12.检偏器读数显微镜；13.检流6bZxz.net
计光栏；14.光电倍增管及检流计。A5测量
A5.1测量准备
SJ/T 10557.194
A5.1.1在测量前调整激光器光轴与检流计光轴准直，以确保出射光被检流计接收。A5.1.2实验前应获得铝箔材料基体的折射率及光吸收系数。A5.2根据激光椭圆偏振测量膜层厚度的方法，测量铝箔表面氧化层相应的参数，测量时可选择适当的激光器，以获得特定的波长（如He-Ne激光器），也可根据实验选择适当的光电倍增管和检流计。
A5.3为消除实验误差，采用激光束变角度入射（如50、60°、70°入射），进行相应测量，获得各个角度下的相应参数。
A5.4将测量所得的参数与已知的铝箔材料的光学折射率、光吸收系数及空气的光折射率一同进行数据处理，确定铝箔表面氧化膜层厚度。附加说明：
本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准由电子工业部第四十六研究所负责起草。本标准主要起草人：张世敏、李贵全。7
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