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SJ 2214.1-1982

基本信息

标准号: SJ 2214.1-1982

中文名称:半导体光敏管测试方法总则

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

发布日期:1982-11-30

实施日期:1983-07-01

出版语种:简体中文

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相关标签: 半导体 光敏 测试方法 总则

标准分类号

中标分类号:通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理

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出版信息

页数:1页

标准价格:8.0 元

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标准简介

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SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则
SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则

标准内容

中华人民共和国电子工业部部标准SJ2214.1--82
半导体光敏管测试方法
1982-11-30发布
1983-07-01实施
中华人民共和国电子工业部
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏管测试方法总则
本标准适用于光缴器件光电参数的测试。光电参数的测试按相应的标准和技术条件的规定进行。1
对光学参数的要求
2.1光学参数的测试误差不大于20%。2.2峰值波长的测试误差不大于±200A。2.3有关光量计量标准应符合相应的国家计量标准。3对测试仪表的要求
直流电表的误差
SJ2214.1-82
电参数指示用电表(包括扩展量程后的电表)的误差不大于1.5%。工作点指示用电表误差不大2.5%。测试10μA以下的直流电流时,允许采用误差不大于4%的电表。参数指示用的直流电压表的内阻应足够大,使通过的分流电流小于总电流的1%。参数指示用的直流电流表内阻应足够小,使通过的电流在其上产生的最大压降不得超过工作电压的5%。
3.2交流仪表的误差
3.2.1电容测试仪表的误差不大于20%。3.2.2频率响应测试仪表的误差不大于±20%。4对电源的要求
4.1在测试设备中用交流整流作直流电源时,波纹系数不大于0.5%。4.2恒流源和稳压源的电流,电压在给定值范围内的误差不大于2%。5测试环境条件
光电参数的测试均在正常环境条件下进行:正常大气条件下载标准就来标准下载网
环境温度:25±10℃
相对湿度:45%~80%,
大气压力:650mmHg~800mmHg。
判定大气条件
温度:25±2℃,
相对湿度:60%~70%,
压:650mmHg~800mmHg。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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