基本信息
标准号：
SJ 2214.5-1982
SJ 2214.5-1982半导体光敏二极管结电容的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：35.63 KB
相关标签：
半导体
光敏
二极管
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
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相关单位信息
标准简介
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法 SJ2214.5-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二极管结电容的测试方法本标准适用于光敏极管结电容C的测试。1测试结电容C,的要求应符合SJ2214.1一82《半导体光敏管测试方法总则》。2结电容C,的测试
2.1定义
在无光照及规定偏压下被测管两端的电容值。2.2结电容的测试原理图应符合下图。振荡器
3测试步骤
遮光罩
选频放大器
鉴频器
SJ2214.5-82
指示器
调节零位，然后放上被测管，加规定偏压在指示器上显示出来的读数即为该管之电容值C，。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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