基本信息
标准号：
SJ 2214.7-1982
SJ 2214.7-1982半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
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相关标签：
饱和
半导体
光敏
压降
三极管
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法 SJ2214.7-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏三极管饱和压降的测试方法SJ2214.7-82
本标准适用于光敏三极管饱和压降VcE(sar)的测试。测试饱和降总的要求应符合SJ2214.1一82《半导体光敏管测试方法总则》。饱和压降VcE(sar)的测试
2.1定义
在给定光照下（基极开路）当集电极电流Ic达到规定值时，集电极与发射极之间的电压降VcE(sar)。2.2饱和压降Vcesa）测试原理图应符合下图。VcE(sat)
注：有基极引出线的基极按产品标准规定。测试步骤
恒流源
接上被测管后，调节光源达到规定光照，然后调节恒流源使1.为规定值，这时电压表上的读数即为饱和压降VcE(san)。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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