基本信息
标准号：
SJ 2214.8-1982
SJ 2214.8-1982半导体光敏三极管暗电流的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
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相关标签：
半导体
光敏
三极管
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
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相关单位信息
标准简介
SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法 SJ2214.8-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏三极管暗电流的测试方法本标准适用于光敏三极管暗电流I,的测试。测试暗电流总的要求应符合SJ2214.1-82《半导体光敏管测试方法总则》。暗电流I的测试
2.1定义
SJ2214.8-82
在无光照下（基极开路），集电极一发射极间的电压为规定值时，流过集电极的电流为暗电流Io2.2暗电流的测试原理图应符合下图。@
3测试步骤
稳压源
调节集电极与发射极间的稳压电源至规定值，这时电流表上的读数即为所测的暗电流Ip中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1
1983-07-01实施
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