基本信息
标准号：
SJ 2214.9-1982
SJ 2214.9-1982半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：58.25 KB
相关标签：
脉冲
半导体
光敏
三极管
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 SJ2214.9-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二、三极管
脉冲上升、下降时间的测试方法本标准适用于光敏、三极管脉冲上升、下降时间，、1的测试。SJ2214.9-82
测试脉冲上升、下降时间总的要求应符合SJ2214.1一82《半导体光敏管测试方法总则》。脉冲上升、下降时间t，、的测试2、1定义
光敏（二、三极管）在规定工作条件下，调节输人的脉冲光使光敏二、三极管输人相应的脉冲电流至规定值，以输出脉冲前沿幅度的10%到90%，所需时间为脉冲上升时间t，以输出脉冲后沿幅度的90%到10%，所需时间为脉冲下降t。2.2脉冲上升时间t、脉冲下降时间t测试原理图应符合下图。遮光罩
脉冲光
示波器
注：光敏三极管，有基极外引出线的产品所加的条件，在产品标准中规定。2.3对脉冲光要求
输人光脉冲：脉冲宽度T>2（t+）；a.
占空系数<50%，
前沿后沿b.V为规定值；
R,=502,
d，光电流的脉冲幅度大于规定值的2
测试步骤
稳压源
调节电压Vc至规定值，调整脉冲光使光敏二、三极管的输出电流至规定值。示波器上读出t,和t值。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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