基本信息
标准号：
SJ 2214.10-1982
SJ 2214.10-1982半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：38.31 KB
相关标签：
半导体
光敏
三极管
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
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相关单位信息
标准简介
SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法 SJ2214.10-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光敏二、三极管光电流的测试方法本标准适用光敏二、三极管光电流Ic的测试。SJ2214.10-82
1测试光敏二、三极管，光电流1c总的要求应符合SJ2214.1一82《半导体光敏管测试方法总则》。2光敏二、三极管光电流1c的测试2.1定义
光敏二、三极管，在规定光照下并加一定的工作电压（三极管基极开路）流过二、三极管的电流为1to
光电流Ic的测试原理应符合下图。被测器件
3测试步骤
稳压源
加上被测管，使其轴线与人射光平行，调节光源和稳压源至规定值，这时电流表上的读数即为所测的光电流IL。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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