基本信息
标准号：
SJ 2215.2-1982
SJ 2215.2-1982半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：39.67 KB
相关标签：
耦合
半导体
二极管
压降
正向
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法 SJ2215.2-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器（二极管）
正向压降的测试方法
本标准适用于光耦合器的二极管正向电压降V的测试。SJ2215.2-82
测试正向压降V总的要求应符合SJ2215.1一82《半导体光耦合器测试方法总则》2正向压降V的测试
2.1定义
二极管通过的正向电流为规定值时，正负极之间所产生的电压降。2.2正向压降V的测试原理图应合下图。恒流源
3测试步骤
调节恒流源，使直流电流表的读数为规定值，这时在直流电压表上的读数即为所测正向电压降V注：被测管在输出部分时，输人端开路。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1
1983-07-01实施
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