基本信息
标准号：
SJ 2215.6-1982
SJ 2215.6-1982半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：35.53 KB
相关标签：
耦合
半导体
二极管
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法 SJ2215.6-1982
📥 下载资源
免费下载解压密码 www.bzxz.net
🌀 夸克网盘
下载大小：35.53 KB · rar
前往下载 →
💡
点击"前往下载"跳转网盘，直接保存文件
遇到问题？
标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准房（二极管）
半导体光耦合器
结电容的测试方法
本标准适用于光耦合器结电容C,的测试。SJ2215.6-82
测试结电容C，的要求应符合SJ2215.1一82《半导体光耦合器测试方法总则》。结电容C.的测试
2.1定义
在规定偏压下，被测管两端的电容值。2.2结电容的测试原理图应符合下图。振荡器
3测试步骤
放大器
鉴频器
指示器
调节零位，然后放工被测管，在指示器上显示出来的读数即为该管之电容值C,。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
