基本信息
标准号：
SJ 2215.8-1982
SJ 2215.8-1982半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：46.90 KB
相关标签：
耦合
饱和
半导体
输出
压降
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法 SJ2215.8-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器输出
饱和压降的测试方法
本标准适用于光耦合器输出饱和压降VcE（san）的测试SJ2215.8--82
测试输出饱和压降总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2输出饱和压降VeE(a)的测试
2.1定义
发光二极管工作电流I,和集电极电流Ic为规定值时，并保持Ic/Ir3测试步骤
恒流源
接上被测管后，调节发光二极管部分恒流源，使I达到规定值，然后调节集电极恒流源使Ic为规定值，这时电压表上的读数即为输出饱和压降VcE（an）。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1
1983-07-01实施
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