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基本信息

标准号: SJ 2215.11-1982

SJ 2215.11-1982半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法

标准类别:电子行业标准(SJ)

发布日期:1982-11-30

实施日期:1983-07-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 脉冲 贮存 耦合 时间 半导体 延迟

标准分类号

中标分类号:通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理

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页数:1页

标准价格:8.0 元

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标准简介

SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 SJ2215.11-1982