基本信息
标准号：
SJ 2215.13-1982
SJ 2215.13-1982半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：38.06 KB
相关标签：
绝缘
耦合
电阻
半导体
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 SJ2215.13-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器入出间
绝缘电阻的测试方法
本标准适用于光耦合器人出间绝缘电阻R1so的测试SJ2215.13-82
1测试人出间绝缘电阻总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2人出间绝缘电阻R/so的测试
2.1定义
半导体光耦合器输人端和输出端之间的绝缘电阻值。2.2入出端绝缘电阻R,so测试原理图应符合下图。直流电源
测试步骤
调节直流电源，使其电压达到规定值，该电流表的读数为绝缘电阻R，so的值（经过换算）。中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1
1983-07-01实施
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