基本信息
标准号：
SJ 2215.14-1982
SJ 2215.14-1982半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1982-11-30
实施日期：1983-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：38.51 KB
相关标签：
绝缘
电压
耦合
半导体
标准分类号
中标分类号：通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法 SJ2215.14-1982
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体光耦合器入出间
绝缘耐压的测试方法
SJ2215.14-82
本标准适用于光耦合器人出间绝缘耐压Viso的测试。测试入出间绝缘耐压总的要求应符合SJ2215.1-82《半导体光耦合器测试方法总则》。2人出间绝缘耐压Viso的测试
2.1定义
光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值。2.2人出间绝缘耐压Viso的测试原理图应符合下图。R
测试步骤
调节电源，使其电压达到规定值，在额定时间，电流不超过规定值，此电压表读数，即为人出间绝缘耐压值Viso。
中华人民共和国电子工业部1982-11-30发布1983-07-01实施
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