首页 > 电子行业标准(SJ) > SJ 2354.13-1983 PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
SJ 2354.13-1983

基本信息

标准号: SJ 2354.13-1983

中文名称:PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

发布日期:1983-08-15

实施日期:1984-07-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

下载大小:41891

相关标签: 光电 二极管 因子 测试方法

标准分类号

标准ICS号:电子学>>31.260光电子学、激光设备

中标分类号:能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理

关联标准

出版信息

页数:1页

标准价格:8.0 元

相关单位信息

标准简介

SJ 2354.13-1983 PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 SJ2354.13-1983 标准下载解压密码:www.bzxz.net

标准图片预览

SJ 2354.13-1983 PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法

标准内容

中华人民共和国电子工业部部标准雪崩光电二极管倍增
因子的测试方法
本标准适用于雪光电二极管倍增因子的测试。SJ2354.13—83
1测试倍增因子总的要求应符合SJ2354.1一83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。2倍增因子M的测试
2.1定义:在规定光波长、光功率和反向偏压下,倍增时光电流I与无倍增时光电流1o之比。其关系式如下:
M=IL/ILO
2.2倍增因子M的测试原理图应符合下图。R
单色光束
3测试步骤bZxz.net
恒压源
校正仪表零位,被测管加上规定的反向偏压,将光束照射于二极管光敏区内,在电流表上分别读出无倍增时的光电流!Lo和倍增时的光电流L,利用公式算出M值。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1
1984-07-01实施
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。