SJ 2354.13-1983
基本信息
标准号:
SJ 2354.13-1983
中文名称:PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
标准类别:电子行业标准(SJ)
标准状态:现行
发布日期:1983-08-15
实施日期:1984-07-01
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
下载大小:41891
相关标签:
光电
二极管
因子
测试方法
标准分类号
标准ICS号:电子学>>31.260光电子学、激光设备
中标分类号:能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2354.13-1983 PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 SJ2354.13-1983 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准雪崩光电二极管倍增
因子的测试方法
本标准适用于雪光电二极管倍增因子的测试。SJ2354.13—83
1测试倍增因子总的要求应符合SJ2354.1一83《PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则》。2倍增因子M的测试
2.1定义:在规定光波长、光功率和反向偏压下,倍增时光电流I与无倍增时光电流1o之比。其关系式如下:
M=IL/ILO
2.2倍增因子M的测试原理图应符合下图。R
单色光束
3测试步骤bZxz.net
恒压源
校正仪表零位,被测管加上规定的反向偏压,将光束照射于二极管光敏区内,在电流表上分别读出无倍增时的光电流!Lo和倍增时的光电流L,利用公式算出M值。中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1
1984-07-01实施
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