基本信息
标准号：
SJ 2355.2-1983
SJ 2355.2-1983半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1983-11-25
实施日期：1984-05-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：36.69 KB
相关标签：
器件
半导体
发光
压降
正向
标准分类号
标准ICS号：电子学>>31.260光电子学、激光设备
中标分类号：能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 SJ2355.2-1983
📥 下载资源
免费下载解压密码 www.bzxz.net
🌀 夸克网盘
下载大小：36.69 KB · rar
前往下载 →
💡
点击"前往下载"跳转网盘，直接保存文件
遇到问题？
标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
正向压降的测试方法
本标准适用于发光二极管、数码管、符号管等的正向压降的测试。SJ2355.2—83
测试正向压降总的要求应符合SJ2355.1一83《半导体发光器件测试方法总则》。
2正向压降V=的测试
2.1定义
每个发光单元通过的正向电流为规定值时，正负极之间所产生的电压降。2.2电原理图
正向压降的测试原理图应符合下图。恒流源
2.3测试步骤
调节恒流源，使直流电流表的电流为规定值，此时与被测管并联的电压表的读数即为所测的正向电压降值。
中华人民共和国电子工业部1983-08-15发布1984-07-01实施
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
