基本信息
标准号：
SJ 2355.3-1983
SJ 2355.3-1983半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
发布日期：1983-08-15
实施日期：1984-07-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：36.78 KB
相关标签：
电流
器件
半导体
发光
反向
标准分类号
标准ICS号：电子学>>31.260光电子学、激光设备
中标分类号：能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理
关联标准
相关单位信息
标准简介
SJ 2355.3-1983 半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法 SJ2355.3-1983
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标准内容
中华人民共和国电子工业部部标准半导体发光器件测试方法
反向电流的测试方法
本标准适用于发光二极管、数码管、符号管的反向电流的测试。1测试反向电流总的要求应符合SJ2355.1一83《半导体发光器件测试方法2反向电流IR的测试
2.1定义
在被测管两端加规定电压，每个发光单元所通过的电流。2.2电原理图
反向电流的测试电原理图应符合下图。稳压源
2.3测试步骤
SJ2355.3-83
总则》。
调节稳压源，使直流电压表的电压为规定值。此时流过与被测管串联的电流表的电流值即为所测的反向电流。
中华人民共和国电子工业部1983-08－15发布1984-07-01实施
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