标准号: SJ 2758-1987
中文名称:同型外延层厚度的红外干涉测试方法
标准类别:电子行业标准(SJ)
英文名称:Method of measurement by infrared interference for thickness of homoepitaxial layers
标准状态:已作废
发布日期:1987-02-10
实施日期:1987-07-01
作废日期:2010-01-20
出版语种:简体中文
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中标分类号:综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理
页数:12页
标准价格:16.0 元