JJF 1066-2000
标准分类号
中标分类号:综合>>计量>>A52长度计量
出版信息
出版社:中国计量出版社
书号:155026-1114
页数:14页
标准价格:12.0 元
出版日期:2004-04-22
相关单位信息
起草人:张玉文、陈照聚等
起草单位:航空工业第304研究所
归口单位:全国几何量长度计量技术委员会
发布部门:国家质量技术监督局
标准简介
JJF 1066-2000 测长机校准规范 JJF1066-2000 标准下载解压密码:www.bzxz.net
本规范适用于尺寸至6000mm测长机的校准。
标准内容
中华人民共和国国家计量技术规范JJF1066—2000
测长机校准规范
Calibration Specification for Length Measuring Machine2000-05-08发布
2000-10—01实施
国家质量技术监督局发布
JJF1066—2000
测长机校准规范
CalibrationSpecificationfoi
Length Measuring Machine
JJF 1066—2000
代替JJG541984
本规范经国家质量技术监督局于2000年05月08日批准,并自2000年 10月 01.日起施行。
归口单 位:全国几何量长度计量技术委员会起草单位:航空工业第兰○四研究所本规范委托全国儿何量长度计量技术委员会负责解释本规范主要起草人:下载标准就来标准下载网
张玉文
陈照聚
参加起草人:
周自力
JJF1066—2000
(航空工业第三〇四研究所)
(航空工业第三〇四研究所)
(航空工业第兰〇四研究所)
范围·
引用文件
计量特性·
校准条件
校准项目和校推方法.
校推结果的处理
复校时间间隔
附录A
校准证书内页格式
JJF1066—2000
(2)
1范围
JJF1066-2000
测长机校准规范
本规范适用于尺寸至6000mm测长机的校推。2引用文献
下列文献所包含的条文,通过在本规范中的引用而构成本规范的条文。本规范出版时,所示版本均为有效。所有标推规范或规程都会被修订,使用本标推的各方应探讨使用下列文献最新版本的可能性。JB/T7400—1994测长机
JJG894—1995标推环规检定规程。3概述
测长机是进行长度测量的光学机械计量仪器,用于直接测量精密量具;如于分尺校对杆;并可借助高一等级的量块以比较法检定低一等级的量块和测量其它精密零件。测长机的分度值为0.001mm,测量范围有(0~1000),(0~2000),(0~3000),(0 ~6 000) mm 4 种。
4计量特性
4.1外观及相互作用
4.1.1仪器上应刻有制造厂名或厂标、出厂编号及MC标志。4.1.2在工作面上应无锈蚀、碰伤和明显的划痕等缺陷;在非工作面上应无影响外观,质量的疵病。
4.1.3各活动部分工作应平稳,无卡住和跳动现象:紧固螺钉的作用应切实有效。4.1.4在仪器视场内所有刻度尺与指标线应平行无视差,毫米刻度尺与测量座移动方向平行,不应有明显的偏斜。
4.1.5刻度尺的刻线应无大于刻线宽度.-半的断裂、线结和变粗的现象。4.1.6使用中的仪器,应无影响使用准确度的外观缺陷。4.2测量座或尾座沿基座导轨移动的角偏摆,在水平和垂直面内不大于10”4.3测量轴轴线与尾管测量轴线的同轴度不大于0.2mm。4.4尾管测量杆调整部件的调整误差不人于0.3um。4.5工作台调整可靠性
用球面测帽不人于0.2μm;用±8mm平面测帽不大于0.3μm。4.6测量座和尾座物镜放大率的不:~致性带来的示值误差不大于(1+L/1000)um,L为被校准长度mm。
4.7刻度尺示值误差
示值误差不大于表1的规定
受检部位
4.8示值变动性
微米刻度尺
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熹米刻度尺
+0.2: +0.25
(0.6+L/200)
外尺寸测量不火于0.1um,内尺寸测不大于0.5ume4.9内测附件的可靠性不大于0.8ums4.10校谁环规孔径:测不确定度U=0.5m(K3)。4.11V形支架调整的童复性不大证0.3una5
被准条件
5.1环境条件
温度:(20±1)°C:
室温变化不大于0.3°c/h;
相对龈度不大于75%:
分来刻度尺
+ (0.5+ L/100)
被校准仪器在室内平衡温度的时间,对于测量范圈至3000mm不少于24h:测量范围至6000mm不少于48h。被校仪器标准器温度差不大于0.3c。5.2校准用标准器及其他设备
尺寸为1,1.02,1.03,1.04,1.06,1.08,1.10mm的二等量块;尺寸为20,40,60,80,100,200,300,400,,500,600,700,800900.1 000 mm的三等量块;
双激光下涉仪;
尺寸为20mm,50mm的兰等标准环规。6校准项目和校准方法
6.1外观及各部分的相宜作用
观察与试验
镜用读数
6.3测量轴轴线与尾管测量轴线的同轴度2
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百分表借期带有定位块的支架安置在测长机基座的导轨面上,以导轨的水平面为基面测量尾管和光管的高度差A,再以导轨的垂直面为基面,測尾管和光管的前后偏移量么,。光管和尾管的同轴度A按式(1)计算。4=2+43
同轴度拒可以采用如下方法:拆下测量座上的光学计管,移动尾座能顺利通过测量座的内孔,即为符拿要求,
6.4尾管测量杆调整部件的调整误差在光管和尾管的测量杆上安装直径为8mm的平面测帽,移动尾座和测量座至两平面测帽相接触,转动尾管测量杆的微动螺丝,使微米刻度尺的零线或其邻近的某一刻线与指标线对准。然后分别调整尾管测量杆的2个径间调整的螺钉,分别找到最小值。再恢复调整前状态,按工述过程再进行2次调整,其最小值应不大于4.4的要求。从测量杆取下平面测帽,安装球面测后,按上述方法再进行校准心6.5工作台调整可靠性
6.6测量座利尾座物镜放大率的不一致性带来的示值误差6.6.1直接校准
将安装在光管和尾管的测囊杆上的球面测帽调整至正确状态,然后移动尾座,使分米刻度尺的寒线处于视场中心左侧0.7mm或0.5 rmir位置(投影屏读数机构)。移动测量座,使毫米刻度尺的零线与分米刻度尺的零线对准后,记下微米刻度尺的读数。再移动麗座,使分米刻度的零线处在视场啦心右侧.7班或0.3m位置,同样使掌米刻度尺的馨线与分米刻度尺的雾线对難,并记下微来刻度尺的读数:两读数之差放不超过4,6的要求。
在1000mm以下各分米刻线位置校准时,借助相应尺寸的量块进行。在1000mm以上各分米刻线位置时,借助分段法检具和尺寸为1.4mm或1mm量块进行。6.6.2分段校准
对于尺寸大于1000mm的测长机,以分段法校准。用分段法检具时,将座移至被检分米刻线位置,并使双线处在视场中心左侧0.7nm或0.5mm3移动测量座垒零位,在测量座和尾座的相应一侧,分别安置定位支架和辅助光学计支架。调整辅助光学计,使其测量杆上的球面测帽与尾管测量杆上的球3
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面测帽相接触,并调整至正确状态,微动尾管的螺丝,使辅断光学计的示值于零位。微动测量座,使毫米刻度尺的零线与分米刻度尺的双线对准,调整定位支架,使其定位面与光管的球面测帽相接触,借助辅助的微动螺丝,使微米刻度尺的示值于零位,6.6.3激光平涉仪校准
将激光于涉仪按图的方式安暨,将尾座对准任一分米刻线位置,并使分米双刻线影像在测量座的视场中心左侧0.7mm,移动测量座使毫米刻度尺零位刻线对准,此时激光于涉仪读数清零:移动尾座使分米双刻线影像在测景座视场中心右侧0.7mII,移动测量座使毫米刻度尺的零位与分米双刻线再瞄准,激光干涉仪读数,2次读数之差不大于4.6的要求。
图1激光干涉仪校灌装置
1一双频激光卡涉仪;2一测量座;3~~干涉镜;4反射镜6.7刻度尺示值误差
6.7.1微米刻度尺示值误差
微米刻度尺示值误差用二等量块直接校准或用三等量块以“配对法”进行校准,校准应至少分布在±30,土60和±901m16个位置,校准前,将安装在光管和尾管测量杆上的球面测帽,整至正确状态。各受检点所选用的量块尺寸以及配对的对数见表2。校准时,以第一块对准零位,第二块量块校准受检点的示值误差,再以第二块量块对准零位,第三块量块校准受检点的示值误差,以此类推,宜至所需配对量块的最后.块量块。校准正向刻度时,量块的尺按递增方进行;校推负向刻度时,量块尺寸按4
递增减方武进行。
较准点/um
配对数
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各校准点的示值误差按致(2)计算求得。量块尺/mm
1, 1.03, 1.06, 1.09,1.12
1,1.06,1.12,1.18.1.24
1,1.09,1.18,1.27
(L, - L).1 000
式中:——受校准点上的读数(um);L受校准点所用量块的实际尺寸(mm):L,一一对准零位用量块的实际尺(mm)(um)
对手非光学计管式的微米刻度尺,用尺寸为1,1.03,1.06,1.09mm4块属块,对微来刻度尺0,30,60,90m位置进行校准。6.7.2毫米刻度尺示值误差
6.7.3分米刻度尺示值误差
6.7.3。1直接校准
用三等量块每间隔100mm校准点,在(0~1000)mm范围内用量块直接校谁,超过1.000mm范围的,用量缺以分段法校推在测量杆下装上球面测忆,移动屋座和测量座,使两球闻测帽相接触,明使分米刻度尺的零你和意米刻度尺的零位对准。借助尾管上的调整螺丝,将球面测忆调整至正确位置。移动尾管微动螺丝,使微米刻度尺也对准零位。移开尾座,将100mm量块安装在工作台二,然后移动尾座瓷受校位累上,使其球面测与量块工作面接触,调整工S
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作台绕水平、垂直两个方向转动找到量块最小值。微动测量座使毫米刻度尺的需位与受校准的分来刻度尺的双刻线对,此时从微米读数装置中记录下读数,受校准点读数和所用块的偏差值之差即为受校准点的示值误差。依此方法依次校准1000mm以下的各个分来位置。
6.7.3.2分段校准
受校准点的示值误差按式(3)计算 8a +[(h + a) (b + ao1 1 boz t a2) -2式中:作为本段零位的分米刻度尺的示值误差;量块偏差。
以上述相同的方法校准其他各分来刻度尺尽的亲值误差。(3)
分米刻度尺的每一受校准点,应至少校准2次,2次校谁结果的蒸值者不大于±(0.53×103L)μm,取其平均值作为该点的亲值误差。(L-—变校准点所府量快标称尺寸 mm)
图2分段校准装置
1—光管:2-头座;3--定位支架;4-~辅助尾管;5—摘助光学计6--辅助光学计支架;7—董块;8—T作台:9—塔管:10尾座6.7.3.3
激光干涉仪校推
6.8示值变动性
6.8.1,外尺寸
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在测量杆上装上球面測帽,移动尾座和测量座,使两球面测帽相接触,借助尾管上的调整螺丝,将球面测帽调整至正确位置,然后将50mm量块安装在工作台上,使球面测帽与量块工作面相接触,调整工作台找到量块最小值。然后拨动拨义不少了10次,观察示体变化,最大与最小值之差不大于4.8的要求。6.8.2 内尺寸
在测量轴和专用尾管上装上小测钩,使测钩的测量头与放置在工作台上的直径20mm的环规内孔相接触,调整工作台找到环规的最大直径后,拨动测钩10次,观察示信变化。最大与最小值之差即为校准值。6.9标准环规的检定
标准环规按JJ(894-1995标准环规检定规程进行检定。6.10V形支架T作重复性
校准时,将安装在光管和尾管测量杆上球面测增先调整至正确状态,再使毫米刻度尺的零线和分米刻度尺的零线对准。转动尾管微动螺丝,使微米刻度尺对准零位。移动尾座至500mm刻线位置后,在测量座和麗座之间,适蓝位置的导上安装两个V形支架。将量块放在V形支架上升降支架,使量块处于测量轴上移动测量尾座,再次借助測量座的微动机构,使微米刻度尺的零线与分米刻度尺的双线对准,然厝借肋√形支架升降的螺母,使支架降,找到量块的最小值。改变这一状态,重新使支架升降,找到量块的殿小值,这一校准至少进行3次,最小值的差值不大于4,11的要求。6.11内测附件的可靠性
小内测量钩用直莅20mm环规校准,火内测量钩用直径50mm坏规校准。内测附件安装在光管和尾管上,并调整至正确位置。将环规安装在工作台上,使测钩的测最买环规内孔接触,同时使微米刻度尺处于零位左右,横向移动工作台找到环A
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规的孔径最大值,使工作台绕水平轴转动,找到环规孔径的最小值。按上述方法反复操作,待示值稳定后,记下读数。然后改变工作台状态,重新按上述方法操作,示值稳定后,再记上读数,2次读数之差不大于4.9的要求。7校准结果的处理
经校推的测长机发给校推证书。校准证书应给出毫米、分米刻度尺的校准结果及测量不确度。
复校时间间隔
复校时间间隔建议为1年。
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