基本信息

标准号： SJ 2319-1983

中文名称：电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法

标准类别：电子行业标准(SJ)

标准状态：已作废

实施日期：1988-06-01

出版语种：简体中文

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相关标签： 电子陶瓷 三氧化二铝 杂质 发射光谱 分析方法

标准分类号

中标分类号：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L92电子设备用绝缘零件

关联标准

替代情况：被SJ/T 10551-1994代替

出版信息

页数：3页

标准价格：8.0 元

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