标准号: SJ 2319-1983
中文名称:电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
标准类别:电子行业标准(SJ)
标准状态:已作废
实施日期:1988-06-01
出版语种:简体中文
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相关标签: 电子陶瓷 三氧化二铝 杂质 发射光谱 分析方法
中标分类号:电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L92电子设备用绝缘零件
替代情况:被SJ/T 10551-1994代替
页数:3页
标准价格:8.0 元