基本信息

标准号： SJ 3245-1989

中文名称：磷化铟单晶位错的测量方法

标准类别：电子行业标准(SJ)

英文名称：Methods for measuring dislocation of Indium phosphide single-crystal

标准状态：已作废

发布日期：1989-03-20

实施日期：1989-03-25

作废日期：2010-01-20

出版语种：简体中文

下载格式：.rar.pdf

下载大小：KB

相关标签： 单晶 测量方法

标准分类号

中标分类号：综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理

关联标准

出版信息

页数：5页

标准价格：8.0 元

相关单位信息

标准简介