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标准号: SJ 3245-1989
标准类别:电子行业标准(SJ)
英文名称:Methods for measuring dislocation of Indium phosphide single-crystal
发布日期:1989-03-20
实施日期:1989-03-25
作废日期:2010-01-20
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
相关标签: 测量方法 单晶
中标分类号:综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理
页数:5页
标准价格:8.0 元