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SJ 20607-1996

基本信息

标准号: SJ 20607-1996

中文名称:钼酸铅单晶规范

标准类别:电子行业标准(SJ)

标准状态:现行

发布日期:1996-08-30

实施日期:1997-01-01

出版语种:简体中文

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标准分类号

中标分类号:电工>>电工综合>>K01技术管理

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页数:19页

标准价格:18.0 元

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标准简介

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标准内容

中华人民共和国电子行业军用标准FL5971
钼酸铅单晶规范
SJ20607-96
Specification for molybdenate crystal1996-08-30发布
中华人民共和国电子工业部
1997-01-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准钼酸铅单晶规范
Specificatiion for lead molybdenate single crystal1范围
1.1主题内容
SJ20607-96
本规范规定了钼酸铅单晶(PbMO.简写PM)的技术要求、质量保证规定、交货准备等。1.2适用范围
本规范适用于声光器件用的钼酸铅单晶1.3型号
单晶的型号符合GB9532—88(锯酸锂、钼酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法>的规定。
示例:
PM-G40-[100]
(1)(2)(3)(4)
(1)钼酸铅单晶;
(2)光学晶体,“G\表示光学;(3)直径为40mm;
(4)生长轴向
2引用文件
GB191—90
GB1556—79
GB9532—88
包装储运图示标志
硅单晶晶向X光衍射测量方法
锯酸锂、钼酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法GB/T15250—94E
压电酸锂单晶体波声衰减测试方法SI20444—94
3要求
3.1合格鉴定
锯酸锂单晶规范
按本规范提交的产品应是经鉴定合格或定型批准的产品。3.2规格尺寸
规格尺寸见表1
中华人民共和国电子工业部1996-08-30发布1997-01-01实施
生长轴向
【100]
SJ20607-96
注:表1以外的生长轴向、直径及长度按合同规定执行。3.3颜色
单晶呈无色或淡黄色。
3.4宏观质量
用5mWHe-Ne激光器照射,在规范或合同规定长度内,单晶透明,应无裂纹、气泡、散射颗粒、云层、丝状物等缺陷。在10~15cm距离,经40W日光灯、连续照射96h后,单晶颜色应保持不变。
3.5直径偏差
单晶直径偏差不大于2mm。
3.6锥度
单晶锥度不大于8%。
3.7弯曲度
单晶的弯曲度不大于2mm。
3.8轴向偏差
单晶的轴向偏差不大于2°。
3.9小角度晶界
单晶小角度晶界引起的取向偏差不大于30°。3.10单晶的声光性能
单晶声光性能应在表2所列范围内。表2
参数名称
声光品质因数
光透过率
声衰减系数
光学均匀性
dB/cm.GHz?
注:L为纵波:样品通光厚度Imm。3.11锥光图
≥36.0×10-18
3.60~3.65×103
5×10-5
传播方向
入射方向偏振方向
单晶锥光图的干涉环应清晰规则,中心部位的圆圈不允许畸变为两个独立的小圆圈。4:质保证规定
4.1检验责任
SJ20607-96
除合同或订单中另有规定外,承制方应负责完成本规范规定的所有检验,必要时订购方或上级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项目进行检查。4.1.1合格责任
所有产品必须符合本规范第3章和第5章的所有要求,本规范中规定的检验应成为承制方整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范未规定的检验要求,承制方还应保证所提交验收的产品符合合同要求质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品,也不能要求订购方接受有缺陷的产品。4.2检验分类
本规范规定的检验分为:
a.鉴定检验;
b,质量一致性检验。
4.3环境条件
除另有规定外,应在下列条件下进行各种试验:温度:15~35℃;
相对湿度:45%~75%;
气压:86~108kPs。
4.4鉴定检验
鉴定检验在产品正式投产前应进行,当原材料或制造工艺发生重大变化有可能影响鉴定检验结果时,也应进行鉴定检验。4.4.1检验地点
鉴定检验应在有关主管部门认可的试验室进行。4.4.2检验样品
检验样品应为生产中通常使用的设备和工艺制造的产品4.4.3检验
鉴定检验的项目、检验顺序、受试样品数量及允许不合格品数量应按表3中的规定,提交鉴定检验的单晶为2根,2根单晶先经受1组的检验后,再从中抽取样品进行2组的检验。3
分组号
检验项目
规格尺寸
宏观质量
直径偏差
弯曲度
轴向偏差
小角度晶界
声光性能
锥光图
4.4.4不合格判定
SJ20607-96
要求的章条号
检验方法
的章条号
受试样品数量
允许不合格品数
若2根单晶通过表3中列出的各项检验或试验,则鉴定检验合格;若其中有项或一项以上检验或试验,超过表3规定的允许不合格品数,则不授予鉴定合格资格。4.4.5鉴定合格资格的保持
为了保持鉴定合格资格,承制方应在每隔24个月向鉴定机构提交一份报告。鉴定机构应规定起始报告日期,报告中应包括如下内容:已进行的逐批检验的试验结果摘要,至少应表明合格批数、不合格批数和不合格品所a.
在的组。
b.已进行周期检验的试验结果摘要,该摘要应包括在24个月内所进行和完成的全部周期检验结果。如果试验结果摘要表明产品不符合规范要求,面且未采取鉴定机构认可的纠正措施,则将导致不合格产品从已定合格产品目录中被撤消。在每24个月周期结束后的30d内不能提交报告,则丧失产品的鉴定合格资格。除定期提交数据外,在24个月周期内的任何时间,一旦检验数据表明满足本规范要求的鉴定合格产品不合格时,承制方应立即报告鉴定机构。:如果在报告周期内未生产时,应提交一份报告以证明该承制方仍具备这种产品所必需的能力和设施。如果在相继3个报告周期仍未生产,根据鉴定机构的决定,可以要求承制方提供产品按鉴定检验要求进行试验,并说明未生产的原因。4.5质量一致性检验
4.5.1逐批检验
单晶的逐批检验即为交货检验。4.5.1.1检验批的组成
SJ20607-96
一个检验批应由相同型号,相同规格,在基本相同的条件下生产,并在同一时间内提交检验的所有产品组成。
4.5.1.2抽样方案
应对单晶以根为单位进行100%的检验。检验项目及允许不合格品数由表4给出。表4
检验项目
规格尺寸
宏观质量
直径偏差
弯曲度
轴向偏差
4.5.2周期检验
要求的章条号
检验方法的章条号
允许不合格品数
周期检验每两年(24个月)进行一次,检验的样品应从逐批检验合格品中随机抽取,检验项目、样品数及合格判据按表5,周期检验不合格时,以加倍数量的样品允许重新检验一次,允许不合格品数仍为0。
检验项目
小角度晶界
声光性能
锥光图
4.5.2.1不合格
要求的章条号
检验方法的章条号
样品数
允许不合格品数
如果样品未能通过周期检验、承制方应向鉴定机构和有关主管部门报告不合格情况,并根据不合格的原因,对用基本相同的工艺在相同的条件下制造的全部产品采取纠正措施,在采取鉴定机构认可的纠正措施之前应暂停产品的验收和交货。在采取纠正措施之后,应对追加的样品重新进行周期检验(由检验机构决定对全部项目进行检验或进行原来样品不合格项目的检验)若复验后仍然不合格,则应将有关不合格的资料提供给鉴定机构和有关主管部门。4.5.3包装检验
包装应符合第5章规定。
4.6检验方法
4.6.1规格尺寸
单晶的规格尺寸用直尺和精度为0.02mm游标卡尺测量。4.6.2颜色
单晶的颜色用目视法进行。
4.6.3宏观质量
SJ20607-96
单晶宏观质量在5mWHe-Ne激光器产生的激光束照射下目视检查。4.6.4直径偏差
单晶的直径偏差用精度为0.02mm游标卡尺测量。4.6.5锥度
单晶的锥度用精度为0.02mm游标卡尺测量。4.6.6弯曲度
单晶的弯曲度用直尺测量,如图1所示:图中“h”表示单晶的弯曲度单晶弯曲部分
图1弯曲度测量示意图
4.6.7轴向偏差
单晶的轴向偏差检测按附录A(补充件)进行。4.6.8小角度晶界
单晶的小角度晶界检测按SI20444的附录B(补充件)进行。4.6.9.声光性能
4.6.9.1测量条件
使用632.8nm光波在室温下进行。样品加工精度为平面度1/4光圈,平行度<20,表面无划痕。
声光品质因数
声光品质因数的检测按附录B进行。4.6.9.3声速
声速的检测按附录C(补充件)进行。4.6.9.4声衰减系数
声衰减系数的检测按GB/T15250规定方法进行。4.6.9.5光学均匀性
光学均匀性的检测按附录D(补充件)进行。4.6.9.6光透过率
光透过率的检测按附录E(补充件)进行。4.6.10锥光图www.bzxz.net
锥光图的检测按附录F(补充件)进行。6
4.6.11包装
SJ20607-96
包装检验以目视法进行,其结果应符合第5章规定。5交货准备
5.1包装
a.每根合格晶体上应附有合格证,并用软质材料包装好,装入泡沫塑料盒内。b。装有晶体的盒应装入本质箱内,并放潢填充软料,放入装箱单,加封,钉牢,写上标志。5.2运输和贮存
产品可用车辆、船只、飞机运输。在运输过程中应防止雨雪淋袭、剧烈震动、碰撞、跌摔等机械损伤;单晶应贮存在干燥、无腐蚀气体的库房里。5.3标志
a,合格证应标明商标、产品名称、型号、编号、尺寸、净重、生产单位、检验员、日期。b.装箱单应标明收货单位、产品名称、型号、编号、尺寸、净重、件数及总重量、装箱编号、装箱人、日期、发货单及地址。c.外包装箱标志应按GB191规定,注明“小心轻放”、“防湿”、“防剧震”等标志,并标明收货单位及地址、产品名称、数量、净重、毛重和发货单位。6说明事项
6.1预定用途
本规范规定的钼酸铅晶体用于制作声波频率为500MHz以下的声光器件。6.2订货文件内容
合同或订单中应载明下列内容:a。本规范的名称和编号;
b。产品名称及规格;
数量;
其它要求。
A1适用范围
SJ20607-96
附录A
单晶轴向偏差检测方法
(补充件)
该方法适用于单晶生长轴向偏差的检测。2方法要点
单晶轴向偏差是指直拉法生长的单晶在生长过程中因工艺上的原因导致生长轴向偏离规定轴向的程度。
单晶轴向偏差的检测是首先定出单晶的标准端面,借助标准平板和直尺,测量出有关数据,通过数据处理,计算出单晶生长轴偏离度。A3检测步骤
A3.1按GB1556规定出单晶的标准端面。A3.2将定好向的单晶置于标准平板上,平板的平面用水平尺校准。A3.3用钢直尺垂直置于被测单晶倾斜方向的对面,再用另一钢直尺测量出垂直钢直尺H(由单晶的长度而定)高度处到被测单晶柱面的水平距离L。如下图所示。直尺
示意图
A3.4按公式tgα=L/H,则可求得单晶生长轴偏离度α。A4误差分析
该方法中,平板的平面度、直尺的视读误差、单晶端面的允许偏差,均为造成该方法误差的因素。用该方法检测,最大误差不大于0.5°。8
B1适用范围
SJ2060796
附录B
单晶声光品质因数测试方法
(补充件)
本方法适用于钼酸铅单晶声光品质因数的测试。B2方法要点
脉冲调制的超声波从换能器进入熔石英,与射入熔石英的激光束作用时,将分别接收到衍射光脉冲I1、I和I3接着将激光束射入钼酸铅单晶上,使超声波与射入钼酸铅单晶的激光束作用时,又将分别接收到衍射光脉冲I4和I5,这样利用下式就可求出钼酸铅碲单晶的声光品质因数。
式中:1、I3、I4、Is—衍射光脉冲强度:M2——熔石英的声光品质因数
测试装置如下图所示。
1.激光源;2.透镜;3.偏光器;4.光栏;5.样品;6.换能器;7.高频信号源;8.脉冲信号源;9.光电探测器;10.示波器图B1
测试装置示意图
样品制备
B3.1传声介质
B3.1.1材料
SJ20607-96
采用熔石英和钼酸铅单晶,其光学均匀性A<5×10-5/cm。B3.1.2尺寸范围和取向如下表所示。表B1
熔石英
B3.1.3加工要求
钼酸铅单品
样品的通光和通声方向需研磨抛光,加工要求按表D2进行B3.2换能器
B3.2.1材料
采用压电锯酸锂单晶材料,其光学均匀性A≤5×10-5/cm。B3.2.2切割取向
单晶材料36°Y旋转切割为传声方向,其取向误差必须控制在3'以内。B3.2.3传声方向的厚度。
按下式确定厚度:
d=V/2fo
式中:V—声波在样品内的传播速度,cm/s;fo声波频率,Hz。
B3.2.4电极
采用铬一一金或其它材料。
B3.3粘结层
采用、锡材料压焊工艺
B4测试步骤
B4.1环境条件
温度:20~30℃;
相对湿度:45%~75%。
B4.2激光输出功率1.5~3.0mW,功率的稳定性应优于1%。B4.3声波和光波安排如表B2所示。10
铝酸铅单晶
熔石英
注:L表示纵波;
传声方向
SJ20607-96
一表示光的偏振方向垂直于波失量。光
入射方向
按图B1装入样品,并给样品输入脉冲调制的超声波信号。B4.4
B4.5调节示波器旋钮,使屏上显示的波形清晰。偏振方向
B4.6分别计量I、I3、I4、Is值,然后把这些值代入(B1)式就可求出钼酸铅单晶的声光品质因数。
B5精度
本方法精度:<5%。
附录C
单晶声速测试方法
(补充件)
适用范围
本方法适用于铝酸铅单晶声速的测试。C2方法要点
脉冲信号从换能器进入样品,在样品两端面来回反射,产生一系列回波当仔细调节射频脉冲的重复频率,使重复脉冲与回波相重登达最大时,记下重复脉冲周期,利用下式就可求出样品的声速。
V=2nL/To
式中:L—样品长度,cm;
n—摄n个脉冲;
To—重复脉冲周期,us。
测试装置如下图所示。
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