本规程适用于分度值为0.01mm、测微头示值范围为13mm 、25mm、50mm,测量范围(50～6000)mm内径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。 JJG 22-2003 内径千分尺检定规程 JJG22-2003 标准下载解压密码：www.bzxz.net
本规程适用于分度值为0.01mm、测微头示值范围为13mm 、25mm、50mm,测量范围（50～6000）mm内径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。

中华人民共和国国家计量检定规程JJG 22-2003
内径于分尺
2003-03-05发布
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200309-01实施
国家质量监督检验检疫总局发布JJG 22—2(N03
内径于分尺检定规程
Verification Regulation of
Internal Micrometers
JJG22--2003
代替JJG22-1991
本规程经国家质量监督检验检疫总局于2003年03月05日批准，并白2003年09月01日起施行。
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主要起草单位：熙龙江省计景检定测试院哈尔滨电机广有限责任公司
哈尔滨市计量检定测试所
委员会
本规程委托全国儿珂放了程参量计量技术委员会负设解释--
本规程主要起草人：
褚云库
..IG22—2003
（黑龙江省计量检定测试院）
（哈尔滨电机厂有限责任公司）（哈尔滨市计量检定测试所）
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范围·
引用文献··
概述·
4计最性能要求-
测量头工作面的曲率半径
工作面的表面粗糙度
刻线宽度及宽度差
JJG 22—2003
微分简锥面棱边至固定套管刻线面的距离4.4
微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位罩测微头示值误差及锁紧装置锁紧和松开时的示值变化4.6
测微头与接长杆的组合尺寸
4.8刚性·
校对用的卡规工
5通用技术要求·
5.1外观·*.此内容来自标准下载网
5.2各部分相互作用
6计量器具挖制
6.1检定条件.
6.2检定项目..
6.3检定方法·
7检定结果处理
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8检定周期·
附录 A测微头与接长杆的组合方式举例附录B‘内径干分尺示值误差测量结果的不确定度评定附录C检定证书和检定结果通知书内页格式(1)
（3）
1范围
JJG 22—2003
内径千分尺检定规程
本规程适用于分度值为0.01mm，测微头示值范围为13mm、25mm、50mm，测量范围为（50~6000）mm的内径干分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。2引用文献　
本规程引用下列文献：
JJF 1001-1998通用计见术语及定义JJF1059—1999测量不确定度评定与表示GB/T 8177-1987内径于分尺
使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3概述
内径千分尺主要！
如图1所示。
4计量性能要求
刻量头
4.1测基头工作面的曲率半径
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可的旺离，其外型结构
固定套背测微头
内径千分尺测录头工作面的曲率半径，应不超过内径千分尺测星下限的40%。4.2工作面的装面粗糙
两测暨头工作确的丧而粗糙度，首次检定和使用中检验的成不超过R,0.2um，后续检定的应不超过K.0.4mm；各接长杆的内盐杆两端面的表面粗糙度应不超过R.0.2um；校对用的卡规工作面的表面粗糙度首次捡定的和使用中检验的应不超过R.0.05uml，后续检定的应不超过R.0.1jumo
4.3刻线宽度及宽度差
对微分简固定套管直径不超过16的，定套管上的纵刻线和微分舒上的刻线究度为（0.100.20）mm，刻线案度差应不超过0.03mm；遇套管径大16mm的，1
JJG22—2003
图定套上的纵刻线和微分简上的刻线宽度为（0.15~0.25）mm，刻线宽度差应不超过0.oSrm.
4.4微分简锥面按边至定您管刻线前的距离微分简锥面棱边至固定登管刻线面的距离应不超过0.4mn。4.5微分简锥商的端而与固定套管毫米刻线的和对位置当测量下限调整证确后，微分简的零刻线与剧定套管纵刻线对准时，微分简维面的端面与固定套管刻线的有边缘应相切：若不相切，压线不超过0.05mm，离线不超过0.Imm.
4.6测微头示值误差及锁紧装置锁紧和松开时的示供变化测微头的示值误差，对于尺寸至125rtml的应不超过±6mml，对于尺寸大于125mm的应不超过±8zm；当测微头锁紧装置固定和松开时，引起的示值变化应不超过2m，为且示值误差玛在充许范围内。
4.7测微头与接长杆的组合尺寸
测微头与接长杆的组合尺寸的示值误范应不超过表1的规定。CAD
民寸范
2 125 200
25200325
/325=500
> 500 - 800
800 ~1250
1250 ~ 1600
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> 4000 ~ 5000
> s000 ~ 6oi
示值误差
.0.060
对于测量上限大于1250ml 的内径于分尺，当支撑点处于离端面而200mm和支撑点处于离端面距离为内径千分尺长度的2/9处时，两次测得的尺寸差值应不超过表2的规定。
表 2 刚性要求
尺寸范间
>1250 ~1600
> 1600 ~ 2000
> 2000 ~ 2500
250)-3150
尺寸变化段
尺寸范
>3150～4000
> 4000 ~5000
>5000 ~6000
尺寸变化所
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4.9校对用的卡规工作尺寸和两工作面的乎行度校对川的卡规工作尺寸偏差和两工作面的平行度应不超过表3的规定。表3校对用的卡规工作尺寸偏差和两工作面的平行度工作尺寸
50和75
5通用技术要求
5.1外观
工作尺寸偏袭
平行度
5，1，1首次检定的内径于分尺及具校对用的卡规均不应有碰伤、锈蚀、镀层脱落等外观缺陷，刻线应清晰
5.1.2内径千分尺上
5.1.3后续检定及使
的外观缺陷。
5.1.4内径干分尺测
5.1.5内径于分尺必
5.2各部分相五作用
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车有不影响使用谁确度
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5，2.1微分简在全部工作行程内往返转动时必须灵活、平稳、无卡滞和摩擦现象，无手感觉到的径向摆动和轴向审动，测微头馈繁装驾的作用应可靠。5.2.2各接长杆装卸应灵活，连接要可靠，无手感觉到的晃动。接长杆内的量杆接触应良好，移动应灵活。
6计录器具控制
计放器具控制包括首次检定、后续检定利使用中检验。6.1捡定条件
6.1.1环境条件
检定内径于分尺的室内温度及受检内径于分尺在检定前放置在室内平衡温度的时间，应符合表4的规是。
被检内径下分尺和校对用的-卡规若放置在室内的金属平板平衡温度时，其平衡温度时间不少于素4中规定值的一半。6[2检定用设备
主要检定器具见装5
6.2检定项目
拾定预」也表
内径千分尺的尺寸
范[间/mm
50~800
> 800 ~ 1600
> 1600 ~ 3150
>3150~6000
JJG 22-—2003
表 4 检定内径于分尺室内度及室内平衡温度时间玺内温度对20℃的犯许偏差℃
内径千分尺
校对用卡规
平衡温度的时间不
少于 (h)
表5检定项自和主要检定器具一览表检定项目
各部分相五作用
测量头工作面白
工作面表面粗料
刻线宽度及宽度差
让要检定器具
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+ 12% ~ - 17%
工具显微镜
微分简锥面棱边至固定套管刻！2级塞尺偏差，不超过线面的距离
微分筒锥面的端面与断定套管
旁来刻线的相对位置
（±16um)或工具显微镜
潮长机示值误差：分米刻度
测微头的示值误差及锁紧装置尺（0.5+1/100）m；毫米刻锁紧和松开时的示值变化
度尺（0.6+L/200）μm：微米
刻度尺 0.25m
测微义与接长的组合尺寸
校对用-卡规工作尺寸及两工作
南的平行度
注；表中“+“
表示应检定、
測长机
测长机
卧式光学计示值误差：
不确是
0.25mm，四等墅块
疫充诈值：（0.20+2z）m
表示可以不检定。
检定时的温度变化
检定类别
使用中
6.3检定方法
6.3.1外观
目为观察。
6.3.2各部分相互作用
国力观察和试验。
6,3.3测量头工作面的曲率半径
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内径千分尺测量头用半径样板进行检定，也可以在工具显微镜上或投影仪上与标圆弧进行比较测基。
6.3.4工作面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块检定。
6.3.5刻线宽度及宽度差
在工具显微镜上检定。微分简和固定套管上至少各均勾分布地扣检3条刻线。刻线宽度差以最大值和最小值之差确定。6.3.6微分简锥面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上进行检定。也可以用厚度为0.4mm的2级塞尺用比较法进行检定，捡定时应在微分简轩
6.3.7微分简锥面
首先将内径干分
米刻线的右边缘相划
线值。
6.3.8测微头示值
测微头的示值
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的端面与固定套管任意毫
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刮线的俯移量即为离、压
罚不超过25mm的，受捡
点应均匀分布5点；对于示值范围为50mm的，受检点应均勾分布10点。测微头受检点的尺寸见表6所列。
表6微头的受检点
测微头示值范围
受检点尺寸
注： A表示熟证下限。
A + 10.50
A + 13.00
A + 10.25
A + 20.50
A + 25.00
A + 10.12
A + 15.00
A + 20.25
A + 25. 00
A + 30.37
A + 35.00
1 + 40.50
检定时先在测长机头座和尾座的测杆上安装不小于$8mm的平面测帽，并将其两测帽的工作而谢整平行。
被检遵微头直接或借助支撑势安置在仪据工作台上，再将测微头的测求下限根据仪器的示值调将正确，然后按表6所列的受检点尺寸进行检定。测微头的示值检定分别在5
微分简固定和松开情说下避行。JJG 22—2003
各点的示值误差由测微头各点的示值与仪器上测得值的差值确定。示值变化由同一受检点在微分筒固定和松开情况下测得值的差值确定。6.3.9测微头与接长杆的合尺寸
测微头与接长杆的组合尺寸在测长机上检定。，受检尺寸！首先将测微实对准测量下限，然后将测微实锁紧后分别海想腰长样组！合再将测微头与所有接长杆组合。然后在骅个组合尺计范的内室少选择均与分布的些组尺这三组尺守必须是接长杆数最较多的，而且接长杆尺守偏差网向较出的。我.对于维含尺寸大于200mm的，其支撑点离端面的距离应为组合尺寸的2/9元检定时，每组尺寸必须将内径于分尺每转902检定一次无其示值误2不超过表1要求
组合尺寸的示值误差由组合尺寸与仪器测得值的差值确定。例如：被检组合尺寸标称值为300mm，测得佐为300.010mm，则组合尺寸的示值误差
e = 300 - 300.010 = - 0.010 (mm)6.3.10刚性
在测长机上捡定
点位于离端面距离为
撑点秘茎距离两端面
应不超过表2规定。
6.3.11校对用的卡表
在卧式光学计上
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在测长机上，使两支撑
90°检定一次。再把支
检定中对应尺寸之差，
卡规工作面上5点（如
图2所示）的尺寸依次与四等量块和垫块附件组命成内尺寸以比较法检定。工作面中心的尺寸为卡规的工作尺寸；工作面上5点尺寸的最大值与最小值的差值为两工作面的平行度。工作面距边缘0.5mm处充许有边。校对用卡规的工作尺寸与平行度，也可以使用其它相应准确度的仪器检定（如有争议需要仲裁时，应在卧式光学计上检定)。e
检定结果处理
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经检定符合本规程要求的内径干分尺发给检定证书；不符合本规程要求的发给检定不合格通知书，并注明不合格项目。检定周期
内径千分尺的检定周期可根据使用的实际情况确定，一般不超过1年。CAO
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附录A
.JJG 22—2003
测微头与接长杆的组合方式举例测微头与接长托的组金方式举例如下，测量范围为（100~900） rirl 的内径下分尺：测微头的渊量下限 A为（100~125）rrrm接长杆：
测微头与每根接长杆的尺寸：
测微头与所有接
测微头与部分接
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A+5+3+2+1
A+4+3+2+1
A+3+2+1
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