JJG 24-2003
标准分类号
中标分类号:综合>>计量>>A52长度计量
出版信息
出版社:中国计量出版社
书号:155026-1730
页数:16页
标准价格:14.0 元
出版日期:2003-11-12
相关单位信息
起草人:梁玉红、张黎平、孙德芬
起草单位:黑龙江省计量检定研究院
归口单位:全国几何量工程参量计量技术委员会
提出单位:全国几何量工程参量计量技术委员会
发布部门:国家质量监督检验检疫总局
主管部门:国家质量监督检验检疫总局
标准简介
本规程适用于分度值为0.01mm、测量范围(0~300)mm深度千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。 JJG 24-2003 深度千分尺检定规程 JJG24-2003 标准下载解压密码:www.bzxz.net
本规程适用于分度值为0.01mm、测量范围(0~300)mm深度千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。
标准内容
中华人民共和国国家计量检定规程JJG 24-2003
深度千分尺
客资源
DepthMicrometers
仅供参者
2003-05-12发布
2003-11-12实施
国家质量监督检验检疫总局发布JJG24—2003
深度干分尺检定规程
VerificationRegulationof
Depth Micrometers
JJG 24--2003
代替JJG24—1986
本规程经国家质量监督检验检疫总局于2003年05月12日批准,并自2003年11月12日起施行。
网络资源
归口单位:
主要起草单位:
参加起草单位:
全国几何量工程参量计量技术委员会黑龙江省计检定测试院
哈尔滨市计量检定测试所
青海量具刃具有限公司
本规程委托全国儿何量工程参量计量技术委员会负责解释本规程主要起草人:
梁玉红
孙德芬
张黎平
参加起草人:
严永红
刘文滨
JJG 24—2003
(熙龙江省计量捡定测试院)
(哈尔滨市计量检定测试所)
(黑龙江省计量检定测试院)
(青海量具刃具有限公司)
(黑龙江省计基检定测试院)
网络资源
仅供参者
引用文献
3概述
4,计性能要求
刻线宽度及宽度差
JJG 24—2003
4.2微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离4.3
微分筒链面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置4.4
测量面的表面粗糙度
基座测量面的平面度
示镇误差
可换测量扦的工作长度
4.9校对用量具
5通用技术要求
5.1外观
5.2各部分相互作用
6计量器具控制
6.1检定条件
检定项目
6.3检定方法
7检定结果的处理
8捡定周期
附录A深度于分尺示值误差测量结果的不确定度评定附录B深度干分尺可换测量杆工作长度测量结果的不确定度评定附录C检定证书和检定结果通知书(内页)格式(1)
1范围
JJG24—2003
深度千分尺检定规程
本规程适用于分值为0.01mm、测量范围(0~300)mm深度千分尺的首次捡定后续检定和使用中检验。
引用文献
本规程引用下列文献:
JF1001+—1998通用计量术语及定义JJF1059-1999测量不确定度评定与表示GB/T1218—1987深度千分尺
使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3概述
深度千分尺是应用螺旋副传动原理将回转运动变为直线运动的一种屋具。深度千分尺由微分筒、固定套普、测盘杆、基座、测力装暨、锁紧装置等组成,如图1所示。
假供参无
【一测力装置;2—微分简:3—固定套管:4—锁紧装置:5-基座:6—测量拆深度千分尺是机械制造业中用于测量工件的孔或模的深度以及台阶高度的计基器具。
如图2所示,深度于分尺附件有校对用量具。1
4计量性能要求
4.1刻线宽度及宽度差
JJG24—2003
图2校对用整具
固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为(0.15-0.20)mm:刻线宽度差应不超过0.03mm。
4.2微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不超过0.4mmc4.3微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准后,微分筒钜面的端面与固定套管亲米刻线的右逝缘应相切,若不切,1乐线不超过0.05mm,离线不超过0.1mm。4.4测量面的表面粗糙度
测量杆的测量面、校对用量具的测量面和基座的测量面的面粗糙度应不超过R.0.05um。如测量杆的测量面为硬质合金时,其表面粗糙度应不超过R.0.10μm。4.5基座测量面的平面度
基座测量面的乎面度应不超过0.002mm(距边缘1mm范围内不计)。4.6测力
测力应在(3~6)N范围内。
4.7示值误差
测微买示值误差应不超过±5um。注:使用中的深度千分尺示值误券起过±5μm,但不超过±10μm时,允许继续使用,并在证书上加以注明。
4.8可换测量杆的工作长度
可换测量杆的工作长度偏差不超过表1规定。4.9校对用量具
首次检定的校对用量具工作尺寸偏差和两测量面的平行度应不超过表2的规定。2
JJG24—2003
表1可换测避杆工作长度偏差
可换测量杆的工作长度/mm
50~75.75~100
100 ~ 125, 125 - 150
150 - t75,175 ~ 200
200 ~225,225 ~250
250 ~ 275, 275 ~ 300
偏差/ium
表2首次检定的校对用盘具工作尺寸偏差和两测量面的平行度标称尺寸/mm
100,125
150,175
200,223
250,275
尺寸偏差/pm
两测量面平行度m
+网络安源
注:后续检定和使用中检验的校对用量在保证两测量面平行度合格时:工作尺寸充许起差,按实际尺寸使用。
5通用技术要求
5.1外观
5.1.1深度干分尺及校对用量具的工作面不应有锈蚀、碰伤和划痕,各非工作面不应有镀层脱落现象,各刻线应清晰、平直、均匀、无断线及影响难确度的其他缺陷。5.1.2深度千分尺上应标有制造厂名(或商标)、出厂编号、测量范国及标记。校对用量具及可换测量杆上应标注标称尺寸。5.1.3
5.1.4使用中检验和后续检定时,深度千分尺允许有不影响使用准确度的上述外观缺陷。
5.2各部分相互作用
各活动部件的作用应灵活、平稳、无卡滞现象。5.2.1
5.2.2零位的调整要保证顺利和可靠,锁紧装置的作用应切实有效。5.2.3可换测量杆的更换要方便,紧固要可靠。5.2.4测杆不应有手感觉到的轴向箱动和径向摆动。计量器具控制
计墅器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验。3
6.1检定条件
6.1.1检定用设备
主要检定器具见表3。
6.1.2检定环境条件
JJG 24--2003
检定室阖度为(205)C。检定前受检千分尺在检定室内乎衡温度的时间应不少于2h。
6.2检定项目
检定项月见表3。
表3检定项目和主婴检定器具一览表序号
检定项目
各部分相互作用
刻线宽度及宽度差
微分简锥而的端面梭边至
固定套管刻线面的距离
微分简锥面的端面与固定
套管毫米刻线的相对位置
测量面的表面粗髓度
基座测盘面的平面度
示值误差
可换测量杆的工作长度
校对用量具
主要检定器具
工具晟微镜
2级寒尺或工具显微镜
表面拉造度比较样块
或表面粗糙度仪
2级平品或0级刀口尺
分度值不大于
0.2N的力计
2 级平晶或 0 级
平板5等量块
U=(0.5+5L)μm
4等量块
U=(0.2+2L)μm
光学计
4等鼠块
U=(0.2+2L)um
注:表中“+”表示应检定,“_”表示可以不检定。6.3检定方法
6.3.1外观
自力观察。
首次检定
检定类别
后续检定
使用中检验
6.3.2各部分相互作用
目力观察和试验。
JJG24—2003
6.3.3刻线宽度及宽度差
在工具显微镜上对微分筒和固定套管至少各抽检均匀分布的3条刻线。刻线宽度差以最大值和最小值之差确定。
6.3.4微分简锥面的端面校边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上进行检定,也可用厚度为0.4mm的塞尺以比较法进行检定。检定时应在微分簡转动一周内不少于3个位置上进行,见图3中。仲裁俭定以工具显微镜上的捡定结果为准。
网络货源
6.3.5微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置将千分尺在2级平品或0级平板上调整好零位后,观察微分筒锥面的端面是否与固定套管毫米刻线右边缘相切,若不相切时,转动微分筒使其相切,按微分筒读出其零刻线对固定套管纵刻线的偏移量,该偏移量即为离线或压线的数值。见图4。45
离线0.02nm
压线0.02mm
6.3.6测量面的表面粗糙度下载标准就来标准下载网
用表面粗糙度比较样块以比较法进行检定,或用表面粗糙度仪进行检定。仲裁检定以表面粗糙度比较样块上的检定结果为推。6.3.7基座测起面的平面度
首次检定的深度干分尺用直径为100mm的2级平品以技术光波于涉法进行检定。5
其乎面度
式中:n下涉条纹的条数;
JJG 24—2003
——工作光波的波长,um。如白光入/2=0.3μm。图5所示的于涉条纹为4条c
后续检定和使用中检验的深度千分尺用0级刀口尺按图6所示方向进行检定。(O)
6.3.8测力
用分度值不大于0.2N的浏力计进行检定。6.3.9示值误差
用5等量块在2级平品或0级平板上进行检定。受检点应至少均勾分布于示值范围的5点上,5.12mm10.24mm(或10.25mm)15.36mm(或15.37mm)、21.5mm、25mm。每一受检点必须用两组相同尺寸的基块(实际尺寸差不超过2um)进行检定,如图7所示。
各点示值误差e按下式求得:
e= L, -L.
式中;L,——千分尺的读数值;L、—量块的实际尺寸。
6.3.10可换测量杆的工作长度
深度干分尺除首先装上【0,25]mm的测量杆,按上述5点进行检定外,还应在于分尺零位不作调整的情况下,依次安上其他各测量杆,并以测期杆下限尺寸的两组4量块(实际尺寸差不超过1.2um)进行检定,均应符合表1要求。6.3.11校对用量具
对于校对用量县的尺寸偏差和两测量面平行在光学计上以4等最块比较法进行检定。受检点如图8所示。其最大值与最小值之差即为两测面平行度。检定结果的处理
经检定符合本规程要求的深度干分尺发给检定证书:不符合本规程要求的发给检定6
1是块;2一深度千分尺;3—平品结果通知书,并注明不合格项目。8
捡定周期
JJG 24—2003
深度千分尺的检定周期可根据使用的实际情况确定,一般不超过1年。供
附录A
A.1测量方法
JJG 24-2003
深度干分尺示值误差测量结果的不确定度评定探度于分尺的示值误差是用5等量块以直接法进行检定的,下面以25mm点的示值误差为例进行测量结果不确定度的分析。A.2数学模型
深度千分尺的示值误差:
e= L, - L, + L,'a -At -L,-a,-At,式中:
L,—深度千分尺的读数值(20℃条件下);L.
量块的实际尺→(20℃条件下);和,
一分别是深度于分尺和量块的线胀系数;△和△—分别是深度千分尺和量块确离参考温度20C的值。A.3方差和灵敏系数
因为A:和4来源于同一只温度计而相关,数学处理过程非常复杂,因此采用下理过程:各资源
述方法将相关转化为不相关,以简化数学处理过程。a, - At - Ar.
e=a=α
At-AT-AL
e=-L,+taAtba.At+L,a,atLaAt
L+LA8+LaO
式中: c,=ael3-1 c2-aela,= -1c,-0el2o, =L-At; c4 =aela o,=L-a令
u、2、、分别表示L,.。、的标推不确定度u =u(e)=u, +i+(L-Ar)2-us +(t-α).uA.4标推不确定度一览表
标准不确
定度分量
不确定度来源
测量重复性
量块的不确定度
深度干分尽与量块
的线胀系数差
深度千分尺与
量块的溢度差
标准不确定度值
0.58×10-*9C
u。=0.39μm
L△t = 25 × 10 ×
L-a = 25 ×10' × 11.5
io-jm--t
Ver = 45
Te,l xu(xt)
自出度
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