GB/T17626的本部分规定了电气和电子设备的射频电磁场辐射抗扰度试验,还规定了试验等级和必要的试验程序. GB/T 17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T17626.3-2006 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS33.100.20
中华人民共和国国家标准
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3.2002代替GB/T17626.3—1998
电磁兼容
试验和测量技术
射频电磁场辐射抗扰度试验
Electromagnetic compatibility-Testing and measurement techniques-Radiated,radio-frequency, electromagnetic field immunity test(IEC 61000-4-3:2002
Electromagnetic compatibility(EMC)Part 4-3:Testing and measurement techniquestRadiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test,IDT)2006-12-19发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2007-09-01实施
2规范性引用文件
3概述…
4术语和定义
5试验等级
5.1一般试验等级
5.2保护（设备）抵抗数字无线电话射频辐射的试验等级6试验设备.
6.1试验设施的描述
6.2场的校准
7试验布置
7.1台式设备的布置
7.2落地式设备的布置
7.3布线
7.4人身携带设备的布置
8试验程序
9试验结果的评定
10试验报告
附录A（资料性附录）
附录B（资料性附录）
附录C（资料性附录）
附录D（资料性附录）
附录E（资料性附录）
附录F（资料性附录）
附录G（资料性附录）
附录H（资料性附录）
附录1（资料性附录）
附录J（规范性附录）
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:200210
保护（设备）抵抗数字无线电话射频辐射的试验调制方式的选择原理15
发射天线·
电波暗室的应用
其他试验方法
其他试验设施
TEM小室和带状线
产品标准化专业委员会试验等级选择指南固定式发射设备的特殊措施
试验方法的选择
环境描述
频率高于1GHz时的替代照射方法（独立窗口法”）附录K（资料性附录）放大器非线性和6.2条校准方法的实例规定的试验等级和信号发生器输出端波形图1
典型的试验设施举例
图3场校准
图4场校准，均匀域的尺寸…
图5落地式设备的试验布置举例
台式设备的试验布置举例
试验配置
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:2002图C.1小暗室里的多重反射
图C.2大部分反射波被消除
图J.1A台式设备将校准区域划分为数个0.5m×0.5m窗口的实例图J.1B落地式设备将校准区域划分为数个0.5mX0.5m窗口的实例图J.2连续窗口的照射实例
图K.1均勾域的测量位置
表1试验等级·
表2频率范围：800MHz960MHz以及1.4GHz~2.0GHz表A.1调制方式比较（GSM和DECT的定义见附录I）·表A.2相对干扰电平（注1）
表A.3相对抗扰度电平（注1）
表F.1试验等级，相应保护距离及建议的性能判据的实例.……表1.1
移动和手持装置
表1.2基站
表K.1按恒定场校准法测得的正向功率值表K.2
正向功率按升序排列和评估测试结果表K.3
按恒定功率校准法测得的正向功率和场强值表K.4
场强值按升序排列和评估测试结果20
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:2002GB/T17626《电磁兼容
试验和测量技术》系列标准包括以下部分：GB/T17626.1--2006
GB/T17626.2-—2006
GB/T17626.3—2006
GB/T17626.4—1998
GB/T17626.51999
GB/T17626.6—1998
GB/T17626.7—1998
和测量仪器导则
GB/T17626.8—2006
GB/T17626.9—1998
GB/T17626.10—1998
GB/T17626.11—1999
GB/T17626.12-—1998
GB/T17626.13-2006
低频抗扰度试验
GB/T17626.14—2005此内容来自标准下载网
GB/T17626.17-2005
GB/T17626.27-—2006
GB/T17626.28—2006
GB/T17626.29-—2006
电压变化抗扰度试验
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
试验和测量技术抗扰度试验总论试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
试验和测量技术
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
电磁兼容
本部分为GB/T17626的第3部分。静电放电抗扰度试验
射频电磁场辐射抗扰度试验
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
浪涌（冲击）抗扰度试验
射频场感应的传导骚扰抗扰度
供电系统及相连设备的谐波、谐间波的测量工频磁场抗扰度试验
脉冲磁场抗扰度试验
阻尼振荡磁场抗扰度试验
试验和测量技术
电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验和测量技术
振荡波抗扰度试验
试验和测量技术
交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的试验和测量技术
电压波动抗扰度试验
试验和测量技术直流电源输人端口纹波抗扰度试验试验和测量技术
三相电压不平衡抗扰度试验
试验和测量技术工频频率变化抗扰度试验试验和测量技术直流电源输人端口电压暂降、短时中断和本部分等同采用国际标准IEC61000-4-3：2002（第2.1版）《电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验》，该标准基于IEC61000-4-3：2002（第2版）十修正案A1(2002)制定。本部分依据GB/T20000.2一2001《标准化工作指南第2部分：采用国际标准的规则》进行下列编辑性修改：删除IEC61000-4-3：2002（第2.1版）的前言和引言，并将有关内容写入本部分前言中。本部分自实施之日起代替GB/T17626.3一1998《电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验》。
本版技术内容的主要变化简述：1.范围：增加两个方面的说明
a。对于未来新型无线电业务，可能要在其他频段规定试验等级。b.本部分涉及一般用途的抗扰度试验，对于防止数字无线电话的辐射有特殊的考虑。2.概述：增加下列内容：近年来在0.8～3GHz频段工作的无线电话和无线电发射机大量增加，并大量应用非恒定包络调制技术（如TDMA）。3.定义：新增4个定义：4.18人身携带设备；4.19RMS最大值；4.20非恒定包络调制；4.21时分多址TDMA。
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:20024。试验等级：新增5.2“保护（设备）抵抗数字无线电话射频辐射的试验等级”。5.试验设备：6.2场的校准\新增对于发射天线位置、EUT表面（≥1.5mX1.5m）大小等情况下的具体校准方法作了明确的规定，此外还新增了6.2.1“恒定场强校准方法”和6.2.2“恒定功率校准方法”。
6.试验配置：新增7.4“人身携带设备的布置”。7.试验程序：增加对已调幅载波驻留时间的规定。8.试验结果评定：增加两方面内容：a。说明试验结果分类的依据；
b.说明性能判据在制定通用标准、产品/产品类标准或采购产品的框架协议时的指导作用。9.试验报告：第一版标准中对试验报告仅规定在报告中应包括试验条件和试验结果，第二版对试验报告作了较详细的规定。包括：试验计划，EUT、试验设备、进行试验的特殊环境条件或特殊条件等10个方面的要求，以保证试验的准确性、重复性。10.附录主要变化：
a.原附录A“便携式收发机（步话机）”现改为附录A“保护（设备）抵抗数字无线电话射频辐射的试验调制方式的选择原理”。b.新增了三个附录：
附录I资料性附录）环境描述
附录J(规范性附录)频率高于1GHz时的替代照射法（独立窗口法）附录K(资料性附录)放大器非线性和6.2条校准方法实例本部分共有11个附录（附录A～附录K），除附录J为规范性附录外，其余为资料性附录。本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会提出并归口本部分负责起草单位：上海电器科学研究所（集团）有限公司、上海工业自动化仪表研究所。本部分主要起草人，寿建霞、李沐、洪济晔、何新民、张君、黄楚彬。1范围
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:2002电磁兼容试验和测量技术
射频电磁场辐射抗扰度试验
GB/T17626的本部分适用于电气，电子设备的电磁场辐射抗扰度试验，它规定了试验等级和必要的试验程序。
本部分的目的是建立电气、电子设备受到射频电磁场辐射时的性能评定依据。本部分第5章规定的频率以外不需进行试验。对某些将来可能出现的无线电方面的新业务可能会降低电气和电子设备的性能，因此有可能其他的频段也规定试验等级。本部分适用于一般目的用的抗扰度试验，对防止数字无线电话的射频辐射有专门规定。注：本部分规定了测量EUT在电磁辐射状况下影响程度的试验方法。电磁辐射的模拟和测量对定量确定这种影响程度是不够准确的。所定义试验方法的宗旨是为定性分析而建立一个对各种EUT均可获得充分重复性测量结果的方法。
本部分并不对具体设备或系统的试验作规定。本部分的主要目的是为有关专业标准化技术委员会提供一个通用的基础标准，制定产品标准时应根据其产品选择合适的试验等级。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T17626的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用手本部分。
GB/T4365电工术语电磁兼容（GB/T4365—2003，IEC60050（161），IDT）GB/T17626.6电磁兼容试验和测量技术：射频场感应的传导骚扰抗扰度(GB/T17626.6—1998,idtIEC61000-4-6)3概述
电磁辐射以某种方式影响大多数的电子设备。如操作维修及保安人员使用的小型手持无线电收发机、固定的无线电广播、电视台的发射机、车载无线电发射机和各种工业电磁源均会频繁地产生这种辐射。
近年来，无线电话及其他无线电发射装置的使用显著增加，其使用频率在0.8GHz至3GHz之间。其中有许多设备使用的是非恒定包络调制技术（如TDMA)。除了有意产生的电磁能以外，还有一些设备产生杂散辐射，如电焊机、晶闸管装置、荧光灯、感性负载的开关操作等等。这种于扰在大多数情况下表现为传导干扰，传导干扰在本系列标准的其他标准中涉及。用以防止电磁场影响的方法通常也会使这类干扰源的影响减少。电磁环境取决于该环境内的电磁场强度（场强以V/m表示），没有先进的仪器，场强很难测量，也很难用经典公式或方程式来计算，因为周围建筑物和邻近其他设备的响会使电磁波反射和失真。4术语和定义
本部分采用下列术语和定义以及GB/T4365中的术语和定义。1
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:20024.1
调幅amplitudemodulation
载波幅度按给定规律变化的过程。4.2
电波暗室anechoicchamber
安装吸波材料用以降低内表面电波反射的屏蔽室。4.2.1
全电波暗室fullyanechoicchamber内表面全部安装吸波材料的屏蔽室。4.2.2
半电波暗室Semi-anechoicchamber除地面安装反射接地平板外，其余内表面均安装吸波材料的屏蔽室。4.2.3
可调式半电波暗室modifiedsemi-anechoicchamber在地面反射接地平板上附加吸波材料的半电波暗室。4.3
天线antenna
一种将信号源射频功率发射到空间或截获空间电磁场转变为电信号的转换器。4.4
平衡一不平衡转换器balun
用来将不平衡电压与平衡电压相互转换的装置（GB/T4365)。4.5
连续波（CW）continuouswaves（Cw)在稳态条件下，完全相同的连续振荡的电磁波，可以通过中断或调制来传递信息。4.6
电磁波electromagnetic（EM）wave由电荷振荡所产生的辐射能量，其特征是电磁场的振荡。4.7
远场farfield
由天线发生的功率通量密度近似地随距离的平方呈反比关系的场域。对于偶极子天线来说，该场域相当于大于入/2元的距离，入为辐射波长。4.8
场强field strength
“场强”一词仅适用于远场测量。测量可以是电场分量或磁场分量，可用V/m，A/m或W/m表示并可相互换算。
注：近场测量时，术语“电场强度”或“磁场强度”的使用取决于是否分别测量电场或磁场的分量。近场中，电场强度和磁场强度与距离的关系是复杂的，并且很难预测，它涉及到场中特定的布置，因此，一般不可能确定复合场的分量在时间和空间相位上的变化，功率通量密度同样也是不确定的。4.9
频带frequencyband
两个限定的频率点之间频率延伸的连续区间。2
感应场 inducedfield
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:2002电场或/和磁场的主要能量存在于距离d<入/2元的区域，入为波长，其场源的尺寸应小于d。4.11
各向同性isotropic
在各个方向上具有相同特性值。4.12
极化polarization
辐射场电场向量的方向。
屏蔽室shieldedenclosure
专为隔离内外电磁环境而设计的屏栅或整体金属房。其目的是防止室外电磁场导致室内电磁环境特性下降，并避免室内电磁发射干扰室外活动。4.14
带状线stripline
由两块平行板构成的带匹配终端的传输线，电磁波在其间以横电磁波模式传输，从而产生供测试使用的电磁场。
杂散辐射spuriousradiation
电气装置产生的不希望有的电磁辐射。4.16
扫描sweep
连续或步进扫过一段频率范围。4.17
收发机transceiver
共用一个外壳的无线电发射和接收的组合装置。4.18
humanbody-mountedequipment
人身携带设备
欲用于人身附属的设备。它包含那些人们携带的正在运行中的手持式设备（即袖珍设备）和电子辅助装置以及植入于人体内的装置。4.19
RMS最大值
maximumRMSyalue
在一个调制周期内，射频调制信号短期的RMS最大值。短期RMS是在一个载波周期内进行计算的。例如，对图1b），最大RMS电压为：VmaxireumRMs=V,-,/(2X/2)=1.8V4.20
非恒定包络调制non-constantenvelopemodulationRF调制方案，相对其载波周期而言，载波幅值在时间上变化缓慢。例如，包括常规幅度调制及时分多址。
时分多址TDMA（timedivisionmultipleaccess）时间增倍调制电路分时复合调制方案，在某一分配频率同一载波内设置几个通信信道。每一信道被赋与某一时间段，在该时间周期内，如果该信道是激活的，则信号作为RF脉冲被传输，而如果该信道3
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:2002不是处于激活的，则脉冲未被传输，这样载波包络就不为常数。而脉冲的幅值为定值，RF载波被频率调制或相位调制。
5试验等级
5.1一般试验等级
表1列出了优先选择的试验等级。频率范围：80MH2~1000MHz。
表1试验等级
注：×是一开放的等级，可在产品规范中规定试验场强/(V/m）
表1给出的是未调制信号的场强。作为试验设备，要用1kHz的正弦波对未调制信号进行80%的幅度调制来模拟实际情况（见图1），详细试验步骤见第8章。注1：有关专业标准化技术委员会可以在GB/T17626.3和GB/T17626.6之间选择比80MHz略高或略低的过渡频率(见附录H)。
注2：有关专业标准化技术委员会可以选择其他调制方法。注3：GB/T17626.6也为电气或电子产品抗电磁辐射的抗扰度规定了试验方法，该标准涉及80MHz以下的频率。5.2保护（设备）抵抗数字无线电话射频辐射的试验等级表2给出了频率范围为800MHz960MHz以及1.4GHz~2.0GHz优先选择的试验等级。表2频率范围：800MHz~960MHz以及1.4GHz~2.0GHz等
注：X是一开放的等级，可在产品规范中规定。试验场强/（V/m）
测试场强列给出的是未调制的载波信号。作为试验设备，要用1kHz的正弦波对载波信号进行80%的幅度调制来模拟实际情况（见图1），优选的详细试验步骤见第8章。如果产品仅需符合有关方面的使用要求，则1.4GHz~2.0GHz频段的试验范围可缩小至仅满足我国规定的具体频段，此时应在试验报告中记录缩小的频率范围。有关专业标准化技术委员会应对每个频率范围规定合适的试验等级。在表1和表2所述的频率范围内，仅需对其中较高的试验等级进行试验。注1：附录A中含有关于决定使用正弦波调制的说明以及保护（设备）抵抗数字无线电话射频辐射的试验。注2：附录F为选择试验等级的指南。注3；表2的测量范围为分配给数字无线电话机使用的带（附录I为本部分出版时分配给特殊数字无线电话机使用的频带列表）。
注4：800MHz以上的干扰主要来自无线电话系统。对工作于该频段的其他系统，如工作在2.4GHz的无线局域网，其功率一般很小(通常小于100mW)，因而不大会出现明显向题。6试验设备
推荐下列类型的试验设备：
GB/T17626.3—2006/1EC61000-4-3:2002电波暗室：具有合适的尺寸，能维持相对于EUT来说具有足够空间的均勾场域。局部安装一些吸收材料可以使室内的反射减弱。注：产生电磁场的替代方法有：横电磁波室，带状线，不安装吸波材料的屏蔽室、局部安装吸波材料的屏蔽室和开阀试验场。
为了满足试品放在均匀场中，这些设备在尺寸、频率范围方面具有局限性，或可能违反地方法规。应注意确保试验条件等效于电波暗室中的条件。电磁干扰（EMI)滤波器：应注意确保滤波器在连接线路上不致引起谐振效应。射频信号发生器：能够覆盖所有感兴趣的频带，并能被1kHz的正弦波进行调幅，调幅深度80%。应具有以慢于1.5×10-3十倍频程/s的自动扫描功能，如带有频率合成器，则应具有频率步进和延时的程控功能，也应具有手动设置功能。为了避免谐波对作为监视用的接收信号设备造成干扰，必要时采用低通或带通滤波器。功率放大器：放大信号（调制的或未调制的）及提供天线输出所需的场强电平。放大器产生的谐波和失真电平应比载波电平室少低15dB。发射天线（见附录B）：能够满足频率特性要求的双锥形、对数周期或其他线性极化天线系统。圆极化天线正在考虑中。
水平和垂直极化或各向同性场强监视天线：采用总长度约为0.1m或更短的偶极子，其置于被测场强中的前置增益和光电转换装置具有足够的抗扰度，另配有一根与室外指示器相连的光纤电缆，还需采用充分滤波的信号连接器。
记录功率电平的辅助设备：用于记录试验规定场强所需的功率电平和控制产生试验场强的电平。应注意确保辅助设备具有充分的抗扰度。6.1试验设施的描速
由于试验所产生的场强高，应在屏蔽室中进行试验，以便遵守有关禁止对无线通信干扰的规定。在抗干扰试验过程中大多数采集数据的设备对试验所产生的电磁场很敏感，屏蔽室在EUT与测试仪器之间提供了一层“屏障”。应注意确保穿过屏蔽室的连线对传导和辐射有充分的衰减，以保持EUT的信号和功率响应的真实性。
优先采用的试验设施为安装有吸波材料的屏蔽室，且屏蔽室应具有足够的空间以适应EUT尺寸和对试验场强的充分控制能力。相关屏蔽室应适合于安放发生场强的设备、监视设备和遥控EUT的装置。试验设施包括电波暗室或可调式平电波暗室，如图2所示。电波暗室低频时效果不佳，应特别注意确保低频时产生场强的均匀性。详细导则见附录C。6.2场的校准
场校准的目的是为确保试样周围的场充分均匀，以保证试验结果的有效性。校准过程中不进行调制，以保证传感器指示正常。
本部分中使用“均匀域”的概念（见图3），这是一个假想场的垂直平面，在该平面中场的变化足够小。该均匀域为1.5mX1.5m，若EUT及其连线可以被置于一个较小的面积中且可以受到充分地照射，则均勾域尺寸可小于该尺寸。均匀域不得小于0.5m×0.5m（即：一个4点栅格）。在布置试验时，应使EUT受照射的面与均勾域的垂直平面重合（见图5和图6）。由于靠近参考地平面不可能建立一个均勾场，校准的区域应设在离参考平面上方不低于0.8m处，EUT也尽可能置于同样的高度上。某些EUT必须接近参考地平面放置或尺寸大于1.5mX1.5m，为了建立该测试的试验严酷等级，此时还要记录离参考地平面上方0.4m高处和沿着EUT整个高度和宽度上场的强度，并在试验报告5
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:2002中说明。
均匀域的校准在空的屏蔽室中进行，天线、附加的吸波材料（若使用时）等应记录并保持原样。在试验之前的试验室验证（见第8章）中可以使用上述记录。用于试验的整个区域的校准至少每年进行一次，当室内布置发生变化时(更换吸波材料、试验区域位置移动、设备改变等)亦应进行校准。发射天线的放置距离应能使1.5m×1.5m的均勾域处于发射场的主波瓣宽度之内，若EUT实际表面大于1.5mX1.5m，可按以下方法对EUT表面进行一系列的照射试验（“部分照射”）。两者选其一：
辐射天线应在不同的位置进行校准，使得组合后的校准区域覆盖EUT的表面，然后依次在这些位置上对EUT进行试验。
将EUT移到不同位置，在试验中使EUT的每个部分至少处于校准区域一次。EUT表面大于1.5m×1.5m时，若（覆盖该面积的）校准区域能满足场的均匀度要求则不必进行部分照射。
若由于天线波束宽度不够而不能同时照射整个EUT，仅能在某个频率以下（高于1GHz）满足本节的要求，则对于高于该频率的试验，应采用附录丁叙述的方法。场探头应至少距离场发射天线1m以上，EUT与天线之间的距离最好为3m，该距离是指双锥天线的中心或对数周期天线的顶端到EUT表面的距离。报告中应说明场的发射天线到校准均匀域之间的距离。
在有异议的情况下，测量距离优先采用3m。在规定的区域内75%的表面上场的幅值在标称值的一0dB～十6dB范围内，即认为该场是均匀的（即若测量16个点中至少有12个点在容差范围内）。对0.5m×0.5m的最小均匀域，栅格4个顶点应在该容差范围内。注：在不同的频率点，可能有不同的符合容差范固的测量点。一0dB～十6dB作为容差范围，是为确保场强不会降到标称值以下。6dB容差是在实际测量设施中可实现的最小范围。
在整个试验频段的3%范固围内，容差大于十6dB～十10dB但不小于一0dB是允许的，试验报告中应记录实际容差值。有争议时优先考虑一0dB～十6dB。通常按图7所示的布置对电波暗室和半电波暗室进行场的校准。应按下述的步骤用未调制的载波分别对水平和垂直极化都进行校准。校准用的场强应至少为将要施加给EUT场强的1.8倍，以确保放大器能处理调制信号且不致饱和。用Ec表示该校准场强，Ec仅为校准时能够施加的场强，试验场强E,不超过Ec/1.8。
注1：可使用其他确保不饱和的校准方法。下面叙述了两种不同的校准方法。若使用正确，可认为这两种方法得出的场的均匀性是相同的。注2：若在试验频率的最大3%范围内不满足6dB判据但至少在一0dB～+10dB容差内即可认为已满足校准要求。
如果所有EUT的各个面（包括任何电缆）都能完全处于“均匀域”中，则这一校准是有效的。在试验中应使用校准场的天线和电缆。由于使用相同的天线和电缆，就与电缆损耗和天线的系数无关了。
产生场的天线和电缆的确切位置应记录下来。因为位置发生很小的变化，都会对场产生很大的影响，所以试验中应采用同一位置。6.2.1恒定场强校准方法
均勾场的恒定场强的建立和测试是按第8章规定的步骤，通过一个校准过的场探头，在每个特定频率调节正向功率，依次对16个栅格点的每个点（见图4)进行校准。应按图7确定测量场强所选择的正向功率，16个测量点以dBm为单位进行记录。6
校准程序如下：
GB/T17626.3—2006/IEC61000-4-3:2002a）将场探头置于16个栅格点的任意一点上（见图4），将信号发生器输出的频率调至试验频率范围的下限频率（例如80MHz）。
b）调节场发射天线的正向功率，使试验场强等于所需的试验场强Ec，记录正向功率读数。以当前频率的1%为最大增量来增加频率。c)
重复步骤b）和c），直至下一频率超过试验频率范围的上限频率。最后在此上限频率（例如d）
1GHz）处重复步骤b)。
对每一栅格点重复步骤a)至d)。在每一频率点：
f）将16个点的正向功率读数按升序排列。g）从最大读数开始检查，向下至少应有11个点的读数在最大读数的6dB～+0dB容差范围内。
h）若没有11个点的读数在一6dB～+0dB容差范围内，按同样的程序向下再继续检查读取的数据（对每个频率仅有5个可能点）。如果至少有12个点的读数在6dB范围内则停止检查程序，记录这些读数的最大正向功率值。i）
注1：若在某一特殊频率点，Ec与E,之间的比例为R(dB)，R=20Ig(Ec/E），则试验功率P,=Pc一R(dB)，下标c和t分别代表校准和试验。按第8章的规定进行场的调制。附录K中K.4.1给出了此校准的一个示例。注2：必须确保使用的放大器在每一频率均未饱和，这可以通过检查系统的1dB压缩来进行。可通过使用点频率来检查放大器是否饱和，推荐的频段步长如下：-80MHz~200MHz，步长为20MHz；—250MHz~1000MHz，步长为50MHz—1400MHz~2000MHz，步长为100MHz6.2.2恒定功率校准方法
均匀场场强的建立和测试是按第8章规定的步骤，通过一个校准过的场探头，在每个特定频率调节正向功率，依次对16个栅格点的每个点（见图4)进行校准。应按图7的确定测量初始位置场强所必须的正向功率并记录，对所有16个测量点施加相同的正向功率，并记录其在每一点建立的场强值。校准程序如下：
将场探头置于栅格中16个点中的任意一点上（见图4），将信号发生器输出的频率调至试验频a）
率范围的下限频率（例如80MHz)。调节发射天线的正向功率，使所得场强等于所需的试验场强Ec（注意试验场强将被调制），记b)
录正向功率及场强。
以当前频率的1%为最大增量来增加频率。d）重复步骤b)和c)，直至下一频率超过试验频率范围的上限频率。最后在此上限频率（例如1GHz)处重复步骤b)。
将场探头移至栅格的另一点，在每一频率点采用上述步骤a)至d)，并记录步骤b)的场强和所e
施加的正向功率值。
f)对每一栅格点重复步骤e)。
在每一频率点：
g）将16个场强读数按升序排列。h)
选择某点的场强值作为参考值，计算所有其他点相对于该点的偏差值（分贝）。从场强的最小读数开始检查，向上至少应有11个点的读数在最小读数的一0dB～十6dB容差i）
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