本标准规定了电子信息产品中含有的铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚六种限用的有毒有害物质或素的检测方法。本标准适用于《管理办法》定义的电子信息产品。 SJ/T 11365-2006 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法 SJ/T11365-2006 标准下载解压密码：www.bzxz.net

f'p=PNKVO
pgLq=MPSR
qEeiaaO-a白UbCe=Nbe=Uo~eCcié=eiAei~aAEe=aa=EaEAécaaA-aaNbea-iaca-ecqAe==
2006-11-06
2006-11-06
1范围
2规范性引用文件
3术语和定义
4检测方法概述
4.1检测方法的内容
4.2检测方法流程.
4.3筛选检测方法。
4.4精确测试方法
5用X射线荧光光谱仪对电子信息产产品中有毒有害物质进行筛选的测试方法5.1范围
5.2方法概要
5.3仪器设备
5.4试剂
5.5样品制备
5.6测试步骤
6电子信息产品中多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）的测试方法6.1范围
6.2方法概要
6.3仪器设备
6.4试剂.
6.5样品制备
6.6测试步骤
7电子信息产品中铅（Pb）、镉（Cd）以及汞（Hg）的测试方法，7.1电子信息产品中铅（Pb）、镉（Cd）的测试方法，7.1.1范围wwW.bzxz.Net
7.1.2方法概要
7.1.3仪器设备，
7.1.4试剂.
7.1.5样品制备，
7.1.6测试步骤，
7.2电子信息产品中汞（Hg）的测试方法7.2.1范围、
7.2.2方法摘要，
7.2.3仪器设备.
7.2.4试剂..
7.2.5样品制备，
7.2.6测试步骤，
8比色法测试电子信息产品中的六价铬8.1六价铬定性测试
SJ/T113652006
SJ/T113652006
8.1.1范围，
8.1.2方法概要
8.1.3仪器设备..
8.1.4试剂..
8.1.5样品制备.
8.1.6测试步骤
8.2比色法定量测试六价铬
8.2.1范围
8.2.2方法概要
8.2.3仪器设备，
8.2.4试剂.
8.2.5样品制备，
8.2.6测试步骤，
附录A（规范性附录）有毒有害物质检测过程A.1电子信息产品的结构
A.1.1组成结构.
A.1.2连接方式分类
A.1.3有毒有害物质存在的高风险区域和形态A.2电子信息产品的拆分目标与拆分原则A.2.1拆分的目标
A.2.2拆分原则，
A.3典型拆分示例、
A.3.1电路板组件拆分示例
A.3.2有引脚类集成电路拆分示例A.3.3阵列类集成电路拆分示例
A.3.4印制电路板拆分示例
A.3.5无引脚矩形片状元件拆分示例A.3.6插装分立元器件拆分示例
A.3.7插装电解电容器拆分示例，A.3.8线缆拆分示例，
A.3.9金属镀层类样品
参考文献，
中的机械制样方法
SJ/T113652006
本标准参考了IEC111/54/CDV《电子电器产品中六种限用物质铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚的检测方法》[ProceduresfortheDeterminationofLevelsofSixRegulatedSubstances(Lead,Mercury,cadmium,HexavalentChromium,PolybrominatedBiphenyls,PolybrominatedDiphenylEthers)inElectrotechnicalProducts/。本标准附录A为规范性附录。
本标准由信息产业部电子信息产品污染防治标准工作组提出。本标准由中国电子技术标准化研究所归口。本标准的主要起草单位：中国赛宝实验室/信息产业部电子第五研究所、SGS通标标准技术服务有限公司、上海天祥质量技术有限公司、安捷伦科技有限公司、北京谱尼理化分析测试中心、深圳华测检测技术有限公司、信息产业部专用材料检测中心、华为技术有限公司。本标准主要起草人：王晓晗、罗道军、谢成屏、薛建、高志祥、涂传鸿、陈玉红、郭冰、何秀坤、杨荣祥、罗超云、宋薇。
本标准由信息产业部电子信息产品污染防治标准工作组负责解释。Ⅲ
SJ/T113652006
目前许多电子信息产品由于功能、性能或生产技术的需要，仍含有大量如铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬[Cr（VI）］、多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）等有毒有害物质或元素。这些含有毒有害物质或元素的电子信息产品在废弃之后，如处置不当，不仅会对环境造成污染，也会造成资源的浪费。因此，为了达到节约资源、保护环境的目的，以有毒有害物质或元素的减量化、替代为主要任务的电子信息产品污染控制工作已经提到政府主管部门的议事日程。为此，信息产业部等七部委以“从源头抓起，立法先行”的思路和原则，制定了《电子信息产品污染控制管理办法》（信息产业部39号部长令，简称《管理办法》），以立法的形式，推动电子信息产品污染控制工作，旨在从电子信息产品的研发设计、生产、销售、进口等环节限制或禁止使用上述六种有毒有害物质或元素。为了进一步落实《管理办法》并达到限制有毒有害物质或元素在电子信息产品中使用的目标，必须有配套使用的统一的检测方法标准。因此，为了配合我国《管理办法》的实施，同时也为我国信息产业界对六种有毒有害物质或元素铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬[Cr（VI）］、多溴联苯（PBB）和多漠二苯醚（PBDE）的测试提供一个统一的检测方法，特制定本标准IV
SJ/T113652006
本标准规定了电子信息产品中含有的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬[Cr（VI）、多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）六种限用的有毒有害物质或元素的检测方法。本标准适用于《管理办法》定义的电子信息产品。O
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。SJ/T11363-2006电子信息产品中有毒有害物质的限量要求P-
本标准采用下列术语和定义。
EaEAiécaaA-aaNceaiaca-eecqAiebfm
采用电子信息技术制造的电子雷达产品、电子通信产品、广播电视产品、计算机产品、家用电子产品、电子测量仪器产品、电子专用产品、电子元器件产品、电子应用产品以及电子材料产品等产品及其配件。
-ei Aei ~aAE-
由自然界中存在的化学元素组成的单质或化合物。PKP=
eAeaaao
初步量化被检物中待测元素浓度的一种分析方法。PKQ
-caoaeaA-a-iEea~ae-
通过铸模或压延能被制成薄膜或各种形状的合成或半合成有机高分子浓缩材料。注：聚合物材料包括聚乙烯，聚氯乙烯，环氧树脂，聚酰胺，聚碳酸酯，ABS树脂，聚苯乙烯等。1
SJ/T113652006
a白aaA-a-ea~ae=
金属元素的单质或混合物，包括所有钢铁、有色金属或合金材料。注：金属材料有铁合金，镍合金，锡合金，铝合金，镁合金，铜合金，锌合金，贵金属合金等。PKS
-eeEAa~a-EaEAiécaaA-a~iEea~ae-在电子信息产品中所使用的一些特殊材料，由金属材料、有机材料、无机非金属材料中两种或三种材料组成的混合物。
注：专用电子材料有线路板基材、导电胶、半导体功能材料等。PKT
-aaceO-aaA-acaa白aaaA-a~ieaae=以某些元素的氧化物、碳化物、氮化物、硼化物以及硅酸盐、铝酸盐、磷酸盐、硼酸盐等物质组成的材料。是除有机高分子材料和金属材料以外的所有材料的统称。注：无机非金属材料有玻璃、陶瓷等材料。PKU
-a-iean=
含有或附有被分析物的材料或物质。PKV =
--UbacCaEcié-a~iEea~ae-
由一种或多种物质组成的各部分均匀一致的材料。PKM
i Eei =iaai
可以直接提交进行精确检测的不需要进一步机械拆分的样品。PKN
=uJo~o=NaiceEeAEaAE-eeEAiéia白éo=用一束X射线或低能光线照射待测试样，使之发射特征X射线而对物质成分进行定性和定量分析的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为波长散射一X射线荧光光谱法和能量散射一X射线荧光光谱法。PNO
i-iaEaoCCaeeEeaiE-uJe~o=NaiceleAEaAE=eeEAiia白eo=taJuoc=
SJ/T113652006
试样中被测元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特征波长的X射线，根据测得谱线的波长和强度来对被测元素进行定性和定量分析。PKNP
-EaEeb=CaeeEeeafE=uJe~0=NiceeAEaAE-eeEAieia白e0=baJuoc=
试样中被测元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定能量的X射线，利用具有一定能量分辨率的X射线探测器探测试样中被测元素所发出的各种能量特征X射线，根据探测器输出信号的能量大小和强度来对被测元素进行定性和定量分析。PKNQ
A-AaCegiac
叠加在分析线上的连续谱，主要来自试料对入射辐射的散射。PKNR
-a~aoiE-aaaEe-
需要对其强度进行测量并据此判定被分析元素含量的特征谱线。PKNS-
-aaaai=cN-EA aca-
在一定置信水平下能检出的最低含量。PKNT=
-aai EeNEeEaAE-aaaEe-
与分析线重叠或部分重叠，从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线。PKNU =
=-a~i éan=-白WEA é-
试料的化学组成和物理一化学状态对分析线强度的影响，主要表现为吸收一增强效应、颗粒度效应表面光洁度效应、化学状态效应等。PKN=
-O-e=Aleca~icCe~eUb=-J=a~ée=eeEAéca白éo-将气相色谱仪与质谱仪连接起来，利用气相色谱高效的分离能力与质谱的特征检测来对有机化合物进行定性与定量分析的方法。
SJ/T113652006
f'ml/^bpLIbp=
-aaaAiaiEao-AcieaEcea~ea~--icaaA-taaeeaca-eeEAieca白eo=利用高频等离子体使试样原子化或者离子化，通过测量激发原子或离子的能量对应的波长来确定试样中存在的元素。
=aagAiaiEao=AcieaEC-ea~ea~=a~ee-eeAéca白of'mjp=
通过高频等离子体使试样离子化的方法确定试样所含的目标元素。用质谱仪测出产生的离子数量，并由目标元素的质/荷比来分析目标元素及其同位素。PKO
~icaaA-~Aeceeiaca=eeAiéca白eop=
用火焰或化学反应等方式将欲分析试样中待测元素转变为自由原子，通过测量蒸气相中该元素的基态原子对特征电磁辐射的吸收，以确定化学元素含量的方法。PKCP
=-Aca-i~écié-CEaEe~iaca=~icaaA-Aeceeiaca=eeEAéca白éo=
将欲分析试样中的汞离子，还原成自由原子，通过测量该蒸气相中的基态原子对特征电磁辐射的吸收，以确定汞元素含量的方法。PKOQ
-~icaaA-NaiceEeAEaAE-eeEA éca白éo=Acp=
利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性与定量分析的方法，Q
各种有毒有害物质或元素的检测方法由如下6个部分组成范围：
一方法概要；
仪器设备；
试剂：
制样方法：
测试步骤。
SJ/T113652006
标准的检测方法流程见图1。其中，检测单元为SJ/TXXX×一200X中规定的EIP-A/B/C捡测元
EIP-A/B/C
栏品无损制备
筛选测定程片
不符合性绍论
样品在预制备
精测庭
不衍令性结论
药合绍诊
用能量散射X射线荧光光谱法（ED-XRF）或波长散射X射线荧光光谱法（WD-XRF）对试样中目标物进行测试，可以是直接测量样品（不破坏样品），也可以是破坏样品使其达到“均勾材料”（机械破坏制样）后测试。很多有代表性的均勾材料（如塑料，合金，玻璃等）样品可以不破坏样品直接进行筛选，而由多种材料组成的复杂样品（如组装印制电路板）则须进行机械破坏性样品制备。机械破坏性样品制备既适用于筛选也适用于精确检测方法。机械破坏性制样的程序步骤见附录A。5
SJ/T113652006
注意：第5章详细介绍的用XRF光谱法进行筛选的方法尽管是一种快速且节省资源的分析手段，但这种分析技术在获得结果的适用性和应用方面存在一定的局限性。筛选分析可以把样品分成三个基本类别：合格（P)：试样中目标物的浓度低于允许值。不合格（F)：试样中目标物的浓度高于允许值。不确定（X)：试样中目标物的浓度在允许值附近，因为没有肯定的合格与否的结果而需要进一步检测。
通过筛选后，合格的样品即是符合要求：不合格的样品则不符合要求：而对于无定论的样品则需用4.4规定的精确测试程序来验证该样品是否符合要求。QKOE
精确测试方法是运用多种分析方法来分析有机材料、金属材料、无机非金属材料以及专用电子材料中受限物质的浓度。表1是精确测试方法的简单概要，详细内容分别见第6章到第8章。N
机械制样
化学制样
分析方法
PBB/PBDE
Cr(VI)
金属材料
微波消解
酸消解
聚合物材料
微波消解
酸消解
溶剂提取
气相色谱-质谱
法（见第6章）
无机非金
属材料
微波消解
酸消解
溶剂提取
专用电子材料
微波消解
酸消解
溶剂提取
气相色谱-质谱
法（见第6章）
电感耦合等离子体原子发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法、原子吸收光谱法（见7.1）
电感耦合等离子体原子发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法、冷蒸汽原子吸收光谱法、原子荧光光谱法（见7.2）镀层显色法（见
8.1）碱消解
比色法（见8.2）
碱消解-比色
法（见8.2）
碱消解-比色
法（见8.2）
碱消解-比
色法（见
本章规定了用x射线荧光光谱仪对电子信息产品中含有的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）的筛选测试方法。6
SJ/T11365—2006
本测试方法适用于电子信息产品按附录A机械制样后的各种部件和材料中铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）的测试。RKO
用适当方法制备好不同材料的样品放入X射线荧光仪样品室内，按所选定的测试模式对试样进行X射线分析。根据不同样品不同元素的筛选限值判断试样中铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）和溴（Br）的含量是否合格以及是否需要进行精确测试。RKP=
RKPKNX射线荧光仪（波长散射一X射线荧光仪WD-XRF或能量散射一X射线荧光仪ED-XRF）：主要由激发源、探测器、样品室以及数据分析系统组成，RKPKO附属设备：常用的附属设备有自动进样装置、试料切割机、研磨机、粉碎机、混匀机、压样机、熔融机等，需要时性能应满足使用要求。参数选择：
首选分析线
次分析线
有机样品分析线
RKQKN硼酸（HB0）：分析纯，105℃烘1h，置于干燥器内储存：金属类分析线
RKCKO含铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）五种元素的相应标准样品。RKQKP方法中所用到的其他试剂和材料都必须不含待分析的铅、镉、汞、铬、溴等元素或化合物，制样过程中也不能受到这些元素或化合物的污染。RR
RKRKNE=
对各种块、板或铸件等不定形试样，可用切割机、研磨机等加工成适合测试的一定尺寸的样品。样品的照射面应能代表样品整体。5.5.2
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