本空白详细规范规定了制定体效应二极管详细规范的基本原则，制定该范围内的所有详细规范应与本空白详细规范一致。本空白详细规范是与GB4 589.1-89《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》和GB 12560－90《半导体器件 分立器件分规范》有关的一系列空白详细规范中的一个。 GB/T 15137-1994 体效应二极管空白详细规范 GB/T15137-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
体效应二极管空白详细规范
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本空白详细规范规定了制定体效应二极管详细规范的基本凉则,制定该范围内的所有详细规范应与本空白详细规范一致。
本空白详细规范是与GB 4589.1一89“半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB12560一90&半导体器件分立器件分规范》有关的一系列空白详细规范中的一个。要求资料：
下列所要求的各项内容，应列入规定的相应空栏中。详细规范的识别：
门)授权发布详细规范的国家标机构名称。(2)IECQ详细规范号。
(3)总规范号和年代号。
（4)详细规范号、发布日期和国家体系要求的任何毋多的资料。器件的识别：
(5)器件类型的简略说明。
(6)典型结构和应用资料。
如果设计-一种器件满足若干应用,则应在这重指出。这些应用的特性,极限值和检验要求均应于以满足。
(7)外形图和(或)引用有关的外形标准。(8)质量评定类别。
(9)能在器件型号之间比较的最重要特性的参考数据。国家按术监督局1994-06-25批准1995-04-01实施
评定器件质量的据：
GB/T 15137—94
(IECQ详细规范号、版本号和（或）日期（2）(3）
详细规范号
GB4589.1半导体器件分立器件和集成电路总规范》
GB12560半导体器件分立器件分规范》详细规范：
【有关器件的型号】
订货资料：见本规范第7章
机械说明
外形标准：
外形图：
[可以转到本规范的第10章给出详细外形图]引出端识别：
［[图形所示电极的规定包括图示符号】标志：字母和图形或色码
【如果可能，详细规范应规定在器件上盖标记的内（见GB4589.1的2.5条和（或）本规范的第6章3
简略说明
体效应极管
半导体材料：神化综
封装空腔
用途：
质量评定类别
【根据 GB 4589. 1的 2. 6 条]参考数据
按本详细规范鉴定合格器件的有关制造厂的资料·见现行合格产品一览表。(4)
【整个空白规范中，在方括号内给出的内容仅供指导制定详细规范时用，面不包括在详细规范中。【整个规范中，×表示应填入详细规范的数值，（×)表示适用时应填入详细规范的数值。］极限值（绝对最人额定值）
GB/T 15137—94
除非另有规定，这些极限值在整个工作温度范围内适用。【只重复使用带有标题的条文号。任何附加值在适当的地方给出，但没有条文号。曲线最好在本规范的第10章给出。
条文号
工作环境温度或管壳温度
贮存溢度
最大直流电压
或蜂值电压（在规定的脉冲条件下）5 电特性(检验要求见本规范的第 8 章)符
Tamb/Teae
最小值
最大值
【只重复使用带有标题的条文号，任何附加特性在适当的地方给出，但没有条文号。当在同：-详细规范中包括儿种规格的器件时，有关的值应以连续方式给出，以避免相同值的重复。］[曲线晟好在本规满的第10章给出］文号
特性和条件除非另有规定
Tsml或 Tax=25C
工作电流
衡值电压\
网值电流\
脉冲击穿电压(规定的脉冲苯件下）低场电阻(规定的测试电流下)
连续波输出功率(规定的测试腔体，工作频段和工作电压下）
或脉冲输出功率
（规定的测试腔体，工作段.工作电压和脉冲条件下)
工作颖率
(规定的测试腔体，工作电压下)效率\
或瞬态热阻抗(规定的脉冲条件下)5.10
管壳电容
5.11中联电感1\
注：1）典型值，不作检验用。
6标志
Zeenyt
最小值
典型值
最大值
(除了前面(7)栏(第1 章)和G13 4589.1的2. 5条所给出的外,任何其他特殊资料应在这里现定。77订货资料
CB/T 15137—94
【除非另有规定，订购一种具体器件至少需要以下资料：］一准确的型号；
一当有关时，带版本号和（或）口期的IECQ详细规范标准：一质量评定类别（按GB4589.1的2.6条规定。如果要求，筛选顺序按GB12560的3.6条的规）；
任何其他的绷节。
8试验系件和检验要求
[在下表给出试验条件和检验要求，其中所用数值和确切的试验条件，应按照给定型号和有关试验、测试标雅的规定。
汇頭写详细规范时，应确定选择哪些替换试验方法。【当在同一详细规范币包括儿种规格的器件时，有关条件和（或)数值应以连续的方式给出，其中尽可能避免相同条件和（或)数值的重复。）［抽样要求.按照适用的质量评定类别，参照或重述GB12560的3.7条的数值。对于A组，在详细规范中应选定AQL或LTPD方案。对于C2d组,在详细规范中可选定LTPID=30,)在本章中除非另有规定，引用的条文号对应于GB4589.1的条文号，测试方法引自GB6570%微波二极管测试方法》。
表1 A组-
全部试验都是非破坏性的（3.6.6条）。检验或试验
A1分组
外部目检
A2b分组
工作电流
抵场电阻
连续波输出功率
或脉冲输出功渐
上作额率
引用标准
本标准附录 B
GB 6570,B.1
GB 6570,B. S
本标准附录 B
G13 6570,B. 5
除非另有规定
T.m或 T=25 C
V- VueJ
I=【规定值]
Vop=［规定值】
f—［规定值】
Vope（规定值）
fo=C规定值了
Voe=［规定值」
检验要求
最小值最大值
GB/T 1513794
表2B组—
标注（D)的试验是破坏性试验(3.6.6条）。检验或试验
H1分组
B5分组
温度快速变化
继之以密封
B8分组
电耐久性
最后测试：
低场电阻
连续波输出功率
或脉冲输出功率
B9 分组
高温驼存
最后测试：
低场电阻
连续波输出功率
或脉冲辅出功率
CRRL分组
引用标准
GB 49371,3.1
CB 4937,3.7
GB49382)
GR 6570,B. 1
GB 6570,B. 5
本规范附录B
GB 4937.3. 2
GR 6570,B.1
GR 6570,B. 5
本规范附录 B
提供B5和B8的计数检查结巢
注：1）GB4937半导体分立器件机械和气读试验方法。2）GB4938半导体分立器件接收和可靠性。条
LS1,=规范的下限
USE=规范的上限
除非另有规定
Tmb或 T = 25 C
[按规定］
工作寿命，168h
V-[VM]或 V-[VPM]
Tm/T[接规定]
按A2b分组
按A2b分组
按Azb分组
「在最高贮存温度下至少
按A2h分组
按A2h分组
按 A2b 分组
根据A组
检验要求
最小值鳗大值
见本规范第1章
0. 8LSL1. 2L'SL
0.8LS11.2USL
GB/T15137—94
表3C组——周期
标注(I))的试验是破坏性试验(3. 6. 6 条)检验或试验
C1分组
C26分组
低场电阻
连续波输山功率
或脉冲输出功率(适用时)
C2e分组
脉冲作穿电压
C2d 分组
或瞬态热阻抗
C3分组
引出端强度
弯力矩(D)
(对金陶瓷封装同轴器
C6分组
机械冲击或振动
继之以，
恒楚加速度
最后测试：
低场电阻
连续波输出功率
或脉冲输出功率
C8分组
电耐久性
最后测试：
低场电阻
连续波输出功率
或脉冲输出功率
引用标准
GB 6570.B. 1
GB 6570.B. 5
本规范附录 B
GB 6570,B. 3
CB 6570,B.4
GB 6570,3. 10
本规范附录A
GR 4937.2.4或
CB 4937.2.5
GB 6570.B.1
GB 6570,B.5
本规范附录B
GB4938
GR 6570,R. 1
GE 6570,13. 5
本规范附录B
LSL一规范的下限
SL.=规范的上限』
除非另有规楚
T或 T.. - 25℃
=[规定高温
按 A2h 分组
按 A2b 分组
接A2b分组
同B8分组1000h
按A2b分纽
按 A2b分组
按A2h分组
根据A组
检验要求
最小值
最大值
见本规范第 1章
无损坏或按规定
(0. 8LSL 1. 2USL
检验或试验
C9分组
高温存(D)
最后测试：
低场电阻
连续波输出功率
或脉冲输山功率
9D 组检验(供鉴定用)
10 附加资料(不作检验用)
GB/T 15137—94
续表3
引用标推
GB 4937.3. 2
GB 6570,3.1
GR 6570,R. 5
本规范附录B
除非另有规定
Tamb或 Ta* - 25 C
（在最高忙存温度下至少1000h】按A2b分组
按 A2h分组
按 A26 分组
只要规范和器件使用需要，就应给出附加资料，如：与被限值和电特性有关的曲线；-.--测量电路或补充方法的完整说明！-详细外形图
检验要求
最小值最大道
0.BLSL1.2USL
O. BI.SI.
A1目的
GB/T 15137—94
附最A
离力矩试验方法
(补充件）
本试验是为了检验金属-陶瓷封装同轴型器件的抗弯曲能力。A2设备
弯力矩试验需要圖定器件的适当夹具和规定的重物。A3试验方法
将器件的一端固定在支持器上，在另一端沿与轴线垂直方向上无冲击地悬挂规定的重物。加力矩后支持器在10g内勾速地旋转三周。A4最后检查
试验后，放大3～10倍进行目视检查。如果电极和瓷普之间出现断裂、松动和相对移动等任何迹象，器件应判作失效。
A5有关规范中应给出的数据
对器件所加弯力矩的数值。
附录B
体效应二极管工作电流1oe及脉冲辅出功率P，测试方法（补充件）
B1工作电流
。目的
在规定的工作电压下，量体效应二极管的工作电流。b．电路图
电路图见GB6570图B6。在图B6可调电压源与谐振腔(带被测二极管）之间串接一个电流表，即构成工作电流测试电路图。
C。测量步骤
被测管安装丁谐振腔中，加上规定的工作电压，调节谐振腔和调配磐，使输出频率在规定的范翻内功率计指示为最大，这时电流表上的读数即为工作电流1oF。d、规定条件
环境温度，
上作电压。
B2脉冲输出功率
GB/T 15137—94
在规定条件下测量体效应二极管脉冲输出功率。b.
电路图
造损胞
(带敲测
轻督）
脉冲激励器
电路说明和要求
需高器
示被器
型向将合器
格健器
频率计
定向竭合
被测管的微波性能需通过与谐振腔的相工作用才能反应出来，因此不同类型的被测管，应配备相应的谐振腔。被测管安装在腔体中，热阻需足够小。d.测量步骤
被测管安装于谐振腔中，如上规定的脉冲励信号，调节谐振腔使输出额率在规定的范围内，输出功率为最大。若 A到 B点的插入损耗为 A(dB),示波器上读得的占空比为 ID,功率计的读数为P,则脉冲输出功率 P 由式(B1)计算:
规定条件
环境温度；
工作电压。
附加说明：
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。P·104/10
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会归口。本标准由电子工业部第55研究所负起草。本标准主要起草人黄玉英、逵、金贵永，张珉。
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