SJ 50033.16-1994 半导体分立器件 3DK307型功率开关晶体管详细规范 SJ50033.16-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
3DK307型功率开关晶体管详细规范1范围
1.1主题内容
SJ 50033,16—94
规范规定了3DK307A～G型NPN硅功率开关晶休管的详细要求，每种器件均拉GJB33半导体分立器件总规范的现定，提供产晶保证的三个等级（GP、GT知GCT级）1.2外彩尺动
外形尺寸应接GB7581&半导体分立器件外形尺寸的B2—01C型及如下规定（见图1)：代号
中华人民共和国电子工业部1994·09-30发布符号
R2-01C
1994-12-01实施
1.3最人额定值
3DK307A
3LK3C7B
3DK307C
3DK307D
3DK307E
3DK307F
3UK307G
Te -25 c
SJ 50033/16-94
注：1)Te>25C，按868mW！<的遇率线性地降额。1.4主要电特性（T=25C)
极限值
[Vee =10V
I = 2. 5A
棕7~15
31K307A～G红 15~25
橙25~40
黄 40--55
绿55~80
Vetraty
VuEiLei
I - 2. 5A
1s - 0. 5A
T, = 2.5A
In = 0. 7EA
1. -0. 54
—55~-175
Raij-e?
Vr =lcV
0. 1MHzVce = 25V
注：1）hFE≤40各档，其误差不错过一20%：1≥40各档，其误奈不超过±10%。2引用文件
GB4587双极型晶体管测试方法
GB7581半导休分立器件外形尺寸GR 33
半导体分立器件总规范
GJB128半导体分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项要求应按GJB33积本规萨的规定，3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计，结构和外形尺寸应按GIB33和本规范的规意3.2.1引出线材料和涂层
1c =1. 34
TKAONKAca
SJ 50033/16-94
引出线材料应为可伐，引出线表面应为锡层或锦层。对引出线涂层有选择要求时，在合同或订货单中应子规定。
3.3标志
器件的标志应按GJB33的规定。
4质量保证规定
4.1袖样和检验
抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。4.2鉴定检验
鉴定捡验应按GJB33的规定。
4.3筛遗（仅对GT和GCT级）
器件的筛选应按GJB33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表1规定极限值的器件应卡剔除，筛
（见GJB33的2)
7.中间参数测试
8、功率老化bzxz.net
S.最危测试
4.3.1功率老化条件
动率老化条件如下：
T =162. 5-12. 5 C
Ve = 25V
Frot250w
4.4质量一致性检验
ror和rl
GT和 GCT级
按本规范表1的A2分：
Aco≤初始值的10G%或200pA，取较大者。2AFF:初始值的=20%
质量一致性检验应按JB33的规定进行。4.4.1A组检验
A组检验应按GJB33和本规范表1的规定进行。4.4.2B组检验
R组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。4.5检验方法
检验方法应按本规范相应的表和下列规定。4.5.1脉冲测试
脉冲测试应按GJB128的3.3.2.1的规定。3
SJ 50033/16—94
热阻测试应按GB4587的2.10和下列规定。a加功率时的1=:1.3A；
Ver —25V
基准温度测试点应为管壳：
d、基准点温度范围为25C≤Tc≤7C，实际温度应记录：安装应带散热装置；
fk-n的最大极限值应为1.5C/W。4.5.3C组寿命试验
C组寿命试验应按JB33和本境范的规定进行。4.5.4慎定加速度
恒定加速度试验应挺GJB33和本规范的规定进行表 1 A 组检验
GB4587
检验或试验
A1分组
外规及机械检验
A2分组
集电极一发射极
击穿电压
3DK3C7A
3DK3G7B
3DK307C
3DK307D
3DK307E
3DK307G
发射极一基板
击穿电压
集电授一基极
截止电流
集电极~发射极
截止电流
发射极基极
截止电流
集电极一发射极
佐和电压
GJB 128
本规范
附录 A
2. 9. 2. 2
发射极一基极开路
Ic=5mA
集电极一基极开路：
Ir—Em4
发射极--基极并路;
Ven Vmo
发射极一基极开路；
集电校·基极开路；
1e = 2. 5A
1s = 0. 5A
Yuea Fn
VARR ENO
TrKAONKAca-
检验或试验
基极一发射极
饱和电压
正向电流传瘤比
A3分组
高温作
柴电敏一基极
整止电流
低温工作
正间电流传输比
A4分组
输出电案
导通时间
贮存时间
下降时间
A5分组
安至工作区
（直流）
试验2
试验3
试验4
3DK307A
$3 50033/1694
续表1
GB4587
Ic = 2. 5A
Ia—0.5A
Ver Jov
Ie =2. 5A
TA =12515 0
发射极一基极开路
VcR 0. 7V
Tx =-55C
Vcz l0V
Ie =2. 5A
脉冲法（见4.5.1)
Vcn --10V
In —0.754
Te =2. 54
InL — 0. 5A
IH - --0. 75A
Ie = 2. 5A
Ie: = 0. 5A
IBg -: —0. 75A
T =25 c
t=1R,单次
Vek—20V
Ic 5. 0A
Ver =25V
Ic -+. 0A
Vea r6ov
f =3. F8A
Vee- 100V
fr-33A
LTPD：符号
极限值
捡或试验
DK307F
3DK307C
3DK307L
3DK307E
3DK307F
3DK307G
最后測试
检验或试验
B1分组
可恒库
标志耐久性
132分组
热冲击(温度循环)
a.纸检痛
6,粗检漏
最后须试
3分组
稳态T件寿命
最后测试
乃4分组
开内部目捡
（设计核实）
键合强度
136分组
高福寿的(不工作)
最烂源试
SJ 50033/16—94
G13 4587
Vee = 450V
I =27A
VuE 500V
Ie -23mA
Ve =550V
f-I9ruA
Ver - t00V
-17mA
Vs 700V
—13mA
YeR = 800V
Ic =IUmA
现步鞋1和3
表 2 B组检验
GJR 128
低温5E C
其余条件见减验条件 F
试验条件H
试验条件F
用表4步乐13
T, =132. 5=12. 5 (
Vee = 25V
见表4北骤2和
试验件A
TA-175C
比安豫和1
降批:个件，
0吴效
2:(:--0)
TKAONKAca-
检验或试险
Ci分组
外形尺寸
C2分望
热冲击
(玻瑙应力）
引出慌弱度
&、细睑
b,粗捡漏
综合湿度/源度周期
最后溯斌
C3分组
变频振动
恒定加速度
最后测试
C4分组
盐气（侵迪儿适月时）
C6分起
稳态工作寿命
最后测试
C8分组
GB458?
SJ 50033/16 -94
表3C组检验
GJB 128
见图！
试验条伴B
试验条件 A
试验涤件F
试验条件 F
贝表4步骤1和3
按总规范
按总规范
接总规芯
T,162.5±12.5C
e =icoc
VLe— 25V
见表4步骤2和4
Ya=25V
I:= 1. 3A
表 4 A 织、B 组和 C 组最后测试GB4587
集电板一整极载上电流
集电极·基极趣上电流
发射级基授开路
Ve--Veb?
发射极一基极开路
VeeVeri
正向电液传输比
正向电流专输比
5J 50033/16--94
续表4
GB4587
Vi:—IGV
Vee=10V
注：1）本测试超过A组极限值的器牛大应接收。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33的规定，
5.2贮存要求
存要求应按GJB33的规定。
5.3运翰要求
运输要求应按GJB33的规定。
6说明事项
6.1合同或订货单可规定要求的引出线析料知涂层（见3.2.1)。6.2如使用单位需要时，典型特性曲线等可在合同或订货单中规定6.3直流安全工作区（见图2)。
初始值的
rKAoNiKAca
3DK307
EDK30C
3DK3G7D
3DK307F
3DK307G
SJ 50C33/16-94
3050 80 100200400
集电极一发射磁电压Vrg（V）
图23DK3C7卓流安全L作区
A1目的
SJ50033/16—-94
附录A
集电极一发射极击穿电压测试方法(外充件）
本测试的目的是为了在规定的条件下，确定晶体管的击穿电压是否人于规定的最低极限A2测试电路
电压源
注：在避试电流时，电流表的接头之间实际上可看成短路，或对电压衰读数作因电流表压降的校正图A：集电极一发射极击穿电压测试电路A3测试步骤
限流电阻R：应足够大，以避免过渡的电流流过晶体管和电流表。施加规定的偏置紊件，增加电压直到规定的测试电流。如果在规定的测试电流下所加的电压大于V汇o的最低极限，晶体管为合格。本测试方法企图表现晶体管的负阻士穿特性，在这种情况下，必须使晶体管的集成电极电流及结温保持在安全值以内。
A4规定条
环境温度T：
b.测试温度I。
附加说明：
本规范由中国电子标准化研究所归口。本规范由衡阳市晶体管！负责起草。本规范主要起草人：夏贤学、欧阳决和计划项日代号：H90100、H90100210
rKAONiKAca
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