SJ 50033.18-1994 半导体分立器件 2CZ73型硅开关整流二极管详细规范 SJ50033.18-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准SI50033/18--94
半导体分立器件
2CZ73.2CZ74、2CZ101、2CZ75型硅开关整流二极管详细规范
1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批雅·中华人民共和国电子行业军用标准半导体分立器件
2CZ73型硅开关整流二极管
详细规范
Semicondurtor discrete devlceDetail speciriratinn for silicon swicth-rectirlerdiude for type 2cz73
1范围
1.1 主题内容
SJ 50033/18-94
本规范规定2CZ73型硅开关整流一极管（以下简称器件)的详组要求，1.2 适用范围
本范适用丁器件的研制、生产和采离。1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。1.3.1器件的等级
按GJB33&半导休分立器件总规范>1.3条的规定，提供的质量保证等级为普军、特军和超特军三级，分别用字母GP,GT和GCT表示。2引用文件
GR4G23-86半导位分立器件第2部分：整流二极管GR6571一85小动率信号二极管，稳压及基准电压二极管测试方法GB7581—87半导依分立器件外形尺寸GJB33—85半导优分立器件总规范GJB128—86半导位分立器件试验方法3要求
3.1详细要求
各项募求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构和外彩尺小
设计、结构和外形尺寸应按GJB33和八规范图1的规定（见6.3条）3.2.1引出端涂悬
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布19941201实施
TKAoNiKAca-
SJ 50033/18—94
引出端表面镀锡。对引出端涂层另有要求时.在合同戒订货总中规定（见6.3条）。3.2.2器件结构
在芯片的两面和引出端之间采冠高温冶金合结构。3.2.3外形尺寸
外形尺寸应符合GB781的C101A型，见图1，W
图1外均图
C1-01A
3. 3最大额定值和土要电特性
3.3.1最大额定值
$J 50033/78-94
Te-75 C
注1)当T：超过75℃时.按1心mA/C线性降翻（见图2)，L(A)
图2温度降额曲线
主要电特性（T:=25C）
Im=12A
3.4电测试要求
Ve= 600V
Te=100
Ve 600V
电测试应符合GB4023和GB6571及本规范的规定3.5标志
55-150
Ve- 10V
RL=750
标志应符合G.B33和本规范的规定。型号标志可不限丁一行内。3.5.1极烂
器件的极生应采用二极管符号\4质量保证规定
4.1推样和检验
斗。袭示，简买指向为负极端。To
53 --175
低气压
TTKAONKAca
SI 50033/18-94
油样和检验程序应按GJB33和本规范的规定。4. 2鉴定检验
鉴定检验应按GJB33的规定
4.3筛选(仪对GT和GCT级）
筛逃应按GJB33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1进行,超过本规范表1极限值的器件应子剔。
筛选（JB33表2）
3热冲击
B电老化
.9a最后测试
4.4质一致性检验
测试或试教
除低温为－55C外，其余同试验条件FTi-75-1C Yo-124 VR—800V F=50Hz 正弦学波本现范表1的2分组
AFR=初始值约100%或+2uA.段较人者，aVF- ±0. 2V
质量一致性检验应按GJB33的规定。4.4.1A 组检验
A组检验应按GJR33和本规范表1的规定进行，4.4.2B组检验
B组检验应按GJB33和本规范表2的规定进行。最后测试和变化量（4）的要求应按本规范表4相应步的规定，
4.4.3C组检验
C组检验应按GJB33和规范表3的规定进行。最尽测试和变化量（△）的婴求应按本规范表1村应步骤的规定，
4.5检验和试验方法
验和试验方法应按本规范应的表和如下规定。4.5.1稳态工作孝命
在器件的反向施加规定的正弦半波峰值电玉，接誉在正问施加现定的正弦当波平均整流电流，整流电流的正向寻通角应不大于180°.不小于150°。4.5.2脉存测试
脉冲测试条件应按G3B128的3.3.2.1条的规定。4.5.3浪通电流
在规定的温度下，对器件璇加规定正向(不重复)浪滑流。4.5.4热
热阻测试应按GB4023中的2.2.3条的定。检酸或试验
A1分组
外观及机械检验
A2分组
正向电玉
度向电流
A5分组
高温T作
正向电压
反问电流
低温工作
正向电压
A4分组
反向恢复时间
A6分组
浪清电流
最后测试
检些或试险
B1分组
可焊长
标志的驸久唑
B2分组
热浒击
a细检
GIB128
IV-1. 2.
[v-1. 2. 1
1 v-1. 2. 3
rv-1. 2. 3
GE 6571
2. 1. 4. 2. 2
匹六规范
SJ 50033/18—94
表 1 A组检验
GR 4023
见图1
I=:2A ,=300μs
占空因数≤2%
Yr- G00V
Te= 100 ℃.
Im=124 5=300μs
占空图数≤2%
Vr=600V
Te--55℃
Tm=12Atp=300S
占空因数≤2%
Ip=50mAVa=oV
R_-=750
Tesm--200A
f,=1Cms
周被数与浪痛次数为1
按表 4,步骤 1、2
表2B组检验
GJB128
焊接停留时间=10+15
LTPI符号
极跟值
最小值最大道
除低温—55℃外,其余同统验条件 F-1试验条件H
rKAONKAca-
检验或试验
。粗捡
最后测试
B3分组
稳态工作表命
最后测试
B4分组
开帽内部捡验
B6分组
畜温寿俞
（非工作状态）
最后測试
检验或试验
C1分组
外形尺寸
C2分组
热润击
引出端殖度
A细检漏
b检漏
综合温度/湿度
周期试验
外观及机械检验
最后测试
C3分组
SJ 50033/18—94
续表2
GIB 128
试验案件C
按裁1,步1和2
Te-75-C
10=12AVi-300VJ=50H2正弦半波
按表4步骤1、2和3
按表 1,步骤=,2 和 3
表5C组检验
见图！
试验务件B
试验条件 Ds
转1.ON·m
时10～55
试验条件11
试验茶件C
按表 4,心骤1和 2
a=1470(m/s
冲言方向次数：
x,,Z每闯次
L.TP符号
每批-*个器
件/0实效
极限值
录小俏最大值
检验或试骗
变频报动
有定加这度
最危测试
C5分组
（适润时)
低气店
试验期间测
试反向电流
C6舒组
稳态二作寿命
龄后測试
C7分红
G34023
检验或试验
正间电主
反向电流
反向电流
$J 50033/1894
GJB125
非工作状态
加速变98000m/g
按表4.步1和2
气压（见本规范3.3.1条）
Va- 600V
Te-75 3C
1:-12A Vr=60CV
=50Hz正弦半波
按表 4,步骤 1、2和 3
表 4A,B、C组检验的电测试
GB4023
[V-1. 2. 3
IV-1. 4.1
IV-1. 4. 1
Iru =2A
4-300μS
占密内数≤?%
Ys=60V
Va600V
注;1)本测试超过 A 组极限值的器件不应接妆。5交货准备
5.1包装要
包装要求应符合GJB33的规定。
5.2忙存要求
贮存要求应符合GJB33的规定。
5.3运输要求
运输要求应等合G[B33的规定。
般小值
最下值免费标准下载网bzxz
极限值
初始值的100%或
±2μA.取较大者
TTKAONKAca-
6说明事项
6.1预定用途
SJ50033/1894
符合本规范的器件供新设备和现有的后保障用。6.2订货资料
合同或订货单应规定下列内窃：本规范的名称和编号；
b.等级(见1.3.1)；
c.数量，
d。需要时，其他要求
6.3对引叫山端涂层有特殊要求时，应在合同或订货单中规定（见3.2.1条）。如使用单位需要时，典型特性曲线等可在合间或订货单巾规定。附加说明：
本规范由中国电子技大标准化研究所归口。本规范由人七三厂起草。
本规范主要起草人，彭琳、刘东才、金贵永。计划项目代号：B11028
YIKAONIKAca-
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