SJ 50033.137-1997 半导体光电子器件 GF216型橙色发光二极管详细规范 SJ50033.137-1997 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5980
SJ 50033/137-97
半导体光电子器件
GF216型橙色发光二极管
详细规范
Semiconductor optoelectronic devicesDetail specification for orange--redlight emitting diode for type GF2161997-06-17发布
1997-10-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件
GF216型橙色发光二极管详细规范Semiconduclor optoelectronic devicesDetail specirication for orange-redlight emitting diode for type GF2161范围
SJ50033/137—97
1.1主题内容　
本规范规定了军用GF216型橙色发光二极管（以下简称器件）的详细娶求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
1.3.1器件的等级
按GJB33-85（半导体分立器件总规范>的规定，提供的质保证等级为普军级（GP)、特军级(GT)二级。
2引用文件
GR 11499—89
GJB 33—85
GJB 128-B6
SJ 2355—83
GR/T 15651--95
3要求
3.1详细要求
半导体分立器件文字符号
半导体分立器件总规范
半导体分立器件试验方法
半导体发光器件测试方法
半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件各条要求应按GJB33和本规范的规定。3.2设计、结构与外形尺寸
器件的设计、结构应按GJB33中3.5.1.3.5.3,3.5.4和3.5.7条及本规范的规定。外形尺寸符合本规范图1的规定。
3.2.1管芯材料
管芯材料为磷砷化镓。
3.2.2外形尺寸及引出端识别（见图1)中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布1997-10-01实施
TYKAOIKAca-
3.2.3封装形式
SJ50033/137-97
金膚/玻璃透镜空腔封装，见图1。3.2.4引线长度
单位：mtm
可按合同的规定（见6.2条）提供引线长度不间于规范图1规定的器件。3.3引线材料和引线镀涂
引线材料为可伐,引线镀金,也可按照台同规凝(见6.2条)。3.4最大额定值和主要光电特性
3.4.1最大额定值(见表1)
注;J)脉冲宽度 0.1ms,占空比 1/ L0,3.4.2主要光电特性（见表2,Tamb=25℃）2
- 55 ~100
- 55~·125
发光强度
正向电压
峰值发射波长
光谱辐射带宽
反向电流
半强度角
3.5标志
SI50033/137-97
I,=10mA,8=0
If=10m4
Ip=10mA
Ig=10mA
Ir=10mA
标志应符合 GJB 33 中 3.7 条的规定。4质量保证规定
4.1抽样和检验
期样和检验应按GJB33和本规范的规定。件
4.1.1表4A1分组进行检验和试验的器件可以用于A2.A3、A4分组的检验和试验，通过A组检验的器件，可以作为B组和C组检验和试验拙样的册体。4.1.2在做C组检验中的寿命试验时，制造厂有权选择已经过340b的B组寿命试验的样品再进行660h的试验，以满足C纽筹命试验[000h的要求。4.1.3表6C1分组进行检验的器件，如果光电特性符合A2、A4分组的要求则可以用于C2分维的检验和试验。
4.2筛选（仅对GT级）
筛选的步骤和茶件应按GJB33和本规范表3的规定。表3筛选的步骤和条件（仅对GT级）步骤
检验和试验
内部目检
（封帽前）
商识寿命
（煜度循环）
！定加速度
细检漏
GJB128
Tstg = 125t,1= 24h
除低温 T=-sst
循环 20 次外.其余按
试验条件 B
Y，方向，196000m/s
a.试验条件 H
最大漏率=5×10-3
极限值
芯片完整
电极完整
TTKAONKAa
检验和试验
粗检漏
高温反偏(不适用)
中问光电参数测试
正向电压
反向电流
发光强度
电老炼
(正向偏置）
最后测试
（老化后96h内完成
全部参数测试)
正向电压变化量的
绝对值
发光强度变化慢的
绝对值
10！密过(不要求）
11外观及机械检验
4.3鉴定检验
SJ 2355.2
SI 2355.2
SJ 50033/137-97
续表3
GJB 128
b. 试验条件 C,氧油、
Ig=10mA
Ig\[0mA, =0°
GB/T 15651
GE/T 15651
Jg= 30mA, t = 96h
p=10mA
Ig= 10mA, 0=0
打标志之后进行
鉴定检验应按GB33和本规范表4、表5和表6的规定。4.4质量一致性检验
极限值
20%1VDjmod
无裂纹、无明显
锈蚀，无摄坏，
标志清晰
质量一致性检验应包括A组（见表4)、B组（见表5)和C组（见表6)4+规定的检验和试验，以及下顾的规定。
4.4.1C组检验应在初始批时开始进行，然后在连续生产过程中每隔6个月进行一次，4.4.2如果合同中已作规定（见6.2条），制造厂应将质量一致性检验数据连同产品一起提供。
4.5检验和试验方法
捡验和试验方法按表4、表5、表6和表7的规定。检验或试验
A1分组
外观及机械
A2 分组
正向电压
反向电流
发光强度
A3分组
正向电压
反向电流
A4分组
峰值发射波长
光谱辐射带宽
半强度角
撤验或试验
31 分组
可煤性
标志耐久性
B2分组
热冲击免费标准下载网bzxz
(温度循环）
a.细检漏
b.粗检漏
最后测试
133分组
稳态工作寿命
最后测试
GJB128
SJ50033/137-97
A组检验
GB/T 15651
SI 2355.2
GB/T15651
GB/T 15651
除非另有规定：
Tamb=25c
Ir=10mA
Ip=10mA,9=0°
Tamb= -55t
Ip=10mA
:Tamb=100℃
Ip\10mA
In+10mA
Ir=10mA
表5B组检验
GJB128
按本规范3.5条
无裂纹
无明显锈蚀
无损坏
除低温T=55C，循环2次外，其余按试验条件 B
a.试验条件 H,最大漏率
5×10*3Pa.cm*/s
L.试验条件C,氧油,125℃
表7步骤1
fg=30mA,=340h
表7步骤2
LTPD或
TKAONKAa-
B4分组
检验或试验
开帽内部观检
(设计验证）
键合强度
B5分维
(不适用）
B6分组
高温寿命
(不工作)
最后测试
检验或试验
外形尺寸
热冲击
（豉璃应）
引出攀强度
a.绍检端
b.粗检漏
综合温度/湿度
周期试验
升观及机械
最后测试
C3分组
变频振动
恒定加速度
最后测试
SJ 50033/13797
续表5
GIB128
采用封幅前的样品
采用封恨的样品
T= 125℃, 1=340h
表7步2
表6B组检验
GJB128
我本规范图！
试验条件 A
试验条件E
a.试验条件H.最大调率=5×10-\Pa.cm/sb.试验条件c.氟油，125c
省略初始条件
无裂纹.无明显锈蚀，无损坏
表7步骤1
不工作，按14700m/s，0.5ms
在Y,方向上冲击5次
Y，方向，196000m/s，1min
表7步骤1
LTPD或
20(=0)
C4分组
检验或试验
（不适用
CS分组
（不适用）
毯态工作寿命
最后测试
C7分组
高溢寿饰
（不工作）
最后测试
正向电压
反向电流
发光强度
正向电压
反向电流
发光强度
SJ 50033/137-97
续表6
GJB128
SI 2355.2
SI 2355.3
GB/T 15651
GB/T 15651
Ir = 30mA, t = 1000h
表了步骤2
Ta=125℃. t= 1000h
表1步2
B组和 C组的测试
Ir=10mA
Vr= 6V
Ip=10mA
Jr= l0mA
Ig=10mA
注:1)对本试验超过A2分组极限值的器件不能向用户提供。5交货准备
包装应符合GJB33的要求。
6说明事项
6.1预定用途
可用于各种军事仪器设备中的显示器，也可用于其它各种民用电子仪器设备中的显示器和捐示器。
6.2订货文件内容
本规范的名称与编号：
器件的型号和等级；
TTKAONKAa-
C．数量：
SI 50033/137-97
d，如果引线不是镀金，应规定镀层（见3.3条）；如果引线长度不同于图1，应规定引线长度（见3.2.4条）：e.
f．检验数据见4.4.2条)。
g．如果订货文件要求，应提供器的特性曲线。6.3定义和符号
本规范使用的定义和符号应按GJB33、GB/T15651.GB11499以及下列规定；：光电探测器轴线与器件机械轴之间的夹角。[VD:单个器件的初始值。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。本规范由长春市半导体厂负责起草。本规范主要起草人：陈兰，曹篦广，石淑华。计划项目代号：B51009。
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