SJ 50597.18-1994
基本信息
标准号： SJ 50597.18-1994
中文名称：半导体集成电路JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50597.18-1994 半导体集成电路JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)详细规范
SJ50597.18-1994
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597/1894
半导体集成电路
JT54LS33型LS一TTL 四2输人或
非门(OC)详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JT54LS33 LS-TTLquadruple 2-input NOR gates with opcn--collector outputs1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JT54LS33型LS-TTL四2输人或
非门(OC)详细规范
Semicondurtur integrated circuitsDetail speclfication for lype JT54LS33 LS-TTLquadruple 2-iaput NOR gates wlth open-collector outputs1范围
1.1主愿内容
SJ 50597/18--94
太规范规定了半导体集成电路JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)（以下简称器件>的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和米购，1.3分类
本规范给出的器件按證件型号、器件等级，封装形分类。1. 3. 1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
JT541.533
1.3.1.2器件等级
器件名称
四 2 摘人或非[(OC)
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B.级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB7092《半导体巢成电路外形尺寸》的规定。封装形式如下：
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
YrKAOKAca
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定直如下：
电源电压
输人电压
存温度
引线耐焊接温度（10S）
SJ 50597718—94
好代号
C20P3（陶瓷无引线片式载体封装）D16S3陶瓷双列封装）
F16X2(陶瓷瓶平封装）
H13X2（瓷熔封编平封装）
J13(陶瓷熔封双列封装
注：1)器件应能经受测试输出短路电流(1og时所增加的功耗道
2)除按GJB548微电子暨件试验方法和程序方法50m4老化筛进条件外.不得超过最大结温。1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输人高平电片
输人低电平电压
输出低电平电流
工作环境湿度
引用文件
GB 3431. 1—82
GB 3431. 2—36
GB 3439--82
GB 4590—84
GB 4728. 12--85
GB/T 7092--93
半导体集成电路文字符号
自参数文字符号
半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTL电路测试方达的基本京理半导体集成电路机械和气候试验方法自气图用图彤符号二进制逻单元半导体集咸电路外形尺寸
GJB 548—68
GB 597--83
GJR 1649—-93
3要求
3.1详细要求
SI50597/1894
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放目控制大纲
各项要求应按GJB597和本规范的规定，本规范规定的B,级器件仅在产品保证规定的筛选，鉴定和质单一致性检验的某些项和要求不同于B级器件。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸按GJB579和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。遇辑符号、逻辑图符合（GB4726.12的规定。引出端排列为俯視图。逻辑符号
引出端排列
(D型)
逻辑图（1/4）
(C型）
图1逻辑符号、逻辑图和引出端抵列注：F、H.J型封装的引出端排列同13型封装。3.2.2功能表
功能表如下：
JT54LS33
-TrKAONiKAa-
3.2.3电路图
S.I 50597/18-94
H·高电华
「。低电平
制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图监定机构行档备查。3. 2. 4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规案。3.3引线材料和涂覆
3.4电特性
电特性应符合表1的规定
表1JT54I.S33电特性
翰出高电平电压
输出低电平电压
输入钳位电乐
输人高电平电流
最大输入电乐下的输
人电流
输人低电平启流
电源电
输出用低电平到高电
平传延返时间
输出出高电平到低电
平传输延迟时间
冲：1)完整的测试条件列于表3。3.5电试验要求
若无其地规定，-35T，125c
Va=4. 5V,Vo=5.5V
Vn.=0.7V,VH=2.0V
Vcc -- 4. 5V,Ica.=12mA
Va.=n.7V.Vm=2. 0V
Vce-4.5V,I=-18mA
Ta= 25 C
Vec = 5. 5V, V1 =2. 7V
Vec 5. =V
Ye. -5. 5V, V, =0. 4V
Ve. - 5. 5V, V. -4. 5V
Ve -5. 0V,Ci=45pF
RL=657Q=5%
Vo - 5. 0V,Ci. - 45μF
RL --5670±5%
器件的电试验要求应为交规范表2所规定的有关分组，各个分组的电测试按表3的规定。须目
中间(化前)电测试
中间(老化后)电测试
录终电测试
A组试验要求
已组终点电测试
C 组检验增加的分组
D组终点电测试
SJ 50597/1B94
表2电试验要求
E级器件
A2,A3.A7,A9
A1,A2.A3.A7.A9,A10.A11
A11A2,A3
不要求
注：1)该分组要求PDA计算（见本规范第4.2条）组（见表3）
BI级器件
A3.A3.A7,A9
A1,A2,A3,A7,A9
A10,A11
表3JT54LS33电测试
引用标准
GB 343G
2. 11 条
（若无其他规定，TA-25C）
Vce=.. =V,Vn -c.'rv,V-,-- 2. 0VV5=3. 5V
V--4.5V.Vu-2.0V,Vu-0.7V,
Irt * 12mA
Vcc=4.5V.被测输人端Ik=-18mA
Vcc=5.5V.被测敏人剂Vr=7.UV，其余输人Vi-oV。
Vc=5.5V,被输人端V,=2.7V
其余输人端Vi=V
Vc=5.5V,被测人端V,-0. 4V,
其余输人端V=5.5V。
V= 5. 5V,A 输入端 Vi-0V.
B 输人端 Vt4. 5V,输出端开路。A21TA=125C，除Vi不测外，参数、条件、规范值均同A1分组。As
TA·5JC，除VIk不测外，参数，条件、规范值均AI分组、Vα=5V,接功能我进行。
Vα: = 5. 0V ,( : = 15pF ±10%Kl,= 667±5%
见本规范国
Ta-125 C
测试条件同 20分组。
T=-55C，测试条件.参数和范值司A10分组。规范值
-TrKAONTKAa-
腹功能栽
嵌测端接负载
SJ 50597/18-94
测试点vec
图2测试线路和波形图
注：输人脉冲应具有下列特性w=50Cnsit≤15ms≤nf≤1MHz3.6标志
标志应按GJB597筹3. G条的规定。3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第9微电路组(R.GIB 597 附录E)。4质量保证规定
4. 1抽样和检验
本规范另有规定外,拍样和检验程序应按GJB597和 GJB 548方法 5005的规定4.2筛选
在鉴定和质量致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选程序
若无其他现定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法条件和要求
筛选项目
内部目龄
稳定性供焙
（不要求婆
点电测试)
温度循环
恒定加速度
中间（老化
前)电测试
2010试验条件B
试验条作心
(温度：150
时间：24h）
试验涤件C
试验条件E、
YI方可
本规范 A1分组
级器件
试验条件 B
试验条件C
（温变：150C
时间：24n）
试验条件 C
试验条件 D.
Yi方向
规范AI分组
可月左法10:1试验条件A替
试验后进行月检，引线断落。
外变破裂,封盖脱落为失效。
由制造选择是否进行
筛选呗目
中间（老化
忌)电测试
PDA计算
最终电测试
外部日检
鉴定试验或质
量一效性检验
试验样品的选
SJ 50597/18—94
续表4www.bzxz.net
件和要交
B级器件
试验条件 D
(盘度:133 ℃
时间：160
本规范 41分组
5%，本规范A1
分组。当不合格
品率不超过
20%时可重新
据交老化，但只
充许一次
本规范 A2.43
A7、A9分组
试验条件：
Al或A2
C1或C2
按规定
B级器件
试验条件D
（湖度：125℃
时间：160h）
本规范 A1分组
105，本规茫
A1分组。当不
合格品率不超
过 20%时可重
新提交老化，但
只至许一次
本规范42.A3
A7、A9 分组
试验象件：
A1或A2
C1或C2
按规定
50053.5条
图3老化和寿俞试验线路图
注:()Vα-5. 0V;R =-100,R-1k0;R,-270。说
接本视范图 3线路或等效线路。若老化前未造行中间电测试则
老化后中间电测试A1 分组检出
的关效数也应计人PIIA内。
本项筛速后、若改变器件的引线徐兼或返工，则应再进行A1和
A7分试验
可在发资前按批进行：
TrKAONKAca-
②脉冲发生器特性要求，
SJ:50597/18—94
Vm=2.0--5.5VVm-.-0.5~0.7Vf-100kHz1空比=50%4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB597第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范 A、B,C和D组检验<见本规范 4.4.1~4. 4.4条)的规定。4.4质基一致性检验
质量致性检验应按GJB597第4.5录的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A,B,C和D组检验（划本规范4.4.1~4.4.4条)的规定：4. 4. 1 A 组检验
A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范表8的规定各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可委化意顾序进行，合格判定数(C)最大为2。表5A组检验
A1分纽
25C下静态测试
A2 分组
125C下静态测试
A3分组
～55℃下静态源试
A7分组
25℃下动能测试
A8分组
25V下并关测试
A10分组
125℃下开关测试
A11分组
—55℃下开关诞试
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。B级器件
,纵器件
D1~B5分组可用可一检验批中电性能不合格的器件作为样本。SJ 50597/18—94
表 B组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法急件和要求
B1分组
B2分组
抗溶性
3分组
矿焊性
134.分组
内部日检和机
械检育
B5分组
键合强度
超声埠
B2 分分组
《a)电测试
(L)静电改电灵
敏度等级
(r)电溯试
4.4.3C组检验
B级器件
按规定
按规定
BI级器件
煤接温度：：2022
245±5℃
按斌定
试验条件C
A1分组
A1分组
C组检验应接不规范表7的规定。或
接规定
按惑定
焊接温魔：
245150
按规定
试验条件C
适用时
表’C红检验
样品数（接收数）
15/(0)
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法条件和要求
C1分维
稳态命
终点电测试
B级墨件
1005试验条件D
湿度：125c
时间，Icoch
A1,A2,43分
级器件
流验条件D
温度，125
时间：：000h
Al,A2,A3分
L系对引线数
而亡,被试器件数应
多二 3个。
可布装工启的
内部三筛送后，随
机插取样品进行本
分组试验
仅在初始鉴定或产
品重新设计时完行。
样品数八接收数）
采用本规池
图3的线路
-rKAONKAca-
C2分组
湿度循环
恒定加速度
整点电测试
C3分组
125℃下开关测
C4分组
55 ℃下并关
SJ50597/18-94
续表7
条件和要求
组(见本规范
表2和表3
1010试险条件C
2G01试验条件E
Yi方向
1014试验条件：
AI或A2
按方法1013
的目捡判据
A1.A2,A3分
组(本规
范表2和表
不要求
不要求
4.4.4D纽检验
组（见本规范
表2和表3）
1010试验条件℃
2001试验条件D
Y，方向
1014试验条件：
A1或A2
iC:或C2
宽方送1010
的目梳判据
A1.A2,A3分
组(见本规
范表2和表
样品数/（接收数）
A10分组（见本规
范表2和表8）
A11分组（见本规
范表2和表 3)
D组检验应按本规范表8的规定，D1.D2,D5、D6、D7 和 D8 分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。表8D组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的减验方法牛和要求
D1分组
D2分9
引线牢固性
B级器件
2016按斑定
试验条件
B:（片式
B级器件
2016按规定
试验条件
栏品数/(接收数)
粗捡漏
[D3 分丝
热冲击
温度循
抗潮湿
细检漏
粗检漏
整点电測试
D4 分组
机械冲击
变频振动
慎定加速度
粗检漏
终点电测试
SJ 50597/18--94
续表8
条件和要求
R级器件
载体采用试
验条件)
试验条件：
Al战A2
C1或C2
就验条件B
15循环
试验杀件C
100次循环
片状囊体不
要求引线弯
曲应力的预
试验茶件：
A1或A2
C1或C2
按方法1004
和1010的
检判据
A1,A2.A3 分
组(见本规
范表2和表
2002试验条件B
2007|试验条件人
2.001试验条件E
Yi方向
试验条件：
AI或A2
C1或c?
按方法2002
知2037日
检判据
A1.A2.AF分
组（见本规
范表2和表
B级器件
兼体采用试
验条件D）
试验条件：
A1或A2
ici或c2
1011试验条件A
15次循环
1010试验条件C
10次循环
片状载体不
娶求引线弯
曲应力的预
试验条件：
A1或A2
C1或C2
按方法1001
和1010的目
控判据
A1,A2.A3分
组（见本规
范表2和表
2002试验条件 A
试验条件 A
试验条件D
[Y:方向
试验条：
A1或A2
C1或C2
按方法2002
和20C7的国
检判据
A1,A2.A3分
组(见本规
范表2和表
样品数！接收数)
B.级器性可
按GE458C第
时间：56d
B，级器件可
按GB4590
第 6条
展于133分
组的样品可
用在 D4分
TKAONKAca
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SJ 50597/1894
半导体集成电路
JT54LS33型LS一TTL 四2输人或
非门(OC)详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JT54LS33 LS-TTLquadruple 2-input NOR gates with opcn--collector outputs1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JT54LS33型LS-TTL四2输人或
非门(OC)详细规范
Semicondurtur integrated circuitsDetail speclfication for lype JT54LS33 LS-TTLquadruple 2-iaput NOR gates wlth open-collector outputs1范围
1.1主愿内容
SJ 50597/18--94
太规范规定了半导体集成电路JT54LS33型LS-TTL四2输入或非门(OC)（以下简称器件>的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和米购，1.3分类
本规范给出的器件按證件型号、器件等级，封装形分类。1. 3. 1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
JT541.533
1.3.1.2器件等级
器件名称
四 2 摘人或非[(OC)
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B.级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB7092《半导体巢成电路外形尺寸》的规定。封装形式如下：
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
YrKAOKAca
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定直如下：
电源电压
输人电压
存温度
引线耐焊接温度（10S）
SJ 50597718—94
好代号
C20P3（陶瓷无引线片式载体封装）D16S3陶瓷双列封装）
F16X2(陶瓷瓶平封装）
H13X2（瓷熔封编平封装）
J13(陶瓷熔封双列封装
注：1)器件应能经受测试输出短路电流(1og时所增加的功耗道
2)除按GJB548微电子暨件试验方法和程序方法50m4老化筛进条件外.不得超过最大结温。1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
输人高平电片
输人低电平电压
输出低电平电流
工作环境湿度
引用文件
GB 3431. 1—82
GB 3431. 2—36
GB 3439--82
GB 4590—84
GB 4728. 12--85
GB/T 7092--93
半导体集成电路文字符号
自参数文字符号
半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTL电路测试方达的基本京理半导体集成电路机械和气候试验方法自气图用图彤符号二进制逻单元半导体集咸电路外形尺寸
GJB 548—68
GB 597--83
GJR 1649—-93
3要求
3.1详细要求
SI50597/1894
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放目控制大纲
各项要求应按GJB597和本规范的规定，本规范规定的B,级器件仅在产品保证规定的筛选，鉴定和质单一致性检验的某些项和要求不同于B级器件。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸按GJB579和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。遇辑符号、逻辑图符合（GB4726.12的规定。引出端排列为俯視图。逻辑符号
引出端排列
(D型)
逻辑图（1/4）
(C型）
图1逻辑符号、逻辑图和引出端抵列注：F、H.J型封装的引出端排列同13型封装。3.2.2功能表
功能表如下：
JT54LS33
-TrKAONiKAa-
3.2.3电路图
S.I 50597/18-94
H·高电华
「。低电平
制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图监定机构行档备查。3. 2. 4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规案。3.3引线材料和涂覆
3.4电特性
电特性应符合表1的规定
表1JT54I.S33电特性
翰出高电平电压
输出低电平电压
输入钳位电乐
输人高电平电流
最大输入电乐下的输
人电流
输人低电平启流
电源电
输出用低电平到高电
平传延返时间
输出出高电平到低电
平传输延迟时间
冲：1)完整的测试条件列于表3。3.5电试验要求
若无其地规定，-35T，125c
Va=4. 5V,Vo=5.5V
Vn.=0.7V,VH=2.0V
Vcc -- 4. 5V,Ica.=12mA
Va.=n.7V.Vm=2. 0V
Vce-4.5V,I=-18mA
Ta= 25 C
Vec = 5. 5V, V1 =2. 7V
Vec 5. =V
Ye. -5. 5V, V, =0. 4V
Ve. - 5. 5V, V. -4. 5V
Ve -5. 0V,Ci=45pF
RL=657Q=5%
Vo - 5. 0V,Ci. - 45μF
RL --5670±5%
器件的电试验要求应为交规范表2所规定的有关分组，各个分组的电测试按表3的规定。须目
中间(化前)电测试
中间(老化后)电测试
录终电测试
A组试验要求
已组终点电测试
C 组检验增加的分组
D组终点电测试
SJ 50597/1B94
表2电试验要求
E级器件
A2,A3.A7,A9
A1,A2.A3.A7.A9,A10.A11
A11A2,A3
不要求
注：1)该分组要求PDA计算（见本规范第4.2条）组（见表3）
BI级器件
A3.A3.A7,A9
A1,A2,A3,A7,A9
A10,A11
表3JT54LS33电测试
引用标准
GB 343G
2. 11 条
（若无其他规定，TA-25C）
Vce=.. =V,Vn -c.'rv,V-,-- 2. 0VV5=3. 5V
V--4.5V.Vu-2.0V,Vu-0.7V,
Irt * 12mA
Vcc=4.5V.被测输人端Ik=-18mA
Vcc=5.5V.被测敏人剂Vr=7.UV，其余输人Vi-oV。
Vc=5.5V,被输人端V,=2.7V
其余输人端Vi=V
Vc=5.5V,被测人端V,-0. 4V,
其余输人端V=5.5V。
V= 5. 5V,A 输入端 Vi-0V.
B 输人端 Vt4. 5V,输出端开路。A21TA=125C，除Vi不测外，参数、条件、规范值均同A1分组。As
TA·5JC，除VIk不测外，参数，条件、规范值均AI分组、Vα=5V,接功能我进行。
Vα: = 5. 0V ,( : = 15pF ±10%Kl,= 667±5%
见本规范国
Ta-125 C
测试条件同 20分组。
T=-55C，测试条件.参数和范值司A10分组。规范值
-TrKAONTKAa-
腹功能栽
嵌测端接负载
SJ 50597/18-94
测试点vec
图2测试线路和波形图
注：输人脉冲应具有下列特性w=50Cnsit≤15ms≤nf≤1MHz3.6标志
标志应按GJB597筹3. G条的规定。3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第9微电路组(R.GIB 597 附录E)。4质量保证规定
4. 1抽样和检验
本规范另有规定外,拍样和检验程序应按GJB597和 GJB 548方法 5005的规定4.2筛选
在鉴定和质量致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选程序
若无其他现定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法条件和要求
筛选项目
内部目龄
稳定性供焙
（不要求婆
点电测试)
温度循环
恒定加速度
中间（老化
前)电测试
2010试验条件B
试验条作心
(温度：150
时间：24h）
试验涤件C
试验条件E、
YI方可
本规范 A1分组
级器件
试验条件 B
试验条件C
（温变：150C
时间：24n）
试验条件 C
试验条件 D.
Yi方向
规范AI分组
可月左法10:1试验条件A替
试验后进行月检，引线断落。
外变破裂,封盖脱落为失效。
由制造选择是否进行
筛选呗目
中间（老化
忌)电测试
PDA计算
最终电测试
外部日检
鉴定试验或质
量一效性检验
试验样品的选
SJ 50597/18—94
续表4www.bzxz.net
件和要交
B级器件
试验条件 D
(盘度:133 ℃
时间：160
本规范 41分组
5%，本规范A1
分组。当不合格
品率不超过
20%时可重新
据交老化，但只
充许一次
本规范 A2.43
A7、A9分组
试验条件：
Al或A2
C1或C2
按规定
B级器件
试验条件D
（湖度：125℃
时间：160h）
本规范 A1分组
105，本规茫
A1分组。当不
合格品率不超
过 20%时可重
新提交老化，但
只至许一次
本规范42.A3
A7、A9 分组
试验象件：
A1或A2
C1或C2
按规定
50053.5条
图3老化和寿俞试验线路图
注:()Vα-5. 0V;R =-100,R-1k0;R,-270。说
接本视范图 3线路或等效线路。若老化前未造行中间电测试则
老化后中间电测试A1 分组检出
的关效数也应计人PIIA内。
本项筛速后、若改变器件的引线徐兼或返工，则应再进行A1和
A7分试验
可在发资前按批进行：
TrKAONKAca-
②脉冲发生器特性要求，
SJ:50597/18—94
Vm=2.0--5.5VVm-.-0.5~0.7Vf-100kHz1空比=50%4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB597第4.4条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范 A、B,C和D组检验<见本规范 4.4.1~4. 4.4条)的规定。4.4质基一致性检验
质量致性检验应按GJB597第4.5录的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A,B,C和D组检验（划本规范4.4.1~4.4.4条)的规定：4. 4. 1 A 组检验
A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2，各分组的具体电参数测试按本规范表8的规定各分组的测试可用同一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可委化意顾序进行，合格判定数(C)最大为2。表5A组检验
A1分纽
25C下静态测试
A2 分组
125C下静态测试
A3分组
～55℃下静态源试
A7分组
25℃下动能测试
A8分组
25V下并关测试
A10分组
125℃下开关测试
A11分组
—55℃下开关诞试
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。B级器件
,纵器件
D1~B5分组可用可一检验批中电性能不合格的器件作为样本。SJ 50597/18—94
表 B组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法急件和要求
B1分组
B2分组
抗溶性
3分组
矿焊性
134.分组
内部日检和机
械检育
B5分组
键合强度
超声埠
B2 分分组
《a)电测试
(L)静电改电灵
敏度等级
(r)电溯试
4.4.3C组检验
B级器件
按规定
按规定
BI级器件
煤接温度：：2022
245±5℃
按斌定
试验条件C
A1分组
A1分组
C组检验应接不规范表7的规定。或
接规定
按惑定
焊接温魔：
245150
按规定
试验条件C
适用时
表’C红检验
样品数（接收数）
15/(0)
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法条件和要求
C1分维
稳态命
终点电测试
B级墨件
1005试验条件D
湿度：125c
时间，Icoch
A1,A2,43分
级器件
流验条件D
温度，125
时间：：000h
Al,A2,A3分
L系对引线数
而亡,被试器件数应
多二 3个。
可布装工启的
内部三筛送后，随
机插取样品进行本
分组试验
仅在初始鉴定或产
品重新设计时完行。
样品数八接收数）
采用本规池
图3的线路
-rKAONKAca-
C2分组
湿度循环
恒定加速度
整点电测试
C3分组
125℃下开关测
C4分组
55 ℃下并关
SJ50597/18-94
续表7
条件和要求
组(见本规范
表2和表3
1010试险条件C
2G01试验条件E
Yi方向
1014试验条件：
AI或A2
按方法1013
的目捡判据
A1.A2,A3分
组(本规
范表2和表
不要求
不要求
4.4.4D纽检验
组（见本规范
表2和表3）
1010试验条件℃
2001试验条件D
Y，方向
1014试验条件：
A1或A2
iC:或C2
宽方送1010
的目梳判据
A1.A2,A3分
组(见本规
范表2和表
样品数/（接收数）
A10分组（见本规
范表2和表8）
A11分组（见本规
范表2和表 3)
D组检验应按本规范表8的规定，D1.D2,D5、D6、D7 和 D8 分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。表8D组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的减验方法牛和要求
D1分组
D2分9
引线牢固性
B级器件
2016按斑定
试验条件
B:（片式
B级器件
2016按规定
试验条件
栏品数/(接收数)
粗捡漏
[D3 分丝
热冲击
温度循
抗潮湿
细检漏
粗检漏
整点电測试
D4 分组
机械冲击
变频振动
慎定加速度
粗检漏
终点电测试
SJ 50597/18--94
续表8
条件和要求
R级器件
载体采用试
验条件)
试验条件：
Al战A2
C1或C2
就验条件B
15循环
试验杀件C
100次循环
片状囊体不
要求引线弯
曲应力的预
试验茶件：
A1或A2
C1或C2
按方法1004
和1010的
检判据
A1,A2.A3 分
组(见本规
范表2和表
2002试验条件B
2007|试验条件人
2.001试验条件E
Yi方向
试验条件：
AI或A2
C1或c?
按方法2002
知2037日
检判据
A1.A2.AF分
组（见本规
范表2和表
B级器件
兼体采用试
验条件D）
试验条件：
A1或A2
ici或c2
1011试验条件A
15次循环
1010试验条件C
10次循环
片状载体不
娶求引线弯
曲应力的预
试验条件：
A1或A2
C1或C2
按方法1001
和1010的目
控判据
A1,A2.A3分
组（见本规
范表2和表
2002试验条件 A
试验条件 A
试验条件D
[Y:方向
试验条：
A1或A2
C1或C2
按方法2002
和20C7的国
检判据
A1,A2.A3分
组(见本规
范表2和表
样品数！接收数)
B.级器性可
按GE458C第
时间：56d
B，级器件可
按GB4590
第 6条
展于133分
组的样品可
用在 D4分
TKAONKAca
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