SJ 50597.19-1994
基本信息
标准号： SJ 50597.19-1994
中文名称：半导体集成电路JT54LS136型LS-TTL四异或门(OC)详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SJ 50597.19-1994 半导体集成电路JT54LS136型LS-TTL四异或门(OC)详细规范
SJ50597.19-1994
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597/19—94
半导体集成电路
JT54LS136型 LS-TTL 四异
或门（OC)详细规范
Semicanductar integrated circuitsDetail speciricalion for lype JT54LS136 LS-TTLquadruple exclusivc-or gates with npen-collector autputs1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JT54LS136型LS-TTL四异
或门(OC)详细规范
Seaiconductor integraterl circuitsDetafl specification fortype JT54LS136LS-TTLquadruple cxclusive-or gates with open-collector outputs1范围
1.1主题内容
SJ 50597/19-94
本规范规定了半导休集成也路JT54LS136型LS-TTL四异或门(OC)以下简称器件）的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下，
器体型号
JT54LS136
1.3-1.2器件等级
墨件名称
四异或阿((C)
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B,级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB7092半导体集成电路外形尺寸的规定。封装形式如下：
中华人民共和国电学工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
YrKAOKAca
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
辅人电压
忙存温度
功耗1
引线耐焊接温度（105）
SJ 50597/1994
外形代号
C20P3(陶瓷无引线片式载体封装）D.653(陶瓷双列起装）
F16X2（瀚瓷扇平划装）
H16X2（陶瓷熔封席平封装）
J:653(陶瓷熔封双列装）
注:1)器件应能经受测试输出短路电流(1os)时所增加的功耗。值
2)除变JB548微电于器件试验方法和程序方法5091老化筛选条性外，不得超过最太结温1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电玉
入高电平电压
输入低乎电正
输出低电平电流
工作环意湿度
2引用文件
GR 3431. 1—82
GR3431.2—86
GR3439—82
GB 4590—84
GB 4728. 12—85
GB/T7092—93
半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTI．电路测试方法的基云原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气逐用图彩符号二进制逻辑单元半导休策成电路外形尺』
GJB 548—88
GIR 597—88
GJB1549—93
3要求
3.1详细变求
SJ50597/1994
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放自控制大纠
各项要求应按GJB597和本规范的规定本规范规定的B，级器件仅在产品保证规定的饰选，鉴定和质量一致检验的某选项自和要求不同于B级器件。
3.2设计、结树和外形尺尘
设计、结构和外形尺寸按GJB597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列透辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。逻辑符号、逻辑图符合GB4728.12的规定。引出端排列为俯视图。逻辑符号
引出端排列
遵辑图（1/4）
图1＇逻辑符号、逻图和引出端排列注;F、HJ型封引出端接列同 D 型。3.2.2功能表
功能表如下：
TKAONKAca-
3.2.3电路图
SJ50597/19-94
H高平
低电平
制造厂在鉴定前应将电路图提交给签定机构。各制造厂的电路图由鉴定机构存档备查。3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂圈
引线材料和涂应按GJB597第3.5.6条的规。3.4电特性
电特性应符合表1的规定
1JT54LS136电特性
特、性
输出截止森电流
输出电平电压
输入销位电压
输入高电乎电流
最大输入电压下的输
人电谊
输人低自平电流
电源电筑
输出由低电平到高电
平传输延退时间
输出由高平室低电
平传翁延退时湖
JaroFr
注：二)完整的测试条件列丁表3。3.5电试验要求
(若无其他规定，—55≤T125
Vec- 4.5V,Vo-5. #V
Vn 0. 7V, VH- 2. 0V
Viy-1.5V.Io.=4mA
Vn.=0.?V,
Vee=4.5V,Ik=.--18mA
TA=25C
Ve =5.GV., V, =2. 7V
Vec - 5. 5V
V: -7. oV
Ve. -5. 5V. V: -C. 4V
Vec =5.5V
Vee =5. 0V, GL =15pH ±10%
Rr. -2kn--5%
V = 5. 0V, CL - 15pF
R: =2k±5%
器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。中问(老化前)电测试
山间(老化后)电划试
最终电视试
A 组试验要求
C组线点电测试
C 组检验增加的分组
1组终点电测话
SJ 50597/19-94
表2电试验要求
B级器件
A2.A3.A7:Ag
AI.A2.A3.A7.A9.A10.A11
不要求
注；i)该分组要求PDA计筛（见本规范第4.2条）。绍(见表3)
B,级器件
A2.A3.A7.AE
A1,A2,A3,A7.A9
A1C,AI1
表3JT54IS136电测试
分组符号
AlTowF
引用棕准
GR 5439
(若无其他规定,T—25C）
V..--4.5V,.-2.CV.V..-0.7V
Vec-2, $V.Vih--2. cV,Vi. --0. 7V,lor.=4mA
Vcc—4. 5V,被测输人端 1 k= ~18mAVc-5. 5V,被谢输人端 V: 一7. 0V,其尔输入端 Vi=0V，
Vcr=5.5V，被测输入端V=2.7V
其余输入端V=UV。
Ve=5.5V.被测输入端V,=5.4V，
其余榆人端V,-5.5V。
Vecm5.5V,A输人端Vt=0V.
B输入端 Vt=4.5V,输出璐开路。T。一125C.除 Vlk不测外,参数,条件、规范值均同 A1 分组T4
一55C.除V根不测外，参数、条牛、规范值均同A1分组按玖能表拦行。
VcL -5. 0V,C.= 15pF=10%
Ri2ko%
见本规范2
FA=125C
测试条件同A9分组，
—5C.测试条件、参数和规范值同A10分组。Ta=
规范盾
-TrKAONKAa-
披功能装
拨测端接供载
S.F50597/1994
潮诚点
图2开关测试线路和波形图
注：脉冲发生器应具有下列特性：t-500n,=15ms=5n8f1Hz
3.6标志
标志应接GJB597第8.6条的现定。3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第8微电路组（见GIB597附录E)4质量保证规定
4.1抽样和检验
jt PHE
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB59?和GJB548方法5005的规定4.2筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选程序
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法筛选项目
内部目检
稳定性烘焙
（不要求终
点电测试
温度循环
恒定加速度
条件和要求
B级器件
试验条件日
试验条件 C
(温度：150℃
时间，24h）
试验条件C
试验条件E，
Yi方向
B缀器件
左法！
试验条件B
试验条 C
《温度：150℃
时间：24h）
试验条件 C
试验条件D，
Yt方向
可用方法1011试验条件A替
试验后进行目检引线断落、
外壳酸裂、封盖脱落为失效。
筛选项目
中间(老化
前)电测试
中间（老化
后)电测试
PDA斗算
最终电测试
粗检漏
外部目检
鉴定或质量
一致性检验
试验样品的
SJ 50597/1994
续表4
杀件和
级，器件
本规范 A1分组
1015／试验条件D
(海度：125r
时间：169）
本规范 A1分组
5%,本规范 A1
分组。当不合格
品案不超过
20%时可重新
提交老化，但只
充许一次
本规范A2、A3
A7.A9分组
1014试验条件：
A1或A2
C1或C2
按规定
50053.5条
B级器
本就范 A1 分组
试验条仰D
(温度125℃
时间：180h）
本规范 A1分组
%，本规范
A1分纪。当大
合碎品率不超
过20%时可重
新提交老化，但
只允许一次
大规范A2、A3
A7,A9分组
试验条件，
AI或A2
CI或C2
按规定
由制造厂送择是查进行
按本视范图 3 线路或等效线
若老化前未进行中闫中测试。
剪老化后中间电测试A1外组
检出的失效数也应计入PDA
变项筛选示,若改变器件的引
线涂爱或返工·则应冉进行
A1和A7分组试验。
可老发货前接批进行。
图3老化线路和寿命试验线路图
TTKAONKAca-
SJ 50597/19—94
注V=5.cV;R,=0：R,=1knK=270，②脉注发生器特性要交：
V,-2. 0~5. 5V,Vn - - . 5~0. 7V: /=103kHz占空 g50% 。4. 3监定检验
鉴定检验应按GJB597第4.4禁的规定，所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B,C和D.组检验（见本观范4.4.1~4.4.4条)的规定。4.4质勘-致性检验
质量一致性检验应按GJB59?第4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5003和本规范 A,B,C 和 D纪检验(见规范 4. 4. 1~4. 4. 4 条)的规是。4.4.1A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2.各分组的具体电参数测求按本规范表3的规定。各分组的测试可月同个样本进行，当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%粒验：各分组的测试可按任意顺序进行.合格判定数(C)最大为2。表5组检验
A分组
25℃下静态测试
A2分组
125下静态测试
A3分组
-55 C下静态溯试
A7分组
25 T:下功能测试
A9分组
25 C下开关剩试wwW.bzxz.Net
A10分组
125C下开关测试
Ali分组
=55C下开关测试
4.4.2B组检验
B组捡验应按本规范衰6的规定。B级器件
B级器件
BI～B5分组可币同-检验批中电性能不合格的器件作为样本。8
SJ 50597/19-94
表6B组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法茶件和要求
B1分组
B2分组
抗溶性
B3分组
可煤性
P4分组
内部目检和机
械检查
B5 分组
键合强度
超声焊
B8分分组
《a)电测试
(b)静电效电灵
数度等级
(e)电测试
4. 4. 3C 组检验
B级器件
按规定
按规定
焊接温度：
245±5℃
B,级器件
按规定
按规定
焊接温度：
245±5℃
接规定
试验条件 C
A1分组
A1分组
C组检验应接本规范表7的规定。试验条件心
适月时
表 7 C维检验
择品数/(接收数）
15/(0)
若无其他规定，表中采用的方法系指GB648的试验方法条件和要求
C1分组
稳态寿命
感点电测试
B级器件
试验条件D
温度：125℃
时间：1000h
A1.A2.A3分
B级器
方法条
试验条件 D
温度：125r
时间，1000h
A1,A2.A3分
LPTD系对引线数
面育.被试器件数应
多于 3个。
可在封装工序削的
内部月检筛选后，随
机抽取择品进行本
分组试验
仅在初始鉴定或产
品重新设计时进行。
样品数/(接收数）
采用本规范
图3的线路
rrKAoNiKAca-
C2分组
温度循环
恒定加速度
粗检漏
终点电测试
C3分组
125C下开关测
C分组
一55下开关
4.4.4D组检验
SJ50597/19—94
续表7
条件和要求
B级器件
组（见本规
范表2和表3）
1010，试验条件C
试验条件E
101试验条牛：
A1或A2
C1或C2
按方法1010
的日检判握
A1.A2,A3分
组（见本规
范表2和表8）
[不要求
不要求
D组检验应按本规范表8的规定
组（见本规
范表2和表3）
试验条件C
试验条件D
YI方尚
试验条件：
A:或A2
C1或C2
接方法1010
的目检判据
Al,A2,A3分
组（见本规
范表2和表 33
A10分组见本规
范表 2 和表 3)
A1分组（见本规
范表 2 和表 33
样品数(接收数）
D1、D2、D5,D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为栏本。表8D组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法亲件和要求
[31分组
D2 分组
引线牢固性
B级器件
2016按规定
2001试验条件
B2（片式
载体采用试
E级件
2016按规定
2004试验条件
B（片式
载位采用试
样品数/（接收数)
粗检漏
133 分组
热讲击
温度循死
抗潮湿
细检漏
终点电源试
D4 分组
机械冲击
变频振动
恒定加速度
细检漏
粗检漏
终点电测试
D5 分组
SJ 50597719 94
续表8
亲伴和婴求
B级器件
验条件D）
试验条件
A1或A2
C1或 C2
试验条件B
15欧循环
1010试验条件C
100次德环
1004,片状载体不
要求引线李
曲应力的预
1014试验条：
icl或C2
按方法1004
利1010的自
检判据
A1.A2,A3分
组(克本规
范表2和表3）
2002试验条件B
试验条件 A
试验策件E
Y,方向
试验条件：
A1或A2
C1或C2
按方法2C02
利2007的目
检判据
A1,A2,A3分
纽(见本规
范表2和裁3
1009试验条件 A
片式载本不要求
B级器件
验牛 D)
试验条件：
A1或A2
C1践 C2
1011试验条件A
15次循茨
1010试验条件口
10饮箍环
片状载体不
要求引线弯
由应力的预
试验条牛：
A1或A2
C1或C2
按方法1004
和1010的目
检判据
A1,A2,A3 分
组（见本规
范表2和表33
诚验条件 A
试验条件A
试酸条件1)
Y方向
试验条件：
A1或A2
C1或C2
按方陷2002
和2C07的目
检判据
A1,A2,A3分
组（见本规
范表2和表3）
适月时
同B级器件
样品数！《接收数）
Bi级器件可
安 GB 4590 第
时间，5sd
B,级器件了
按GR4590
第3.6条
用于D3分
组的样品可
用在 D4 分
TKAONKAca
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SJ 50597/19—94
半导体集成电路
JT54LS136型 LS-TTL 四异
或门（OC)详细规范
Semicanductar integrated circuitsDetail speciricalion for lype JT54LS136 LS-TTLquadruple exclusivc-or gates with npen-collector autputs1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JT54LS136型LS-TTL四异
或门(OC)详细规范
Seaiconductor integraterl circuitsDetafl specification fortype JT54LS136LS-TTLquadruple cxclusive-or gates with open-collector outputs1范围
1.1主题内容
SJ 50597/19-94
本规范规定了半导休集成也路JT54LS136型LS-TTL四异或门(OC)以下简称器件）的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597《微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下，
器体型号
JT54LS136
1.3-1.2器件等级
墨件名称
四异或阿((C)
器件等级应为GJB597第3.4条所规定的B级和本规范规定的B,级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB7092半导体集成电路外形尺寸的规定。封装形式如下：
中华人民共和国电学工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
YrKAOKAca
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压
辅人电压
忙存温度
功耗1
引线耐焊接温度（105）
SJ 50597/1994
外形代号
C20P3(陶瓷无引线片式载体封装）D.653(陶瓷双列起装）
F16X2（瀚瓷扇平划装）
H16X2（陶瓷熔封席平封装）
J:653(陶瓷熔封双列装）
注:1)器件应能经受测试输出短路电流(1os)时所增加的功耗。值
2)除变JB548微电于器件试验方法和程序方法5091老化筛选条性外，不得超过最太结温1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电玉
入高电平电压
输入低乎电正
输出低电平电流
工作环意湿度
2引用文件
GR 3431. 1—82
GR3431.2—86
GR3439—82
GB 4590—84
GB 4728. 12—85
GB/T7092—93
半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTI．电路测试方法的基云原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气逐用图彩符号二进制逻辑单元半导休策成电路外形尺』
GJB 548—88
GIR 597—88
GJB1549—93
3要求
3.1详细变求
SJ50597/1994
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放自控制大纠
各项要求应按GJB597和本规范的规定本规范规定的B，级器件仅在产品保证规定的饰选，鉴定和质量一致检验的某选项自和要求不同于B级器件。
3.2设计、结树和外形尺尘
设计、结构和外形尺寸按GJB597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列透辑符号、逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。逻辑符号、逻辑图符合GB4728.12的规定。引出端排列为俯视图。逻辑符号
引出端排列
遵辑图（1/4）
图1＇逻辑符号、逻图和引出端排列注;F、HJ型封引出端接列同 D 型。3.2.2功能表
功能表如下：
TKAONKAca-
3.2.3电路图
SJ50597/19-94
H高平
低电平
制造厂在鉴定前应将电路图提交给签定机构。各制造厂的电路图由鉴定机构存档备查。3.2.4封装形式
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂圈
引线材料和涂应按GJB597第3.5.6条的规。3.4电特性
电特性应符合表1的规定
1JT54LS136电特性
特、性
输出截止森电流
输出电平电压
输入销位电压
输入高电乎电流
最大输入电压下的输
人电谊
输人低自平电流
电源电筑
输出由低电平到高电
平传输延退时间
输出由高平室低电
平传翁延退时湖
JaroFr
注：二)完整的测试条件列丁表3。3.5电试验要求
(若无其他规定，—55≤T125
Vec- 4.5V,Vo-5. #V
Vn 0. 7V, VH- 2. 0V
Viy-1.5V.Io.=4mA
Vn.=0.?V,
Vee=4.5V,Ik=.--18mA
TA=25C
Ve =5.GV., V, =2. 7V
Vec - 5. 5V
V: -7. oV
Ve. -5. 5V. V: -C. 4V
Vec =5.5V
Vee =5. 0V, GL =15pH ±10%
Rr. -2kn--5%
V = 5. 0V, CL - 15pF
R: =2k±5%
器件的电试验要求应为本规范表2所规定的有关分组。各个分组的电测试按表3的规定。中问(老化前)电测试
山间(老化后)电划试
最终电视试
A 组试验要求
C组线点电测试
C 组检验增加的分组
1组终点电测话
SJ 50597/19-94
表2电试验要求
B级器件
A2.A3.A7:Ag
AI.A2.A3.A7.A9.A10.A11
不要求
注；i)该分组要求PDA计筛（见本规范第4.2条）。绍(见表3)
B,级器件
A2.A3.A7.AE
A1,A2,A3,A7.A9
A1C,AI1
表3JT54IS136电测试
分组符号
AlTowF
引用棕准
GR 5439
(若无其他规定,T—25C）
V..--4.5V,.-2.CV.V..-0.7V
Vec-2, $V.Vih--2. cV,Vi. --0. 7V,lor.=4mA
Vcc—4. 5V,被测输人端 1 k= ~18mAVc-5. 5V,被谢输人端 V: 一7. 0V,其尔输入端 Vi=0V，
Vcr=5.5V，被测输入端V=2.7V
其余输入端V=UV。
Ve=5.5V.被测输入端V,=5.4V，
其余榆人端V,-5.5V。
Vecm5.5V,A输人端Vt=0V.
B输入端 Vt=4.5V,输出璐开路。T。一125C.除 Vlk不测外,参数,条件、规范值均同 A1 分组T4
一55C.除V根不测外，参数、条牛、规范值均同A1分组按玖能表拦行。
VcL -5. 0V,C.= 15pF=10%
Ri2ko%
见本规范2
FA=125C
测试条件同A9分组，
—5C.测试条件、参数和规范值同A10分组。Ta=
规范盾
-TrKAONKAa-
披功能装
拨测端接供载
S.F50597/1994
潮诚点
图2开关测试线路和波形图
注：脉冲发生器应具有下列特性：t-500n,=15ms=5n8f1Hz
3.6标志
标志应接GJB597第8.6条的现定。3.7微电路组的划分
本规范所涉及的器件应为第8微电路组（见GIB597附录E)4质量保证规定
4.1抽样和检验
jt PHE
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB59?和GJB548方法5005的规定4.2筛选
在鉴定和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选程序
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法筛选项目
内部目检
稳定性烘焙
（不要求终
点电测试
温度循环
恒定加速度
条件和要求
B级器件
试验条件日
试验条件 C
(温度：150℃
时间，24h）
试验条件C
试验条件E，
Yi方向
B缀器件
左法！
试验条件B
试验条 C
《温度：150℃
时间：24h）
试验条件 C
试验条件D，
Yt方向
可用方法1011试验条件A替
试验后进行目检引线断落、
外壳酸裂、封盖脱落为失效。
筛选项目
中间(老化
前)电测试
中间（老化
后)电测试
PDA斗算
最终电测试
粗检漏
外部目检
鉴定或质量
一致性检验
试验样品的
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续表4
杀件和
级，器件
本规范 A1分组
1015／试验条件D
(海度：125r
时间：169）
本规范 A1分组
5%,本规范 A1
分组。当不合格
品案不超过
20%时可重新
提交老化，但只
充许一次
本规范A2、A3
A7.A9分组
1014试验条件：
A1或A2
C1或C2
按规定
50053.5条
B级器
本就范 A1 分组
试验条仰D
(温度125℃
时间：180h）
本规范 A1分组
%，本规范
A1分纪。当大
合碎品率不超
过20%时可重
新提交老化，但
只允许一次
大规范A2、A3
A7,A9分组
试验条件，
AI或A2
CI或C2
按规定
由制造厂送择是查进行
按本视范图 3 线路或等效线
若老化前未进行中闫中测试。
剪老化后中间电测试A1外组
检出的失效数也应计入PDA
变项筛选示,若改变器件的引
线涂爱或返工·则应冉进行
A1和A7分组试验。
可老发货前接批进行。
图3老化线路和寿命试验线路图
TTKAONKAca-
SJ 50597/19—94
注V=5.cV;R,=0：R,=1knK=270，②脉注发生器特性要交：
V,-2. 0~5. 5V,Vn - - . 5~0. 7V: /=103kHz占空 g50% 。4. 3监定检验
鉴定检验应按GJB597第4.4禁的规定，所进行的检验应符合GJB548方法5005和本规范A、B,C和D.组检验（见本观范4.4.1~4.4.4条)的规定。4.4质勘-致性检验
质量一致性检验应按GJB59?第4.5条的规定。所进行的检验应符合GJB548方法5003和本规范 A,B,C 和 D纪检验(见规范 4. 4. 1~4. 4. 4 条)的规是。4.4.1A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2.各分组的具体电参数测求按本规范表3的规定。各分组的测试可月同个样本进行，当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%粒验：各分组的测试可按任意顺序进行.合格判定数(C)最大为2。表5组检验
A分组
25℃下静态测试
A2分组
125下静态测试
A3分组
-55 C下静态溯试
A7分组
25 T:下功能测试
A9分组
25 C下开关剩试wwW.bzxz.Net
A10分组
125C下开关测试
Ali分组
=55C下开关测试
4.4.2B组检验
B组捡验应按本规范衰6的规定。B级器件
B级器件
BI～B5分组可币同-检验批中电性能不合格的器件作为样本。8
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表6B组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法茶件和要求
B1分组
B2分组
抗溶性
B3分组
可煤性
P4分组
内部目检和机
械检查
B5 分组
键合强度
超声焊
B8分分组
《a)电测试
(b)静电效电灵
数度等级
(e)电测试
4. 4. 3C 组检验
B级器件
按规定
按规定
焊接温度：
245±5℃
B,级器件
按规定
按规定
焊接温度：
245±5℃
接规定
试验条件 C
A1分组
A1分组
C组检验应接本规范表7的规定。试验条件心
适月时
表 7 C维检验
择品数/(接收数）
15/(0)
若无其他规定，表中采用的方法系指GB648的试验方法条件和要求
C1分组
稳态寿命
感点电测试
B级器件
试验条件D
温度：125℃
时间：1000h
A1.A2.A3分
B级器
方法条
试验条件 D
温度：125r
时间，1000h
A1,A2.A3分
LPTD系对引线数
面育.被试器件数应
多于 3个。
可在封装工序削的
内部月检筛选后，随
机抽取择品进行本
分组试验
仅在初始鉴定或产
品重新设计时进行。
样品数/(接收数）
采用本规范
图3的线路
rrKAoNiKAca-
C2分组
温度循环
恒定加速度
粗检漏
终点电测试
C3分组
125C下开关测
C分组
一55下开关
4.4.4D组检验
SJ50597/19—94
续表7
条件和要求
B级器件
组（见本规
范表2和表3）
1010，试验条件C
试验条件E
101试验条牛：
A1或A2
C1或C2
按方法1010
的日检判握
A1.A2,A3分
组（见本规
范表2和表8）
[不要求
不要求
D组检验应按本规范表8的规定
组（见本规
范表2和表3）
试验条件C
试验条件D
YI方尚
试验条件：
A:或A2
C1或C2
接方法1010
的目检判据
Al,A2,A3分
组（见本规
范表2和表 33
A10分组见本规
范表 2 和表 3)
A1分组（见本规
范表 2 和表 33
样品数(接收数）
D1、D2、D5,D6、D7和D8分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为栏本。表8D组检验
若无其他规定，表中采用的方法系指GJB548的试验方法亲件和要求
[31分组
D2 分组
引线牢固性
B级器件
2016按规定
2001试验条件
B2（片式
载体采用试
E级件
2016按规定
2004试验条件
B（片式
载位采用试
样品数/（接收数)
粗检漏
133 分组
热讲击
温度循死
抗潮湿
细检漏
终点电源试
D4 分组
机械冲击
变频振动
恒定加速度
细检漏
粗检漏
终点电测试
D5 分组
SJ 50597719 94
续表8
亲伴和婴求
B级器件
验条件D）
试验条件
A1或A2
C1或 C2
试验条件B
15欧循环
1010试验条件C
100次德环
1004,片状载体不
要求引线李
曲应力的预
1014试验条：
icl或C2
按方法1004
利1010的自
检判据
A1.A2,A3分
组(克本规
范表2和表3）
2002试验条件B
试验条件 A
试验策件E
Y,方向
试验条件：
A1或A2
C1或C2
按方法2C02
利2007的目
检判据
A1,A2,A3分
纽(见本规
范表2和裁3
1009试验条件 A
片式载本不要求
B级器件
验牛 D)
试验条件：
A1或A2
C1践 C2
1011试验条件A
15次循茨
1010试验条件口
10饮箍环
片状载体不
要求引线弯
由应力的预
试验条牛：
A1或A2
C1或C2
按方法1004
和1010的目
检判据
A1,A2,A3 分
组（见本规
范表2和表33
诚验条件 A
试验条件A
试酸条件1)
Y方向
试验条件：
A1或A2
C1或C2
按方陷2002
和2C07的目
检判据
A1,A2,A3分
组（见本规
范表2和表3）
适月时
同B级器件
样品数！《接收数）
Bi级器件可
安 GB 4590 第
时间，5sd
B,级器件了
按GR4590
第3.6条
用于D3分
组的样品可
用在 D4 分
TKAONKAca
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