SJ 50597.23-1994
基本信息
标准号： SJ 50597.23-1994
中文名称：半导体集成电路JJ710型电压比较器详细规范
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
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出版信息
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标准简介
SJ 50597.23-1994 半导体集成电路JJ710型电压比较器详细规范
SJ50597.23-1994
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标准内容
中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597/2394
半导体集成电路
JJ710型电压比较器详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JJ710 Voltage comparator1994-09-30发布
中华人民共和国电子工业部批准1994-12-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
J.J710型电压比较器详细规范
Semicmductor integrated circulisDetail specification for type JJ710 Yoltage comparator范围
SJ 50597/23 -94
1.1主题内容
本规范规定了半导体巢成电路JF710型电压比较器（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给山的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597(微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1 器件型号
器件型号如下：
零件型号
1.3.1.2器件等级
器件名称
电压比较器
器件等级应为GIR597第3.4条规定的B级和本规范规定的B，级。1.3.1.3封装形式
封装形式应接GR7092(半导体集成电路外形尺寸>的规定。封装形式如下：
1.4绝对最大额定值
D14S2(陶瓷双列封装）
外形代号
J14S2（陶瓷焙封双列封装）
TO8A4（无支柱，金属圆形封装）T08B4（带支柱，金属阅形封装）中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
rKAONKAca-
绝对最大额定值如下：
电源电压
共棋输人电压
差模输入电E
辅出峰值电缆
输出短路持续时间
引线耐焊温度”
贴存温度
SJ 50597/23-94
注：1)对于D型封装为103,T型封装为60Bg1.5推荐工作条件
电源电压V，为12V，V_为-6V。工作环境温度为-55℃≤。≤125C1.6功率和热特性
功率和热特性如下：
封装形式
引用文件
GB 3431.1 82
GB 3431.2 - 86
GB 4590-84
GB/T 7092 - 93
GIB548-88
GJB 597 - 88
GJB 1649 - 93
3要求
3.1详细要求
最火允许功耗(mW)
(TA 125℃)
最大值(/w)
Ra(f-c)
半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路机械和气候试验方法半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按符合GIB597和本规范的规定。—2
ReI-A)
SJ 50597/23-94
本规范规定的B，级器件仅在产品保证规定的筛选、整定和质量一致性检验的某些项目和要求不同于 B级。
3.2设计,结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2.1引出端排列
引出端排列应符合图1的规定。
3.2.2电路图
图1引出端排列
制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图应由鉴定机构存档备。
3.2.3封装形式
封装形式应符合本规范第1.3.1.3条的越定。3.3引线材料和染覆
引线材料和涂覆应符合GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性按表1的规定，若无其池规定.适用于全工作温度范围（-55C≤T≤125C）表1JJ710电特性
输人失调电压
输入失调电压
温度系数
输人失调电流
(若无其他规定V，-12,V.=-6V,见图2)Rs=2000
Rs=50n
Vo=-1.4V Ta-25℃
Yo=1.8V T---$5r
Vo-1V Ta=125
550AT≤125℃
Vo1.4V Ta=25t
TA--55C
TA-125C
规范值
TKAONKAca
输入失调电疏温度
辅人偿量电流
共模抑制比
输出高电平电压
輪出低电平电压
输出低电平电流
嘀应时间-输出
饱和高中平到
网值电平
响应时间-输出
帕和低电平到
阀值电平
电源电流
电压塔益
SJ 50597/23 - 94
（若无其他规定V=12,V.=-6V,见图2)25125
55≤T≤25C
Ta=25r
TA -SSC
TA=125℃
Rs-200n
100mV阶跃信号
5mY过神
100mV阶联信导
5mV过冲
AVo=+0.5V
-s1e5 V. =-7
Icr= Vm\5mV
fot=-5mA Vu=5mV
IoL=(V=5mV
TA=25C Vm= -5mV
Ta+-ssc
Vim=-SmV
Ta=125℃ Vm=-SinV
CL= 5pF
T。=25
（见图3)
CCL=5pF
Ta= 25C
（见图3)
Vp=1.4V TA=25C
V.=1.8VTA=-55t
V,=1V TA-125t
规范值
J Cks2
SJ 50597/23-94
振梯检
图2静态和动态测试线路
注：①测试线路中的管脚条件和测试温度应依据表3中的规定。②在插人插座和改变维电器状态时，应避免器件受到损害。10
若无其它规定，所有电阻偏差允许值为±1%，电容偏差允许值为±10%-13V
1)防止报浅很重要，每一步骤都应防止系落的发生，回路的响应和还原时间应与正常测试一致，使用之前应一定补尝。
2)大于300mV(峰-峰值)的募应认为器件失效。3)电图偏差允许值为±0.1%，电阻匹配偏差为±0.01%。3.5键合
键合应按 GJB 597 第 3.7.11 条的规定。3.6电试验要求
电试验要求应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规定。5
rKAoNiKAca-
SJ 50597/23-94
[a00/01 ×(1)A -(TT)0A) -AD
a-saoa
y x y ey h
“s+y
A9-Az1
usiag-
测试导
YTKAONTKAca-
S1 50597/23 -- 94
s'0|o'2-
a08/0t× Le e0n u
208/01 ×[(1)0A -(6Z)0A) =A09301 A
sIor = oa
(aa 20102 - y
1 - -+1
[a001/20 ×(E)a1-(2)\:-mb
A8\1-49-Az1
[-]a8 1-
(台 弹(6) 甲
—A8'1-
-A9-Az1
“'97'5' '1'
SH'TH'TY
vusAg-
A9-A21Am
--Ag-Az1Aws-
(E）（)
测试节
SJ 50597/23 - 94
[\A -- \2)/0S = -AV
(0-*)/0s *+*V
(\a - a)/0s =-*-
(ng -ta)/0s -+v
(\ - )/0S --AV
(\y -h1)/0s +*v
( 00z -
越仙然题
'9y'sx 'ty''e
94'+x'EY
Sy'th'iy
*6y *8y
-hs'i-
测试号
(ass-)
中间(老化前)电测试
中间(老化后)电测试
终点电测试
A组试验要求
C组终点目测试2）
D组终点电测试2
SJ 50597/23-94
表2电试验要求
B级器件
A2,A3,A4
A1, A2, A3, A4, A5, A6, AT
A1和表4的4极限
注：1)该分组要求PDA计算(见本就范第4.2条)。2)表4终点电测试用于Vo，1道和[a+12V
Von=12V
分组(见表 3)
B,级器件
A1, A2. A3, A4, A5, A6, A7
A1 和表 4 的 △ 极限
Cc-5pF
5 0. 1μF
Yo0=-12V
-- 100my
图3响应时间测试线路及波形
注：①V，为100ns脉冲宽度，100kHz重复率；，=5ng（参考技形图）。fn
-TrKAONiKAca-
$J 50597/23 - 94
沃有电阻偏差允许值为±1%，所有电容偏差为土10%，③Vco的值为12V时，被测器件的逆冲为SmA，1)调节工，使比较处于谢变的临界状态。表4C组终点电测试
(ra = 25t , V+- 12V, V_=-6V)试
规范值
注：V观范值的变化量极限由表3的1.2测试号测到。*规范值的变化量极限出表3的4测试号测到。Vs-规范值的变化量极限则表3的5测试号测到。3.7标志
标患应符合GJB597第3.6条的规定。3.8微电路组的划分
变化量（4)极限
本规范所涉及的器件应为第50微电路组（见GIB597附录E)。4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应符合GJB597和GIB548方法5005的规定。4.2筛选
在鉴定检验和质量-一致性检验之前，全部器件应符合GIB548方法5004和本规范表5的规定进行筛选。
表5筛选
条件和要求【GJB548】
内部目检(封装前)
稳定性拱培(不委求整
点电溉试）
温度循环
恒定如速度
中间(老化前)电测试
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150℃,24h)
试验染件C
R,级器件
试验条件B
，100B试验条件C
(15024h)
试验条件 F
本规范A1分组
试验条件℃
可用方法1010试验条
件A替代
试验条件E
试验后进行日检。引
本规范A1分组
毁断落，外壳發裂，封
盖脱落为失效。
由制造厂决定是否进
行本娣选
中间(老化后)电测试
允许不合格品率
最整电认试
细检漏
外部目检
鉴定和量一致性检
验的试验伴品抽取
SJ 50597/23 - 94
条件和要求(GJB 548)
B级器作
试验条件
或试验条件
（125℃，160h）或试
验条件 F
本规范At分组
5%,本规他 A1 分
组,当不合格品塞不
超过 20 %时, 可重新
提交老化,但点允许
本规范 /2, A3 和 A4
试验条伴:AI 或 A2
C1 或 C2
按规定
方法！
Br级器件
试验条件 D
或试验条件 C
(125℃, 160h)或试
验条件 F
本规范 AI分组
10%,本规范 A1 分
组，当不合格品率不
超过20%时，可重新
提交老化,但只允许
本就范 A2,A3 和 A4
试验条件：A1或A2
按现定
采用本规范围 4 线路
采用本规范图5线路www.bzxz.net
采用本规范图6线路
若老化前未进行中间
【老化前)电测试,则老
化后中间‘考化后)电
测试 A1 分钜的失效
也应计入 PLA。
本项筛选后,若引线涤
揽改变，或退工，则应
再进行A1分组测试。
n=4702±5%
图 4老化、稳态寿命试验线路
注:D测试条件 T。=125℃，V。=12V,V_-6V。②信号发生器输出电压为10Vap21fn-SHz11
TTKAONKAca
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SJ 50597/2394
半导体集成电路
JJ710型电压比较器详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JJ710 Voltage comparator1994-09-30发布
中华人民共和国电子工业部批准1994-12-01实施
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
J.J710型电压比较器详细规范
Semicmductor integrated circulisDetail specification for type JJ710 Yoltage comparator范围
SJ 50597/23 -94
1.1主题内容
本规范规定了半导体巢成电路JF710型电压比较器（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给山的器件按器件型号、器件等级、封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597(微电路总规范》第3.6.2条的规定。1.3.1.1 器件型号
器件型号如下：
零件型号
1.3.1.2器件等级
器件名称
电压比较器
器件等级应为GIR597第3.4条规定的B级和本规范规定的B，级。1.3.1.3封装形式
封装形式应接GR7092(半导体集成电路外形尺寸>的规定。封装形式如下：
1.4绝对最大额定值
D14S2(陶瓷双列封装）
外形代号
J14S2（陶瓷焙封双列封装）
TO8A4（无支柱，金属圆形封装）T08B4（带支柱，金属阅形封装）中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
rKAONKAca-
绝对最大额定值如下：
电源电压
共棋输人电压
差模输入电E
辅出峰值电缆
输出短路持续时间
引线耐焊温度”
贴存温度
SJ 50597/23-94
注：1)对于D型封装为103,T型封装为60Bg1.5推荐工作条件
电源电压V，为12V，V_为-6V。工作环境温度为-55℃≤。≤125C1.6功率和热特性
功率和热特性如下：
封装形式
引用文件
GB 3431.1 82
GB 3431.2 - 86
GB 4590-84
GB/T 7092 - 93
GIB548-88
GJB 597 - 88
GJB 1649 - 93
3要求
3.1详细要求
最火允许功耗(mW)
(TA 125℃)
最大值(/w)
Ra(f-c)
半导体集成电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路机械和气候试验方法半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
各项要求应按符合GIB597和本规范的规定。—2
ReI-A)
SJ 50597/23-94
本规范规定的B，级器件仅在产品保证规定的筛选、整定和质量一致性检验的某些项目和要求不同于 B级。
3.2设计,结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定。3.2.1引出端排列
引出端排列应符合图1的规定。
3.2.2电路图
图1引出端排列
制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构。各制造厂的电路图应由鉴定机构存档备。
3.2.3封装形式
封装形式应符合本规范第1.3.1.3条的越定。3.3引线材料和染覆
引线材料和涂覆应符合GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性按表1的规定，若无其池规定.适用于全工作温度范围（-55C≤T≤125C）表1JJ710电特性
输人失调电压
输入失调电压
温度系数
输人失调电流
(若无其他规定V，-12,V.=-6V,见图2)Rs=2000
Rs=50n
Vo=-1.4V Ta-25℃
Yo=1.8V T---$5r
Vo-1V Ta=125
550AT≤125℃
Vo1.4V Ta=25t
TA--55C
TA-125C
规范值
TKAONKAca
输入失调电疏温度
辅人偿量电流
共模抑制比
输出高电平电压
輪出低电平电压
输出低电平电流
嘀应时间-输出
饱和高中平到
网值电平
响应时间-输出
帕和低电平到
阀值电平
电源电流
电压塔益
SJ 50597/23 - 94
（若无其他规定V=12,V.=-6V,见图2)25125
55≤T≤25C
Ta=25r
TA -SSC
TA=125℃
Rs-200n
100mV阶跃信号
5mY过神
100mV阶联信导
5mV过冲
AVo=+0.5V
-s1e5 V. =-7
Icr= Vm\5mV
fot=-5mA Vu=5mV
IoL=(V=5mV
TA=25C Vm= -5mV
Ta+-ssc
Vim=-SmV
Ta=125℃ Vm=-SinV
CL= 5pF
T。=25
（见图3)
CCL=5pF
Ta= 25C
（见图3)
Vp=1.4V TA=25C
V.=1.8VTA=-55t
V,=1V TA-125t
规范值
J Cks2
SJ 50597/23-94
振梯检
图2静态和动态测试线路
注：①测试线路中的管脚条件和测试温度应依据表3中的规定。②在插人插座和改变维电器状态时，应避免器件受到损害。10
若无其它规定，所有电阻偏差允许值为±1%，电容偏差允许值为±10%-13V
1)防止报浅很重要，每一步骤都应防止系落的发生，回路的响应和还原时间应与正常测试一致，使用之前应一定补尝。
2)大于300mV(峰-峰值)的募应认为器件失效。3)电图偏差允许值为±0.1%，电阻匹配偏差为±0.01%。3.5键合
键合应按 GJB 597 第 3.7.11 条的规定。3.6电试验要求
电试验要求应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规定。5
rKAoNiKAca-
SJ 50597/23-94
[a00/01 ×(1)A -(TT)0A) -AD
a-saoa
y x y ey h
“s+y
A9-Az1
usiag-
测试导
YTKAONTKAca-
S1 50597/23 -- 94
s'0|o'2-
a08/0t× Le e0n u
208/01 ×[(1)0A -(6Z)0A) =A09301 A
sIor = oa
(aa 20102 - y
1 - -+1
[a001/20 ×(E)a1-(2)\:-mb
A8\1-49-Az1
[-]a8 1-
(台 弹(6) 甲
—A8'1-
-A9-Az1
“'97'5' '1'
SH'TH'TY
vusAg-
A9-A21Am
--Ag-Az1Aws-
(E）（)
测试节
SJ 50597/23 - 94
[\A -- \2)/0S = -AV
(0-*)/0s *+*V
(\a - a)/0s =-*-
(ng -ta)/0s -+v
(\ - )/0S --AV
(\y -h1)/0s +*v
( 00z -
越仙然题
'9y'sx 'ty''e
94'+x'EY
Sy'th'iy
*6y *8y
-hs'i-
测试号
(ass-)
中间(老化前)电测试
中间(老化后)电测试
终点电测试
A组试验要求
C组终点目测试2）
D组终点电测试2
SJ 50597/23-94
表2电试验要求
B级器件
A2,A3,A4
A1, A2, A3, A4, A5, A6, AT
A1和表4的4极限
注：1)该分组要求PDA计算(见本就范第4.2条)。2)表4终点电测试用于Vo，1道和[a+12V
Von=12V
分组(见表 3)
B,级器件
A1, A2. A3, A4, A5, A6, A7
A1 和表 4 的 △ 极限
Cc-5pF
5 0. 1μF
Yo0=-12V
-- 100my
图3响应时间测试线路及波形
注：①V，为100ns脉冲宽度，100kHz重复率；，=5ng（参考技形图）。fn
-TrKAONiKAca-
$J 50597/23 - 94
沃有电阻偏差允许值为±1%，所有电容偏差为土10%，③Vco的值为12V时，被测器件的逆冲为SmA，1)调节工，使比较处于谢变的临界状态。表4C组终点电测试
(ra = 25t , V+- 12V, V_=-6V)试
规范值
注：V观范值的变化量极限由表3的1.2测试号测到。*规范值的变化量极限出表3的4测试号测到。Vs-规范值的变化量极限则表3的5测试号测到。3.7标志
标患应符合GJB597第3.6条的规定。3.8微电路组的划分
变化量（4)极限
本规范所涉及的器件应为第50微电路组（见GIB597附录E)。4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应符合GJB597和GIB548方法5005的规定。4.2筛选
在鉴定检验和质量-一致性检验之前，全部器件应符合GIB548方法5004和本规范表5的规定进行筛选。
表5筛选
条件和要求【GJB548】
内部目检(封装前)
稳定性拱培(不委求整
点电溉试）
温度循环
恒定如速度
中间(老化前)电测试
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150℃,24h)
试验染件C
R,级器件
试验条件B
，100B试验条件C
(15024h)
试验条件 F
本规范A1分组
试验条件℃
可用方法1010试验条
件A替代
试验条件E
试验后进行日检。引
本规范A1分组
毁断落，外壳發裂，封
盖脱落为失效。
由制造厂决定是否进
行本娣选
中间(老化后)电测试
允许不合格品率
最整电认试
细检漏
外部目检
鉴定和量一致性检
验的试验伴品抽取
SJ 50597/23 - 94
条件和要求(GJB 548)
B级器作
试验条件
或试验条件
（125℃，160h）或试
验条件 F
本规范At分组
5%,本规他 A1 分
组,当不合格品塞不
超过 20 %时, 可重新
提交老化,但点允许
本规范 /2, A3 和 A4
试验条伴:AI 或 A2
C1 或 C2
按规定
方法！
Br级器件
试验条件 D
或试验条件 C
(125℃, 160h)或试
验条件 F
本规范 AI分组
10%,本规范 A1 分
组，当不合格品率不
超过20%时，可重新
提交老化,但只允许
本就范 A2,A3 和 A4
试验条件：A1或A2
按现定
采用本规范围 4 线路
采用本规范图5线路www.bzxz.net
采用本规范图6线路
若老化前未进行中间
【老化前)电测试,则老
化后中间‘考化后)电
测试 A1 分钜的失效
也应计入 PLA。
本项筛选后,若引线涤
揽改变，或退工，则应
再进行A1分组测试。
n=4702±5%
图 4老化、稳态寿命试验线路
注:D测试条件 T。=125℃，V。=12V,V_-6V。②信号发生器输出电压为10Vap21fn-SHz11
TTKAONKAca
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