SJ 50597.30-1995 半导体集成电路 JC40106型CMOS反相器（有斯密特触发器）详细规范 SJ50597.30-1995 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ 50597/30—1995
半导体集成电路JC40106型
CMOS反相器（有斯密特触发器）详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JC40106CMOs hex inverting schmitt triggers1995-05-25发布
1995-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准1
引用文件
质量保证规定
交货准备
说明事项…
pPPIO+Ie!
-YTKAONT KAca
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JC40106型CMOS反相器（有斯密特触发器）详细规范
Scmiconduetor integrated circuitsDetail specification for type JC40106CMOS hex inverting schmilt trlggers1范围
1.1 主题内容
S1 50597/301995
本规范规定了半导体集成电路JC40106型CMOS反相器【有斯密特触发器）（以下简称器件)的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级和封装形式分类。1.3.1 器件编号
器件编号应按GIB597(微电路总规范)第3.6.2的规定。1.3.1.1 器件型号
器件型号如下：
器件塑号
JC40106
1.3.1.2器件等级
器件名称
六反相器(有斯密特触发器)
器件等级应,为 GJB 597第 3.4条规定的 B级和本规范规定的 B1 级。1.3.1.3封装形式
封装形式按GB/T7092(半导体集成电路外形尺寸>的规定。中华人民共和国电子工业部1995-05-25发布1995-12-01实施
封装形式如下：
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下
电源电压
输人电压
输人电流
此存温度
引线耐焊接温度(10s）
1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压
工作环境温度
引用文件
GB 3431.1—82bzxz.net
GB 3431.2-86
GB 3439—82
GB 3834—83
GB 4590—84
GB 4728.12—85
GB/T 7092—93
GIB 548—88
GJR 597—88
GJB 1649—93
SJ 50597/301995
外邢代号
半导体集威电路文字符号电参数文字符号半导体集成电路文字符号引出端功能符号半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理半导体果成电路CMOS电路测试方法的基本原理半导体集成电路机械和气候试验方法电气图用图形符号二进制逻辑单元半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
微电路总规范
电子产品防静电放电控制大纲
-TrKAONiKAca-
3要求
3.1详细婴求
SJ50597/30-1995
各项要求应按GJB597利本规范的规定。本规范规定的B,级器件仅在产品保证规定的筛选、鉴定和质量一致性检验的某些项日和要求上不同于B级。
3.2设计、结构和外形尺寸
设计、结构和外形尺寸应符合GJIB597和本规范的规定。3.2.1逻辑符号、逻辑图和引出端排列逻辑符号，逻辑图和引出端排列应符合图1的规定。引出端排列为俯视图。逻辑符号符合GB4728.12的规定。
逻辑符号
3.2.2功能表
功能表应如下：
a.JC40106
3.2.3电路图
引出端排列
DF、HJ型
逻辑图
遥辑符号、逻辑图和引出端排列出
制造厂在鉴定前应将电路图提交给鉴定机构存挡备查。3.2.4封装形式
封装形式应符合本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和涂覆
引线材料和涂覆应按GJB597第3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。3
輪入正籍位电压
1符号
输人负指位电压
电源电瓶
瀚出高电平电压
输出话电苹电医
正触发网值电压
负融发商值电压
蒂后电压
输出低电平电流
韵出高电苹电滤
输入高电平电液
输入低电平电流
辅入试验电压
输人电容
传输延时间
：—4
I PEIL
SJ 505977301995
表1电特性
(若无其他规定，Vss=0V)
Vs开路，输出端开路，
Ix=1mA
Vss接地,输出端开酪，
lix= -1mA
Vrt -0V, Vh* 15V
V-OV, Ir=0
Vin= 15 V, IoL - 0
foslua
AVir- Vi+ - V.-
V:-5V. VoL #0.4Y
V,= 15V, Vor - 1.5V
V,=0V, Von=4.6V
V,-DV, Von 13.5V
Vin-IsV
C = 100pF. R,= 1.5kn
（见本规范4.5.3)
Cr-50pF
R,-2001k(见本规范图2)
规范值
T=-ssC
TA=123℃单位
-100 nA
TKAONKAca-
输出转换时间
SJ50597/30-1995
续表1
【着无其他规定，s=V)
Ct = 50pF
RL=200k0见本规范图2)
TA=25c
TA=125单位
3.5电试验要求
器件的电试验要求应为木规范表2所规定的有关分组，各车分组的电测试按本规范表3的规定。
电试验要求
中间(老化前)
中间(老化后)
最终电测试
A组检验电测试
B 组检验电测试
C组终点电谢试
C织检验增如的电测试分组
D组终点电测试
B级器件
分维【见表3
Al, A2.A3.
AE, A2, A3.
Alo,All
A1,A2,A3
变化量极限
B级器件
分组(见表 3)
A1, A2, A3,
A1.A2,A3,
A1, A2,A3
注;1)该分组要求PDA计算(见本规范4.2条)。2)老化和寿命试验要求变化量(4)测试,变化最极限按本规范4.5.2条的规定。变化基被限
引用标雅
GB3834
GB3439
SJ50597/30-1995
表3电测试
（若无其他规定，Ys=0）
Vcp接地，Vss开路，输出璐并路,被测输人IrR=ImA
V升路,Vss接地,输出端开路,被测入Irk= -lmA
V =15V, Va=0V, V= 1SV,出端升路Vpn=15V,被润门输人V=0V,被测输出[am=0,逐一测试每个门的输出蹦
Vw=15V,被测们输人VaR=15V,故测输出To=0逐一测试每个门的输出朔
Vo=5V,被测门输入端 Vπ+,其他输人竭按地。被测描出端a1pA,Vo=0,05V
Vm-[0V.被溅门输入Vr+其他输入端接地，被输出摘Ial≤1μA,Ya=0,05V
Vco ISV,效测门输入端 Vrt+.其他输入端接地,被测出塔Io!≤1μA,Y-0.05V
Vpp=SV,测门摘入端接 Vrr~,其他输入端接地被测输出耀1Fol≤1μA,V=4.95VVrm=10V,被测门输入筛接 Vm-,其他输入谢接地，被测输出端ITol≤1μA, Vo= 4. 95VVm-15V,被测门输入端接Vm-,其他输入端接地，被测输出端Hl≤1μA,Vo=14.95VYD=5V,人蜡 V,=5V,被测输出量 Voz-0.4VYbp -15V,入端 Yl= 15V,披测输出端 VoL = 1.5VVm=5V,输入烯 V,-0V,被测输出增 VoH-4.6VVp =15V,摘人端 V,=0V,被凝输出接 Vomr=13.5VVrD=15V,所有输人端并接 Vm-15V(仅 25C条件下测)V加= ISV,输人端连一测 Vm= 15V,其他输人端接地V=15V,所有输人端并接 VL=0V(仅 25C条件下测)Vro=15V、输入端逐一测VmL=0V.其触输入按15V规范值
TKAONKAca
(TA-125C)
(T= -55)
(TA-25)
(TA=25C)
(T =25)
(TA-125t)
(TA--55)
引用标润
CB3B34
SJ 50597/301995
续表3
(若无其他规定，Vs=0)
除Yi不测外，所有参致、条件同A1分组，规范值按表1。除 Vk不测外,所有参数、紊件间 A1 分组,规范值按表 1。Cr
Vro=0V,每个输入端分别测.F-1MHz功能测试按本规范 3.2.2 条的规定tpHL
Ym=5V,非被测输入接地，见本规范图2。A+Y
Yoe=10V，非故测输入接地，见本规范图2。A+y
Yog=5Y,非被测输入接地，见本规范图2gA-Y
Ym=10V，非鼓测输入接地，见本规范图2。A→Y
参数、条件同 AV分组,规范低按表 1。参数、条件同A9分组，规范值按表1.规范值
量小睦大
注：1)25C条件下测ImI时,可选取分别测试每个输人端或所有输入调并接测量的方法。测试电路
测试点
8J 50597/30—1995
图2开关测试电略和波形图
注：D脉神发生器，V，=V动±1%；t20ms、tt20m%=200kHz占空比：50%。负数R,=200knCr=50pF(包括探头卖具电容)。3.6标志
器件标志应按 GJB597第3.6条的规定。3.6.1总剂量辐射强度标志
总剂量插射强度标志应按GJB597第3.6.2.6条的规定。3.6.2标志的正确性
所有器件在标上器件编号后，应经受表2规定的最终电测试，也可以经受特待殊设计经认可的电测试，以验证器件编号标志的正确性。3.7微电路组的划分
本规草所涉及的器件为第36微电路组（见GJB597附录E）。4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应接GJB597和GJB548方法5005的规定。4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548方法5004和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选
若无其规定，表巾引用的试验方法系指GJB548的试验方法。条件和要求
筛选项目
内部目检
（封装前）
稳定性烘焙
（不要求点电测试）
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150c.24h)
B级器件
试验条件B
试验条件C
（150t.24h）
TKAONKAca
筛选项目
温度橘坏
恒定加速度
中间[老化前)毛测试
中间(老化后)电测试
允许不合格品率
(FDA)及其计算
最终电测试
细检漏
粗检漏
外部目检
鉴定或质量一致性检
验的试验样品抽取
SJ50597/30—1995
续表4
条件和要求
B级器件
试验条件C
试酸条件E
Y1方向
本规范 A1 分组
试验杀件B
125t.160h
试验条件 D 或 E
125t,160h
本规范A1分组
和表104极限
5%，本规范A1分
组。当不合格品率
不超过20%时,可
重新提交老化，值
员允许一次。
本规范 A1.A2.
A3、A9
试验条件：
本规范 3,1 条
本规范3.5条
B级器件
试验条件 C
试验条件口
Y1方向
本规范 A1 分组
试验条件B
12sr.160h
试验条件 D 或 E
125t,160h
本规范 A1 分组
和表104极限
10%,本规范 Al
好组。当不合格品
率不超过20%时，
可贯新提交老化
但只允许一次。
本规范 A1、A2、
AL、A9
试验条件：
A,或Az
本规范3.1条
本规范3.5条
可用方法1011
试殖条件 A 替代。
试验后进行目检，引线断
落、外龚破裂,封类脱蒂
为失效。
采用本规范图 3 或图 4
可选取静态，动态老化的
其中一种方式
用老化失效数(包括超过
A1 分组规范值和 4 极限
值的器纤)涂以提交老化
的器件数即为 PDA。不
大于规定的 PDA时该批
应接收。
本项筛选后,若引线涂复
改变或返工，到应再进行
A1 分组测试。
发货前按批进行。
SJ 50597/30-1995
图3静态老化试验电路图
注：C静态老化I：所有端接0V,即开关S1望\1\。因静态老化且：所有编人端接 V,即并关S1量2\。S
③除Yco和V外，每个引出端应通过一个2一47k的电阻器相连接。由于使用、妥热或老化，所选电阻的实测值应不超过其标软值的土20%。输出蝶开关 2 可以置\1\或2\。5 V=15V; Vss=0V。
图4动态老化和稳态寿命试验电路图注：①除Y和Vs端外，每个引出端应通过一个2~47ka的电阻器相连接。由于使用、受热或老化，所避用电阻器的实测慎应不超过其标称值的土2%。②对输人信号的要求：
用.方波,占空比 50 % ;
b.预率:25Hz~1MHzi
c.t,和td.幅度:最小值为: Vss-0.$V, +10% Vrp?最大值为：Vm+0.5V,-10%Vroi
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TKAONKAca-
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