SJ 50597.56-2002 半导体集成电路 JW920型PIN驱动器详细规范 SJ50597.56-2002 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
半导体集成电路
SJ50597/56—2002
JW92O型PIN驱动器详细规范
Semiconductorintegrated circuitsDetail specification for type JW920 PIN driver2002-01-31发布
2002-05-01实施
中华人民共和国信息产业部批准1范围
主题内容。
适用范围
1.3分类
1.4绝对最大额定值
1.5推荐工作条件
2引用文件，
3要求
详细要求
设计、结构和外形尺寸，
引线材料和镀涂
电特性，
电测试要求
4质量保证规定
抽样和检验
筛选，
鉴定检验
质量一致性检验，
4.5检验方法
5交货准备..
5.1包装要求．
6说明事项..
6.1订货资料
6.2缩写词、符号和定义
6.3替代性
附录AJW920电参数测试方法（参考件）次
1范围
中华人民共和国电子行业军用标准半导体集成电路
JW920型PIN驱动器详细规范
Semiconductor integrated circuitsDetail specification for type JW920 PIN driver1.1主题内容
SJ50597/56—2002
本规范规定了半导体集成电路JW920型PIN驱动器（以下简称器件）的详细要求。1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。1.3分类
本规范给出的器件按器件型号、器件等级和封装形式分类。1.3.1器件编号
器件编号应按GJB597A《半导体集成电路总规范》3.6.2规定。1.3.1.1器件型号
器件型号如下：
器件型号
1.3.1.2器件等级
器件等级应为GJB597A第3.4条规定的B级和B1级。1.3.1.3封装形式
件名称
PIN驱动器
封装形式应按GB/T7092《半导体集成电路外形尺寸》规定。封装形式如下：
封装形式
1.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
D18S）（18引线陶瓷双列封装）正电源电压：Vccl=4V~35V，Vcc2=4V~5.5V负电源电压：VEe=-5.5V~-2.7V
输出电流（每路）：In≤200mA
中华人民共和国信息产业部2002-01-31发布2002-05-01实施
贮存温度：T=-65°℃～150°℃结温：T≤150°℃
SJ50597/56-2002
引线耐焊接温度（10s）：T≤300℃功耗（50℃）：Pp≤1000mW（当TA>50C时，按10mW/℃降额使用。1.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
正电源电压：Vccl=5V~30V,Vcc2-4.5V~5V负电源电压：VEE=-5V~-3V
工作环境温度：T=-55°℃～125°C输出电流（每路）：Io≤120mA，Vm=0.8V.Yu-2.0V工作频率：≤10kHz
1.6热特性
热阻（结—环境）：Rr(j-A)=100°C/W引用文件
GB3431.2—86
半导体集成电路文字符号
GB/T7092-—93
GJB548A—96
GJB 597A--96
SJ/T10734-96
3要求
3.1详细要求
半导体集成电路外形尺寸
微电子器件试验方法和程序
半导体集成电路总规范
半导体集成电路文字符号
各项要求应按GJB597A和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺寸
引出端功能符号
电参数文字符号
设计、结构和外形尺寸应按GJB597A和本规范的规定。3.2.1引出端排列
引出端排列应符合图！的规定。引出端排列为俯视图。
引出端排列
3.2.2外形图
外形尺寸应符合图2的规定。
尺寸符号
3.2.3功能框图
SJ50597/56--2002
数值(mm)
功能框图应符合图3的规定。
尺寸符号
图2外形图
数值(mm)
3.2.4封装形式
SJ50597/56—2002
功率放大
图3功能框图（单路）
封装形式应按本规范1.3.1.3条的规定。3.3引线材料和镀涂
引线材料和镀涂应按GJB597A3.5.6条的规定。3.4电特性
电特性应符合表1的规定。
3.5电测试要求
器件的电测试要求应为表2所规定的有关分组，各分组的电测试按表3的规定。表1JW920电特性
输入低电平电流
输入高电平电流
输出高电平
输出低电平
输入低电平到输出高
电平传输延迟时间
输入高电平到输出低
电平传输延迟时间
输出短路电流
静态电源电流
（若无其它规定，Vccl=30V，Vcc2=5V，VEE--5V,-55°C≤TA≤125°C)
ViH-2V
VH=-5.5 V
Viz=0.8V1o=-120mA
VIH=2Vlo=120mA
RL=24Q
RL=242,CL=1000pF,f=5kHz
f1kHz，Rs=10，占空比3%
f-1kHz，Rs-10，占空比3%
ViL=0.8V，空载
Vi=2V.空载
VL=0.8V或Vm-2V，空载
VIH=2V，空载
VIL=0.8V，空载
极限值
中间（老炼前）电测试
中间（老炼后）电测试
最终电测试
A组试验要求
C组终点电测试
D组终点电测试
注：1）该分组要求PDA计算。
3.6标志
标志应按GJB597A
3.6的规定。
测试方法
TA-25°℃
TA-125°℃
TA--55℃
TA-25℃
TA-125°C
TA--55℃
附录A
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表2电测试要求
A1、A7、A9
AI\)、A7\)、A9\)
组（见表3）
A2、A3、A8、A10、A11
AI、A2、A3、A7、A8e、A8b、A9、A10、A11AI、A7、A9和表84极限
A1、A7、A9
表3JW920电测试
（若无其它规定，Vccl=30V，
YCC2-5 V. VEE-5 V)
ViH-2V
VIH=5.5 V
Vu=0.8 V, lo--120 mA
VH-2V.1o=120mA
F-1kHz，Rs-1Q，占空比3%
f-1kHz、Rs=1Q，占空比3%
VnL=0.8V，空载
ViH-2V，空载
ViH=0.8V或VH-2V.空载
ViH-2V.空载
VIL-0.8V，空载
所有参数、条件、极限值均于A1分组。所有参数、条件、极限值均同于AI分组。极限值
通过判定DN、Dp电压值来判定电路的工作状态。通过判定DN、Dp电压值来判定电路的工作状态，通过判定DN、Dp电压值来判定电路的工作状态。最大
A9分组
TA-25℃
A10分组
TA=125°C
A11分组
TA--55°C
质量保证规定
4.1抽样和检验
测试方法
附录A
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续表3
（若无其它规定，Vccl-30V，
VcC2-5 V, VEE--5 V)
Rt=24Ch1000 pFf=5 kHz
所有参数、条件、极限值均同A9分组。所有参数、条件、极限值均同A9分组。极限值
除本规范另有规定外，抽样和检验程序应按GJB597A和本规范的规定。4.2筛选
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按GJB548A方法5004A和本规范表4的规定进行筛选。
表4筛选
条件和
筛选项日
内部目检
（封盖前）
秘定性烘培
（不要求终点电
测试）
温度循环
恒定加速度
中间（老炼前）
电测试
中间（老炼后）
电测试
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150°C,24h）
试验条件C
（10次循环）
试验条件E
YI方向
本规范 AI、A7、A9分
试验条件D，
125°C,160h
本规范A1、A7、A9分
组和表8的4极限
求（GJB548A）
BI级器件
试验条件B
试验条件C
(150°C,24h）
1010A话
试验条件C
（10次循环）
试验条件D
YI方向
本规范A1、A7、A9分组
试验条件D
125°C,160h
本规范A1、A7、A9分组
和表8的极限
可用方法1011A试验条
件A替代。
引线断落、外壳破裂、封
盖脱落为失效。
采用本规范图4电路
筛选项目
允许的不合格品bzxZ.net
率（PDA）计算
最终电测试
细检漏
粗检漏
SJ50597/56—2002
续表4
条件和要求（GJB548A）
B级器件
5%，本规范A1、A7、
A9分组。当不合格品
率不超过10%时，可重
新提交老炼，但只允许
本规范A2、A3、A8a、
A8b、A10、A11分组
试验条件A1
试验条件C1
第3.5条
鉴定或质量一致
性检验的试验样
品抽取
外部目检
2009A按规定
BI级器件
10%，本规范A1、A7、A9若老炼前未进行中间电分组，当不合格品率不超过
20%时，可重新提交老炼，
但只允许一次
本规范A2、A3、A8a、A8b、
A10、A11分组
试验条件A1
试验条件C1
5005A第3.5条
2009A按规定
F-kHz，TTL电平
测试，则老炼后中间电
试Al、A7、A9 分组的失
效也应计入PDA.
本项筛选后，若引线涂镀
改变或返工，则应再进行
AI、A7、A9分组测试。
注：①0.1μF电容误差小于或等于10%②680pF电容误差小于或等于10%100Q电阻误差小于或等于5%
图4老炼及寿命试验电路
4.3鉴定检验
SJ50597/56—2002
注：电阻误差小于或等于5%
寿命试验电路
鉴定检验应按GJB597A的规定。所进行的检验应符合GJB548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4）的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB597A的规定。所进行的检验应符合GJB548A方法5005A和本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4）的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按本规范表5的规定。电试验要求按本规范表2的规定，各分组的电测试按本规范表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行。合格判定数（c）最大为2。
表5A组检验
A1分组
25°℃下静态测试
A2分组
125°℃下静态测试
A3分组
-55°℃下静态测试
A7分组
25°℃下功能测试
A8a分组
125℃下功能测试
B级器件
B1级器件
A8b分组
-55°℃下功能测试
A9分组
25°C下开关测试
A10分组
125°C下开关测试
Al1分组
-55°C下开关测试
4.4.2B组检验
B组检验应按本规范表6的规定。SJ50597/56—2002
表5（续）
B级器件
B1～B5分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本表6B组检验
条件和要求（GJB548A）
B1分组
B2分组
耐溶剂性
B3分组
可焊性
B4分组
内部目检和
机械性能
B5分组
键合强度
超声焊
4.4.3C组检验
B级器件
按规定
技规定
焊接温度：
245°C±5°C
按规定
试验条件C
C组检验应按本规范表7的规定。BI级器件
按规定
按规定
焊接温度：
245°C±5°℃
按规定
试验条件C
样品数
(接收数)
或LTPD
B1级器件
LTPD系对引线数而言，
被试器件数应不少于3
可在封盖前的“内部目
检”筛选前或后任意抽
取样品进行本分组试
C1分组
稳态寿命
终点电测试
C2分组
温度循环
恒定加速度
细检漏
粗检漏
终点电测试
SJ50597/56—2002
表7C组检验
条件和要求（GJB548A）
B级器件
试验条件D
1005A1
125°℃,1000h
(或150°℃,184h)
本规范A1、A7、A9
分组和表8的4极限
试验项目
4.4.4D组检验
试验条件C
(10次循环）
试验条件E，
YI方向
试验条件A1
试验条件CI
按方法1010A日检
本规范A1、A7、A9
分组和表8的4极限
B1级器件
试验条件D
125°℃,1000h
(或150°C，184h)
本规范A1、A7、A9
分组和表8的4极限
试验条件C
(10次循环）
试验条件D，
YI方向
试验条件A1
试验条件C1
按方法1010A目检判
本规范AI、A7、A9
分组和表8的4极限
表8C组终点电测试（T=25℃）
极限值
D组检验应按本规范表9的规定。最大
采用本规范图4电路，
（或采用本规范图5电
A极限值
D1、D2、D5、D6和D7分组可用同一检验批中电性能不合格的器件为样本。10
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