SJ 50597.59-2003 半导体集成电路 JB523型宽带对数放大器详细规范 SJ50597.59-2003 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
半导体集成电路
SJ50597/59—2003
JB523型宽带对数放大器详细规范Semiconductorintegrated circuitsDetail specification fortype JB523wide-bandLogarithmicamplifien
2003-06-04发布
2003-12-01实施
中华人民共和国信息产业部批准前言
本规范是GJB597A一1996《半导体集成电路总规范》的相关详细规范。本规范的附录A为规范性附录。
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范起草单位：中国电子科技集团公司第二十四研究所。本规范主要起草人：何乐、刘小平。SJ50597/59—2003
1范围
半导体集成电路
JB523型宽带对数放大器详细规范SJ50597/59—2003
本规范规定了硅单片集成电路JB523型宽带对数放大器（以下简称器件）的详细要求。2引用文件
下列文件中的有关条款通过引用而成为本规范的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单（不包括勘误的内容）或修订版本都不适用于本部分，但提倡使用本规范的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本规范。GB/T7092--1993半导体集成电路外形尺寸GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序GJB597A-1996半导体集成电路总规范3要求
3.1总则
各项要求应符合GJB597A-1996和本规范的规定。本规范的要求应以本规范为准：
3.2设计、结构和外形尺寸
3.2.1引出端排列”
引出端排列应符合图1百
引出端序号
OUTVIDEO
射频输出
视频输出
最排列多俯视图。
引出端序号
图1引出端排列
GJB597A-—1996不一致时，
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3.2.2外形尺寸和封装形式
外形尺寸和封装形式应符合GB/T7092—1993的规定，封装形式如下：
3.2.3电原理图
电原理图应符合图2的规定。
3.2.4绝对最大额定值
绝对最大额定值如下：
电源电压Vcc（电源端）：9V
电源电压Vcc（视频输出端）：12V贮存温度：-65℃～150℃
结温：175℃
引线耐焊接温度（10s）：300℃3.2.5推荐工作条件
推荐工作条件如下：
电源电压Vcc6V
频带范围：15MHz~120MHz
工作环境温度：-55℃～125℃
3.3引线材料和镀涂
T08A4（金属圆形封装，见图1)
电原理图
引线材料和镀涂应按GJB597A一1996中3.5.6的规定。3.4电特性
电特性应符合本规范表1的规定。2
电压增益
上截止频率
下截止频率
检波电流
最大RF输出幅度
噪声系数
最大未过载输入信号
电源电流
延退时间
3.5电试验要求
Vom(pp)
表1JB523电特性
（除另有规定外，Vcc=6V,
TA=-55℃~125℃)
y=30MHz
Vi=-42dBm
f=60MHz
Vi=-42dBm
V=-42dBm
TA=125℃
TA=25℃
TA=-55℃
TA=125℃
TA=25℃
TA=-55℃
TA-25℃、-55℃
TA-125C
TA--55℃,25℃,125℃
V=-42dBm
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极限值
-60Mz.-0.52
F=60MHZ
/=60MHz,Rs=4500
TA=125℃
TA2303
7=60MHz
器件的电试验要求应为表2所规定的有关分车19.0
分组的电测试接表3的规定
表2电试验要求
中间（老炼前）电测试
中间（老炼后）电测试
最终电测
A组试验要求
C组终点电测试
D组终点电测试
该分组要求PDA计算。
3.6标志
器件上应打上下列标志：
a）标志点（见GJB597A-1996中3.6.1)：b)
器件编号（见6.2.2）；
检验批识别代码（见GJB597A一1996中3.6.3）。分组（见表3）
Ar、A4a
A2、A3、A5,A6 2.
AI、A2、A3、A4、A5、A6
Al、A4
SJ50597/59—2003
TA=25℃
TA=125℃
TA-55℃
TA-25℃
TA~125C
TA-55℃
Vom(pp)
4质量保证规定
检验分类
测试方法
附录A
本规范规定的检验分类如下：
a）鉴定检验（见4.3)；
b）质量一致性检验（见4.4)。
4.2筛选
表3JB523电测试
(除另有规定外，Vcc=6V)
Vi=-42dBm
Vi=-42dBm
J=30MHz
=60MHz
f=60MHz.,Vima=0.5V
f=60MHz
f=60MHz,Rs=4502
f=60MHz
Vi=-42dBm
V=-42dBm
V=-42dBm
V=-42dBm
F=30MHz
=60MHz
f=30MHz
f=60MHz
在鉴定检验和质量一致性检验之前，全部器件应按表4的规定进行筛选。值
筛选项目
内部目检（封盖前）
稳定性烘培
（不要求终点电测试）
温度循环
恒定加速度
中间（老炼前）电测试
中间（老炼后）电测试
允许的不合格品率
(PDA）计算
最终电测试
细检漏
粗检漏
外部目检
一致性检
鉴定或质量
验的试验样品抽取
表4筛选
条件和要求
B级器件
试验条件B
试验条件C
(150℃，24h）
试验条件C
（10次循环）
试验条件E
Y1方向
本规范A1,A4分组
125℃.-160h
本规范AA4分组
和表极限
3%，本规范A1，A4
分组，当不合格品率
不超过10%时，可重
新提交老炼，但只处
许一次
本规范A2,A3A3
A6分组
武验条件AI
试验条件C1
按规定
等33条
（GJB548A）
B1级器件
试验条件B
试验条件C
(150℃，24h）
试验条件C
（10次循环）
试验条件D
Y1方向
本规范A1.A4分组
125℃,-160h
本规范AILA4分组
和表：4极限线
10%，本规范A1，
A4分组，当不合格
品率不超过20%时，
可重新提交老炼，恒
只允许一次
本规范A2.ASA3.
A6.分组
试验条件AI
试验条件Cr
按规定
图3老炼及稳态寿命电路图
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可用方法1011A试验条件A
试验后进行自检，引线断
落、外壳破裂、封盖脱落为
本规范图3电路
若老炼前未进行中间电测
试，则老炼后中间电测试
A1，A4分组的失效也应计
入PDA
本筛选后，若引线涂镀改变
或返工，则应再进行A1，
A4分组测试
4.3鉴定检验
鉴定检验应按GJB597A-1996和本规范的规定。所进行的检验应符含本规范A、B、C和D组检S
SJ50597/592003
验（见本规范4.4.1～4.4.4）的规定。4.4质量一致性检验
质量一致性检验应按GJB597A一1996和本规范的规定。所进行的检验应符合本规范A、B、C和D组检验（见本规范4.4.1～4.4.4）的规定。4.4.1A组检验
A组检验应按表5的规定。
电试验要求按表2的规定，各分组的电测试按表3的规定。各分组的测试可用一个样本进行。当所要求的样本大小超过批的大小时，允许100%检验。各分组的测试可按任意顺序进行。
合格判定数（c）最大为2。
A1分组
A2分组
A3分组
A4分组
A5分组
A6分组
4.4.2B组检验
25℃下静态测试
125℃下静态测试
-55℃下静态测试
25℃下动态测试
125℃下动态测试
-55℃下动态测试Www.bzxZ.net
B组检验应按表6的规定。
A组检验
B级器件
B1～B5分组可用一检验批中电性能不合格的器件作为样本。表6B组检验
B1分组
B2 分组
耐溶剂性
B3分组
可焊性
B4分组
内部目检
和机械性能
B5分组
条件和要求（GJB548A）
B级器件
键合强度超声焊
4.4.3C组检验
按规定
按规定
焊接温度：
245℃±5
按规定
试验条件D
C组检验应按表7的规定。
B1级器件
按规定
按规定
焊接温度：
245°C+5℃
按规定
试验条件D
样品数/
(接收数)
或LTPD
BI级器件
LTPD系对引线数而言，被
试器件数应不少于3个
至少抽取4个器件
C1分组
稳态寿命
终点电测试
C2分组
温度循环
恒定加速度
细检漏
粗检漏
终点电测试
试验项目
表7C组检验
条件和要求
B级器件
试验条件D，125℃，
1000h（或按表1005A-1
的规定）
本规范A1,A4分组和表
84极限
试验条件C（10次循环）
试验条件E，YI方向
试验条件Al
试验条件1
按方法1010A目检判据
本规范A1，A4分组
（GJB548A）
B1级器件
试验条件D，125C，
1000h（或按表1005A-1
的规定）
本规范AI，A4分组和表
84极限
试验条件℃（10次循环）
试验条件D，Y1方向
试验条件AI
试验条件C1
按方法1010A目检判据
本规范A1A4分组：
表8C组终点电测试（TA-25℃）
极限值
4.4.4D组检验
D组检验应技表9的规定。
变化量
（4极限）
D1、D2和D7分组可用同一检验批中电性能不合格的器件作为样本表9D组检验
条件和要求（GB548A）
D1分组
D2分组
引线牢固性
细检漏
粗检漏
B级器件“
按规定
试验条件B2
试验条件Al
试验条件C1
B1级器件
按规定
试验条件B2
试验条件A1
试验条件CI
SJ50597/59—2003
样品数！
（接收数）
或LTPD
来用图3电路
LTPD系对引线数而
言，应至少抽取3个器
SJ50597/59-—2003
D3分组
热冲击
温度循环
细检漏
粗检漏
终点电测试
D4 分组
机械冲击
扫频摄动
恒定加速度
细检漏
粗检漏
终点电测试
DS分组
细捡漏
粗检漏
D6分组
内部水汽含量
D7分组
引线涂覆
粘附强度
表9（续）
条件和要求（GJB548A）
B级器件
试验条件B，
15次循环
试验条件C
（100次循环）
按规定
按方法1010A和
1004A月检判据
试验务件A1
试验条件C1
本规范A1,A4分组
试验条件B
试验条件A
试验条件E
YI方向
试验条件A1
试验条件C1
按方法1010A目检
本规范A1,A4分组
试验条件A
按方法1009A目检
试验条件A1
试验条件C1
100℃时最大
水汽含量为：
5000X106
按规定
B1级器件
试验条件A，
15次循环
试验条件C
（100次循环）
按规定
按方法1010A和
1004A目检判据
试验条件A1
试验条件CI
本规范A1，A4分组
试验条件B
试验条件A
试验条件D，
YI方向
试验条件A1
试验条件CI
按方法1010A目检
本规范A1，A4分组
适用时
按规定
样品数！
(接收数)
或LTPD
3/(0)或
用于D3分组的样品可
用在D4分组
BI级可在订货合同上
当试验3个器件出现1
个失效时，可加试2个
器件并且不失效。若第
一次试验未通过，可在
鉴定机构认可的另一
试验室进行第二次试
验，若试验通过，则该
批被接收。
LTPD系对引线数面言
4.5检验方法
SJ50597/59--2003
检验方法应符合相应表格的规定，本规范给出的或GJB548A一1996涉及的试验方法和试验线路均可使用，其它的试验线路应由鉴定机构批准。4.5.1电压和电流
所有给出的电压均以器件GND端为基准；给定的电流以流入引出端为正。4.5.2老炼和寿命试验冷却程序
器件进行工作寿命或老炼试验后，应先将器件冷却至室温才能去除偏置，然后进行25℃下测量。5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB597A--1996中5.1的规定。说明事项
6.1预定用途
符合本规范要求的器件预定用于军事部门6.2分类
6.2.1器件编号
器件编号应符合GJB597A-1996《半导体集成电路总规范》中*3.6.2的规定。6.2.2器件型号
器件型号如下：
6.2.3器件等级
宽带对数放大器
器件等级应为GJB597A-—1996中3.4规定的B级和B1级。6.3订购文件应期确的内容
订购文件应规定下列内容：
本规范的编号，名称。
完整的器件型号（见6.2.2）
需要时，对器件制造厂提供与所交付器件相应的检验批质量一致性检验数据的要求，
需要时对合格证书的要求。。
需要时对产品或工艺的更改通知采购单位的要求。需要时，对失效分析（包括GJB548A1996方法5003要求的试验条件）、纠正措施和结果提供报告的要求。
对产品保证选择的要求。
需要时，对特殊载体、引线长度或引线形式的要求对认证标志的要求。
包装和包装箱的要求。
需要时的其他要求。
6.4术语和定义
GJB597A一1996确立的术语和定义适用于本规范。SJ50597/59---2003
A.1电源电流Icc
A.1.1目的
附录A
（规范性附录）
电参数测试方法
器件在电源电压6V时所消耗的总电流。A.1.2测试原理
测试原理如图A1所示。
Vec=6 V
电阻器误差小于或等于土10%，电容器误差小于或等于士10%。应采用性能良好的稳压电源，其误差小于或等于±10%。图A.1
测试电路图
A.1.3测试条件
Vcc-6V,TA=-55℃,25℃,125℃。A.1.4测试程序
按图A.1连接好系统，电源输入端串接数字万用表；a)
插入被插件，加上电源电压：
数字万用表的显示值即为电源电流。A2电压增益Av
A.2.1目的
器件输出电压与输入电压的比值。A.2.2测试原理
测试原理如图A.1所示。
A.2.3测试条件
Vec=6V，TA=-55℃，25℃，125℃，J=30MHz、60MHz,V=~42dBm。A.2.4测试程序
按图A.1连接好系统，校正网络分析仪，设置测试条件，输入，输出端分接网络分析仪的输出，a)
输入端；
插上被测器件，加上电源电压；网络分析仪的显示值即为器件的电压增益。
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